JPS63176459A - 真空蒸着装置における蒸着速度の制御方法 - Google Patents

真空蒸着装置における蒸着速度の制御方法

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JPS63176459A
JPS63176459A JP684587A JP684587A JPS63176459A JP S63176459 A JPS63176459 A JP S63176459A JP 684587 A JP684587 A JP 684587A JP 684587 A JP684587 A JP 684587A JP S63176459 A JPS63176459 A JP S63176459A
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electron beam
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electron
deposition rate
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忍 中島
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、真空槽内にて、電子ビーム蒸発源から膜材
料を溶融、蒸発させて、被処理物の表面に薄膜を生成す
る真空蒸着装置を制御対象として、その電子ビームパワ
ーの操業スケジュー゛ルの制御と、薄膜の生成速度を制
御する制御方法に関する。
[従来の技術] 本制御方法の制御対象となる真空蒸着装置は、膜材料を
蒸発させる手段として電子ビームを用シするものであっ
て、例えば、機械工具や金属部品の耐摩耗性や耐食性を
高めるため、または時計やメガネなどの装飾効果をねら
って、それらの表面に金属や化合物の薄膜を生成するイ
オンブレーティングや真空蒸着の分野において使用され
ている。
従来、このような真空蒸着装置における蒸着速度の制御
は、第4図に示すような制御装置によって行なわれてい
た。図においてlは真空槽であって、その内部には電子
ビーム蒸発源2が備わり、その膜材料3を電子ビーム4
によって蒸発させるようになっている。真空槽1内には
、蒸着速度を検出するためのセンサー5が備えられてい
て、その検出信号を入力した膜厚コントローラー6が電
子ビーム蒸発源2における電子銃の電源7を制御する。
膜厚コントローラー6は、蒸着起動時に電子ビームパワ
ーを徐々に上昇させて立ち上げる機能と、立ち上がり後
に電子ビームパワーを制御して、設定通りの蒸着速度を
維持する機能とを合わせ持っている。すなわち、膜厚コ
ントローラー6は、予めプログラムされた1つのランプ
パターンにしたがって電子ビームパワーを立ち上げると
共に、立ち上がり後は、内臓されたPIDID制御機上
って電子ビームパワーを制御して、設定通りの蒸着速度
を保つ。
このように、膜厚コントローラー6は、ただ1つのプロ
グラムにしたがって電子ビームパワーを立ち上げている
。そのため、電子ビームパワーを通常通り立ち上げると
きの立ち上がりパターンと、異常停止後に再び立ち上げ
るときの立ち上がりパターンは同じであった。
[発明が解決しようとする問題点] ところで、異常停止後に電子ビームパワーを再び立ち上
げるときは、その異常停止前に既に膜材料2は加熱され
ているため、敢えてそれを長時間かけて加熱する必要は
ない。
しかし、膜厚コントローラー6は、膜材料2が既に加熱
されているか否かに拘わらず、1つのパターンにしたが
って電子ビームパワーを立ち上げるため、立ち上げ時間
を不必要に費やすという問題があった。
この発明は、このような問題を解決する乙のである。
[問題点を解決するための手段] この発明の真空蒸着装置における蒸着速度の制御方法は
、真空槽内にて、電子ビーム蒸発源から膜材料を溶融、
蒸発させて、被処理物の表面に薄膜を生成する真空蒸着
装置において、 異常停止した後の電子ビーム蒸発源の電子銃を再び立ち
上げるときは、その電子銃が最初に立ち上がるときより
も急峻なカーブを描く起動パターンにしたがって電子銃
の電子ビームパワーを立ち上げ、 電子銃の電子ビームパワーの立ち上げ後は、膜厚計から
モニターする蒸着速度を基に、設定通りの蒸着速度を維
持するために必要な電子銃のバイアス値をアルゴリズム
算法によって求め、そのバイアス値を電子銃にかけるこ
とを特徴とする。
[作用 ] この発明の真空蒸着装置における蒸着速度の制御方法は
、異常停止後に電子ビームパワーを再び立ち上げるとき
は、通常の場合よりも速く立ち上げて、情況に合うよう
に立ち上げ時間を短縮する。
そして、電子ビームパワーの立ち上げ後は、膜厚計から
モニターする蒸着速度を基に、設定通りの蒸着速度を維
持するために必要な電子銃のバイアス値をアルゴリズム
算法によって求めて、そのバイアス値を電子銃にかける
[実施例] 以下、この発明の一実施例を第1図ないし第3図に基づ
いて説明する。
まず、本制御方法を実施するための装置の構成について
