JPS63180872A - Test system of electronic equipment - Google Patents
Test system of electronic equipmentInfo
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- JPS63180872A JPS63180872A JP62012370A JP1237087A JPS63180872A JP S63180872 A JPS63180872 A JP S63180872A JP 62012370 A JP62012370 A JP 62012370A JP 1237087 A JP1237087 A JP 1237087A JP S63180872 A JPS63180872 A JP S63180872A
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Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、高信頼化コンピュータにおける冗長構成、縮
退機能を有する電子機器に係り特に保守交換モジュール
の交換作業時の試験を効率良く、かつ、並行保守時の診
断を自動的に行うに好適な電子機器の試験方式に関する
。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to electronic equipment having a redundant configuration and degeneracy function in highly reliable computers, and particularly to efficient testing during replacement work of maintenance replacement modules, and The present invention relates to a test method for electronic equipment suitable for automatically performing diagnosis during parallel maintenance.
従来の装置は、オンライン中あるいは、オフライン中の
試験を問わず、その対象装置を指定すると、装置内の全
体の構成ユニットを試験対象としていた。しかし、フォ
ールト・トレーラントな構成の要求されるシステムでは
、短時間に当該不良部位を効率よく、しかもオンライン
中に行う必要があり、装置内全体でなく交換部位のみを
対象とした試験な挿核時に行えるようにする方式は今ま
で考えられていない。In conventional devices, when a target device is designated, the entire component unit within the device is tested, regardless of whether the test is online or offline. However, in systems that require a fault-tolerant configuration, it is necessary to perform test nucleation of the defective part in a short time, efficiently, and while online. Until now, no method has been thought of that would allow this to be done at any time.
なお、この種の従来技術としては、例えば特公昭55−
43531号公報に記載されるものがある。In addition, as this type of conventional technology, for example, Japanese Patent Publication No. 55-
There is one described in Japanese Patent No. 43531.
上記従来技術は、高信頼化された電子機器や、オンライ
ン内の装置における保守交換作業について、当該交換部
位あるいはモジー−ルのみの試験や診断についての配慮
がなされておらず、自動的。The above-mentioned conventional technology does not take into account testing or diagnosis of only the replacement part or module when it comes to maintenance and replacement work for highly reliable electronic equipment or online equipment, and it is automatic.
手動的あるいは、オンライン、オフラインを問わず、交
換対象以外のユニット、モジュールをも試験対象として
おり、システムの複雑化、高機能化あるいは、診断時間
の延長などにより、効率向上が望めず、かつ、試験時間
の短縮化により精度が低下するという問題があった。Units and modules that are not subject to replacement are also tested, whether manually, online or offline, and efficiency cannot be expected to improve due to system complexity, high functionality, or extended diagnostic time. There was a problem in that the accuracy decreased due to the shortening of the test time.
本発明の目的は、上記問題を解決し、当該保守交換部位
をオンライン中に電源投入状態のまま交換可能な状態と
するホラ) IJプレース(活線挿板)検出信号と、そ
れを送受信する回路と、その信号なトリガとして診断、
試験用モジュールあるいは当該試験プログラムを起動し
試験を実行して当該交換部位のみ正常/異常の状態につ
いて、オンライン中の保守時に試験できる電子機器の試
験方式を提供することにある。The purpose of the present invention is to solve the above-mentioned problem and to enable the maintenance/replacement part to be replaced while the power is turned on while online.IJ place (hot insertion) detection signal and a circuit for transmitting and receiving it. and that signal as a trigger for diagnosis,
The object of the present invention is to provide a test method for electronic equipment that can test whether the replacement part is normal or abnormal by starting the test module or the test program and performing the test during online maintenance.
上記目的は、電子計算機やオンラインシステムを構成し
ているそれぞれの電子機器において、その機器内の保守
作業の交換単位である複数のプリント配線板やモジュー
ルや電源部のモジー−A内の各コネクタ部と活線挿妓が
可能なコネクタ部とを有し、当該保守交換モジュール内
に挿抜検出信号を設けて、交換モジー−ルの外部又は内
部にある診断用モジュールにその信号を送出しその信号
を受けた試験用モジュールが、当該保守交換部位のみに
、試験をオンライン中に行うことにより達成される。The above purpose is to connect multiple printed wiring boards, modules, and connectors in the module A of the power supply unit, which are the replacement unit for maintenance work in each electronic device that makes up a computer or online system. and a connector part that can be hot-plugged, and an insertion/removal detection signal is provided in the maintenance/replacement module, and the signal is sent to a diagnostic module located outside or inside the replacement module. This is achieved by testing the tested module only at the maintenance/replacement part while it is online.
