JPS63197346A - High-frequency semiconductor device - Google Patents

High-frequency semiconductor device

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Publication number
JPS63197346A
JPS63197346A JP62028227A JP2822787A JPS63197346A JP S63197346 A JPS63197346 A JP S63197346A JP 62028227 A JP62028227 A JP 62028227A JP 2822787 A JP2822787 A JP 2822787A JP S63197346 A JPS63197346 A JP S63197346A
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JP
Japan
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output
input
strip line
transistor
transistors
Prior art date
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Pending
Application number
JP62028227A
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Japanese (ja)
Inventor
Mineo Katsueda
勝枝 嶺雄
Takeaki Okabe
岡部 健明
Isao Yoshida
功 吉田
Hideshi Ito
伊藤 秀史
Minoru Nagata
永田 穣
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP62028227A priority Critical patent/JPS63197346A/en
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    • H01ELECTRIC ELEMENTS
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    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48225Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
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    • H01L2924/1901Structure
    • H01L2924/1904Component type
    • H01L2924/19041Component type being a capacitor

Abstract

PURPOSE:To increase the output of high frequency high-power transistors by a method wherein an internal aligning circuit composed mainly of stripe lines is divided into multiplicity to correspond to each of unit transistor blocks divided in a multiple parallel pattern. CONSTITUTION:A strip line 2 corresponds to each of transistors 1 divided in a multiple parallel pattern. A stripe line 2 is connected to a capacitor 3 for the construction of an aligning circuit for each of the transistors divided in a multiple parallel pattern. This ensures a parallel transistor behavior free of uniformity, which easily renders the transistors enhanced in power. In this way, a high-frequency high-power transistor may be built featuring a high output and less power efficiency reduction.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は高周波半導体装置に係り、特に高周波高出力ト
ランジスタの出力を増大させるのに好適な高周波トラン
ジスタ装置の構成に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a high frequency semiconductor device, and particularly to a structure of a high frequency transistor device suitable for increasing the output of a high frequency, high output transistor.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

一般に高周波高出力トランジスタにおいては。 Generally speaking, in high frequency, high power transistors.

その出力を増大させるために、単位トランジスタ・ブロ
ックを複数個並列接続して動作させる。その場合、並列
接続数が増加するにしたがって、入力インピーダンスが
低下するために、第2図に示すような内部整合回路を設
ける方法が用いられる。
In order to increase the output, a plurality of unit transistor blocks are connected in parallel and operated. In that case, as the number of parallel connections increases, the input impedance decreases, so a method of providing an internal matching circuit as shown in FIG. 2 is used.

ここに内部整合回路はトランジスタのボンディング・ワ
イヤのインダクタンス7とキャパシタンス8により構成
され、上記のようにトランジスタの並列接続によって低
下した入力インピーダンスを高くする作用をする。この
種の装置に関するものには、例えば特公昭60−311
03がある。
The internal matching circuit is constituted by the inductance 7 and capacitance 8 of the bonding wires of the transistors, and serves to increase the input impedance which has been lowered by the parallel connection of the transistors as described above. Regarding this type of device, for example, Japanese Patent Publication No. 60-311
There is 03.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

この種の装置においては、上記整合回路のインダクタン
ス7として、トランジスタのボンディング・ワイヤを使
用しており、そのインダクタンスの再現性が悪く、11
造上のばらつきが大きいという問題があった。更に、従
来の技術では、内部整合回路は並列接続されたトランジ
スタについて1個だけであった。従って、並列接続数を
増加させると、入力インピーダンスが著しく低下し、内
部整合回路を構成するキャパシタンス8の著しい増加と
インダクタンス7の著しい減少を招いた。その結果、キ
ャパシタンス8の寄生インダクタンス効果やインダクタ
ンス7のばらつきの増大等により、」二記内部整合回路
の実装が著しく困難となる問題点があった。
In this type of device, a bonding wire of a transistor is used as the inductance 7 of the matching circuit, and the reproducibility of the inductance is poor.
There was a problem with large variations in construction. Furthermore, in the prior art, there was only one internal matching circuit for each transistor connected in parallel. Therefore, when the number of parallel connections is increased, the input impedance is significantly lowered, resulting in a significant increase in capacitance 8 and a significant decrease in inductance 7, which constitute the internal matching circuit. As a result, due to the parasitic inductance effect of the capacitance 8 and the increased variation in the inductance 7, there is a problem in that it becomes extremely difficult to implement the internal matching circuit described in Section 2 above.

