JPS63169823A - 光電子集積回路 - Google Patents

光電子集積回路

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JPS63169823A
JPS63169823A JP213687A JP213687A JPS63169823A JP S63169823 A JPS63169823 A JP S63169823A JP 213687 A JP213687 A JP 213687A JP 213687 A JP213687 A JP 213687A JP S63169823 A JPS63169823 A JP S63169823A
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JP
Japan
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integrated circuit
photoconductive element
saturation
field effect
effect transistor
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Pending
Application number
JP213687A
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English (en)
Inventor
Goro Sasaki
吾朗 佐々木
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Sumitomo Electric Industries Ltd
Original Assignee
Sumitomo Electric Industries Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は光電子集積回路、特に、高速光通信に用いら
れる受光用光電子集積回路の構成に関する。
[従来の技術] 今日の光通信における発展は著しく、その高速化が一段
と要求されてきている。このような光通信分野において
光変換された信号を電気信号に変換するための受光用光
電子集積回路としては、応答速度に優れたPINフォト
ダイオードと、PINフォトダイオード出力によりオン
・オフ制御されるトランジスタとを集積化したものが一
般に用いられている。
この構成においては、PINフォトダイオードは、与え
られた光信号に応答してそこに電流を流す。トランジス
タは、PINフォトダイオードを流れる電流変化に応じ
てオン・オフ制御される。
したがって、トランジスタ出力が光信号に対応した電気
信号となり、光信号が電気信号に変換されたことになる
[発明が解決しようとする問題点] PINフォトダイオードは、絶縁層を含まないフォトダ
イオードよりも動作速度が速く高速応答性に優れている
ので、高速データ通信を行なうために一般的に用いられ
ている。しかしながら、PINフォトダイオードはそれ
自体に並列に寄生容量を有しいる。したがって、光が与
えられたときにはその容量に電荷を蓄積し、光が与えら
れなくなったときにこの蓄積された電荷が放電されるた
め、トランジスタが光信号に応答して高速でターンオフ
することができなくなる。この結果、従来のF’INフ
ォトダイオードを用いた光電子集積回路では高速、特に
10Gbps以上の高速光通信に対応することができな
いという問題点があった。
それゆえ、この発明の目的は上述の従来の光電子集積回
路の有する問題点を除去し、10GbpS以上の高速通
信でも確実に動作することのできる光電子集積回路を提
供することである。
[問題点を解決するための手段] この発明に係る光電子集積回路は、光導電素子と、そこ
を流れる電流が飽和現象を示す飽和抵抗とを直列に接続
するともとに、光導電素子と飽和抵抗との接続点を電界
効果トランジスタのゲート電極に接続したものである。
[作用コ 光導電素子および飽和抵抗はともに寄生容量を持たない
ので、この回路の応答速度は電界効果トランジスタのゲ
ート容量の充放電時定数により決定される。したがって
、ゲート容量の充電は光照射時の低抵抗の光導電素子を
介して、放電は電流源として作用する飽和抵抗を介して
強制的にともに高速で行なわれる。
[発明の実施例] 第1図はこの発明の一実施例である光電子集積回路の構
成を示す回路図である。以下、第1図を参照してこの発
明の一実施例である光電子集積回路の構成および動作に
ついて説明する。
この発明による光電子集積回路は、その一方端子が第1
の電位VDDに接続され、光が照射されるとその抵抗値
が減少する光導電素子1と、その一方端子が光導電素子
の他方端子に接続され、その他方端子が第2の電位Vs
s(但しvo。〉Vss)に接続され、そこを流れる電
流が飽和現象を示す飽和抵抗素子2と、光導電素子1と
飽和抵抗素子2の共通接続点4にそのゲート電極が接続
され、そのドレインが第1の電位VDDに接続され、そ
のソースが第2の電位Vssに接続される電界効果トラ
ンジスタ3とから構成される。
飽和抵抗素子2は、オーミック電極間が10μm以下に
された抵抗体であり、この電極間に数1以上の電圧を印
加すると、そこに高電界が発生しそこを流れる電子が速
度飽和を起こし、第2図に示されるような電流−電圧特
性を示す。すなわち、飽和抵抗素子2は、定電流源とし
て作用する。
電界効果トランジスタ3としては、MESFET(シミ
ツトキーゲート電界効果トランジスタまたは接合型電界
効果トランジスタ)、MOSFET(絶縁ゲート型電界
効果トランジスタ)およびHEMT (高電子移動度電
界効果トランジスタ)などを用いることができる。次に
動作について説明する。
光信号が光導電素子1に与えられると、光導電素子1は
光照射によりその抵抗値が減少する。光導電素子1を流
れる電流は飽和抵抗素子2を流れると電流と等しくかつ
飽和抵抗素子2は定電流源として作用するので、この経
路を流れる電流は光が照射されても飽和抵抗2の飽和電
流と同一となる。したがって、光導電素子1と飽和抵抗
素子2の接続点4、すなわち電界効果トランジスタ3の
ゲート電極電位は光導電素子1の抵抗の減少分と飽和抵
