JPS63163108A - 細線状物体の寸法測定装置 - Google Patents
細線状物体の寸法測定装置Info
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- JPS63163108A JPS63163108A JP30929386A JP30929386A JPS63163108A JP S63163108 A JPS63163108 A JP S63163108A JP 30929386 A JP30929386 A JP 30929386A JP 30929386 A JP30929386 A JP 30929386A JP S63163108 A JPS63163108 A JP S63163108A
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 8
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 abstract description 25
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 abstract 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 8
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 2
- 239000011800 void material Substances 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、細線状物体の寸法を測定する寸法測定装置に
関し、特に断面形状が円形あるいは楕円形の細線状物体
である被測定物の寸法を測定する寸法側゛定装置に関す
る。
関し、特に断面形状が円形あるいは楕円形の細線状物体
である被測定物の寸法を測定する寸法側゛定装置に関す
る。
従来、断面形状が、特に楕円形である細線状の被測定物
の長手方向に対し垂直な方向の寸法、すなわち、被測定
物の断面形状である楕円の短径と長径を測定する寸法測
定装置は、接触式による寸法測定装置と、非接触式によ
る寸法測定装置とがある。接触式による寸法測定装置で
は直交２方向から物体の寸法を測定しそれぞれの測定値
を楕円の長径および短径と想定している。また、非接触
式による寸法測定装置では直交２方向からの光学的投影
により上述と同様の想定を行っている。
の長手方向に対し垂直な方向の寸法、すなわち、被測定
物の断面形状である楕円の短径と長径を測定する寸法測
定装置は、接触式による寸法測定装置と、非接触式によ
る寸法測定装置とがある。接触式による寸法測定装置で
は直交２方向から物体の寸法を測定しそれぞれの測定値
を楕円の長径および短径と想定している。また、非接触
式による寸法測定装置では直交２方向からの光学的投影
により上述と同様の想定を行っている。
上述した従来の寸法測定装置において、接触式による寸
法測定装置は、精度のよい計測を行うために、寸法を検
出する変位センサの接触子と被測定物との接触状態を維
持するのが難しい場合があり、被測定物の保持状態と接
触子の配置によっては、断面形状が楕円形状の物体を円
形と誤認（円形誤認）したり、接触子が相互に機械的に
干渉しあって、正確な測定を妨げるという問題がある。
法測定装置は、精度のよい計測を行うために、寸法を検
出する変位センサの接触子と被測定物との接触状態を維
持するのが難しい場合があり、被測定物の保持状態と接
触子の配置によっては、断面形状が楕円形状の物体を円
形と誤認（円形誤認）したり、接触子が相互に機械的に
干渉しあって、正確な測定を妨げるという問題がある。
また、非接触式の寸法測定装置においても円形誤認の問
題は除去できない上に、光学センサを用いるので、焦点
合わせなどの光学系に特有の困難さや高価な光学センサ
を用いるという問題を生ずる。
題は除去できない上に、光学センサを用いるので、焦点
