JPS63169367A - ばね用Ｎｉ−Ｔｉ系形状記憶合金素子の製造方法 - Google Patents
ばね用Ｎｉ−Ｔｉ系形状記憶合金素子の製造方法Info
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- JPS63169367A JPS63169367A JP31545686A JP31545686A JPS63169367A JP S63169367 A JPS63169367 A JP S63169367A JP 31545686 A JP31545686 A JP 31545686A JP 31545686 A JP31545686 A JP 31545686A JP S63169367 A JPS63169367 A JP S63169367A
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Landscapes
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はＮｉ−Ｔｉ系形状記憶合金素子の製造方法に関
し、特に３００〜４２０ ’Ｃの低温において記憶熱処
理を施し動作の再現性および繰り返し温度サイクルに対
する疲労特性に優れたばね用Ｎｉ−Ｔｉ系形状記憶合金
素子の製造方法に係るものである。
し、特に３００〜４２０ ’Ｃの低温において記憶熱処
理を施し動作の再現性および繰り返し温度サイクルに対
する疲労特性に優れたばね用Ｎｉ−Ｔｉ系形状記憶合金
素子の製造方法に係るものである。
ＮｉＴｉ合金およびこれにＦｅ、Ｃｏ、Ｃｒ、Ｐｄ、Ａ
ｕ、■、Ｚｒのうち何れか１種または２種以上を含むＮ
ｉ−Ｔｉ系合金は室温付近において熱弾性型マルテンサ
イト変態を生じこれに起因する形状記憶効果を有するこ
とが知られている。
ｕ、■、Ｚｒのうち何れか１種または２種以上を含むＮ
ｉ−Ｔｉ系合金は室温付近において熱弾性型マルテンサ
イト変態を生じこれに起因する形状記憶効果を有するこ
とが知られている。
同様の効果を示す合金としてはＣｕ−Ｚｎ−Ａｌ！、、
Ｃｕ−Ａ！！、−Ｎ １ＳＡｕ−Ｃｄなどがあるが、Ｎ
ｉ−Ｔｉ系合金は加工性、耐食性および形状記憶処理後
の焼入れ（象、冷）が不要であるなどの点から最も応用
化が進んでおり今後さらに多岐にわたる実用化が期待さ
れている。
Ｃｕ−Ａ！！、−Ｎ １ＳＡｕ−Ｃｄなどがあるが、Ｎ
ｉ−Ｔｉ系合金は加工性、耐食性および形状記憶処理後
の焼入れ（象、冷）が不要であるなどの点から最も応用
化が進んでおり今後さらに多岐にわたる実用化が期待さ
れている。
Ｎｉ−Ｔｉ系合金（以下本合金という）が実用素子とし
て利用される場合ヘリカルコイルばね素子および直線形
状のばね素子として使用されることが最も多く、これら
ｐ素子動作の良好な再現性および繰り返し温度サイクル
に対する優れた疲労特性は本合金の実用化において極め
て重要な役割を持つものである。これらの特性を得るた
めには合金素子の全長にわたり、冷却・加熱に際し均一
な相変態の生ずることが不可欠となる。すなわち、もし
素子に冷却中において微小な温度のバラつきによる外乱
が加わり不均一な温度分布になり相変態が均一に行われ
ない場合は素子中の低温部分で母相から低温相への変態
が発生し易くなり、この部分の歪が素子の他の部分の歪
より大きくなる。
て利用される場合ヘリカルコイルばね素子および直線形
状のばね素子として使用されることが最も多く、これら
ｐ素子動作の良好な再現性および繰り返し温度サイクル
に対する優れた疲労特性は本合金の実用化において極め
て重要な役割を持つものである。これらの特性を得るた
めには合金素子の全長にわたり、冷却・加熱に際し均一
な相変態の生ずることが不可欠となる。すなわち、もし
素子に冷却中において微小な温度のバラつきによる外乱
が加わり不均一な温度分布になり相変態が均一に行われ
ない場合は素子中の低温部分で母相から低温相への変態
が発生し易くなり、この部分の歪が素子の他の部分の歪
より大きくなる。
このことは例えば形状記憶合金ヘリカルコイルばねにお
いては、ピッチの疎密として観測される。
いては、ピッチの疎密として観測される。
その結果動作の再現性の低下および繰り返し温度サイク
