JPS63160342A - 保護膜および保護テ−プの除去方法 - Google Patents
保護膜および保護テ−プの除去方法Info
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- JPS63160342A JPS63160342A JP30983486A JP30983486A JPS63160342A JP S63160342 A JPS63160342 A JP S63160342A JP 30983486 A JP30983486 A JP 30983486A JP 30983486 A JP30983486 A JP 30983486A JP S63160342 A JPS63160342 A JP S63160342A
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- tape
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Landscapes
- Drying Of Semiconductors (AREA)
- Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この発明はパッシベーション膜が形成された半導体基板
に保護膜を塗布し、さらに保護テープを貼り付け、該半
導体基板を固定台に固定し、該半導体基板の裏面を研磨
した後の、該保護膜および該保護テープを除去する方法
に関するものである。
に保護膜を塗布し、さらに保護テープを貼り付け、該半
導体基板を固定台に固定し、該半導体基板の裏面を研磨
した後の、該保護膜および該保護テープを除去する方法
に関するものである。
[従来の技術]
半導体基板表面にパッシベーション膜を形成した後、半
導体lI機a面を研削する際には、該パッシベーション
膜を損傷から保護する必要がある。
導体lI機a面を研削する際には、該パッシベーション
膜を損傷から保護する必要がある。
図を用いて、従来の、該パッシベーション膜の保護膜・
保護テープによる保護の方法、半導体基板!1面の研磨
の方法、および該保護膜・該保護テープの除去の方法を
説明する。
保護テープによる保護の方法、半導体基板!1面の研磨
の方法、および該保護膜・該保護テープの除去の方法を
説明する。
第2八図ないし第2E図は、従来の、保[1を塗布する
工程−保護テープを貼り付ける工程−半導体基板裏面を
研磨する工程−保護膜・保護テープを除去する工程を示
した図である。
工程−保護テープを貼り付ける工程−半導体基板裏面を
研磨する工程−保護膜・保護テープを除去する工程を示
した図である。
パッシベーション膜が形成された半導体基板1の上に、
ネガレジストからなる保11I2を塗布する(第2A図
)。
ネガレジストからなる保11I2を塗布する(第2A図
)。
パッシベーション膜は、半導体基板1に形成された半導
体素子を結ぶアルミニウム配線を保護するための保護膜
であって、窒化硅素等のCVD膜からなっている。
体素子を結ぶアルミニウム配線を保護するための保護膜
であって、窒化硅素等のCVD膜からなっている。
次いで、該保護m2の上に保護テープ3を貼り付ける〈
第2B図)。保護B!2の上にさらに保護テープ3を貼
りつけるのは、保護膜2のみでは十分にパッシベーショ
ン暎を保護することができないからである。
第2B図)。保護B!2の上にさらに保護テープ3を貼
りつけるのは、保護膜2のみでは十分にパッシベーショ
ン暎を保護することができないからである。
次いで、半導体M叛1を薯面4が上を向くようにして、
裏面研磨機の固定台の上に置き、固定する。そして、該
半導体![1の裏面4を砥石で研磨する。この砥石で研
磨する時、半導体基板1の表面と固定台とは強く接触す
るので、半導体J3Fiの表面は損傷を受けるおそれが
ある。それゆえ、半導体外板1の表面に保護膜2を塗布
し、保護テープを貼りつけて、該半導体基板1表面の損
(nを防止しているのである。裏面を研磨した後の状態
を第2C図に示す。
裏面研磨機の固定台の上に置き、固定する。そして、該
半導体![1の裏面4を砥石で研磨する。この砥石で研
磨する時、半導体基板1の表面と固定台とは強く接触す
るので、半導体J3Fiの表面は損傷を受けるおそれが
ある。それゆえ、半導体外板1の表面に保護膜2を塗布
し、保護テープを貼りつけて、該半導体基板1表面の損
(nを防止しているのである。裏面を研磨した後の状態
を第2C図に示す。
裏面4を研磨する理由は該半導体外板を用いた半導体装
nの電気的特性を高めることと、薄板化することにより
半導体装置をコンパクト化することにある。
nの電気的特性を高めることと、薄板化することにより
半導体装置をコンパクト化することにある。
裏面研磨が終了すると、保護テープ3をテープ剥がし機
で機械的に剥がt(第2D図〉。
で機械的に剥がt(第2D図〉。
モして、その後、保II!膜2をトリクレンを用いて除
去し、裏面4が研磨された半導体基板1を得ている。(
第2E図)。
去し、裏面4が研磨された半導体基板1を得ている。(
