JPS6317184B2 - - Google Patents
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- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/44—Processing the detected response signal, e.g. electronic circuits specially adapted therefor
- G01N29/4445—Classification of defects
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- G01N29/07—Analysing solids by measuring propagation velocity or propagation time of acoustic waves
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- G01N2291/044—Internal reflections (echoes), e.g. on walls or defects
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は超音波エコーの同定方法及び装置に係
り、特に、被探傷欠陥が複数近接している場合に
用いるに最適な超音波エコーの同定方法及び装置
に関する。
り、特に、被探傷欠陥が複数近接している場合に
用いるに最適な超音波エコーの同定方法及び装置
に関する。
構造物、機器等の超音波探傷検査では、被検体
における欠陥の存否と共に欠陥の大きさの検知が
要求されている。欠陥の大きさの検知に関する従
来の一例に、探触子を直線走査して被検体からの
超音波エコーを観測し、所定の閾値以上のエコー
振幅を示すような探触子の走査距離から欠陥の大
きさを算定すると云う方法がある。この従来例に
ついて、第１図乃至第７図を用いて説明する。
における欠陥の存否と共に欠陥の大きさの検知が
要求されている。欠陥の大きさの検知に関する従
来の一例に、探触子を直線走査して被検体からの
超音波エコーを観測し、所定の閾値以上のエコー
振幅を示すような探触子の走査距離から欠陥の大
きさを算定すると云う方法がある。この従来例に
ついて、第１図乃至第７図を用いて説明する。
第１図は超音波探傷の走査説明図である。被検
体１に存在する欠陥fj，fj+1の大きさを検知する
ために、超音波を入射角θ0で被検体１に入射させ
ると共に該被検体１における反射体（欠陥、形状
境界等）からの超音波エコーを受信する超音波探
触子２（以後、探触子と称する）を図中の太い矢
印の如く、直線状に走査する。該探触子２は、指
向角δを有するので、ｘ軸上の１つの直線走査に
よつて、１つの欠陥fjに対しては第２図のような
超音波エコーR1,i，R1,i+1，…R1,i+nを受信する。
記号R1,iにおける添字は、探触子位置xiで１つの
エコーが受信されたことを意味する。同図中の
t1,i及びp1,iは各々、エコーR1,iの伝播時間及び振幅
を示し、Ｔは入射波（送信波）である。
体１に存在する欠陥fj，fj+1の大きさを検知する
ために、超音波を入射角θ0で被検体１に入射させ
ると共に該被検体１における反射体（欠陥、形状
境界等）からの超音波エコーを受信する超音波探
触子２（以後、探触子と称する）を図中の太い矢
印の如く、直線状に走査する。該探触子２は、指
向角δを有するので、ｘ軸上の１つの直線走査に
よつて、１つの欠陥fjに対しては第２図のような
超音波エコーR1,i，R1,i+1，…R1,i+nを受信する。
記号R1,iにおける添字は、探触子位置xiで１つの
エコーが受信されたことを意味する。同図中の
t1,i及びp1,iは各々、エコーR1,iの伝播時間及び振幅
を示し、Ｔは入射波（送信波）である。
第２図の予め設定した時間ゲート（開始時間
tG、幅TG）の内に現れたエコーから欠陥fjのｘ軸
における大きさを推定するには、第３図に示す如
く、探触子位置ｘに対するエコー振幅ｐの関係を
プロツトし、所定の閾値p0以上となる探触子位置
の走査範囲x^s〜x^eを求め、この値をもつて欠陥fj
の大きさとしている。このような方法で得た各直
線走査の結果を集合すると、第４図の平面図にお
いて、欠陥fjの超音波像fj′が描かれる。