本発明の目的は、以上述べた実装上の問題点を解決する
手段を提供することであり、これにより高周波高出力ト
ランジスタの出力を著しく増大させることである。
An object of the present invention is to provide means for solving the above-mentioned mounting problems, thereby significantly increasing the output of a high-frequency, high-output transistor.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

上記目的は、多重並列に分割された単位トランジスタ・
ブロックごとに、内部整合回路を多重分割して、それぞ
れに対応させ、更に上記整合回路を主としてストリップ
線路で構成することにより、達成される。
The above purpose is to use unit transistors divided into multiple parallel units.
This is achieved by dividing the internal matching circuit into multiple blocks for each block and making them correspond to each other, and by configuring the matching circuit mainly with strip lines.

【作用〕[Effect]

第1図は、本発明の概念を示す図である。 FIG. 1 is a diagram showing the concept of the present invention.

ここに、1は多重並列に分割されたトランジスタであり
、それぞれに対してストリップ線路2が対応している。
Here, 1 is a transistor divided into multiple parallel transistors, and a strip line 2 corresponds to each transistor.

それぞれのストリップ線路には。on each strip line.

それぞれキャパシタ3が接続されており、上記多重並列
に分割されたトランジスタごとに、整合回路を構成して
いる。これにより、トランジスタの並列動作が不均一性
を伴うことなく行われるので、トランジスタの高出力化
が容易に達成される。
A capacitor 3 is connected to each transistor, and a matching circuit is configured for each of the multiple parallel divided transistors. As a result, the parallel operation of the transistors is performed without any non-uniformity, so that high output of the transistors can be easily achieved.

以下、本発明の提供する技術手段を、第1図により詳し
く説明する。トランジスタ1の分割の程度に関しては、
電気的に絶縁されている場合を含み、第1図に示したよ
うに、抵抗、インダクタンス、キャパシタンス、あるい
はストリップ線路等より成る結合装置14により、粗に
結合されていてもよい。すなわち、その動作周波数にお
いて。
Hereinafter, the technical means provided by the present invention will be explained in detail with reference to FIG. Regarding the degree of division of transistor 1,
In addition to being electrically insulated, as shown in FIG. 1, they may be loosely coupled by a coupling device 14 made of resistance, inductance, capacitance, a strip line, or the like. i.e. at its operating frequency.

その増幅作用が著しく阻害されない限りの範囲で、電気
的に粗に結合、あるいは絶縁されていればよい、電気的
に完全に絶縁された場合、特に異常振動が現れる場合が
あり、この異常現象を無くするために、結合を粗にする
場合がある。
As long as the amplification effect is not significantly inhibited, it is sufficient if the electrical coupling is loosely coupled or insulated.If the electrical isolation is completely electrically isolated, abnormal vibrations may appear, and this abnormal phenomenon can be avoided. In order to eliminate this, the bond may be made coarser.

2はストリップ線路であり、主としてトランジスタ・パ
ッケージの絶縁基板を誘電体として印刷等によって高い
寸法精度で構成する。ストリップ線路はインピーダンス
変換作用があり、4分の1波長線路が使朋されることが
多い。しかし、4分の1波長線路は小型のトランジスタ
・パッケージに実装するには、その長さが過大なことが
多く、4分の1波長より短かくする方が実装上は有利な
ことが多い。電気的特性において4分の1波長線路より
劣る点は、上記ストリップ線路2とともに整合回路を構
成するようなキャパシタ等の整合装置を設けることによ
り改善することができる。キャパシタ3は、ストリップ
線路2とともに整合装置を構成するものである。ストリ
ップ線路2は加工精度が高いので、広い範囲をとること
ができ、インピーダンス変換のみならず、整合回路とし
て入力信号源に対する十分な整合をとるように設定する
ことができる。
Reference numeral 2 denotes a strip line, which is constructed with high dimensional accuracy mainly by printing or the like using the insulating substrate of the transistor package as a dielectric. Strip lines have an impedance conversion effect, and quarter-wavelength lines are often used. However, a quarter wavelength line is often too long to be mounted in a small transistor package, and it is often advantageous for the length to be shorter than a quarter wavelength. The inferiority of the electrical characteristics to the quarter-wavelength line can be improved by providing a matching device such as a capacitor that forms a matching circuit together with the strip line 2. The capacitor 3 constitutes a matching device together with the strip line 2. Since the strip line 2 has high processing precision, it can be formed over a wide range, and can be set not only for impedance conversion but also as a matching circuit for sufficient matching with an input signal source.