第2E図)。
[発明が解決しようとする問題点コ
半導体基板1の裏面4の研磨が終了した後、従来は以上
のように保護テープ3をテープ剥がし機により機械的に
剥がし、保護膜!I2をトリクレンで溶かして除去して
いた。
のように保護テープ3をテープ剥がし機により機械的に
剥がし、保護膜!I2をトリクレンで溶かして除去して
いた。
しかし、テープ剥がし機で保護テープ3を機械的に剥が
すのはわずられしい作業であり、また保護膜2の除去に
使用されるトリクレンは有害なものであり、その使用継
続は公害問題に発展するおそれがある。
すのはわずられしい作業であり、また保護膜2の除去に
使用されるトリクレンは有害なものであり、その使用継
続は公害問題に発展するおそれがある。
この発明は上記のような問題点を解決するためになされ
たものであり、保護テープを機械的に剥がす煩わしい作
業をなくしかつトリクレン等の有害な溶剤を使用しない
、保11膜および保護テープの除去方法を提供すること
を目的とする。
たものであり、保護テープを機械的に剥がす煩わしい作
業をなくしかつトリクレン等の有害な溶剤を使用しない
、保11膜および保護テープの除去方法を提供すること
を目的とする。
E問題点を解決するための手段]
この発明は、パッシベーション膜が形成された半導体基
板に保護膜を塗布し、さらに保護テープを貼り付け、該
半導体基板を固定台に固定し、該半導体基板の裏面を研
磨した後の該保FsIl!および該保護テープを除去す
る方法に係るものである。
板に保護膜を塗布し、さらに保護テープを貼り付け、該
半導体基板を固定台に固定し、該半導体基板の裏面を研
磨した後の該保FsIl!および該保護テープを除去す
る方法に係るものである。
そして、前記問題点を解決するために該保護膜および該
保護テープをプラズマアッシング可能な材質とし、該保
護Sおよび該保護テープをプラズマアッシングすること
により除去することを特徴としている。
保護テープをプラズマアッシング可能な材質とし、該保
護Sおよび該保護テープをプラズマアッシングすること
により除去することを特徴としている。
[作用コ
パッシベーション膜上に形成する保護膜および保護テー
プをプラズマ7ツシング可能な材料とし、該保1glお
よび保護テープをプラズマアッシングにより一挙に除去
するので、テープ剥がし機を用いて機械的に保護テープ
を剥がすという作業がなくなり、トリクレンなどの有害
な溶剤を使用することもなくなる。
プをプラズマ7ツシング可能な材料とし、該保1glお
よび保護テープをプラズマアッシングにより一挙に除去
するので、テープ剥がし機を用いて機械的に保護テープ
を剥がすという作業がなくなり、トリクレンなどの有害
な溶剤を使用することもなくなる。
[実施例]
以下、この発明の一実施例を図について説明する。
第1八図ないし第1D図はこの発明に係る保護膜を塗布
する工程−保書テープを貼り付ける工程−半導体基板裏
面を研磨する工程−保護膜・保護テープを除去する工程
を示した図である。
する工程−保書テープを貼り付ける工程−半導体基板裏
面を研磨する工程−保護膜・保護テープを除去する工程
を示した図である。
バ・ソシベーシミン膜が形成された半導体基板1の上に
プラズマアッシング可能な保護膜2を被覆する(第1A
図)。
プラズマアッシング可能な保護膜2を被覆する(第1A
図)。
プラズマアッシング可能な保護m2として、感光基を有
しない有機レジンを用いる。感光基を有し、ないレジン
を用いるのは、感光基を有するレジンを用いると3次元
架橋し、プラズマアッシングが困!ぎとなるからである
。
しない有機レジンを用いる。感光基を有し、ないレジン
を用いるのは、感光基を有するレジンを用いると3次元
架橋し、プラズマアッシングが困!ぎとなるからである
。
次に、保WIm2上にプラズマアッシング可能な保護テ
ープ3を貼り付ける(第1B図)。
ープ3を貼り付ける(第1B図)。
保護テープ3の材質として、保護膜2と同様に感光基を
有しないレジンを用いる。
有しないレジンを用いる。
次いで、半導体基板1を41が上を向(ようにして、裏
面研磨機の固定台の上に置き、固定する。そして、該半
導体基板1の裏面を砥石で研磨する。裏面を研磨した後
の状態を第1C図に示す。
面研磨機の固定台の上に置き、固定する。そして、該半
導体基板1の裏面を砥石で研磨する。裏面を研磨した後
の状態を第1C図に示す。
これらの工程が終了した後、プラズマアッシング法によ
り保護膜2と促虐テープ3をアッシング除去する。
り保護膜2と促虐テープ3をアッシング除去する。
このように、プラズマアッシングによりei!mFlと
保護テープを一挙に除去するので、テープ剥がし傭で保
護テープを機械的に剥がし、トリクレンで保[1を除去
するという工程は不要となる。
保護テープを一挙に除去するので、テープ剥がし傭で保
護テープを機械的に剥がし、トリクレンで保[1を除去
するという工程は不要となる。
[発明の効果]
以上のようにこの発明に係る保護膜および保護テープの
除去方法によれば、パッシベーション膜上に形成する保