tG、幅TG）の内に現れたエコーから欠陥fjのｘ軸
における大きさを推定するには、第３図に示す如
く、探触子位置ｘに対するエコー振幅ｐの関係を
プロツトし、所定の閾値p0以上となる探触子位置
の走査範囲x^s〜x^eを求め、この値をもつて欠陥fj
の大きさとしている。このような方法で得た各直
線走査の結果を集合すると、第４図の平面図にお
いて、欠陥fjの超音波像fj′が描かれる。
時間ゲート内に唯１つのエコーのみが現れる場
合、すなわち被検体内に欠陥が１つだけか或い
は、複数であつても互いに指向角δの範囲内に入
らない程度に離れている場合は、従来方法でも問
題はない。このようなケースは稀であつて、現実
には、複数の欠陥からのエコーや被検体形状の境
界エコーが得られ、従来方法では、以下に説明す
る如く、欠陥の大きさを正確に検知することが困
離であつた。
合、すなわち被検体内に欠陥が１つだけか或い
は、複数であつても互いに指向角δの範囲内に入
らない程度に離れている場合は、従来方法でも問
題はない。このようなケースは稀であつて、現実
には、複数の欠陥からのエコーや被検体形状の境
界エコーが得られ、従来方法では、以下に説明す
る如く、欠陥の大きさを正確に検知することが困
離であつた。
第１図において欠陥fj及びfj+1の２つが存在す
る場合を例にする。欠陥fjの場合の第２図及び第
３図と同様に、探触子２の１つの直線走査によつ
て第５図のエコーが観測され、所定のゲート時間
（開始時間tG、幅τG）内のエコー振幅の最大値を
探触子位置と対応させると第６図の最大値包絡線
が得られる。閾値p0より大なる探触子位置x^s〜x^e
を、全走査線について集合した結果が第７図のよ
うになる。この第７図から明らかな如く、超音波
像fj′とfj′+1は分離されず１つの欠陥として表示
されている。この理由は、第５図において、欠陥
fjからのエコーR1,i，…R1,i+nと欠陥fj+1からのエ
コーR2,i+1，…R1,i+n+1が時間ゲートに複数のエコ
ーが現れても、最大振幅のみをとらえているため
である。
る場合を例にする。欠陥fjの場合の第２図及び第
３図と同様に、探触子２の１つの直線走査によつ
て第５図のエコーが観測され、所定のゲート時間
（開始時間tG、幅τG）内のエコー振幅の最大値を
探触子位置と対応させると第６図の最大値包絡線
が得られる。閾値p0より大なる探触子位置x^s〜x^e
を、全走査線について集合した結果が第７図のよ
うになる。この第７図から明らかな如く、超音波
像fj′とfj′+1は分離されず１つの欠陥として表示
されている。この理由は、第５図において、欠陥
fjからのエコーR1,i，…R1,i+nと欠陥fj+1からのエ
コーR2,i+1，…R1,i+n+1が時間ゲートに複数のエコ
ーが現れても、最大振幅のみをとらえているため
である。
以上説明した如く、従来方法は、複数の欠陥が
探触子の指向角の範囲内に近接して存在している
場合に、１つの大きな欠陥が存在していると誤認
し、欠陥の大きさを正確に検知できないと云う欠
点がある。
探触子の指向角の範囲内に近接して存在している
場合に、１つの大きな欠陥が存在していると誤認
し、欠陥の大きさを正確に検知できないと云う欠
点がある。
本発明の目的は、超音波エコーの同定を行ない
受信したエコーがどの欠陥からのものであるかを
逐一区分し欠陥の大きさを正確に検知する超音波
エコーの同定方法及び装置を提供するにある。
受信したエコーがどの欠陥からのものであるかを
逐一区分し欠陥の大きさを正確に検知する超音波
エコーの同定方法及び装置を提供するにある。
すなわち本発明は、探触子の移動前と移動後に
得られた２つのエコーの伝播時間（距離）が、探
触子の入射角、指向角で定まる所定幅内に収まつ
ていれば、これら２つのエコーは同一欠陥から反
射されたものと見做すようにしたものである。
得られた２つのエコーの伝播時間（距離）が、探
触子の入射角、指向角で定まる所定幅内に収まつ
ていれば、これら２つのエコーは同一欠陥から反
射されたものと見做すようにしたものである。
第８図は欠陥fjを斜角探触子２によつて探傷す
る場合を例に本発明の原理を説明する。
る場合を例に本発明の原理を説明する。
被検体１におけるｘ―ｚ平面で、探触子２はそ
の移動前（位置xi）に欠陥fjからのエコーを受信
したことから始まる。超音波エコーの伝播距離li
は伝播時間から求められる。この場合、欠陥fjに
当つた超音波の角度θ〓（指向性のため正確な角度を