説明する。
図において、11は真空槽であり、その内部は図示しな
い排気装置によって真空排気される。真空槽!!内には
膜材料12が入ったるつぼ13が備えられ、その膜材料
12に電子銃14の電子ビーム15を照射することによ
り、膜材・料12を加熱、蒸発させるようになっている
。また、真空槽11内には薄膜センサー!6が備えられ
ていて、この薄膜センサー!6は、表面に堆積する薄膜
の厚さを検出する。その検出信号aは、膜厚計17によ
って処理されて、蒸着速度信号すとし、て出力される。
蒸着速度信号すは、−次遅れや絶縁変換器などの信号変
換器18によって平滑化、アイソレートされ、アナログ
の蒸着速度信号Cとしてデータ処理装置19に入力され
る。データ処理装置19は、蒸着速度信号Cに基づいて
、ラン・ストップ信号dと、プログラム選択信号eと、
バイアス信号rを出力する。そして、これらの信号に基
づいて、信号設定器20が電子銃電源21に対する外部
信号gを出力するようになっている。
電子銃電源2!は、パワーラインLによって電子銃14
に必要な電圧、電流を与えるものであり、例えば、電子
銃14のビーム加速電圧を一定に保ったまま、外部信号
gに基づいてビーム電流を増減することにより、ビーム
パワーを制御する。また、電子銃電源21が異常放電し
て停止したときは、信号りによって、その異常停止がデ
ータ処理装置19にて検知できるようになっている。
このような制御装置による実際の制御は次の通りである
通常の蒸着開始の場合は、まず、膜材料12を予熱する
必要がある。そこで、データ処理装置19は、第2図(
a)のような起動パターンを選択して、プログラムのラ
ンをかける。この起動パターンは、数分かけてゆっくり
と電子ビームパワーを立ち上げて、膜材料12を予熱す
るパターンである。
そして、電子ビームパワーが一定となって、起動が完了
した後は、データ処理装置19に予め設定されている蒸
着速度になるように電子ビームパワーを制御する。デー
タ処理装置!9は、蒸着速度信号Cを離散的に参照し、
それらのデータから算出する操作mを現在のパワー出力
に対する増減としてバイアス値で設定する。そのバイア
ス値は下式によって算出する。
a (k)−K p(y(k−1)−y(k)) + 
K 1(r−y(k))+ K d(2y(k −1)
−y(k−2)−y(k))α(k)二時間(L= T
 k)におけるバイアス値y(k) :時間(t=Tk
)における蒸着速度「  :蒸着速度設定値 KP:PID制御比例定数 Ki:PID制御積分定数 Kd:PID制御微分定数 T  :サンプリング時間 第3図に、起動から蒸着速度制御までの電子ビームパワ
ーの変化を表す。図において、サンプリング時間T毎の
電子ビームパワーの変化量がバイアス値に相当する。
ところで、上記のアルゴリズムは、バイアス値を算出す
る方法であるため、制御ループが停止しても電子ビーム
パワーは一定に保たれるということを意味する。つまり
、仮に、電子銃14の異常放電時のノイズによって膜厚
計17が停止し、蒸発速度が検出できないために制御ル
ープを停止させたとしても蒸着の操業は継続できること
になる。
このことは、例えば、蒸発源が移動するようなシステム
において、蒸発源と薄膜センサー16の位置が相対的に
変化する場合に有効であり、蒸発源が所定の位置にある
時にのみ制御ループを回し、その他の位置にある時は制
御ループを停止させることができる。
次に、操業中の電子銃14が異常放電停止した後に、再
立ち上げをする場合について説明する。
この場合には、まず、データ処理装置!9が電子銃14
の停止を検知して、信号設定器20を停止させる。それ
から、データ処理装置!I:19は、信号設定器20の
再起動パターンを選択してランをかける。再起動パター
ンは、第2図(b)に表すように、電子ビームパワーを
素早く立ち上げるパターンである。これは、異常放電停
止前に既に膜材料12が加熱されていて、短時間の立ち
上げが可能であるからである。再起動完了後は、停止前
にかけられていたバイアス値をデータ処理装置19にて
再び設定して、設定蒸着速度が保たれていた停止前の状
態に戻す。
一般の蒸着装置の場合は、起動、再起動、蒸着速度制御
の他に、被処理物と蒸発源との間を遮断するためのシャ
ッターの開閉と、化合物薄膜を生成するためのガスの導
入と圧力制御と、最終膜厚達成の判断などの機能が必要
となる。しかし、これらの機能は、専用の制御機器とデ
ータ処理装置19の組合せによって得ることができる。
したがって、起動制御、蒸着速度制御と共に、信頼性が
高くて蒸着速度の一定な薄膜生成の自動化を実現するこ
とができる。
ところで、本実施例における制御装置自体には次のよう
な特徴がある。
■、上述したように、プログラムされたパターンにした
がう信号を電子銃電源21に与えて電子ビームパワーを
操作する信号設定器20と、−制御アルゴリズム演算を
主に行うデータ処理装置19と、蒸着速度を検出するた
めの膜厚計17とを含めて、制御ループを構成している
ため、放電ノイズ等によって蒸発速度の検出が不能とな