ルに対する疲労特性の劣化が生じる。特に後者は疎部の
過大な歪によるものと考えられる。
ルに対する疲労特性の劣化が生じる。特に後者は疎部の
過大な歪によるものと考えられる。
また密部においては冷却条件の悪化により加熱時にオー
バーヒートを生し記憶特性が著しく君化するなどの問題
があった。
バーヒートを生し記憶特性が著しく君化するなどの問題
があった。
（発明が解決しようとする問題点］
本発明は、かかる実情に基き種ｋに検討の結果Ｎ ｉ
−Ｔ ｉ糸形状記憶合金素子のうち特に０．１〜４Ｉの
ヘリカルコイルばね、或は直線素子などに使用する線材
を、低温において熱処理を施すことにより、線材素子全
長にわたる冷却時および加熱時の変形を均一にせしめ、
素子動作の再現性および繰り返し熱サイクルに対する疲
労特性を著しく向上したものである。また、本発明は材
料の相変Ｂ挙動そのものより生じる現象を解明したもの
であるため、上記のヘリカルコイルばね、直線素子以外
の形状を持つＮｉ−Ｔｉ系合金素子の特性をも同様に改
善するものである。
−Ｔ ｉ糸形状記憶合金素子のうち特に０．１〜４Ｉの
ヘリカルコイルばね、或は直線素子などに使用する線材
を、低温において熱処理を施すことにより、線材素子全
長にわたる冷却時および加熱時の変形を均一にせしめ、
素子動作の再現性および繰り返し熱サイクルに対する疲
労特性を著しく向上したものである。また、本発明は材
料の相変Ｂ挙動そのものより生じる現象を解明したもの
であるため、上記のヘリカルコイルばね、直線素子以外
の形状を持つＮｉ−Ｔｉ系合金素子の特性をも同様に改
善するものである。
本発明はＮ ｉ ４９．５〜５１．０ａｔ％残部Ｔｉか
らなるＮ ｉ −Ｔ ｉ系合金の０．１〜４ｆｆＩＱの
線材を３００〜４２５℃で形状記憶処理を施すことを特
徴とするばね用Ｎ ｉ −Ｔ ｉ系形状記憶合金累子の
製造方法である。
らなるＮ ｉ −Ｔ ｉ系合金の０．１〜４ｆｆＩＱの
線材を３００〜４２５℃で形状記憶処理を施すことを特
徴とするばね用Ｎ ｉ −Ｔ ｉ系形状記憶合金累子の
製造方法である。
本発明においてＮｉの量を４９．５〜５１．０ａｔ％と
■定したのはＮｉが４９．５ａｔ％未満でもまた５１．
０ａｔ％を越えても良好な形状記憶特性を示さないから
である。またＮｉ−ＴｉにＦｅ、、Ｇｏ、、Ｃｒ、Ｐｄ
。
■定したのはＮｉが４９．５ａｔ％未満でもまた５１．
０ａｔ％を越えても良好な形状記憶特性を示さないから
である。またＮｉ−ＴｉにＦｅ、、Ｇｏ、、Ｃｒ、Ｐｄ
。
Ａｕ、■、Ｚｒのうち何れか１種または２種以上の元素
を５％以下添加したいわゆるＮｉ−Ｔｉ系合金も本発明
を適用できる。また線材の寸法を０．１〜４ｍとしたの
は、形状記憶素子として普通のヘリカルコイルばね、直
線ばね（直線素子）などのばね用材料として通常用いら
れる線径がこの程度のものが多いからであり、丸線、角
線などの外径を云うものである。
を５％以下添加したいわゆるＮｉ−Ｔｉ系合金も本発明
を適用できる。また線材の寸法を０．１〜４ｍとしたの
は、形状記憶素子として普通のヘリカルコイルばね、直
線ばね（直線素子）などのばね用材料として通常用いら
れる線径がこの程度のものが多いからであり、丸線、角
線などの外径を云うものである。
本発明は上記のＮ ｉ −Ｔ ｉ合金或いはこれに上記
の第三元素を添加したＮ ｉ −Ｔ ｉ系の合金を通常
の熱間加工、冷間加工により所望の線径に仕上げた後、
形状記憶熱処理としての温度を３００〜４２５ ’Ｃで
熱処理を施すことにより、従来においてはみられない素
子動作の再現性および繰り返し熱サイクルに対する疲労
特性を著しく向上せしめたもので、この温度が３００℃
未満では所定の形状に記憶する処理が不充分であり４２
５℃を越えると素子動作の再現性が悪化する。また加熱
時間は低温の場合は長時間、高温の場合は短時間でよい
が通常３０分〜１０時間の範囲で適宜選択して行われる
。
の第三元素を添加したＮ ｉ −Ｔ ｉ系の合金を通常
の熱間加工、冷間加工により所望の線径に仕上げた後、
形状記憶熱処理としての温度を３００〜４２５ ’Ｃで
熱処理を施すことにより、従来においてはみられない素
子動作の再現性および繰り返し熱サイクルに対する疲労
特性を著しく向上せしめたもので、この温度が３００℃
未満では所定の形状に記憶する処理が不充分であり４２