意味しないことから〜を付す）は、探触子に指向
特性があるために、（θ0―δ）から（θ＋δ）の
範囲内にあることは分るが、正確には不明であ
る。探触子２を微小距離Δxだけ移動させると、
欠陥fjから伝播距離li+1のエコーを受信する。欠
陥fjのｘ―Ｚ平面における位置を（Ｘ、Ｚ）とす
れば、(1)〜(3)式が成立する。
の移動前（位置xi）に欠陥fjからのエコーを受信
したことから始まる。超音波エコーの伝播距離li
は伝播時間から求められる。この場合、欠陥fjに
当つた超音波の角度θ〓（指向性のため正確な角度を
意味しないことから〜を付す）は、探触子に指向
特性があるために、（θ0―δ）から（θ＋δ）の
範囲内にあることは分るが、正確には不明であ
る。探触子２を微小距離Δxだけ移動させると、
欠陥fjから伝播距離li+1のエコーを受信する。欠
陥fjのｘ―Ｚ平面における位置を（Ｘ、Ｚ）とす
れば、(1)〜(3)式が成立する。
Ｘ＝x1＋lisinθ〓 ……(1)
Ｚ＝licosθ〓 ……(2)
li+1＝（Z2＋（lisinθ〓−Δx）2）1/2 ……(3)
以上の式からエコーの伝播距離の差Δliを導出
すると、(4)式のようになる。
すると、(4)式のようになる。
｜Δli／li｜１／２（Δx／li）2−（Δx／li）sin
θ〓｜……(4) ここで、 Δli＝li+1−li ……(5) 探触子の移動前に得られたエコーの伝播距離li
で伝播距離の差Δli及び探触子の移動距離Δxを正
規化した量Ｓ及びｑ（(6)式及び(7)式）は第９図の
ようになる。そして、第９図は一般性をもたせる
ためのものであり、超音波エコーの伝播距離の変
化Δli、探触子の移動距離Δxは、超音波エコーの
伝播距離liに依存し、その幅はliに対して相対的に
ある一定の範囲の値を取る。よつて、超音波エコ
ーの伝播距離liで正規化すれば、liの値に依存しな
い一般性のある議論が可能となる。伝播距離liは、
超音波の角度θ〓 Ｓ＝｜Δli｜／li ……(6) ｑ＝Δx／li ……(7) が（θ0−δ）から（θ0＋δ）の範囲内で得られる
ので、第９図では該角度θ〓をパラメータとして表
わした。この第９図、すなわち(4)式を用いれば、
探触子の正規化した移動距離がqiの時には、移動
後のエコーの正規化した伝播距離の変化はSi1か
らSi2の範囲内に入ることがわかる。探触子２の
正規化した移動距離ｑが小さい現実的なケース、
例えば、伝播距離li≧20mmで探触子の移動距離Δx
≦４mmすなわちｑ≦0.2では、第９図の正規化し
た伝播距離の変化Ｓは、入射角θ0＝45゜、指向角
δ＝10゜とした時、0.1〜0.15となり、(4)式の代り
に(8)式のような近似式を使つてもよい。
θ〓｜……(4) ここで、 Δli＝li+1−li ……(5) 探触子の移動前に得られたエコーの伝播距離li
で伝播距離の差Δli及び探触子の移動距離Δxを正
規化した量Ｓ及びｑ（(6)式及び(7)式）は第９図の
ようになる。そして、第９図は一般性をもたせる
ためのものであり、超音波エコーの伝播距離の変
化Δli、探触子の移動距離Δxは、超音波エコーの
伝播距離liに依存し、その幅はliに対して相対的に
ある一定の範囲の値を取る。よつて、超音波エコ
ーの伝播距離liで正規化すれば、liの値に依存しな
い一般性のある議論が可能となる。伝播距離liは、
超音波の角度θ〓 Ｓ＝｜Δli｜／li ……(6) ｑ＝Δx／li ……(7) が（θ0−δ）から（θ0＋δ）の範囲内で得られる
ので、第９図では該角度θ〓をパラメータとして表
わした。この第９図、すなわち(4)式を用いれば、
探触子の正規化した移動距離がqiの時には、移動
後のエコーの正規化した伝播距離の変化はSi1か
らSi2の範囲内に入ることがわかる。探触子２の
正規化した移動距離ｑが小さい現実的なケース、
例えば、伝播距離li≧20mmで探触子の移動距離Δx
≦４mmすなわちｑ≦0.2では、第９図の正規化し
た伝播距離の変化Ｓは、入射角θ0＝45゜、指向角
δ＝10゜とした時、0.1〜0.15となり、(4)式の代り
に(8)式のような近似式を使つてもよい。
k1qＳk2q ……(8)
ここで、定数k1及びk2は探触子の指向角δ及び
入射角θ0で決まる（一般にはθ0＝45゜、δ＝10゜）。
上述の例では、定数k1及びk2はそれぞれ、0.5及
び0.75になる。この定数k1、k2は第９図のグラフ
を直線近似することにより得られる。
入射角θ0で決まる（一般にはθ0＝45゜、δ＝10゜）。
