JPS6217167B2 - - Google Patents

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JPS6217167B2
JPS6217167B2 JP56212029A JP21202981A JPS6217167B2 JP S6217167 B2 JPS6217167 B2 JP S6217167B2 JP 56212029 A JP56212029 A JP 56212029A JP 21202981 A JP21202981 A JP 21202981A JP S6217167 B2 JPS6217167 B2 JP S6217167B2
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JP
Japan
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infrared rays
sensor
coating
measures
coating surface
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JP56212029A
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English (en)
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JPS58115306A (ja
Inventor
Yoshasu Terasaka
Masao Tanabe
Masanori Hori
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Chugai Ro Co Ltd
Original Assignee
Chugai Ro Co Ltd
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Publication date
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Priority to FR8221998A priority patent/FR2519139B1/fr
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Publication of JPS6217167B2 publication Critical patent/JPS6217167B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B05—SPRAYING OR ATOMISING IN GENERAL; APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
    • B05C—APPARATUS FOR APPLYING FLUENT MATERIALS TO SURFACES, IN GENERAL
    • B05C11/00—Component parts, details or accessories not specifically provided for in groups B05C1/00 - B05C9/00
    • B05C11/02—Apparatus for spreading or distributing liquids or other fluent materials already applied to a surface ; Controlling means therefor; Control of the thickness of a coating by spreading or distributing liquids or other fluent materials already applied to the coated surface
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B11/06—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material
    • G01B11/0616—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material of coating
    • G01B11/0625—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material of coating with measurement of absorption or reflection