５℃を越えると素子動作の再現性が悪化する。また加熱
時間は低温の場合は長時間、高温の場合は短時間でよい
が通常３０分〜１０時間の範囲で適宜選択して行われる
。
［作用〕
本発明において素子動作の再現性および繰り返し熱サイ
クルに対する疲労特性を向上する原因としては、記憶熱
処理温度を低目に設定することによりマルテンサイト相
が現われ難（なる点があげられる。本合金においては通
常工業的に行われる記憶熱処理により高温和（母相）と
低温和（マルテンサイト相）の中間に母相と呼ばれる相
が出現し、冷却時にマルテンサイト相が現われない限り
においては素子の疲労特性は極めて良く、また変態に伴
う温度ヒステリシスも約２℃と非常に小さい。これに対
してマルテンサイト相が現われると疲労特性が悪化し、
またヒステリシスも約２０〜３゜℃と増大する。したが
って外乱等により一度マルテンサイト相が現われると、
その大きなヒステリシスのため容易に母相に戻れず、こ
の残留が疲労特性を劣化させるものと考えられる。
クルに対する疲労特性を向上する原因としては、記憶熱
処理温度を低目に設定することによりマルテンサイト相
が現われ難（なる点があげられる。本合金においては通
常工業的に行われる記憶熱処理により高温和（母相）と
低温和（マルテンサイト相）の中間に母相と呼ばれる相
が出現し、冷却時にマルテンサイト相が現われない限り
においては素子の疲労特性は極めて良く、また変態に伴
う温度ヒステリシスも約２℃と非常に小さい。これに対
してマルテンサイト相が現われると疲労特性が悪化し、
またヒステリシスも約２０〜３゜℃と増大する。したが
って外乱等により一度マルテンサイト相が現われると、
その大きなヒステリシスのため容易に母相に戻れず、こ
の残留が疲労特性を劣化させるものと考えられる。
またマルテンサイト相は母相からの変形が大きいため、
その出現により素子中に疎密を生しさせ、素子動作の再
現性の悪化をもたらすものと考えられる。
その出現により素子中に疎密を生しさせ、素子動作の再
現性の悪化をもたらすものと考えられる。
これに対し外乱により母相のみ現われる場合は、ヒステ
リシスが極めて小さいため変態熱により、その部分が十
分母相に戻る温度まで上界して母相に戻るため変形の均
一性が保たれて結果的に再現性が良好となり、またマル
テンサイト相が現われないため疲労特性が良好となるも
のと考えられる。
リシスが極めて小さいため変態熱により、その部分が十
分母相に戻る温度まで上界して母相に戻るため変形の均
一性が保たれて結果的に再現性が良好となり、またマル
テンサイト相が現われないため疲労特性が良好となるも
のと考えられる。
以下に本発明の一実施例について説明する。
実施例１． （素子全長にわたる変形の均一性につい
て） Ｎ ｉ ４９．８、Ｔ ｉ ５０．２ａｔ％、Ｎｉ５０
．ＯｌＮ ｉ ５０．０、Ｔ ｉ ５０．０ａｔ％、Ｎ
ｉ５０．２、Ｔ ｉ ４９．８ａｔ％のＮｉ−Ｔｉ合金
を通常の熱間加工、冷間加工により０．２．０．５ ｔ
ｍφの線を作製した。次に０．２ ｖｍφの線について
巻径１．Ｏｍφ、長さ４０ｍｍのヘリカルコイルばねを
作製し、これに３００〜５００℃１時間の形状記憶処理
を施してばね試料とした。このばね試料の下端に６５ｇ
の錘りを吊るし、ヘリカルコイルばねに通電加熱時のコ
イルの収縮と、自然冷却時のコイルが伸びる変形の二動
作を与え、加熱時および冷却時におけるコイルの疎密を
目視により観察して素子全長にわたる変形の均一性を調
べた。その結果を第１表に示す。
て） Ｎ ｉ ４９．８、Ｔ ｉ ５０．２ａｔ％、Ｎｉ５０
．ＯｌＮ ｉ ５０．０、Ｔ ｉ ５０．０ａｔ％、Ｎ
ｉ５０．２、Ｔ ｉ ４９．８ａｔ％のＮｉ−Ｔｉ合金
を通常の熱間加工、冷間加工により０．２．０．５ ｔ
ｍφの線を作製した。次に０．２ ｖｍφの線について
巻径１．Ｏｍφ、長さ４０ｍｍのヘリカルコイルばねを
作製し、これに３００〜５００℃１時間の形状記憶処理
を施してばね試料とした。このばね試料の下端に６５ｇ
の錘りを吊るし、ヘリカルコイルばねに通電加熱時のコ
イルの収縮と、自然冷却時のコイルが伸びる変形の二動
作を与え、加熱時および冷却時におけるコイルの疎密を
目視により観察して素子全長にわたる変形の均一性を調
べた。その結果を第１表に示す。