上述の例では、定数k1及びk2はそれぞれ、0.5及
び0.75になる。この定数k1、k2は第９図のグラフ
を直線近似することにより得られる。
以上の原理を第５図の例に当てはめてみると、
探触子位置xiの時のエコーR1，Riは、位置xi+1に
移動した時点では伝播距離が変化し、エコーR1，
Ri+1になる。これは他のエコーR2，Ri+1と区別さ
れる。次のエコーR1，Ri+1は、探触子２をさらに
移動させると、この正規化した移動距離ｑで決定
される正規化した伝播距離の変化Ｓの範囲内に出
現する。このように、順次エコーを追跡すること
によつて、エコーR1，Ri，…R1，Ri+nは欠陥fjか
らのもの、エコーR2，Ri+1，…R1，Ri+n+1は欠陥
fj+1のものであるというように、超音波エコーの
同定が可能となる。
探触子位置xiの時のエコーR1，Riは、位置xi+1に
移動した時点では伝播距離が変化し、エコーR1，
Ri+1になる。これは他のエコーR2，Ri+1と区別さ
れる。次のエコーR1，Ri+1は、探触子２をさらに
移動させると、この正規化した移動距離ｑで決定
される正規化した伝播距離の変化Ｓの範囲内に出
現する。このように、順次エコーを追跡すること
によつて、エコーR1，Ri，…R1，Ri+nは欠陥fjか
らのもの、エコーR2，Ri+1，…R1，Ri+n+1は欠陥
fj+1のものであるというように、超音波エコーの
同定が可能となる。
以上は、探触子２をｘ軸上の一直線を走査する
場合について説明したが、ｘ−ｙ平面上の探触子
位置（ｘ、ｙ）の場合と（ｘ、ｙ＋Δy）の場合
のエコーの同定法についても、同様の考え方で整
理することができる。超音波をｙ−ｚ平面に投影
すると、入射される超音波の角度θ〓は探触子２の
指向角（−δ）からδの範囲内に入つている。ｘ
−Ｚ平面の場合における（θ0−δ）θ〓（θ0＋
δ）の代りに（−δ）θ〓δを用いれば、隣接
した走査線におけるエコーの同定は(9)式により可
能となる。
場合について説明したが、ｘ−ｙ平面上の探触子
位置（ｘ、ｙ）の場合と（ｘ、ｙ＋Δy）の場合
のエコーの同定法についても、同様の考え方で整
理することができる。超音波をｙ−ｚ平面に投影
すると、入射される超音波の角度θ〓は探触子２の
指向角（−δ）からδの範囲内に入つている。ｘ
−Ｚ平面の場合における（θ0−δ）θ〓（θ0＋
δ）の代りに（−δ）θ〓δを用いれば、隣接
した走査線におけるエコーの同定は(9)式により可
能となる。
k3qＳk4q ……(9)
ここで、定数k3、k4は探触子の指向角δによつ
て決まる。
て決まる。
このように、本発明によれば、探触子位置とエ
コー振幅の関係である最大値包絡線は欠陥の数だ
け分離して描くことができ、近傍した欠陥の大き
さを正確に検知することが可能となる。
コー振幅の関係である最大値包絡線は欠陥の数だ
け分離して描くことができ、近傍した欠陥の大き
さを正確に検知することが可能となる。
第１０図は本発明の実施例のブロツク図であ
る。
る。
被検体１を探傷する探触子２には超音波送受信
器３より一定間隔でパルス波Ｔが探触子２に印加
され、被検体１内の傷で反射した超音波エコーＲ
が超音波送受信器３の受信部に入力され、所定の
増幅が行なわれる。この増幅信号はアナログ信号
であるのでA/D変換器４でデイジタル信号に変
換（振幅及び伝播時間）したのち入力コントロー
ラ５を介してメモリ６に記憶される。一方、探触
子２の位置は探触子位置検出器７よりｘ方向、ｙ
方向の位置をアナログ信号で取出し、A/D変換
器８でデイジタル信号に変換したのち、入力コン
トローラ９を介してメモリ６に取込まれ記憶され
る。探触子位置検出器７としては、ポテンシヨメ
ータあるいは光電子素子等を用いて構成され、探
触子２の自動スキヤニング装置等の動作と連動し
て位置信号が出力される。また、メモリ６には、
探触子２の入射角θ0、指向角δ、被検体１の材質
で定まる音速ｖ、前述した閾値p0等の演算のため
の各種定数が設定値Ｃとして外部より入力され
る。また、メモリ６と演算器１０が接続され各種
の演算及び装置の制御を行つている。演算結果の
表示はメモリ６の内容を出力コントローラ１１を
介して表示器１２に表示する。
器３より一定間隔でパルス波Ｔが探触子２に印加
され、被検体１内の傷で反射した超音波エコーＲ
が超音波送受信器３の受信部に入力され、所定の
増幅が行なわれる。この増幅信号はアナログ信号
であるのでA/D変換器４でデイジタル信号に変