合わせなどの光学系に特有の困難さや高価な光学センサ
を用いるという問題を生ずる。
被測定物の断面形状が楕円形である細線状物体の長手方
向に対し直角な方向の寸法を測定する接触式の寸法測定
装置について、図面を用いてさらに詳しく説明する。第
４図は、従来の寸法測定装置の一例を示したものである
。この寸法測定装置は、第４図（ａ）に示されているよ
うに、Ｖ溝１３を有する支持具１６と、寸法を測るため
変位の検出を行う相互に直交する変位センサの接触子１
４ａ、 １４ｂとで構成される。
向に対し直角な方向の寸法を測定する接触式の寸法測定
装置について、図面を用いてさらに詳しく説明する。第
４図は、従来の寸法測定装置の一例を示したものである
。この寸法測定装置は、第４図（ａ）に示されているよ
うに、Ｖ溝１３を有する支持具１６と、寸法を測るため
変位の検出を行う相互に直交する変位センサの接触子１
４ａ、 １４ｂとで構成される。
支持具１６の■溝１３は、直交する２つの平面によって
形成されている。
形成されている。
この寸法測定装置を用いて行う寸法測定は、まず、第４
図（ａ）に示されているように、長手方向に垂直な断面
形状が楕円形である細線状の被測定物１２を保持する。
図（ａ）に示されているように、長手方向に垂直な断面
形状が楕円形である細線状の被測定物１２を保持する。
次に、接触子１４ａ、 １４ｂを被測定物の同一周囲上
に押し当てて行う。ところが寸法測定を行うとき、被測
定物１２と接触子１４ａ、 １４ｂとの配置によっては
、被測定物１２の同一周囲上に接触子１４ａ、 １４ｂ
を押し当てて測定を行うため、実線で示した被測定物１
２の断面形状を破線で示した円形と誤認する（円形誤認
）欠点がある。また、第４図（ｂ）のように接触子１４
ａを押し当てるときに被測定物１２とｖｒｉ１３と接触
子１４ａとの寸法によっては、第４図（ｃ）のように被
測定物１２の安定が得られず、被測定物１２が逃げてし
まうことがある。被測定物１２の長径の幅より大きい接
触子を使用して測定を行う場合、第４図（ｄ）のように
、大型化した接触子１５ａを被測定物１２に押し当てる
と、第４図（ｅ）に示されるように、被測定物１２は安
定し被測定物１２の短径り、は測定できる状態となる。
に押し当てて行う。ところが寸法測定を行うとき、被測
定物１２と接触子１４ａ、 １４ｂとの配置によっては
、被測定物１２の同一周囲上に接触子１４ａ、 １４ｂ
を押し当てて測定を行うため、実線で示した被測定物１
２の断面形状を破線で示した円形と誤認する（円形誤認
）欠点がある。また、第４図（ｂ）のように接触子１４
ａを押し当てるときに被測定物１２とｖｒｉ１３と接触
子１４ａとの寸法によっては、第４図（ｃ）のように被
測定物１２の安定が得られず、被測定物１２が逃げてし
まうことがある。被測定物１２の長径の幅より大きい接
触子を使用して測定を行う場合、第４図（ｄ）のように
、大型化した接触子１５ａを被測定物１２に押し当てる
と、第４図（ｅ）に示されるように、被測定物１２は安
定し被測定物１２の短径り、は測定できる状態となる。
次に、長径を測定するために大型化した接触子１５ｂを
被測定物１２に押し当てると、第４図（ｆ）のようにな
り接触子１５ｂと接触子１５ａとがぶつかる機械的干渉
が生じ、長径Ｄ２の正しい寸法が測定できないなどの欠
点がある。
被測定物１２に押し当てると、第４図（ｆ）のようにな
り接触子１５ｂと接触子１５ａとがぶつかる機械的干渉
が生じ、長径Ｄ２の正しい寸法が測定できないなどの欠
点がある。
本発明の目的は、このような欠点を除去し、円形誤認や
機械的干渉が発生することなく、細線状の被測定物の長
径と短径とが正確に測定できる細線状物体の寸法測定装
置を提供することにある。
機械的干渉が発生することなく、細線状の被測定物の長
径と短径とが正確に測定できる細線状物体の寸法測定装
置を提供することにある。
本発明は、細線状物体の長手方向に対し垂直な方向の寸
法を測定する寸法測定装置において、交互に空隙を有す