第 １ 表
（註）○：素子全体にわたり均一
×：不拘−
第１表より明らかなように、いずれの組成によるＮｉ−
Ｔｉ合金も３００〜４２５℃の記憶処理温度のものはコ
イルピッチ全体にわたり疎密がなく均一な状態で伸縮す
るが４５０℃，４７５℃，５００℃と記憶処理温度の高
いものはコイルピッチに部分的な疎密が生じて伸縮する
ことが判った。
Ｔｉ合金も３００〜４２５℃の記憶処理温度のものはコ
イルピッチ全体にわたり疎密がなく均一な状態で伸縮す
るが４５０℃，４７５℃，５００℃と記憶処理温度の高
いものはコイルピッチに部分的な疎密が生じて伸縮する
ことが判った。
また上記と同じ組成の線径０．５ ｘｔｍφ、長さ１０
０圃の線材を３００〜５００′Ｃで１時間記憶処理し、
この線材に１０ｍｍ間隔に塗料で目印を付け、この下端
に４ ｋｇの錘りを吊し、これを通電加熱と自然冷却し
て伸縮動作を与え、加熱時および冷却時における直線線
材の部分的な伸縮度を目視により観察し、直線素子全長
にわたり均一性を調べた。その結果を第２表に示した。
０圃の線材を３００〜５００′Ｃで１時間記憶処理し、
この線材に１０ｍｍ間隔に塗料で目印を付け、この下端
に４ ｋｇの錘りを吊し、これを通電加熱と自然冷却し
て伸縮動作を与え、加熱時および冷却時における直線線
材の部分的な伸縮度を目視により観察し、直線素子全長
にわたり均一性を調べた。その結果を第２表に示した。
第２表
（註）○：素子全体にわたり均一
×：不均一
第２表から明らかなように記憶処理温度が３００〜４２
５℃の温度範囲のものは直線上の素子全長にわたり部分
的な伸縮がなく伸縮が均一であるのに対し、記憶処理温
度が４５０℃１４７５’Ｃ，５００’Ｃ１と温度の高い
ものは何れも部分的に伸縮が生し伸縮が不均一であった
。
５℃の温度範囲のものは直線上の素子全長にわたり部分
的な伸縮がなく伸縮が均一であるのに対し、記憶処理温
度が４５０℃１４７５’Ｃ，５００’Ｃ１と温度の高い
ものは何れも部分的に伸縮が生し伸縮が不均一であった
。
実施例２．（素子動作の再現性について）組成がＮ ｉ
５０．０、Ｔ ｉ ５０．０ａｔ％の線径０．２ｍｔ
ａφ、コイル巻径１．０薗φの密着ヘリカルコイルばね
に３００°ｃ、 ４００℃２４２５℃，４５０℃，４
７５’Ｃの温度で２時間の記憶処理を行なった。これを
第１図に示すような恒温槽（１）中にヘリカルコイルば
ね（２）の下端に錘り（３）を吊し、錘りの下部と恒温
槽底部とに電気接点（４）を設け、加熱時にはコイルば
ねが形状回復して錘りを上げ、冷却時には錘りの重量に
より電気接点が接触し電気回路を形成してランプ（５）
が点灯する装置により、ランプが点灯する時のヘリカル
コイルばねの温度を繰り返し測定した。
５０．０、Ｔ ｉ ５０．０ａｔ％の線径０．２ｍｔ
ａφ、コイル巻径１．０薗φの密着ヘリカルコイルばね
に３００°ｃ、 ４００℃２４２５℃，４５０℃，４
７５’Ｃの温度で２時間の記憶処理を行なった。これを
第１図に示すような恒温槽（１）中にヘリカルコイルば
ね（２）の下端に錘り（３）を吊し、錘りの下部と恒温
槽底部とに電気接点（４）を設け、加熱時にはコイルば
ねが形状回復して錘りを上げ、冷却時には錘りの重量に
より電気接点が接触し電気回路を形成してランプ（５）
が点灯する装置により、ランプが点灯する時のヘリカル
コイルばねの温度を繰り返し測定した。
その結果を第２図に示した。第２図から明らかなように
ランプ点灯時のヘリカルコイルばねの温度は約５８℃近
傍に集中し３００℃、４００℃、４２５℃において記憶
処理したものは繰り返し回数におけるバラツキが小さく
動作の再現性が良いのに対し、４５０℃１４７５”Ｃと
記憶処理温度の高いものはバラツキが非常に大きく動作
の再現性が悪い。
ランプ点灯時のヘリカルコイルばねの温度は約５８℃近
傍に集中し３００℃、４００℃、４２５℃において記憶
処理したものは繰り返し回数におけるバラツキが小さく
動作の再現性が良いのに対し、４５０℃１４７５”Ｃと
記憶処理温度の高いものはバラツキが非常に大きく動作
の再現性が悪い。
またＮｉ４９．８、Ｔ ｉ ５０．２ａｔ％の組成の線
について同様な試験を行なった結果も３００℃１４００
℃１４２５℃で記憶処理したものはバラツキが少なく動
作の再現性が良好であるが４５０℃，４７５℃の場合は