換（振幅及び伝播時間）したのち入力コントロー
ラ５を介してメモリ６に記憶される。一方、探触
子２の位置は探触子位置検出器７よりｘ方向、ｙ
方向の位置をアナログ信号で取出し、A/D変換
器８でデイジタル信号に変換したのち、入力コン
トローラ９を介してメモリ６に取込まれ記憶され
る。探触子位置検出器７としては、ポテンシヨメ
ータあるいは光電子素子等を用いて構成され、探
触子２の自動スキヤニング装置等の動作と連動し
て位置信号が出力される。また、メモリ６には、
探触子２の入射角θ0、指向角δ、被検体１の材質
で定まる音速ｖ、前述した閾値p0等の演算のため
の各種定数が設定値Ｃとして外部より入力され
る。また、メモリ６と演算器１０が接続され各種
の演算及び装置の制御を行つている。演算結果の
表示はメモリ６の内容を出力コントローラ１１を
介して表示器１２に表示する。
メモリ７は、探触子位置（ｘ、ｙ）で得られた
エコーの伝播時間ｔ及び振幅ｐが整然とテーブル
形式で配列されている。例えば、第５図の例に対
し、テーブルは第１１図のようになる（但し、図
に示すのはｘ方向の１行程分である）。演算器１
０は、メモリの内容を適宜引出して、第１２図に
示すフローチヤートに従つて演算を実行する。
エコーの伝播時間ｔ及び振幅ｐが整然とテーブル
形式で配列されている。例えば、第５図の例に対
し、テーブルは第１１図のようになる（但し、図
に示すのはｘ方向の１行程分である）。演算器１
０は、メモリの内容を適宜引出して、第１２図に
示すフローチヤートに従つて演算を実行する。
第１２図において、ステツプ101、102は位置検
出信号をメモリ６に記憶する迄の過程、ステツプ
10３は(4)式又は第９図における内容の演算を（θ0
−δ）θ〓（θ0＋δ）の範囲について演算器８
により行なう過程、ステツプ104はｙ方向につい
て−δθ〓δについて演算する過程を各々示し
ている。
出信号をメモリ６に記憶する迄の過程、ステツプ
10３は(4)式又は第９図における内容の演算を（θ0
−δ）θ〓（θ0＋δ）の範囲について演算器８
により行なう過程、ステツプ104はｙ方向につい
て−δθ〓δについて演算する過程を各々示し
ている。
第１２図の演算について、第１３図の走査図を
用いて説明する。探触子の走査は、位置（x0、
y0）を始点とし、位置（xM、yN）を終点とする。
超音波エコーは、ｘ軸上及びｙ軸上において
各々、探触子２の移動量Δx及びΔy毎にメモリ６
の中に取込まれ、その伝播時間及び振幅が記憶さ
れる。多数の超音波エコーの同定は、まず、ｘ軸
上の直線走査（x0、y0）〜（xM、y0）、（x0、y1）
〜（xM、y1）、…（x0、yN）〜（xM、yN）の各々
について独立に実行し、その後でこれら直線走査
上で得られた同定の結果を隣接するものどうし、
（x0、y0）〜（xM、y0）と（x0、y1）〜（xM、
y1）、（x0、y1）〜（xM、y1）と（x0、y2）〜
（xM、y2）、…、（x0、yN-1）〜（xM、yN-1）と
（x0、yN）〜（xM、yN）と云うように順次比較し
て同定する。全ての同定が終了した後、この結果
を第１０図における表示器１２に出力する。該出
力の形式は、第３図のような最大値包絡線、第４
図のような平面図である。この他、ｘ―Ｚ断面図
における超音波像、ｙ―Ｚ断面図における超音波
像等も、容易に出力することができる。
用いて説明する。探触子の走査は、位置（x0、
y0）を始点とし、位置（xM、yN）を終点とする。
超音波エコーは、ｘ軸上及びｙ軸上において
各々、探触子２の移動量Δx及びΔy毎にメモリ６
の中に取込まれ、その伝播時間及び振幅が記憶さ
れる。多数の超音波エコーの同定は、まず、ｘ軸
上の直線走査（x0、y0）〜（xM、y0）、（x0、y1）
〜（xM、y1）、…（x0、yN）〜（xM、yN）の各々
について独立に実行し、その後でこれら直線走査
上で得られた同定の結果を隣接するものどうし、
（x0、y0）〜（xM、y0）と（x0、y1）〜（xM、
y1）、（x0、y1）〜（xM、y1）と（x0、y2）〜
（xM、y2）、…、（x0、yN-1）〜（xM、yN-1）と
（x0、yN）〜（xM、yN）と云うように順次比較し
て同定する。全ての同定が終了した後、この結果
を第１０図における表示器１２に出力する。該出
力の形式は、第３図のような最大値包絡線、第４
図のような平面図である。この他、ｘ―Ｚ断面図
における超音波像、ｙ―Ｚ断面図における超音波