上記整合装置を構成するキャパシタ3およびストリップ
線路2は、多重並列化されており、同じく多重並列化さ
れているトランジスタ1の各トランジスタ・ブロックに
それぞれ接続されている。
The capacitor 3 and the strip line 2 constituting the above-mentioned matching device are connected in multiple parallel configurations, and are respectively connected to each transistor block of the transistors 1 that are also configured in multiple parallel configurations.

第1図においては、入力および出力整合回路ともに多重
並列化されている場合を示したが、この限リでなく、入
力だけ、あるいは出力だけ多重並列化されていてもよい
6 本発明において、ストリップ線路2の代わりに。
Although FIG. 1 shows a case in which both the input and output matching circuits are parallelized, this is not a limitation; only the input or only the output may be parallelized.6 In the present invention, the strip instead of line 2.

ボンディング・ワイヤのインダクタンスを使用すること
ができる。しかし本発明のように整合回路を多重化する
場合、各整合回路相互間における直列インダクタンスの
不均一性や相互インダクタンス成分は、分割された単位
トランジスタ・ブロックの均一動作を妨げ、高出力化が
阻害される場合が考えられた。従って、本発明において
は、できるだけボンディング・ワイヤのインダクタンス
を使用することを少なくし、主としてストリップ線路を
使ってインダクタンス成分を実現し、整合を十分なもの
とするために1部分的にはボンディング・ワイヤのイン
ダクタンスを使用する場合がある。
Bond wire inductance can be used. However, when matching circuits are multiplexed as in the present invention, non-uniformity in series inductance and mutual inductance components between each matching circuit prevent uniform operation of the divided unit transistor blocks, impeding high output. There were cases where this could be done. Therefore, in the present invention, the inductance of the bonding wire is used as little as possible, and the inductance component is mainly realized using a strip line, and in order to achieve sufficient matching, the inductance of the bonding wire is partially used. Inductance may be used.

本発明においては、第1図に示したように、MO5型電
界効果トランジスタを例としたが、この限りでなく、一
般にMIS型、MES型および接合型等の電界効果トラ
ンジスタ、およびバイポーラ・トランジスタの場合にも
適用される。
In the present invention, as shown in FIG. 1, an MO5 type field effect transistor is used as an example, but the present invention is not limited to this. It also applies in cases.

〔実施例〕〔Example〕

以下、本発明の第1の実施例を第3図により説明する。 A first embodiment of the present invention will be described below with reference to FIG.