った場合でも、信号設定器20からの信号によって電子
ビームを停止させないようにすることができる。つまり
、膜厚計16については、それが合わせ持つ多機能の内
の蒸着速度検出機能だけを利用し、他の機能については
別の機器に分散させることにより、膜厚計17が停止し
たとしても操業を続行することができる訳である。
■、一般に、廉価にでまわっているプログラマブル信号
設定器20と、データ処理装置19を組み合わせること
によって、電子銃停止時の再起動などのフレキシブルな
操業が可能であり、またデータ処理装置19のソフトウ
ェアの負荷も軽減することができる。
■、蒸発速度制御に速度アルゴリズムを用いてバイアス
値のみに注目するため、制御が不可能となった場合には
、制御ループを停止させるだけで対応して、電子ビーム
パワーをホールドしておくことができる。したがって、
装置全体の大型化によって、蒸発源が移動するような場
合にも応用することができる。
00以上の■■■により、装置全体の自助化が可能とな
る。
ちなみに、前述した第4図の従来の制御装置の場合は、
電子ビームパワーを立ち上げる機能と、電子ビームパワ
ーを制御して蒸着速度を設定値に保つ機能とを合わ、せ
持っ膜厚コントローラー6の対ノイズ性、が低く、製品
としては研究用の領域を出なかった。したがって1.化
1産、川に使用した場合には、電子銃の異常放電によっ
てCPUが暴走することがあり、操業に対する信頼性が
低い。
また、本実施例における制御装置の場合は、数種類の立
ち上げパターンを信号設定器20にプログラムしておい
て、それをデータ処理装置19にて選択することにより
、目的に合った最適な立ち上げパターンによって操業す
ることができる。
なお、この発明を実施するための制御装置の構成が同等
上述した実施例のみに特定されないことは勿論である。
[発明の効果] 以上説明したように、この発明の真空蒸着装置における
蒸着速度の制御方法は、異常停止後に電子ビームパワー
を再び立ち上げるときは、通常の場合よりも速く立ち上
げるた′め、情況に合わせて立ち上げ時間を短縮するこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明を実施するための制御装置のブロック
構成図、第2図(a) 、 (b)は同実施例における
電子ビームパワーの立ち上がりパターンの説明図、第3
図は同実施例における電子ビームパワーの、立ち上がり
後の制御パターンの説明図である。 第4図は従来の制御装置のブロック構成図である。 !!・・・・・・真空槽、  12・・・・・・膜材料
、13・・・・・・るつぼ、  14・・・・・・電子
銃、15・・・・・・電子ビーム、l゛6・・パ−・・
薄膜センサー、17・・・・・・膜厚計、  18・・
・・・・信号変換器、19・・・・・・データ処理装置
、 20・・・・・・信号設定器、 21・・・・・・電子
銃電源。 出願人 石川島播磨重工業株式会社 L 第2図 第3図 第4図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 真空槽内にて、電子ビーム蒸発源から膜材料を溶融、蒸
    発させて、被処理物の表面に薄膜を生成する真空蒸着装
    置において、 異常停止した後の電子ビーム蒸発源の電子銃を再び立ち
    上げるときは、その電子銃が最初に立ち上がるときより
    も急峻なカーブを描く起動パターンにしたがって電子銃
    の電子ビームパワーを立ち上げ、 電子銃の電子ビームパワーの立ち上げ後は、膜厚計から
    モニターする蒸着速度を基に、設定通りの蒸着速度を維
    持するために必要な電子銃のバイアス値をアルゴリズム
    算法によって求め、そのバイアス値を電子銃にかけるこ
    とを特徴とする真空蒸着装置における蒸着速度の制御方
    法。
JP62006845A 1987-01-14 1987-01-14 真空蒸着装置における蒸着速度の制御方法 Expired - Lifetime JPH0781182B2 (ja)

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JPH0781182B2 JPH0781182B2 (ja) 1995-08-30

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001123269A (ja) * 1999-10-21 2001-05-08 Hoya Corp 薄膜形成方法及び装置
JP2010077519A (ja) * 2008-09-29 2010-04-08 Hoya Corp レンズの成膜方法及び蒸着装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5978630U (ja) * 1982-11-18 1984-05-28 株式会社東芝 電子ビ−ム露光装置

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