像等も、容易に出力することができる。
以上説明した如く、本発明によれば、探触子の
走査によつて得られる多数の超音波エコーが同一
欠陥からのものであるかどうかを同定し、各欠陥
毎にその最大値包絡線が分離して得られるので、
欠陥の大きさを正確に検知することが可能であ
る。これにより、プラント構造物、機器の強度計
算、材料の品質管理等が改善される。
走査によつて得られる多数の超音波エコーが同一
欠陥からのものであるかどうかを同定し、各欠陥
毎にその最大値包絡線が分離して得られるので、
欠陥の大きさを正確に検知することが可能であ
る。これにより、プラント構造物、機器の強度計
算、材料の品質管理等が改善される。
第１図は超音波探傷の走査説明図、第２図は第
１図の走査によつて得られる超音波エコー波形
図、第３図は第１図の走査における探触子位置に
対するエコー振幅閾値図、第４図は第３図に基づ
いて得られる欠陥の超音波像の平面図、第５図は
従来の直線走査による複数欠陥の超音波エコー波
形図、第６図は第５図の場合におけるエコー振幅
閾値図、第７図は第６図に基づいて得られる欠陥
の超音波傷の平面図、第８図は本発明の原理を説
明する説明図、第９図は正規化した探傷距離に対
する正規化した伝播距離変化特性図、第１０図は
本発明の一実施例のブロツク図、第１１図は本発
明のデータテーブル配分図、第１２図は本発明の
演算フロー図、第１３図は本発明の超音波エコー
の同定手順を説明する説明図である。 １…被検体、２…探触子、３…超音波送受信
器、４，８…A/D変換器、６…メモリ、７…探
触子位置検出器、１０…演算器、１２…表示器。
１図の走査によつて得られる超音波エコー波形
図、第３図は第１図の走査における探触子位置に
対するエコー振幅閾値図、第４図は第３図に基づ
いて得られる欠陥の超音波像の平面図、第５図は
従来の直線走査による複数欠陥の超音波エコー波
形図、第６図は第５図の場合におけるエコー振幅
閾値図、第７図は第６図に基づいて得られる欠陥
の超音波傷の平面図、第８図は本発明の原理を説
明する説明図、第９図は正規化した探傷距離に対
する正規化した伝播距離変化特性図、第１０図は
本発明の一実施例のブロツク図、第１１図は本発
明のデータテーブル配分図、第１２図は本発明の
演算フロー図、第１３図は本発明の超音波エコー
の同定手順を説明する説明図である。 １…被検体、２…探触子、３…超音波送受信
器、４，８…A/D変換器、６…メモリ、７…探
触子位置検出器、１０…演算器、１２…表示器。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 被検体に探触子を介して超音波を入射し、前
記被検体の内部に存在する欠陥からの超音波エコ
ーをとらえて該欠陥の大きさを検知する超音波探
傷において、前記探触子の移動前と移動後の超音
波の伝播距離の変化量を求め、この変化量が前記
探触子の入射角ならびに指向角に基づいて定まる
所定距離内にあるとき同一欠陥からの超音波エコ
ーであると同定することを特徴とする超音波エコ
ーの同定方法。 ２ 被検体に探触子を介して超音波を入射し、前
記被検体の内部に存在する欠陥からの超音波エコ
ーをとらえて該欠陥の大きさを検知する超音波探
傷において、前記探触子を走査して得られる複数
の超音波エコー信号、前記探触子の位置信号およ
び予め設定した定数値の各々を記憶する記憶部
と、該記憶部の記憶内容に基づいて前記探触子の
移動前と移動後の超音波エコーの伝播距離の変化
を演算し、比較する演算部と、該演算部の演算と
比較の結果を出力表示する表示器とを具備するこ
とを特徴とする超音波エコーの同定装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56006317A JPS57120857A (en) | 1981-01-19 | 1981-01-19 | Method and device for identification of ultrasonic echo |
| CA000394394A CA1186792A (en) | 1981-01-19 | 1982-01-18 | Ultrasonic method and apparatus for determining nature of flaws by incremental scanning |