第3図はトランジスタ・パッケージにおける絶縁基板上
の実装図を示す、9は絶縁基板であり、その裏面は電気
伝導性および熱伝導性ともに秀れた金属性ブロック(図
示せず)の上に接着されており、トランジスタ・パッケ
ージの主な部分を構成する0本実施例においては、絶縁
基板9には12で示すように穴(打抜き穴)があけられ
ており、複数のトランジスタ101は、この打抜き穴1
2を通して、上記金属性ブロックに接着される。ここに
トランジスタ101は半導体チップによって成る。2は
ストリップ線路であり、入力側が多重化されている。ト
ランジスタの並列接続数が著しく多くない場合に、出力
側の整合回路は多重化の効果が少ない場合があり、本実
施例では多重化していない・ トランジスタ101にはそれぞれ2つの入出力ボンディ
ング・パッドがあり、入出力2本ずつのボンディング・
ワイヤで、ストリップ線路2あるいは出力ストリップ線
路501に接続される。2本のボンディング・ワイヤを
使用したのは、単位トランジスタ・ブロックの大きさを
必要十分な大きさにまとめ、またボンディング・ワイヤ
のインダクタンスを減少させるためである。ここにボン
ディング・ワイヤは2本であるので、3本以上にした場
合に比べて、1本ずつの電気的均一性が保ち易く、従っ
て上記単位トランジスタ・ブロックは更に2分割するこ
ともできる。
Figure 3 shows a mounting diagram on an insulating substrate in a transistor package. 9 is an insulating substrate, the back side of which is glued onto a metal block (not shown) with excellent electrical and thermal conductivity. In this embodiment, holes (punching holes) are made in the insulating substrate 9 as shown at 12, and a plurality of transistors 101 are formed through the punching holes. hole 1
2 and is bonded to the metal block. Here, the transistor 101 is made of a semiconductor chip. 2 is a strip line, and the input side is multiplexed. If the number of transistors connected in parallel is not extremely large, the matching circuit on the output side may have little effect of multiplexing, and in this embodiment, multiplexing is not performed. Each transistor 101 has two input/output bonding pads. Yes, bonding for 2 input and 2 output wires.
It is connected to the strip line 2 or the output strip line 501 with a wire. The reason why two bonding wires are used is to reduce the size of the unit transistor block to a necessary and sufficient size and to reduce the inductance of the bonding wires. Since there are two bonding wires here, it is easier to maintain electrical uniformity for each bonding wire than when there are three or more bonding wires, and therefore the unit transistor block can be further divided into two.

また1本実施例においては、トランジスタ101および
それに対する整合回路の相互間に残る若干の不均一性に
基づく異常振動が発生する場合があるので、これを無く
するために、ストリップ線路2の相互間に、それらを粗
に結合させるための抵抗141を接続する。ストリップ
線路2上の抵抗141の位置は、トランジスタ101の
近傍とする。ここに抵抗の値は、その接続位置より信号
源側を見たインピーダンスより低くする方が望ましい。
Furthermore, in this embodiment, abnormal vibrations may occur due to slight non-uniformity between the transistor 101 and its matching circuit, so in order to eliminate this, it is necessary to A resistor 141 is connected to the resistor 141 to roughly couple them. The resistor 141 on the strip line 2 is located near the transistor 101. Here, it is preferable that the value of the resistor be lower than the impedance when looking at the signal source side from the connection position.

本実施例においては、トランジスタ101は半導体チッ
プを使用したが、パッケージに組込んだトランジスタ、
あるいは同一の半導体基板に構成されていても同様であ
る。同一の半導体基板に構成された場合、粗に結合させ
るための抵抗141は、上記同一の半導体基板に構成さ
せることもできる。
In this embodiment, a semiconductor chip is used as the transistor 101, but a transistor incorporated in a package,
Alternatively, the same applies even if they are configured on the same semiconductor substrate. When constructed on the same semiconductor substrate, the resistor 141 for coarse coupling can also be constructed on the same semiconductor substrate.

また本実施例においては、絶縁基板9にはスルーホール
10があけられており、接地面11と絶縁基板9の裏面
を電気的に接続している。3は整合用のキャパシタであ
り、本実施例においてはセラミック・キャパシタを用い
ている。キャパシタ3は、ストリップ線路2と接地面1
1間に1例えば半田等によって接続され、ストリップ線
路2とともに整合回路を構成させる。複数のストリップ
線路2はその入力側の一端が並列接続され、人力ストリ
ップ線路401に接続される。4は入力端子であり、入
力ストリップ線路401に接着される。また5は出力端
子であり、出力ストリップ線路501に接着される。
Further, in this embodiment, a through hole 10 is formed in the insulating substrate 9, and the ground plane 11 and the back surface of the insulating substrate 9 are electrically connected. 3 is a matching capacitor, and in this embodiment, a ceramic capacitor is used. Capacitor 3 connects strip line 2 and ground plane 1
1 and 1 by, for example, solder, to form a matching circuit together with the strip line 2. One end of the input side of the plurality of strip lines 2 is connected in parallel and connected to a human-powered strip line 401. 4 is an input terminal, which is glued to the input strip line 401. Further, 5 is an output terminal, which is glued to the output strip line 501.