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
  • Coating Apparatus (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、鋼板等に塗布した塗膜厚を連続的に
測定する測定装置に関するものである。
近年、カラー鋼板等の塗膜厚を連続して測定す
るため、赤外線を使用した測定装置が提案されて
いる。
これは、塗料の成分により特定波長の赤外線が
塗料に吸収されるという性質を利用したもので、
連続して搬送されて来る塗装を施した鋼板に、基
準黒体炉から基準赤外線を照射し、鋼板によつて
反射された赤外線をフイルタを介して測定し、塗
膜により吸収された赤外線を測定することによつ
て塗膜厚を検出するようにしたものである。
しかしながら、従来の単波長赤外線を使用した
ものでは、多品種の塗料の塗膜厚を同程度の高精
度で測定することができないという欠点があつ
た。
本発明者は前記欠点について種々検討の結果、
多種類の物体に対応できる帯域波長のフイルタを
使用し、時分割により塗膜の赤外線透過信号、反
射原板からの放射信号および温度による放射信号
を用いて周期的に比較補正することが極めて有効
であることを見出した。
本発明は前記の事実にもとづいてなされたもの
で、物体の温度により放射される赤外線および周
囲から入射する赤外線により塗膜厚に及ぼす影響
を除き正確に塗膜厚を測定するようにした塗膜厚
連続測定装置を提供することを目的とする。
本発明装置は前記目的を達成するため、赤外線
を照射する基準黒体炉と、塗膜面で一部が吸収さ
れて減衰した後の原板から反射した未吸収赤外線
の強さを測定するセンサと、前記基準黒体炉近傍
の塗膜面から温度により放射される赤外線を測定
するセンサと、前記赤外線のうち所定範囲の波長
を通過させる少なくとも１個のフイルタとを設け
るとともに、時分割により前記塗膜面で一部が吸
収されて減衰した後の原板から反射した未吸収赤
外線の強さを測定するセンサからの信号と前記基
準黒体炉近傍の塗膜面から温度により放射される
赤外線を測定するセンサからの信号と、塗膜面を
遮蔽したとき各センサに入射する赤外線等により
出力される基準信号と基準サンプルの測定にもと
づく検出信号とから膜厚を演算する制御装置とを
設けたことを特徴とする。
つぎに、本発明を一実施例である図面にしたが
つて説明する。
図において、１は原板２上に塗膜３を有する被
照射物体であるカラー鋼板である。４は前記カラ
ー鋼板１の搬送通路に近接し、かつ塗膜面に対向
するように配置された赤外線検知部で、該検知部
４は、ケース５、半球形基準黒体炉６、半球形キ
ヤビテイ８、フイルタ１１および反射部１２を有
する回転セクタ１０、集光レンズ１４、１５およ
び赤外線センサ１６、１７からなる。
そして、前記基準黒体炉６は被照射物体１に近
接するように設けられ、温度センサを用いて高精
度に温度制御された電熱ヒータ（いずれも図示せ
ず）を有し、カラー鋼板１に基準赤外線ビームを
照射するものである。また、半球形キヤビテイ８
は、前記基準黒体炉６のカラー鋼板１のライン進
行方向側に併設したものである。
前記回転セクタ１０は、モータ１３により定速
回転し、同一円周上に複数個の所定範囲の波長、
たとえば１〜３μｍ、３〜６μｍをもつ帯域波長
フイルタ１１および反射原板の役割を果す反射部
１２を有するもので、前記基準黒体炉６および半
球形キヤビテイ８の頂部に設けた孔７，９を透過
した赤外線ビームのうち、塗膜３に一部吸収され
て減衰した後の未吸収の帯域の赤外線および反射
部１２の塗膜面と反対側から放射される赤外線を
時分割により間欠的に選択するものである。
そして、前記フイルタ１１を透過した赤外線ビ
ームおよび反射部１２で放射される基準赤外線ビ
ームは集光レンズ１４，１５で集光されて赤外線
センサ１６，１７で検出され、赤外線量に応じた
電気信号に変換され、それぞれ赤外線信号および
基準信号とされた後、ケース５外の信号処理装置
１８，１９に時分割的に出力され、ここで赤外線
量に対応する出力信号となつて演算装置２０に入
力される。演算装置２０はたとえば比較装置２１
および函数変換装置２２を有し、比較装置２１で
は、前記信号処理装置１８からの出力より、信号
処理装置１９からの出力が差引演算され、つま
り、カラー鋼板１の温度にもとづき放射される基
準赤外線量を除いてカラー鋼板１の温度による影
響を除去したのち、吸光度に変換されて函数変換
装置２２に入力される。
一方、函数変換装置２２には、検定入力装置２
３から多くの既知の標準カラー鋼板１のオフライ
ンでの検定データ、すなわち、塗料吸収係数およ
び原板反射係数等が入力されている。なお、前記
原板反射係数をラインの変動に対応して周期的
に、または連続的に補正するため、ライン入力装
置２４を設けてライン側の前処理条件の計測信号
（原板のみがき量、化成被膜量等）を周期的に、
または連続的に入力してもよい。
そして、前記函数変換装置２２では前記演算装
置２１からの出力信号を、入力されている測定対
象カラー鋼板１の基準塗料吸収係数と原板反射係
数等の基準情報から函数変換処理を行ない、塗膜
厚を絶対値として算出し、これを塗膜厚表示記録
信号出力装置２５に出力して表示記録、場合によ
つては、この出力信号によりコータ部を制御して
塗膜厚を調整する。なお、本発明装置と類似の装
置を用いて未塗布原板の反射係数等を測定し、原
板反射係数を自動的に補正することにより一層精
度の高い塗膜厚測定を行なうこともできる。ま
た、カラー鋼板１の黒体炉６からの照射にもとづ
く昇温は極めて少ないため、半球形キヤビテイ８
は黒体炉６の反対側に設置してもよく、省略して
もよい。
さらに、実施例で回転セクタ１０の反射部１２
から得た基準赤外線ビームは、他の位置から入力
させてもよく、この基準赤外線ビームの基準信号
を入力装置２４から入力してもよい。さらに、フ
イルタ１１を回転セクタ１０に設けなく他の場所
に設けてもよい。
以上の説明で明らかなように、本発明にかかる
塗膜厚連続測定装置によれば、基準黒体炉から所
定帯域波長の赤外線を、カラー鋼板等の被測定物
の塗膜面に照射して、その原板からの反射量から
塗膜部により吸収された赤外線および反射部から
放射される赤外線の内の所定波長範囲の赤外線量
を測定する。さらに、これらの検出信号と基準サ
ンプルの測定にもとづく検出信号とから膜厚を演
算する制御装置を設け、多種類の前処理条件に応
じて補正するとともに、原板の反射係数を補正す
るようにした。そのため特定の波長に特有の吸収
特性を有する各種の塗料を使用する場合にも一台
の装置で極めて正確に塗膜厚を連続して測定する
ことができる。したがつて、本発明を適用するこ
とにより、従来、３μの塗膜厚制御が限度であつ
たものが１μ以下まで制御可能となり、塗料等の
節約は勿論のこと、十分な品質管理を行なうこと
ができるという効果を奏する。
なお、被測定物としては、カラー鋼板に限ら
ず、ラミネートを施したフイルムのラミネート
厚、水膜等、赤外線吸収物質を有する物であれば
適用可能であることは勿論である。
【図面の簡単な説明】
第１図は本発明にかかる塗膜厚連続測定装置の
概略説明図で、第２図は回転セクタの平面図であ
る。 １…被照射（測定）物体、２…原板、３…塗
膜、６…基準黒体炉、８…半球形キヤビテイ、１
０…回転セクタ、１１…フイルタ、１２…反射
部、１６，１７…赤外線センサ、１８，１９…信
号処理装置、２０…演算装置、２１…比較装置、
２２…函数変換装置、２３…検定入力装置、２４
…ライン入力装置、２５…塗膜厚表示記録信号出
力装置。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. １ 原板上の塗膜面に赤外線を照射して反射した
    赤外線量から塗膜厚を測定する装置において、赤
    外線を照射する基準黒体炉と、塗膜面で一部が吸
    収されて減衰した後の原板から反射した未吸収赤
    外線の強さを測定するセンサと、前記基準黒体炉
    近傍の塗膜面から温度により放射される赤外線を
    測定するセンサと、前記赤外線のうち所定範囲の
    波長を通過させる少なくとも１個のフイルタとを
    設けるとともに、時分割により前記塗膜面で一部
    が吸収されて減衰した後の原板から反射した未吸
    収赤外線の強さを測定するセンサからの信号と前
    記基準黒体炉近傍の塗膜面から温度により放射さ
    れる赤外線を測定するセンサからの信号と、塗膜
    面を遮蔽したとき各センサに入射する赤外線等に
    より出力される基準信号と基準サンプルの測定に
    もとづく検出信号とから膜厚を演算する制御装置
    とを設けたことを特徴とする塗膜厚連続測定装
    置。
JP56212029A 1981-12-29 1981-12-29 塗膜厚連続測定装置 Granted JPS58115306A (ja)

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JP56212029A JPS58115306A (ja) 1981-12-29 1981-12-29 塗膜厚連続測定装置
DE19823248157 DE3248157A1 (de) 1981-12-29 1982-12-27 Vorrichtung zum messen der dicke einer beschichtung auf einer unterlage
US06/453,935 US4549079A (en) 1981-12-29 1982-12-28 Apparatus for measuring thickness of paint coating
FR8221998A FR2519139B1 (fr) 1981-12-29 1982-12-29 Appareil de mesure de l'epaisseur d'un revetement de peinture

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JPS58115306A JPS58115306A (ja) 1983-07-09
JPS6217167B2 true JPS6217167B2 (ja) 1987-04-16

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DE (1) DE3248157A1 (ja)
FR (1) FR2519139B1 (ja)

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