各保守交換部位内に有するホットリプレース(活線挿板
)検出回路により診断を制御する診断プロセッサ内の各
交換部位に対応した試験プログラムモジュールを呼び出
しその信号をインタフェースバスを経由して送受信可能
とする。これにより、情報処理装置のどの部分が、故障
しても代替部あるいは、縮退状態で運転しているシステ
ムの修復時の試験9診断作業が自動的に行われるように
なるので、システム全体に、保守、修復、試験時の影響
を与えることがない。Diagnosis is controlled by a hot-replacement detection circuit in each maintenance/replacement part.The test program module corresponding to each replacement part in the diagnostic processor is called and the signal can be sent and received via the interface bus. . As a result, even if any part of the information processing device fails, a replacement part or Test 9 diagnostic work when repairing a system operating in a degraded state can be automatically performed, so that the entire system can be No impact on maintenance, repair, or testing.
以下、本発明の一実施例をM面により詳細に説明する。 Hereinafter, one embodiment of the present invention will be explained in detail using the M plane.
、3 。, 3.
第1図は、本発明の一実施例である電子部品の試験方式
を説明するための図である。第1図において、Aはオン
ライン稼動中の情報処理装置で保守時にホットリプレー
ス可能な保守交換の部位1及び2を内蔵しており、これ
らは、中央処理部。FIG. 1 is a diagram for explaining a test method for electronic components, which is an embodiment of the present invention. In FIG. 1, A is an information processing device operating online and has built-in maintenance/replacement parts 1 and 2 that can be hot-replaced during maintenance, and these are the central processing unit.
主記憶部、チャネル制御部などにて構成されている場合
と、前記各部位が1又は2内に全て含まれているマルチ
プロセッサタイプの場合でもよく、あるいは、1又は2
が、オンライン中に交換可能な電源モジュールでもよい
。Bは、本発明による試験方式の為の診断プロセッサで
、通常、サービスプロセッサと呼ばれ、稼動中のオペレ
ータコンソール、保守時の診断、試験などの機能を有し
ているプロセッサであり、例えば、A内の2の保守交換
部位が、稼動中に故障が検出され、代替モジュールであ
る保守交換部2°にて運転中、保守交換部2を修復する
ために、試験・診断を行う必要がある。It may be composed of a main memory section, a channel control section, etc., or it may be a multiprocessor type in which all of the above sections are included in 1 or 2.
However, it may be a power supply module that can be replaced while online. B is a diagnostic processor for the test method according to the present invention, which is usually called a service processor and has functions such as an operator console during operation, diagnosis during maintenance, and testing. A failure was detected in two of the maintenance/replacement parts during operation, and it is necessary to perform testing and diagnosis in order to repair the maintenance/replacement part 2 while the maintenance/replacement part 2°, which is a replacement module, is in operation.
本実施例では、ホットリプレース可能な交換部位に有す
る挿抜検出信号3をB内の診断制御部4・ 4 ・
すなわち、診断プログラムを制御するモジュールを起動
しその診断制御部4内に格納されたモジュールをセレク
トする。ここでは、保守交換部2に対応するテーブル内
に予めセットされた試験モジュール6がセレクトされ、
自動的に、診断バス7を通じての試験モジー−ル6が、
A内の保守交換部2に送られる。A内の保守交換部2は
、この試験モジュール6のテストを実行し、遂次3の信
号線にて、結果をBに送る。また信号線3は、保守交換
部2を識別する信号を付加している。以上の試験が完了
すると、Bは、テスト結果をオペレーティングシステム
などに報告し、保守交換部2の故障部位が、正常復帰し
たことを知らせることができ、再びAは正常性能状態に
て、運転可能となる。In this embodiment, the insertion/removal detection signal 3 having a hot-replaceable replacement part is sent to the diagnostic control unit 4 in B. In other words, the module that starts the module that controls the diagnostic program and is stored in the diagnostic control unit 4 Select. Here, the test module 6 preset in the table corresponding to the maintenance exchange section 2 is selected,
Automatically, the test module 6 via the diagnostic bus 7
It is sent to the maintenance exchange department 2 in A. The maintenance exchange section 2 in A executes the test on the test module 6, and then sends the results to B through the signal line 3. Further, the signal line 3 has a signal added thereto for identifying the maintenance/replacement section 2. When the above tests are completed, B can report the test results to the operating system, etc., and notify that the faulty part of the maintenance/replacement unit 2 has returned to normal, and A can again operate under normal performance conditions. becomes.
本実施例では、A、Bを別々にしてわかりやすく説明し
たが、BはA内にあってもよく、また、B内の試験モジ
ュール6は、各々の交換部位内に内蔵されていてもよい
。次に第2図により、第1図の保守交換部2の詳細を説
明する。8は、PKb挿板検出回路であり、その出力信
号が送信ピン11と送信用コネクタ12を経由して、第
1図のBに報告され、その結果として、試験用信号がコ
ネクタ13.試験用信号ピン14を経由して送られてく
る。In this embodiment, A and B are explained separately for easy understanding, but B may be located within A, and the test module 6 within B may be built into each replacement part. . Next, with reference to FIG. 2, details of the maintenance/replacement section 2 shown in FIG. 1 will be explained. 8 is a PKb insertion detection circuit, and its output signal is reported to B in FIG. It is sent via the test signal pin 14.