バラツキが大きい第２図と同じ結果を示した。
について同様な試験を行なった結果も３００℃１４００
℃１４２５℃で記憶処理したものはバラツキが少なく動
作の再現性が良好であるが４５０℃，４７５℃の場合は
バラツキが大きい第２図と同じ結果を示した。
実施例３．（疲労特性について）
組成がＮｉ５０．０５Ｔｉ５０．Ｏの線径０．２ｍｍφ
、コイル巻径１．Ｏｍ＋＋φの密着ヘリカルコイルばね
に３００℃，４００℃１４２５℃１４５０℃１４７５℃
の温度で２時間の記憶処理を行ない、これを一定荷重で
３５〜９０℃の温度サイクルで通電加熱、冷却を１００
０回まで繰り返し行なった。途中せん断歪にして０．５
％のコイルばねの９０℃における発生力を調べ、その変
化を第３図に示した。なお発生力は繰り返し前のもので
総て規格化しである。
、コイル巻径１．Ｏｍ＋＋φの密着ヘリカルコイルばね
に３００℃，４００℃１４２５℃１４５０℃１４７５℃
の温度で２時間の記憶処理を行ない、これを一定荷重で
３５〜９０℃の温度サイクルで通電加熱、冷却を１００
０回まで繰り返し行なった。途中せん断歪にして０．５
％のコイルばねの９０℃における発生力を調べ、その変
化を第３図に示した。なお発生力は繰り返し前のもので
総て規格化しである。
第３図より明らかなように、３００℃２４００℃１４２
５℃において記憶処理したものは１０００回の加熱、冷
却においても初期発生力の９５〜１００％の傷い発生力
が保持され、疲労特性に優れている。これに対し４５０
℃１４７５℃で記憶処理したものは発生力が著しく低下
し疲労特性の劣化が顕著である。
５℃において記憶処理したものは１０００回の加熱、冷
却においても初期発生力の９５〜１００％の傷い発生力
が保持され、疲労特性に優れている。これに対し４５０
℃１４７５℃で記憶処理したものは発生力が著しく低下
し疲労特性の劣化が顕著である。
（効果〕
以上に説明したように本発明によるとＮｉ−Ｔｉ系形状
記憶合金素子のばね用として動作特性の再現性および繰
り返し温度サイクルに対する疲労特性が極めて良好な特
性を示すものでヘリカルコイルばね用として或は直線ば
ね素子として信軌性を向上するものである。また本発明
は上記のばね用或は直線素子以外の用途についても実用
化を促進するもので工業上極めて多大の効果を奏するも
のである。
記憶合金素子のばね用として動作特性の再現性および繰
り返し温度サイクルに対する疲労特性が極めて良好な特
性を示すものでヘリカルコイルばね用として或は直線ば
ね素子として信軌性を向上するものである。また本発明
は上記のばね用或は直線素子以外の用途についても実用
化を促進するもので工業上極めて多大の効果を奏するも
のである。
第１図は本発明における再現性、試験装置の概略を説明
する図。第２図は本発明における再現性試験結果を示す
図。第３図は本発明におけろ発生力と繰り返し回数の関
係を示す図である。 ■・・・恒温槽、２・・・ばね、３・・・錘り、４・・
・接点、５・・・ランプ
する図。第２図は本発明における再現性試験結果を示す
図。第３図は本発明におけろ発生力と繰り返し回数の関
係を示す図である。 ■・・・恒温槽、２・・・ばね、３・・・錘り、４・・
・接点、５・・・ランプ
Claims (1)
- Ｎｉ４９．５〜５１．０ａｔ％残部ＴｉからなるＮｉ−
Ｔｉ系合金の０．１〜４ｍｍ線材を３００〜４２５℃で
形状記憶処理を施すことを特徴とするばね用Ｎｉ−Ｔｉ
系形状記憶合金素子の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31545686A JPS63169367A (ja) | 1986-12-29 | 1986-12-29 | ばね用Ｎｉ−Ｔｉ系形状記憶合金素子の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31545686A JPS63169367A (ja) | 1986-12-29 | 1986-12-29 | ばね用Ｎｉ−Ｔｉ系形状記憶合金素子の製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63169367A true JPS63169367A (ja) | 1988-07-13 |