る櫛状の２つの壁面が直交されて形成されるＶ溝を有し
、このＶ溝に測定すべき細線状物体を保持する保持手段
と、 一方の前記壁面の空隙より、他方の前記壁面に対し垂直
に挿入される少なくとも１個の第１の寸法検出部と、前
記第１の寸法検出部が挿入される前記空隙に隣接する他
方の前記壁面の空隙より、一方の前記壁面に対し垂直に
挿入される少なくとも１個の第２の寸法検出部とからな
る検出手段とを有することを特徴としている。
法を測定する寸法測定装置において、交互に空隙を有す
る櫛状の２つの壁面が直交されて形成されるＶ溝を有し
、このＶ溝に測定すべき細線状物体を保持する保持手段
と、 一方の前記壁面の空隙より、他方の前記壁面に対し垂直
に挿入される少なくとも１個の第１の寸法検出部と、前
記第１の寸法検出部が挿入される前記空隙に隣接する他
方の前記壁面の空隙より、一方の前記壁面に対し垂直に
挿入される少なくとも１個の第２の寸法検出部とからな
る検出手段とを有することを特徴としている。
次に、本発明の実施例を図面を参照して説明する。
第１図は、本発明の一実施例を示す斜視図である。この
細線状物体の寸法測定装置は、櫛型Ｖ溝１を有する支持
具４と、寸法を測るため変位の検出を行う変位センサの
接触子６ａ、６ｂとで構成される。
細線状物体の寸法測定装置は、櫛型Ｖ溝１を有する支持
具４と、寸法を測るため変位の検出を行う変位センサの
接触子６ａ、６ｂとで構成される。
支持具４の櫛型ｖ溝ｌは、直交する２つの壁面により構
成されている。一方の壁面には空隙２ａ。
成されている。一方の壁面には空隙２ａ。
２ｂが設けられ、他方の壁面には空隙３が設けられてい
る。一方の壁面は、空隙２ａ、２ｂを設けたことにより
壁面８ ａｌ ８ ｂ＋ ８ ｃに分離され、他方の壁
面は、空隙３を設けたことにより壁面９ａ、９ｂに分離
されている。壁面８ａ、８ｂ、８ｃと壁面９ａ＋９ｂと
は、直交している。このような櫛型Ｖ溝１の形状は、例
えば左右の手を指を伸ばして組み合わせたような形状で
ある。
る。一方の壁面は、空隙２ａ、２ｂを設けたことにより
壁面８ ａｌ ８ ｂ＋ ８ ｃに分離され、他方の壁
面は、空隙３を設けたことにより壁面９ａ、９ｂに分離
されている。壁面８ａ、８ｂ、８ｃと壁面９ａ＋９ｂと
は、直交している。このような櫛型Ｖ溝１の形状は、例
えば左右の手を指を伸ばして組み合わせたような形状で
ある。
変位センサの接触子６ａ、６ｂは、隣接して配置されて
おり、互いに直交している。
おり、互いに直交している。
なお、本実施例において、保持手段は櫛型Ｖ溝１を有す
る支持具４で構成され、検出手段は変位センサの接触子
６ａ、６ｂで構成されている。
る支持具４で構成され、検出手段は変位センサの接触子
６ａ、６ｂで構成されている。
次に、本実施例の寸法測定装置を用いて行う寸法測定に
ついて第２図の正面図を参照しながら説明する。第１図
に示されているように、まず、断面形状が楕円の細線状
物体である被測定物５を櫛型Ｖ′ａ１に置く。櫛型■溝
１は両壁面に空隙を有するが、通常のＶ溝と同様に被測
定物５の保持には全く支障がない。次に、接触子６ａを
空隙２ｂから挿入し、被測定物５に押し当てる。被測定
物５が壁面９ｂに対して安定となったら、接触子６ｂを
空隙３から挿入し、被測定物５に押し当てる。
ついて第２図の正面図を参照しながら説明する。第１図
に示されているように、まず、断面形状が楕円の細線状
物体である被測定物５を櫛型Ｖ′ａ１に置く。櫛型■溝
１は両壁面に空隙を有するが、通常のＶ溝と同様に被測
定物５の保持には全く支障がない。次に、接触子６ａを
空隙２ｂから挿入し、被測定物５に押し当てる。被測定
物５が壁面９ｂに対して安定となったら、接触子６ｂを
空隙３から挿入し、被測定物５に押し当てる。
本実施例の場合、接触子６ａ、６ｂの先端部分の幅は、
被測定物の短径より小さいものとする。被測定物５が、
壁面８ｂに対しても安定となり、櫛型■溝１に安定に保
持されたのち、被測定物５の変位を測定する。第２図に