Bで選択された、試験のための開始信号とそのテストパ
ターンが、同期されて試験用回路10に入力され、被試
験回路の論理回路群9を試験することができる。試験終
了後の正常/異常信号は、挿板検出回路8と併用してB
に報告できる。The test start signal and its test pattern selected in B are synchronized and input to the test circuit 10, so that the logic circuit group 9 of the circuit under test can be tested. The normal/abnormal signal after the test is detected by B in conjunction with the board insertion detection circuit 8.
can be reported to.
本実施例によれば、フォールト・トレーラントなシステ
ムにおいて、保守交換作業を電源投入状態で行う場合の
交換部位の組替え、正常復帰させるための試験において
、A内の全対象モジュールに対して試験を行う必要がな
(、きわめて、短時間で、種々のオペレーションを省い
て実行することができ、オンライン中の試験工数の大幅
な短縮が可能である。また本方式による保守作業は、高
度な技術の習熟を必要とせずに、実施できる。According to this embodiment, in a fault-tolerant system, when performing maintenance/replacement work with the power turned on, all target modules in A are tested for rearranging replacement parts and restoring normality. (It can be executed in an extremely short time, omitting various operations, and it is possible to significantly reduce the number of man-hours required for online testing. Also, maintenance work using this method requires advanced technology. Can be performed without any skill.
以上の説明から明らかなように、本発明によれハ、フォ
ールト・トレーラントなシステムにおいて、保守交換作
業を電源投入状態で行う場合の交換部位の組替え、正常
復帰させるための試験において、A内の全対象モジュー
ルに対して試験を行う必要がなく、きわめて短時間で、
種々のオペレージ目ンを省いて実行することができ、オ
ンライン中の試験が容易になるという効果がある。As is clear from the above description, according to the present invention, in a fault-tolerant system, when maintenance and replacement work is performed with the power turned on, the parts to be replaced are rearranged and the test for returning to normality is performed. There is no need to test all target modules, and the test can be completed in a very short time.
This has the effect that it can be executed without performing various operations, and that it facilitates online testing.
第1図は本発明の一実施例である電子機器の試験方式を
示すブロック図、第2図は保守交換部2の詳細を説明す
るための図である。
A・・・情報処理装置、 B・・・診断プロセッサ、
1・・・保守交換部位、
2・・・保守交換部位(故障時を示す。)、2・・・2
の代替部位、 3・・・挿核検出信号、4・・・診
断制御部、 5・・・試験モジュール、6・・・
2の対応試験モジュール、
7・・・診断バス。FIG. 1 is a block diagram showing a test method for electronic equipment according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a diagram for explaining details of the maintenance/replacement section 2. As shown in FIG. A... Information processing device, B... Diagnostic processor,
1...Maintenance/replacement part, 2...Maintenance/replacement part (indicates failure), 2...2
Alternative part of 3... Nucleus insertion detection signal, 4... Diagnosis control unit, 5... Test module, 6...
2. Corresponding test module, 7. Diagnosis bus.
Claims (1)
れぞれの電子機器において、その機器内の保守作業の交
換単位である複数のプリント配線板やモジュールや電源
部のモジュール内の各コネクタ部と活線挿抜が可能なコ
ネクタ部とを有し、前記当該保守交換モジュール内に挿
抜検出信号を設けて、交換モジュールの外部又は内部に
ある診断用モジュールにその信号を送出しその信号を受
けた試験用モジュールが、当該保守交換部位のみに、試
験をオンライン中に行うことを特徴とする電子機器の試
験方式。1. In each electronic device that makes up a computer or online system, hot-swapping is performed with each connector in the multiple printed wiring boards, modules, and power supply modules that are the replacement units for maintenance work within the device. A connector part that is capable of configuring an insertion/removal detection signal is provided in the maintenance/replacement module, and the signal is sent to a diagnostic module located outside or inside the replacement module, and the test module receives the signal. , a testing method for electronic equipment characterized by testing only the relevant maintenance/replacement parts while online.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62012370A JPS63180872A (en) | 1987-01-23 | 1987-01-23 | Test system of electronic equipment |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62012370A JPS63180872A (en) | 1987-01-23 | 1987-01-23 | Test system of electronic equipment |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63180872A true JPS63180872A (en) | 1988-07-25 |
Family
ID=11803378
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62012370A Pending JPS63180872A (en) | 1987-01-23 | 1987-01-23 | Test system of electronic equipment |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63180872A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04222030A (en) * | 1990-12-25 | 1992-08-12 | Fujitsu Ltd | Active insertion/ejection testing system for device in multiplex system |
-
1987
- 1987-01-23 JP JP62012370A patent/JPS63180872A/en active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04222030A (en) * | 1990-12-25 | 1992-08-12 | Fujitsu Ltd | Active insertion/ejection testing system for device in multiplex system |
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