JPS63155631A - 半導体ウエハの自動貼付け装置 - Google Patents

半導体ウエハの自動貼付け装置

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JPS63155631A
JPS63155631A JP61304777A JP30477786A JPS63155631A JP S63155631 A JPS63155631 A JP S63155631A JP 61304777 A JP61304777 A JP 61304777A JP 30477786 A JP30477786 A JP 30477786A JP S63155631 A JPS63155631 A JP S63155631A
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JP
Japan
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semiconductor wafer
frame
wafer
alignment table
semiconductor
Prior art date
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Pending
Application number
JP61304777A
Other languages
English (en)
Inventor
Kenji Nonomura
野々村 謙二
Shigehisa Kuroda
黒田 繁寿
Matsuro Kanehara
松郎 金原
Akira Ishihara
明 石原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nitto Denko Corp
Original Assignee
Nitto Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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  • Folding Of Thin Sheet-Like Materials, Special Discharging Devices, And Others (AREA)
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  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は、半導体ウェハのスクライブ工程の前工程にお
いて、半導体ウェハを粘着テープに貼付けるために用い
られる半導体ウェハの自動貼イーJけ装置に関する。
〈従来の技イイlj> 一般に、半導体ウェハのスクライブ工程では、半導体ウ
ェハを粘着テープに貼付けた状態でスクライブを行って
いる。スクライブされた半導体ウェハは、粘着テープに
貼付けられた状態でクランキングされる。そして、粘着
テープを引き伸ばして、個々の半導体素子を分離し、次
工程であるダイボンディング工程において、半導体素子
を容易に取り扱えるようにしている。
このような半導体ウェハを粘着テープに貼付ける工程は
、半導体ウェハのスクライブ工程の前工程として行われ
る。そして、近年の半導体製造ラインの自動化に伴い、
半導体ウェハを粘着テープに貼付ける自動装置の開発が
望まれている。
〈発明が解決しようとする問題点〉 本発明は、このような事情に鑑みて開発された半導体ウ
ェハの自動貼付は装置において、特に、ウェハ・ローダ
部から供給された半導体ウェハを、アライメント・テー
ブルが確実に受け取ったか否かを検出する機能を備えた
半導体ウェハの自動貼付は装置を提供することを目的と
している。
このような本発明の目的は、後に行う本発明の詳細な説
明において、さらに明らかにする。
〈問題点を解決するための手段〉 本発明は、上記目的を達成するために、次のような構成
を採る。
即ち、本発明は、オリエンテーションフラットが形成さ
れた半導体ウェハを位置合わせして粘着テープに貼付け
る半導体ウェハの自動貼付は装置であって、 前記半導体ウェハを供給するウェハ・ローダ部と、 前記ウェハ・ローダ部から供給された半導体ウェハを受
け取って、前記半導体ウェハの位置合わせを行うアライ
メント・テーブルと、 前記アライメント・テーブルが、前記ウェハ・ローダ部
から供給された半導体ウェハを受け取ったか否かを検出
するアライメント・テーブルの半導体ウェハ受け取り検
出部とを含み、 前記半導体ウェハ受け取り検出部は、 前記アライメント・テーブルに供給された半導体ウェハ
を検出する半導体ウェハ検出手段と、前記ウェハ・ロー
ダ部から半導体ウェハが供給開始されてから一定時間の
間に、前記半導体ウェハ検出手段が、前記半導体ウェハ
を検出したか否かによって、前記アライメント・テーブ
ルの半導体ウェハ受け取りミスを判別するエラー判別手
段とを備えたことを特徴としている。
〈実施例〉 以下、本発明の一実施例を図面に基づいて詳しく説明す
る。
第1図は、本実施例に係る半導体ウェハの自動貼付は装
置の全体構成を示した概略斜視図、第2図〜第9図は前
記半導体ウェハの自動貼付は装置の各部の構成の概略図
である。
第10図は、本実施例に係る半導体ウェハの自動貼付は
装置によって粘着テープに貼付けられる半導体ウェハ2
と、この半導体ウェハ2を貼付けられた粘着テープを保
持するためのフレーム4と、半導体ウェハ2が貼付けら
れた状態のフレームであるマウント・フレーム6とを示