| US06/340,718 US4475394A (en) | 1981-01-19 | 1982-01-19 | Ultrasonic method of determining nature of flaws by incremental scanning |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56006317A JPS57120857A (en) | 1981-01-19 | 1981-01-19 | Method and device for identification of ultrasonic echo |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57120857A JPS57120857A (en) | 1982-07-28 |
| JPS6317184B2 true JPS6317184B2 (ja) | 1988-04-12 |
Family
ID=11634988
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56006317A Granted JPS57120857A (en) | 1981-01-19 | 1981-01-19 | Method and device for identification of ultrasonic echo |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4475394A (ja) |
| JP (1) | JPS57120857A (ja) |
| CA (1) | CA1186792A (ja) |
Families Citing this family (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4663727A (en) * | 1984-04-19 | 1987-05-05 | Rochester Gas & Electric Corp. | Ultrasonic inspection system |
| JPS62240856A (ja) * | 1985-01-19 | 1987-10-21 | Hitachi Constr Mach Co Ltd | 超音波探傷装置 |
| US4866614A (en) * | 1985-12-26 | 1989-09-12 | General Electric Company | Ultrasound characterization of 3-dimensional flaws |
| US4884246A (en) * | 1986-01-22 | 1989-11-28 | California Institute Of Technology | Method and apparatus for reflection mode imaging |
| US4817016A (en) * | 1986-05-21 | 1989-03-28 | Iowa State University Research Foundation, Inc. | Non-destructive evaluation means and method of flaw reconstruction utilizing an ultrasonic multi-viewing transducer data acquistion system |
| US5392652A (en) * | 1992-04-07 | 1995-02-28 | Lambert, Macgill, Thomas, Inc. | Method and apparatus for inspection of metal objects utilizing variable angle ultrasonic transducer |
| US5497662A (en) * | 1993-09-07 | 1996-03-12 | General Electric Company | Method and apparatus for measuring and controlling refracted angle of ultrasonic waves |
| US6439054B1 (en) * | 2000-05-31 | 2002-08-27 | Honeywell International Inc. | Methods of testing sputtering target materials |
