JPS6316343A - 対話形式機能テスト時のバツチによるテスト方式 - Google Patents

対話形式機能テスト時のバツチによるテスト方式

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JPS6316343A
JPS6316343A JP61160475A JP16047586A JPS6316343A JP S6316343 A JPS6316343 A JP S6316343A JP 61160475 A JP61160475 A JP 61160475A JP 16047586 A JP16047586 A JP 16047586A JP S6316343 A JPS6316343 A JP S6316343A
Authority
JP
Japan
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data
input
output
program
test
Prior art date
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Pending
Application number
JP61160475A
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English (en)
Inventor
Iwao Oda
織田 厳
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Publication of JPS6316343A publication Critical patent/JPS6316343A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、デグレーデイング時の対話形式機、能テスト
をパッチ処理により行うテスト方式く関する。
(従来の技術) 従来、対話形式プログラムの機能テストを行う場合には
、直接、端末を利用して更新のたびに毎回、全テスト項
目に対して人為的操作を介してテストを行う必要があっ
た。
(発BAが解決しよりとする問題点) 上述した従来技術による対話形式機能のテスト方式では
、前回行われているテスト事項においてもすべてのテス
トを端末上で行わなければならないため、テスト効率が
低いという欠点がある。
本発明の目的は、入出力されたデータを取出して保存し
ておき、保存されたデータをもとKして機能テストを行
うことにより上記欠点を除去し、テスト効率を改善でき
るように構成した対話形式機能テスト時のパッチによる
テスト方式を提供するととにちる。
(問題点を解決するための手段) 本発明くよる対話形式機能テスト時のパッチによるテス
ト方式は、入出力手段と、補助記憶手段と、画面入出力
制御/比較手段とを具備して構成したものである。
入出力手段は、対話形式における機能テスト時に入出力
されるデータを取出すためのものである。
補助記憶手段は、取出されたデータを保存するためのも
のである。
画面入出力制御/比較手段は、保存されたデータをもと
にして画面入出力を制御して変更し、パッチ機能テスト
を実施するためのものである。
(実施例) 次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図〜第3図は、それぞれ本発明による対話形式機能
テスト時のパッチによるテスト方式を実現する実施例を
示すブロック図である。第1図において、Sはデータ入
力装置、10は補助記憶装置、20は業務プログラム、
30は画面入出力制御装置、40は出力装置である。第
2図において、10.11はそれぞれ補助記憶装置、2
1は業務プログラム、30は画面入出力制御装置、31
はデータ入出力装置である。第3図において、】0゜1
】はそれぞれ補助記憶装置、40は出力装置、50は比
較装置である。
第1図において、画面入出力制御装置30は、データ入
力装置Sから入力され九データを業務プログラム20に
転送する。そのとき、補助記憶装置10が割当てられで
いるか否かを判断し、割当てられていれば入力データイ
メージを補助記憶装置10に書出す。業務プログラム2
0からの出力データは入力データと同様に1出力装置4
0と補助記憶装置10とに転送される。
第1図の処理によシ随時作成されたデータは、第2図に
示すグレードアップされた業務プログラム21のテスト
データとして使用される。画面入出力制御装置30は補
助記憶装置10により格納され念データのうち、第1図
の処理の際に業務プログラム2】に入力されたデータの
みを取出し、グレードアップされた業務プログラム2】
に入力データとして転送される。この際に入力データを
変更したいときには、入出力装置も割当てられる。
画面入出力装置装[30は割当てられている装置を識別
し、データ入出力装置31が割当てられていれば補助記
憶装置10よシ入力されたデータをいったんデータ入出
力装置31に出力する。デ−タ変更の際には、画面表に
表示されたデータを変更し、再び画面入出力制御装置3
0へ転送するととによシ、変更されたデータイメージが
補助記憶装置11へ格納される。
旧業務プログラム20と新業務プログラム21との入出
力データが補助記憶装置]IK格納された後、それぞれ
の入出力データは第8図に示すような比較装置SOK転
送され、データイメージが比較され、結果は出力装置4
0に出力される。
第4図は画面入出力制御装置30と業務プログラム20
およびデータ採取ファイルの内容との関係を概念的に示
した説明図である。第4図において、第1図〜第3図に
おける要素と同様に要素には同様な番号が付しである。
画面入出力制御装置30はヘッダおよび業務プログラム
20よシデーメ採取ファイルへ出力された情報を、5E
ND情報としてデータ採取ファイルを格納した補助記憶
装置10に入力して格納する。一方、データ入力装置5
よシ入力されたデータはRECEIVE情報として補助
記憶装置10のデータ採取ファイルに追加して格納され
る。
第5図は、実際にデータ採取ファイルに格納されるレコ
ードイメージの実例を示す説明図である。
第6図は、第4図によシ採取されたテスト用入出力デー
タをも七にして、グレードアンプされた業務プログラム
21をテストする際の関係を示す概念図である。画面入
出力制御装置30は、ヘッダおよび業務プログラム21
により新データ採取ファイルに出力された画面情報を5
END情報として格納する。入力データは、補助記憶装
置1】の旧データ採取ファイルよIECEIME情報の
みを取出し、補助記憶装置】0の新データ採取ファイル
に書出すとともに業務プログラム21に入力データとし
て転送する。このとき、画面入出力装置31が割当てら
れていれば、画面入出力制御装置31はいったん補助記
憶装置】1の旧データ採取ファイルよシ読込まれたデー
タを画面入出力装置31へ出力する。そこで、データに
変更がある場合には、直接、画面上で変更した後、画面
入出力制御装置31ヘデータを転送することによシ、デ
ータは補助記憶装置10の新データ採取ファイルに新デ
ータとして格納される。
このようにして採取された新旧データ採取ファイルを相
互に比較することKよシ、グレードアップされた業務プ
ログラムに対してデグレーデイングテストを行うことが
でき、解析を行うことができる。
(発明の効果) 以上説明したように本発明は、更新後のプログラムをテ
ストする場合、前回のテスト結果をもとにして対話形式
でテストをパッチ形式によシ行い、これを前回のテスト
結果と自動的に比較することによシ、機能テストを高速
、且つ、効率的に行うことができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図〜第3図は、それぞれ本発明による対話形式機能
テスト時のパッチによるテスト方式を実現するための一
実施例を示す説明図である。 第4図は、入出力データを補助記憶装置へ出力する動作
を示す説明図である。 第5図は、退避さ九た入出力データの詳細を示す説vj
図である。 第6図は、退避された入出力データをもとにして新業務
プログラムテスト時の流れを示す説明図である。 5・・・データ入力装置 10.11・9・ファイル 20.21・・Φ業務プログラム 3G・・・画面入出力制御装置 3】串・・画面入出力装置 40・・・出力装置 50・・・比較装置