抗素子2の飽和電流の積で与えられる電圧分だけ上昇し
て電界効果トランジスタ3のしきい値電圧より高くなり
、電界効果トランジスタ3がオン状態となり、電界効果
トランジスタ3にドレイン電流が流れる。
光が照射されなくなると、光導電素子1の抵抗値は大き
くなり、かつそこを流れる電流は飽和抵抗2を流れる電
流と同じであるので、接続点4の電位は低下しく第2図
の不飽和領域に対応)、電界効果トランジスタ3はオフ
状態となる。
この回路の動作速度は電界効果トランジスタ3のゲート
容量の充放電時間により規定される。電界効果トランジ
スタ3のゲート容量の充電は低抵抗の光導電索子1を介
して行なわれ、ゲート容量の放電は定電流源として作用
する飽和抵抗素子2を介して強制的に行なわれるので、
極めて高速で電界効果トランジスタをオン・オフ動作さ
せることが可能となる。
第3図は第1図に示される光電子集積回路を半絶縁性基
板上に形成した際の概略構造を示す断面図である。第3
図の構成において、インジウムφ燐やガリウム・砒素な
どの半絶縁性基板5表面の所定領域にイオン注入法を用
いてN型不純物であるシリコン(Si)、硫黄(S)な
どをイオン注入することにより、光導電素子1、飽和抵
抗素子2および電界効果トランジスタ3となるイオン注
入領域6が形成される。その後、各イオン注入領域6表
面の所定領域に必要に応じてオーミック、ショットキー
バリア型または接合型などの電極7を形成する。この後
各電極7を第1図に示される回路構成となるように配線
接続することにより、半絶縁性基板5上に集積化された
光電子集積回路が得られる。
この構成により、何ら複雑な製造プロセスを付加するこ
となく、容易に高速動作可能な受光用光電子集積回路を
実現することができる。
第4図はこの発明の光電子集積化回路の他の構成を示す
概略断面図である。この構成においては、ノンドープの
インジウム・燐またはガラリム・砒素などの半絶縁性基
板5上に、シリコン(Si)、硫黄(S)などの不純物
を添加したN型層8をエピタキシャル成長させる。次に
、所定領域のみを残すようにメサエッチングをエピタキ
シャル層8に施して、光導電素子1、飽和抵抗素子2お
よび電界効果トランジスタ3の各領域を分離する。この
後各メサ領域上に必要な電極7および配線を形成するこ
とにより、光導電素子1、飽和抵抗素子2および電界効
果トランジスタ3からなる光電子集積回路が得られる。
第5図はこの発明の光電子集積回路のさらに他の構成を
示す概略断面図である。第5図の構成においては、N型
エピタキシャル層9を半絶縁性基板5表面上に成長させ
た後に、所定領域に酸素(02)、ボロン(B)または
プロトン(H)などのイオンの注入を行なって絶縁性イ
オン注入領域10を形成し、光導電素子1、飽和抵抗素
子2および電界効果トランジスタ3の各領域を電気的に
分離する。この後各領域に電極7および配線を形成する
ことにより、光電子集積回路が得られる。
なお、上記実施例においては、N型のイオン注入層また
はエピタキシャル層に各素子を形成したが、ベリリウム
(Be)などのP型不純物を添加したP型層を用いても
上記実施例と同様の効果を得ることができる。
[発明の効果] 以上のようにこの発明によれば、光導電素子と飽和抵抗
素子とを直列に接続し、この光導電素子と飽和抵抗素子
との接続点を電界効果トランジスタのゲート電極に接続
して受光用光電子集積回路を構成したので、電界効果ト
ランジスタのゲート容量の充放電のみに回路の動作速度
が規定され、かつゲート容量の充電放電は定電流源とし
て動作する飽和抵抗素子を介して強制的に行なわれるの
で、高速の光信号に正確に応答することのできる光電子
集積回路を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例である光電子集積回路の構
成を示す回路図である。第2図はこの発明に用いられる
飽和抵抗素子の電流−電圧特性を示す図である。第3図
はこの発明の光電子集積回路の構造を示す概略断面図で
ある。第4図はこの発明の光電子集積回路の他の構造を
示す概略断面図である。第5図はこの発明による光電子
集積回路のさらに他の構造を示す概略端面図である。 図において、1は光導電素子、2は飽和抵抗素子、3は
電界効果トランジスタ、5は半絶縁性基板、6はイオン
注入領域、7は電極、8はメサ領域、10はイオン注入
分離領域である。 なお、図中、同一符号は同一または相当部分を示す。 第1m 第2m 電 氏 第3図 第4図 第5図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 外部から与えられる光に応答してその抵抗値が減少する
    光導電素子と、 前記光導電素子の一方電極にその一方電極が接続され、
    その両電極間に与えられる電圧に応答してそこを流れる
    電流が飽和する飽和抵抗素子と、前記光導電素子と前記
    飽和抵抗素子の共通接続点にそのゲート電極が接続され
    る電界効果トランジスタとを備える、光電子集積回路。
JP213687A 1987-01-08 1987-01-08 光電子集積回路 Pending JPS63169823A (ja)

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JP213687A JPS63169823A (ja) 1987-01-08 1987-01-08 光電子集積回路

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JP213687A JPS63169823A (ja) 1987-01-08 1987-01-08 光電子集積回路

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JPS63169823A true JPS63169823A (ja) 1988-07-13

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JP213687A Pending JPS63169823A (ja) 1987-01-08 1987-01-08 光電子集積回路

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