本実施例では入力の整合回路が多重化されておリ、特に
電界効果トランジスタのように、その入力インピーダン
スが容量性で小さい場合に、これを複数個並列動作させ
ることができ、よって入力電力を均一に分割し、かつ不
整合による電力の損失を少なくすることができる。
In this embodiment, the input matching circuits are multiplexed. Especially when the input impedance is small due to capacitance, such as with field effect transistors, multiple matching circuits can be operated in parallel, thereby reducing the input power. It is possible to divide the power evenly and reduce power loss due to mismatch.

第4図は本発明の第2の実施例である。9は絶縁基板で
あり、本実施例においては入力部と出力部に分割されて
いる。901はこれら絶縁基板が接着される金属性ブロ
ックの一部であり、トランジスタ101は、上記金属性
ブロック901の表面に、半田あるいは合金等の方法に
より接着される。ストリップ線路2の構成およびトラン
ジスタの接続の方法に関しては第1の実施例と同様であ
る。本実施例においては、キャパシタ301はMOS型
を用いており、打抜き穴13を通して上記金属性ブロッ
クの表面に接着される。キャパシタ301とストリップ
線路2との接続は最短距離のボンディング・ワイヤを用
いて行う。
FIG. 4 shows a second embodiment of the invention. Reference numeral 9 denotes an insulating substrate, which in this embodiment is divided into an input section and an output section. Reference numeral 901 is a part of a metal block to which these insulating substrates are bonded, and the transistor 101 is bonded to the surface of the metal block 901 using a method such as solder or alloy. The configuration of the strip line 2 and the method of connecting the transistors are the same as in the first embodiment. In this embodiment, the capacitor 301 is of a MOS type, and is bonded to the surface of the metal block through the punched hole 13. The capacitor 301 and the strip line 2 are connected using the shortest bonding wire.

本実施例においては、第1の実施例と同様に、トランジ
スタ101はそれぞれ構造的に分離されているが、同一
の半導体基板に構成された構造でもよく、少なくともそ
の動作周波数において電気的に絶縁されるか、結合が粗
になっていればよい。
In this embodiment, similar to the first embodiment, the transistors 101 are structurally separated from each other, but they may be structured on the same semiconductor substrate, and are electrically insulated at least at the operating frequency. or the bond should be loose.

本実施例の効果は第1の実施例と同様であるが、絶縁基
板9の加工の方法において、第1の実施例におけるスル
ーホール10の代わりに、打抜き穴13を使用している
点が異なる。スルーホールはその穴に絶縁基板9の表面
と裏面を電気的に接続する加工が必要であるが、打抜き
穴13の場合はその必要がなく、従って製造工程が減ら
すことができる利点がある。
The effects of this embodiment are similar to those of the first embodiment, but the difference is that punched holes 13 are used instead of the through holes 10 in the first embodiment in the method of processing the insulating substrate 9. . A through hole requires processing to electrically connect the front and back surfaces of the insulating substrate 9 to the hole, but this is not necessary in the case of a punched hole 13, so there is an advantage that the number of manufacturing steps can be reduced.

第5図は本発明の第3の実施例である。本実施例は第2
の実施例のもう一つの構成を示す。本実施例においては
、第2の実施例における打抜き穴13をなくし、第2の
実施例におけるキャパシタ301の実装位置をトランジ
スタ101を実装する位置の近傍に配置したものである
。ここに、複数のトランジスタ101と複数のキャパシ
タ301および複数のトランジスタを粗結合させるため
の手段は、同一の半導体基板に構成される場合がある。
FIG. 5 shows a third embodiment of the invention. This example is the second
Another configuration of the embodiment is shown. In this embodiment, the punched hole 13 in the second embodiment is eliminated, and the mounting position of the capacitor 301 in the second embodiment is arranged near the position where the transistor 101 is mounted. Here, the plurality of transistors 101, the plurality of capacitors 301, and the means for loosely coupling the plurality of transistors may be formed on the same semiconductor substrate.