護膜および保護テープをプラズマアッシング可能な材質
とし、該保護膜および該保護テープをプラズマアッシン
グすることにより一挙に灰化除去するので、テープ剥が
し纏で保護テープを1械的に剥がすという工程はなくな
り、またトリクレンなどの有害な溶剤を使用して保′a
jWを除去するという操作は不要となる。
除去方法によれば、パッシベーション膜上に形成する保
護膜および保護テープをプラズマアッシング可能な材質
とし、該保護膜および該保護テープをプラズマアッシン
グすることにより一挙に灰化除去するので、テープ剥が
し纏で保護テープを1械的に剥がすという工程はなくな
り、またトリクレンなどの有害な溶剤を使用して保′a
jWを除去するという操作は不要となる。
その結果、作業能率が上がり、また公害問題に発展する
というおそれは解消される。
というおそれは解消される。
第1八図ないし第1D図はこの発明の一実施例を示した
図であり、i2A図ないし第2E図は従来の保護膜を被
1する工程−保護テープを貼り付ける工程−半導体基板
裏面を研磨する工程−保護膜・保冷テープを除去する工
程を示した図である。 図において、1はパッシベーション膜が形成された半導
体基板、2は保r!i膜、3は保護テープ、4は半)1
体基板の3面である。 なお各図中同一符号は同一または相当部分を示す。
図であり、i2A図ないし第2E図は従来の保護膜を被
1する工程−保護テープを貼り付ける工程−半導体基板
裏面を研磨する工程−保護膜・保冷テープを除去する工
程を示した図である。 図において、1はパッシベーション膜が形成された半導
体基板、2は保r!i膜、3は保護テープ、4は半)1
体基板の3面である。 なお各図中同一符号は同一または相当部分を示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 パッシベーション膜が形成された半導体基板に保護膜
を塗布し、さらに保護テープを貼り付け、該半導体基板
を固定台に固定し、該半導体基板の裏面を研磨した後の
該保護膜および該保護テープを除去する方法であって、 前記保護膜および前記保護テープをプラズマアッシング
可能な材質とし、該保護膜および該保護テープをプラズ
マアッシングすることにより除去することを特徴とする
保護膜および保護テープの除去方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30983486A JPS63160342A (ja) | 1986-12-24 | 1986-12-24 | 保護膜および保護テ−プの除去方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30983486A JPS63160342A (ja) | 1986-12-24 | 1986-12-24 | 保護膜および保護テ−プの除去方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63160342A true JPS63160342A (ja) | 1988-07-04 |
Family
ID=17997824
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP30983486A Pending JPS63160342A (ja) | 1986-12-24 | 1986-12-24 | 保護膜および保護テ−プの除去方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63160342A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105097431A (zh) * | 2014-05-09 | 2015-11-25 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 | 一种晶圆正面的保护方法 |
CN105643431A (zh) * | 2014-12-02 | 2016-06-08 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 | 晶圆研磨方法 |
-
1986
- 1986-12-24 JP JP30983486A patent/JPS63160342A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105097431A (zh) * | 2014-05-09 | 2015-11-25 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 | 一种晶圆正面的保护方法 |
CN105643431A (zh) * | 2014-12-02 | 2016-06-08 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 | 晶圆研磨方法 |
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