| US7667851B2 (en) | 2001-07-24 | 2010-02-23 | Lockheed Martin Corporation | Method and apparatus for using a two-wave mixing ultrasonic detection in rapid scanning applications |
| DE10259658A1 (de) * | 2002-12-18 | 2004-07-08 | Agfa Ndt Gmbh | Verfahren zur Auswertung von Ultraschallsignalen |
| JP4952489B2 (ja) * | 2007-10-05 | 2012-06-13 | 株式会社Ｉｈｉ | 探傷方法及び装置 |
| EP2267674A1 (en) * | 2009-06-11 | 2010-12-29 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Subject detection |
| ITTO20101090A1 (it) * | 2010-12-30 | 2012-07-01 | Alenia Aeronautica Spa | Metodo di ispezione a ultrasuoni non distruttiva, in particolare per strutture in materiale composito per applicazioni aeronautiche |
| JP6463653B2 (ja) * | 2015-04-24 | 2019-02-06 | 株式会社日立パワーソリューションズ | 超音波探傷装置および超音波プローブ移動距離検知方法 |
| CN104777225A (zh) * | 2015-04-30 | 2015-07-15 | 南京迪威尔高端制造股份有限公司 | 一种钢锭内部缺陷的超声波a扫描识别方法 |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3885224A (en) * | 1972-02-24 | 1975-05-20 | Carl N Klahr | Signal processing apparatus for imaging scanner |
| JPS5311473B2 (ja) * | 1974-07-03 | 1978-04-21 | ||
| US4317370A (en) * | 1977-06-13 | 1982-03-02 | New York Institute Of Technology | Ultrasound imaging system |
| US4228804A (en) * | 1978-02-28 | 1980-10-21 | Case Western Reserve University | Diagnostic ultrasonography utilizing frequency spectrum analysis presented in terms of B-scan color patterns or X-Y graph displays |
| US4206654A (en) * | 1978-10-19 | 1980-06-10 | Keller John T | Video display control for diagnostic scanners |
-
1981
- 1981-01-19 JP JP56006317A patent/JPS57120857A/ja active Granted
-
1982
- 1982-01-18 CA CA000394394A patent/CA1186792A/en not_active Expired
- 1982-01-19 US US06/340,718 patent/US4475394A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57120857A (en) | 1982-07-28 |
| US4475394A (en) | 1984-10-09 |
| CA1186792A (en) | 1985-05-07 |
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