ストリップ線路2とキャパシタ302は、第2のストリ
ップ線路201および最短距離のボンディング・ワイヤ
で接続される。ストリップ線路201にはインピーダン
ス変換作用があり、キャパシタ302の値は見かけ上大
きくなるので、第2の実施例におけるキャパシタ301
の値より、小さな値のキャパシタを用いることができる
。ストリップ線路2から見た上記整合用キャパシタの値
が、比較的に小さくなる設計の場合は、キャパシタ30
2は不要となるので、これを除去することができる。
The strip line 2 and the capacitor 302 are connected by the second strip line 201 and the shortest bonding wire. Since the strip line 201 has an impedance conversion effect and the value of the capacitor 302 becomes apparently large, the capacitor 301 in the second embodiment
A capacitor with a value smaller than the value of can be used. If the design is such that the value of the matching capacitor seen from the strip line 2 is relatively small, the capacitor 30
Since 2 is no longer necessary, it can be removed.

更に、ストリップ線路201の長さを短かくし、その終
端を開放して、その等価キャパシタンスを使用する等の
構成も可能である。
Further, it is also possible to shorten the length of the strip line 201, open its terminal end, and use its equivalent capacitance.

本実施例の効果は第1および第2の実施例と同様である
が、絶縁基板9の加工の方法において、スルーホールお
よび打抜き穴等の加工が不要である点が異なる。すなわ
ち、絶縁基板9にはストリップ線路を印刷等の方法で加
工するだけでよい。
The effects of this embodiment are similar to those of the first and second embodiments, but the difference is that in the method of processing the insulating substrate 9, processing of through holes, punched holes, etc. is not required. That is, it is only necessary to process the strip line on the insulating substrate 9 by printing or other methods.

従って絶縁基板としてセラミック等を使用する場合に、
その工程が困雉な穴あけが不要となるので。
Therefore, when using ceramic etc. as an insulating substrate,
This eliminates the need for drilling, which is a difficult process.

経済的に有利となる利点がある。It has the advantage of being economically advantageous.

第6図は本発明の第4の実施例である。本実施例におい
て、トランジスタ1は同一半導体基板に構成されており
、その内部において、電気的に絶縁あるいは粗に結合さ
れたものである。絶縁基板9は、2つの入力部と1つの
出力部の、合計3つの部分に分割されている。901は
絶縁基板が接着される金属性ブロックの露出部を示して
おり。
FIG. 6 shows a fourth embodiment of the present invention. In this embodiment, the transistors 1 are formed on the same semiconductor substrate, and are electrically insulated or loosely coupled within the same semiconductor substrate. The insulating substrate 9 is divided into a total of three parts, two input parts and one output part. Reference numeral 901 indicates an exposed portion of a metal block to which an insulating substrate is bonded.

整合用のキャパシタ303およびトランジスタ1は上記
露出部に電気的に接着される。上記整合用キャパシタ3
03は同一基板に構成され、相互に電気的に絶縁された
ものである。2つのストリップ線路2とキャパシタ30
3は入力整合回路を構成するものであり、多重並列化さ
れている。本実施例の効果は第1.第2および第3の実
施例と同様である。本実施例は同一半導体基板に構成さ
れたトランジスタおよび整合用キャパシタを使用してお
り、実装工数を減らすことができること、および実装上
の寸法精度を高くすることができること等の利点がある
A matching capacitor 303 and transistor 1 are electrically bonded to the exposed portion. The above matching capacitor 3
03 are constructed on the same substrate and are electrically insulated from each other. Two strip lines 2 and a capacitor 30
Reference numeral 3 constitutes an input matching circuit, which is multiplexed in parallel. The effects of this embodiment are as follows. This is similar to the second and third embodiments. This embodiment uses a transistor and a matching capacitor that are formed on the same semiconductor substrate, and has advantages such as being able to reduce the number of mounting steps and increasing dimensional accuracy during mounting.

第7図は本発明の第5の実施例である1本実施例は第4
の実施例のもう一つの構成例である0本実施例はトラン
ジスタlが小さいために、ストリップ線路2の相互の間
隔を広くしたい場合の構成例を示す、ここに、ストリッ
プ線路2はトランジスタ1より放射状に広がり、整合用
キャパシタ304に至り、更に逆放射状に狭くなり、入
力端子4に至る。従って、ストリップ線路2の長さに差
が生じるため、相互間の電気的均一性が保てなくなる。
FIG. 7 shows the fifth embodiment of the present invention. This embodiment is the fourth embodiment.
Another configuration example of the embodiment 0 This example shows a configuration example in which it is desired to widen the mutual spacing of the strip lines 2 because the transistor l is small. It spreads radially and reaches the matching capacitor 304, and further narrows in a reverse radial manner and reaches the input terminal 4. Therefore, since there is a difference in the length of the strip lines 2, electrical uniformity between them cannot be maintained.