Family
ID=18065580
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP31545686A Pending JPS63169367A (ja) | 1986-12-29 | 1986-12-29 | ばね用Ｎｉ−Ｔｉ系形状記憶合金素子の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63169367A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7648589B2 (en) * | 2004-09-08 | 2010-01-19 | University Of Washington | Energy absorbent material |
| US8072302B2 (en) | 2003-02-27 | 2011-12-06 | University Of Washington Through Its Center For Commercialization | Inchworm actuator based on shape memory alloy composite diaphragm |
| US8586176B2 (en) | 2007-11-02 | 2013-11-19 | University Of Washington | Shape memory alloy fibers and shape memory polymer fibers and films and their composites for reversible shape changes |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61183455A (ja) * | 1985-02-06 | 1986-08-16 | Furukawa Electric Co Ltd:The | Ｎｉ−Ｔｉ系形状記憶材の製造法 |
| JPS61227141A (ja) * | 1985-03-29 | 1986-10-09 | Furukawa Electric Co Ltd:The | ＮｉＴｉ系形状記憶合金線 |
-
1986
- 1986-12-29 JP JP31545686A patent/JPS63169367A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61183455A (ja) * | 1985-02-06 | 1986-08-16 | Furukawa Electric Co Ltd:The | Ｎｉ−Ｔｉ系形状記憶材の製造法 |
| JPS61227141A (ja) * | 1985-03-29 | 1986-10-09 | Furukawa Electric Co Ltd:The | ＮｉＴｉ系形状記憶合金線 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8072302B2 (en) | 2003-02-27 | 2011-12-06 | University Of Washington Through Its Center For Commercialization | Inchworm actuator based on shape memory alloy composite diaphragm |
| US7648589B2 (en) * | 2004-09-08 | 2010-01-19 | University Of Washington | Energy absorbent material |
| US8586176B2 (en) | 2007-11-02 | 2013-11-19 | University Of Washington | Shape memory alloy fibers and shape memory polymer fibers and films and their composites for reversible shape changes |
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