JPS6319246U - - Google Patents

Info

Publication number
JPS6319246U
JPS6319246U JP11137186U JP11137186U JPS6319246U JP S6319246 U JPS6319246 U JP S6319246U JP 11137186 U JP11137186 U JP 11137186U JP 11137186 U JP11137186 U JP 11137186U JP S6319246 U JPS6319246 U JP S6319246U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
plane
incidence
light
amount
passes
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP11137186U
Other languages
English (en)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP11137186U priority Critical patent/JPS6319246U/ja
Publication of JPS6319246U publication Critical patent/JPS6319246U/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第１図はこの考案の表面性状を評価する第１の
例の装置の構成を示す説明図、第２図は、第１図
に示す装置により測定した反射光量と反射角の関
係を示す線図、第３図は被測定体の被感による光
沢感と第１図に示す装置により測定した塗膜の評
価値との関係を示すグラフ、第４図は、被測定体
の視感による光沢感とＮＳ―ＩＣによる評価値と
の関係を示すグラフ、第５図は、この考案の第２
の例の装置の構成を示す説明図である。 １，１１…光源、２，１４…塗膜面、３…偏光
フイルタ、４…検出器、１２…スリツト、１３…
レンズ、１５…偏光フイルタ（入射面に垂直）、
１６…偏光フイルタ（入射面に平行）、１７…受
光素子アレイ（入射面に垂直な偏光用）、１８…
受光素子アレイ（入射面に平行な偏光用）。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 被測定体表面に光を照射するための光源と、照
    射した光を通過させる偏光フイルタと、このフイ
    ルターを通過した反射光のうち、入射面に垂直な
    偏光量と、入射面に平行な偏光量との測定により
    表面性状を検出、評価する検出器を備えたことを
    特徴とする表面性状を評価する装置。
JP11137186U 1986-07-22 1986-07-22 Pending JPS6319246U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11137186U JPS6319246U (ja) 1986-07-22 1986-07-22

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11137186U JPS6319246U (ja) 1986-07-22 1986-07-22

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6319246U true JPS6319246U (ja) 1988-02-08

Family

ID=30991231

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11137186U Pending JPS6319246U (ja) 1986-07-22 1986-07-22

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6319246U (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006170925A (ja) * 2004-12-20 2006-06-29 Dainippon Printing Co Ltd 光沢度測定方法および装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006170925A (ja) * 2004-12-20 2006-06-29 Dainippon Printing Co Ltd 光沢度測定方法および装置
JP4549838B2 (ja) * 2004-12-20 2010-09-22 大日本印刷株式会社 光沢度測定方法および装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6645045B2 (en) Method of measuring thickness of a semiconductor layer and method of manufacturing a semiconductor substrate
JPS6217167B2 (ja)
JPH01305340A (ja) 表裏判別方法および装置
JPS6319246U (ja)
JPH0721405B2 (ja) フーリェ変換方式赤外線膜厚測定方法
JPS6427648U (ja)
JPS6157805U (ja)
JP2522480B2 (ja) 屈折率測定方法
JPH04138339A (ja) 薄膜測定装置
JPS6246358U (ja)
JPS637360U (ja)
JPS61277026A (ja) 偏光角検出方法および偏光角検出装置
JPS6335385Y2 (ja)
JPH027508U (ja)
JPH03110304U (ja)
JPS6137569B2 (ja)
JP2561141Y2 (ja) 拡散反射測定装置
JPS5535229A (en) Measuring instrument for thickness of coating of metal or metalic oxide applied on surface of glass or the like
JPH0663749B2 (ja) 赤外線厚み計
JPH0537201Y2 (ja)
JPS5858019B2 (ja) フククツセツソクテイソウチ
JPS63180658U (ja)
JPH03117749U (ja)
JPH0781838B2 (ja) 延伸フィルムの赤外線厚み測定法
JPH0214005U (ja)