上記電気的不均一性を防ぐために、本実施例においては
、ストリップ線路の幅をgl整する。
In order to prevent the electrical non-uniformity described above, in this embodiment, the width of the strip line is adjusted to GL.

すなわち、ストリップ線路が長くなった分は、ストリッ
プ線路の幅を広くすることにより、はぼ同一のインピー
ダンス変換効果を得ることができる。
That is, by increasing the width of the strip line to compensate for the length of the strip line, approximately the same impedance conversion effect can be obtained.

ストリップ線路の幅で十分な調整ができない場合は、a
台用キャパシタ304によって、更にamを十分なもの
とする0本実施例の効果は第4の実施例と同様である。
If sufficient adjustment cannot be made due to the width of the strip line, use a
The effect of this embodiment, in which the stand capacitor 304 further makes am sufficient, is the same as that of the fourth embodiment.

以上の実施例において、出力側の整合回路も多重並列に
分割する実施例がある。これは特に高出力化を行うため
に、トランジスタの並列接続数を著しく増加させた場合
に、主として使用される。
In the above embodiments, there is an embodiment in which the matching circuit on the output side is also divided into multiple parallel circuits. This is mainly used when the number of transistors connected in parallel is significantly increased in order to achieve particularly high output.

その場合、入力側と同様に出力側もその出力インピーダ
ンスが著しく低下するので、出力整合回路を多重化並列
化することにより、出力整合回路の不整合損失を少なく
することができる。
In that case, the output impedance of the output side is significantly reduced as well as that of the input side, so by multiplexing and parallelizing the output matching circuits, the mismatch loss of the output matching circuits can be reduced.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上のように1本発明によれば、入力あるいは出力、あ
るいは入力および出力の整合回路が多重並列化されてお
り、更にトランジスタも多重並列化されるいるので、単
位トランジスタ・ブロックの並列数を増加させても、上
記整合回路を構成するストリップIIs路やキャパシタ
等の値に著しい変化はない、従って1本発明によれば、
単位トランジスタ・ブロックの並列接続数を増加させて
も、不整合に基づく電力の損失を著しく少なくすること
ができる。従って、並列接続数を増加させた場合に5例
えば、第8図(a)に示すように並列接続数に比例した
出力を得ることができる。
As described above, according to the present invention, input or output, or input and output matching circuits are parallelized in multiples, and transistors are also parallelized in multiples, so the number of parallel unit transistor blocks is increased. According to the present invention, there is no significant change in the values of the strip IIs path and capacitors constituting the matching circuit.
Even if the number of unit transistor blocks connected in parallel is increased, power loss due to mismatching can be significantly reduced. Therefore, when the number of parallel connections is increased, an output proportional to the number of parallel connections can be obtained, for example, as shown in FIG. 8(a).

また本発明によれば、整合回路の構成要素として、スト
リップ線路を使用しているので、その加工精度が高く、
多重並列化した場合における不均一性を無くすることが
でき、更にストリップ線路は、電磁界をその誘電体内に
閉じ込めることができるので、多重並列化されたストリ
ップ線路相互間の電気的干渉を少なくすることができる
等の利点もある。従って1本発明によれば、単位トラン
ジスタの並列接続数を増加させた場合に発生する不均一
性に基づく電力の損失を少なくすることができる。従っ
て1例えば第8図(b)に示すように、付加効率等の電
力効率の低下を少なくすることができる。
Further, according to the present invention, since a strip line is used as a component of the matching circuit, its processing accuracy is high.
It is possible to eliminate non-uniformity when multiple parallel lines are connected, and since strip lines can confine electromagnetic fields within their dielectric, electrical interference between multiple parallel strip lines can be reduced. There are also advantages such as being able to Therefore, according to the present invention, power loss due to non-uniformity that occurs when the number of parallel connection of unit transistors is increased can be reduced. Therefore, as shown in FIG. 8(b), for example, it is possible to reduce the decrease in power efficiency such as additional efficiency.