示されるように、被測定物５の短径Ｄ１は壁面９ｂを基
準とした変位を検出することにより測定され、長径Ｄ２
は、壁面８ｂを基準とした変位を検出することにより測
定される。
被測定物の短径より小さいものとする。被測定物５が、
壁面８ｂに対しても安定となり、櫛型■溝１に安定に保
持されたのち、被測定物５の変位を測定する。第２図に
示されるように、被測定物５の短径Ｄ１は壁面９ｂを基
準とした変位を検出することにより測定され、長径Ｄ２
は、壁面８ｂを基準とした変位を検出することにより測
定される。
次に、本発明の他の実施例について説明する。
第３図は、本実施例を示す正面図である。本実施例は、
寸法を測るため変位の検出を行う変位センサの接触子７
ａ、７ｂの幅が被測定物５の長径より大きいものを使用
しており、この接触子を使用することが、前述した第１
図に示されている実施例と異なっている。
寸法を測るため変位の検出を行う変位センサの接触子７
ａ、７ｂの幅が被測定物５の長径より大きいものを使用
しており、この接触子を使用することが、前述した第１
図に示されている実施例と異なっている。
なお、本実施例で使用されている支持具４は、第１図に
示されている支持具と同じものを使用している。
示されている支持具と同じものを使用している。
まず、第３図（ａ）で示されているように、断面形状が
楕円形の細線状物体である被測定物５を支持具４の櫛型
Ｖ溝１に置く。次に、櫛型Ｖ溝１の空隙から一方の接触
子７ａを被測定物５に押し当てると、第３図（ｂ）のよ
うに被測定物５は、櫛型■溝１の壁面に押しつけられ安
定する。さらに、接触子７ａを挿入した空隙に隣接する
空隙より、接触子７ａと直交方向から他の接触子７ｂを
被測定物５に押し当てることにより第３図（Ｃ）じこ示
されるように被測定物５は他の壁面に押しつけられ、被
測定物５は安定に保持される。また、接触子７ａと７ｂ
は、櫛型Ｖ？ＡＩの互いに隣接した空隙より挿入してい
るので接触子相互の配置にはずれがあり、互いに干渉す
ることなく、断面形状が楕円形でもありうる細線状の被
測定物の寸法を正しく測定できる。
楕円形の細線状物体である被測定物５を支持具４の櫛型
Ｖ溝１に置く。次に、櫛型Ｖ溝１の空隙から一方の接触
子７ａを被測定物５に押し当てると、第３図（ｂ）のよ
うに被測定物５は、櫛型■溝１の壁面に押しつけられ安
定する。さらに、接触子７ａを挿入した空隙に隣接する
空隙より、接触子７ａと直交方向から他の接触子７ｂを
被測定物５に押し当てることにより第３図（Ｃ）じこ示
されるように被測定物５は他の壁面に押しつけられ、被
測定物５は安定に保持される。また、接触子７ａと７ｂ
は、櫛型Ｖ？ＡＩの互いに隣接した空隙より挿入してい
るので接触子相互の配置にはずれがあり、互いに干渉す
ることなく、断面形状が楕円形でもありうる細線状の被
測定物の寸法を正しく測定できる。
以上、２つの実施例について説明したが、変位センサは
差動トランスなどのセンサを用いることにより容易に実
現できる。
差動トランスなどのセンサを用いることにより容易に実
現できる。
また、以上の２つの実施例では２台の変位センサの接触
子を用いて、変位の検出を行っているが、２台以上の変
位センサの接触子や変位センサを使用して細線状物体の
変位の検出もできる。
子を用いて、変位の検出を行っているが、２台以上の変
位センサの接触子や変位センサを使用して細線状物体の
変位の検出もできる。
また、以上の２つの実施例では、細線状物体の長手方向
に対する断面が楕円形であるものを用いているが、断面
の形状はこれに限定されるものではなく、例えば断面が
円形状の細線状物体の寸法測定もできる。
に対する断面が楕円形であるものを用いているが、断面
の形状はこれに限定されるものではなく、例えば断面が
円形状の細線状物体の寸法測定もできる。
以上説明したように、本発明は、直交する２つの壁面に
櫛状の空隙を有する保持手段にて細線状物体を保持して
、この空隙より変位の検出手段にて変位の検出を行うの
で、変位の検出手段の機械的干渉や、円形誤認の発生が