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 対話形式における機能テスト時に入出力されるデータを
    取出すための入出力手段と、前記取出されたデータを保
    存するための補助記憶手段と、前記保存されたデータを
    もとにして画面入出力を制御して変更し、パッチ機能テ
    ストを実施するための画面入出力制御/比較手段とを具
    備して構成したことを特徴とする対話形式機能テスト時
    のパッチによるテスト方式。
JP61160475A 1986-07-08 1986-07-08 対話形式機能テスト時のバツチによるテスト方式 Pending JPS6316343A (ja)

Priority Applications (1)

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JP61160475A JPS6316343A (ja) 1986-07-08 1986-07-08 対話形式機能テスト時のバツチによるテスト方式

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JP61160475A JPS6316343A (ja) 1986-07-08 1986-07-08 対話形式機能テスト時のバツチによるテスト方式

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Publication Number Publication Date
JPS6316343A true JPS6316343A (ja) 1988-01-23

Family

ID=15715756

Family Applications (1)

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JP61160475A Pending JPS6316343A (ja) 1986-07-08 1986-07-08 対話形式機能テスト時のバツチによるテスト方式

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006338438A (ja) * 2005-06-03 2006-12-14 Omron Corp 乗車券処理装置

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JPS58114254A (ja) * 1981-12-28 1983-07-07 Fujitsu Ltd 会話形システムのテスト方法
JPS6065349A (ja) * 1983-09-21 1985-04-15 Hitachi Ltd テストデ−タ発生方式

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