以上のように、本発明によれば、高周波高出力トランジ
スタの出力を著しく高くすることができ、更に電力効率
の低下を少なくすることができる効果がある。
As described above, according to the present invention, it is possible to significantly increase the output of a high-frequency, high-output transistor, and furthermore, there is an effect that a decrease in power efficiency can be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の概念図、02図は従来装置の概念図、
第3図、第4図、第5図、第6図および第7図は1本発
明の第1.第2.第3.第4および第5の実施例を示す
平面図、第8図は本発明の効果を示すグラフである。 、1,101・・・トランジスタ、2,201・・・ス
トリップ線路、3,301,302,303,304・
・・キャパシタ、4・・・入力端子、401・・・入力
ストリップ線路、5・・・出力端子、501・・・出力
ストリップ線路、6・・・バイポーラ・トランジスタ、
7・・・ワイヤ・インダクタ、8・・・キャパシタ、9
・・・絶縁基板、901・・・金属性ブロック、10・
・・スルーホール、11・・・接地面、12.13・・
・打抜き穴。 篤 1 図 5工ηIlす 猪 7 図 1  トランシ゛スタ    q 崇色季衣1ぎ木受5
  土77若荀チ
Figure 1 is a conceptual diagram of the present invention, Figure 02 is a conceptual diagram of a conventional device,
FIGS. 3, 4, 5, 6 and 7 illustrate the first aspect of the present invention. Second. Third. FIG. 8 is a plan view showing the fourth and fifth embodiments and a graph showing the effects of the present invention. , 1,101...Transistor, 2,201...Strip line, 3,301,302,303,304...
... Capacitor, 4... Input terminal, 401... Input strip line, 5... Output terminal, 501... Output strip line, 6... Bipolar transistor,
7... Wire inductor, 8... Capacitor, 9
... Insulating substrate, 901 ... Metallic block, 10.
...Through hole, 11... Ground plane, 12.13...
・Punching holes. Atsushi 1 Figure 5 Construction 7 Figure 1 Transistor q
Sat 77 Young Xun Chi

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、電気的に絶縁されるか、あるいは粗に結合された複
数個のトランジスタ・ブロックと上記トランジスタ・ブ
ロックのそれぞれに対する入力用あるいは出力用、ある
いは入力および出力用ストリップ線路より成り、これら
を一対一に接続し、上記複数個の入力用あるいは出力用
、あるいは入力および出力用ストリップ線路の一端を並
列接続したものを全体の入力端あるいは出力端としたこ
とを特徴とする高周波半導体装置。 2、上記入力用あるいは出力用、あるいは入力および出
力用ストリップ線路の長さを、その動作周波数の4分の
1波長より短かくしたことを特徴とする請求の範囲第1
項記載の高周波半導体装置。 3、上記入力用あるいは出力用、あるいは入力および出
力用ストリップ線路と、少なくとも1個のキャパシタよ
り成る整合回路を構成させたことを特徴とする請求の範
囲第1項記載の高周波半導体装置。 4、上記キャパシタの代わりに第2のストリップ線路を
使用したことを特徴とする請求の範囲第3項記載の高周
波半導体装置。 5、上記入力用あるいは出力用、あるいは入力および出
力用ストリップ線路を、トランジスタ・パッケージの絶
縁基板を誘電体として構成したことを特徴とする請求の
範囲第1項記載の高周波半導体装置。
[Claims] 1. A plurality of electrically isolated or loosely coupled transistor blocks and strip lines for input or output to each of the transistor blocks, or for input and output. These are connected in a one-to-one manner, and one end of the plurality of input or output strip lines, or input and output strip lines, are connected in parallel to form the entire input or output end. Semiconductor equipment. 2. Claim 1, characterized in that the length of the strip line for input, output, or input and output is shorter than a quarter wavelength of its operating frequency.
The high frequency semiconductor device described in Section 1. 3. The high frequency semiconductor device according to claim 1, further comprising a matching circuit comprising the input or output strip line, or the input and output strip line, and at least one capacitor. 4. The high frequency semiconductor device according to claim 3, wherein a second strip line is used in place of the capacitor. 5. The high frequency semiconductor device according to claim 1, wherein the input or output strip line, or the input and output strip line, is constructed using an insulating substrate of a transistor package as a dielectric.
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