防止でき、断面形状が円形ないし楕円形である細線状の
物体の寸法を正確に測定できる効果がある。
櫛状の空隙を有する保持手段にて細線状物体を保持して
、この空隙より変位の検出手段にて変位の検出を行うの
で、変位の検出手段の機械的干渉や、円形誤認の発生が
防止でき、断面形状が円形ないし楕円形である細線状の
物体の寸法を正確に測定できる効果がある。
第１図は、本発明の一実施例を示す斜視図、第２図は、
第１図の正面図、 第３図は、本発明の他の実施例を示す図、第４図は、従
来の一例を示す図である。 １・・・・・・・・・・・櫛型Ｖ溝 ２ａ、２ｂ、３・・・・・・・空隙 ４・・・・・・・・・・・支持具 ５・・・・・・・・・・・被測定物 ６ａ、６ｂ、７ａ、７ｂ ・・・・センサ接触子８ａ、
８ｂ、 ８ｃ、 ９ａ、 ９ｂ −−壁面（ａ） ％ （ｂ） （ｃ） （ｄ） （ｅ） （ｆ）
第１図の正面図、 第３図は、本発明の他の実施例を示す図、第４図は、従
来の一例を示す図である。 １・・・・・・・・・・・櫛型Ｖ溝 ２ａ、２ｂ、３・・・・・・・空隙 ４・・・・・・・・・・・支持具 ５・・・・・・・・・・・被測定物 ６ａ、６ｂ、７ａ、７ｂ ・・・・センサ接触子８ａ、
８ｂ、 ８ｃ、 ９ａ、 ９ｂ −−壁面（ａ） ％ （ｂ） （ｃ） （ｄ） （ｅ） （ｆ）
Claims (1)
- （１）細線状物体の長手方向に対し垂直な方向の寸法を
測定する寸法測定装置において、 交互に空隙を有する櫛状の２つの壁面が直交されて形成
されるＶ溝を有し、このＶ溝に測定すべき細線状物体を
保持する保持手段と、 一方の前記壁面の空隙より、他方の前記壁面に対し垂直
に挿入される少なくとも１個の第１の寸法検出部と、前
記第１の寸法検出部が挿入される前記空隙に隣接する他
方の前記壁面の空隙より、一方の前記壁面に対し垂直に
挿入される少なくとも１個の第２の寸法検出部とからな
る検出手段とを有することを特徴とする細線状物体の寸
法測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30929386A JPS63163108A (ja) | 1986-12-25 | 1986-12-25 | 細線状物体の寸法測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30929386A JPS63163108A (ja) | 1986-12-25 | 1986-12-25 | 細線状物体の寸法測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63163108A true JPS63163108A (ja) | 1988-07-06 |
Family
ID=17991255
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30929386A Pending JPS63163108A (ja) | 1986-12-25 | 1986-12-25 | 細線状物体の寸法測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63163108A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02261008A (ja) * | 1989-03-31 | 1990-10-23 | Fujikura Ltd | 端子かしめ部の寸法測定方法 |
-
1986
- 1986-12-25 JP JP30929386A patent/JPS63163108A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02261008A (ja) * | 1989-03-31 | 1990-10-23 | Fujikura Ltd | 端子かしめ部の寸法測定方法 |
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