している。
半導体ウェハ2の外周部には、平坦な切り欠き面である
オリエンテーションフラットOFが形成されている。こ
のオリエンテーションフラットOFを基準として、素子
パターンが半導体ウェハ2に形成されている。
フレーム4は、リング状の金属板又は樹脂板であって、
その外周部には、後述するフレーム4の位置合わせの際
に使用される■ノツチ45.4□が形成されている。
本実施例に係る半導体ウェハの自動貼付は装置は、上述
した半導体ウェハ2をウェハ・ローダ部から、フレーム
4をフレーム・ローダ部からそれぞれ個別に供給して粘
着テープに貼付け、最終的にはマウント・フレーム6を
アンローダ部に収納するようになっている。
以下、本装置の各部の構成を説明する。
第1図に示す符号8 (8,〜84)は、ウェハ・ロー
ダ部にセントされたウェハ・カセットである。ウェハ・
カセット8は、複数枚の半導体ウェハ2をそれぞれ水平
状態に保持して、等間隔に上下方向に収納している。本
実施例では、二つのウェハ・ローダ部があり、左のウェ
ハ・ローダ部にウェハ・カセット81.8□が、右のウ
ェハ・ローダ部にウェハ・カセット83.84がそれぞ
れセントできる。各ウェハ・ローダ部は、上下方向に移
動可能に構成されているとともに、ウェハ・カセット8
内の半導体ウェハ2を検出して、これを押し出すことに
よって半導体ウェハ2の供給を行っている。
各ウェハ・ローダ部に備えられるウェハ押し出し機構は
、第2図に示されている。即ち、左のウェハ・ローダ部
には、モータで駆動されるウェハ押し出し機構10が、
右のウェハ・ローダ部には、エアーシリンダで駆動され
るウェハ押し出し機構12がそれぞれ設けられている。
各ウェハ・ローダ部から供給された半導体ウェハ2は、
この半導体ウェハ2を位置合わせするための半導体ウェ
ハ位置合わせ部14に搬送される。
半導体ウェハ2は、第2図に示す搬送ベルト16によっ
て半導体ウェハ位置合わせ部14に搬送される。この搬
送ベルト16は、モータ18によって正逆方向に駆動さ
れる。
半導体ウェハ位置合わせ部14は、搬送されてきた半導
体ウェハ2を受け取って、オリエンテーションフラット
OFの位置合わせを行うアライメント・テーブル20と
、半導体ウェハ2の中心をアライメント・テーブル20
の中心に一致させるように半導体ウェハ2の位置合わせ
を行う中心位置合わせ板22..22□などを含む。
アライメント・テーブル20は、半導体ウェハ2を吸着
保持するための真空チャックを備えている。VLIは、
この真空チャックの入/切を行う電磁弁、puswiは
、真空チャック内の圧力低下を検出してON状態になる
圧力スイツチである。
また、このアライメント・テーブル20は、パルスモー
タ24によって回動可能に構成されているとともに、エ
アーシリンダ26によって上下方向に移動可能に構成さ
れている。
中心位置合わせ板22.,22□は、上限位置にあるア
ライメント・テーブル20を介して対向する位置に設け
られている。各中心位置合わせ板22、.22□の対向
面側には、半導体ウェハ2の外形に対応した円弧状の基
準面が形成されている。中心位置合わせ板22.,22
□は、エアーシリンダ28で駆動されるリンク機構によ
って、水平方向に移動可能に構成されている。
アライメント・テーブル20の両側には、搬送ベルト1
6に乗って搬送されてきた半導体ウェハ2を受け止める
ためのウェハストッパー30I。
30□がある。ウェハストッパー301.302は、図
示しないエアーシリンダによって揺動される。左のウェ
ハ・ローダ部から半導体ウェハ2が供給されている場合
には、右のウェハストッパー302が、右のウェハ・ロ
ーダ部から半導体ウェハ2が供給されている場合には、
左のウェハストッパー30.が、それぞれ上昇して、搬
送されてきた半導体ウェハ2を受け止める。
第2図に示す符号32は、アライメント・テーブル20
に吸着保持されて回転している半導体ウェハ2のオリエ
ンテーションフラットOFの端部を検出するために、3
組の透過型の光電素子PH3WI、2.3を備えたオリ
エンテーションフラット端部検出部である。このオリエ
ンテーションフラット端部検出部32は、第3図に示す
ように、前記光電素子PH3WI、2.3の発光部36
と受光部38とがエアーシリンダ34によって開閉自在
になるように構成されている。このような3組の透過型
の光電素子PH3W1.2.3を使用するのは、半導体
ウェハ2の大きさに応して、適宜な光電素子を選択して
使用するためである。オリエンテーションフラット端部
検出部32は、通常状態では開いており、オリエンテー
ションフラットOFの位置合わせのために、その端部を
検出するときに閉じられる。
第1図および第2図に示した符号40は、半導体ウェハ
位置合わせ部14によってオリエンテーションフラット
OFの位置合わせが行われた半導体ウェハ2を貼付はテ
ーブル42に搬送するための反転フォークである。この
反転フォーク40は、半導体ウェハ2を裏面側から吸着
保持するための真空チャックを備えている。VL2は、
この真空チャックの入/切を行う電磁弁、PUSW2は
、真空チャック内の圧力低下を検出してON状態になる
圧力スイッチである。
反転フォーク40は、エアーシリンダ44によって駆動
されてアライメント・テーブル20と貼付はテーブル4
2との間を往復動するとともに、モータ46によって一
ヒ方向に回動されることによって、半導体ウェハ2の裏
面が上側になるように半導体ウェハ2を反転させる。P
H3W4は、反転フォーク40が反転動作して所定の位
置にあるか否かを検出するための光電素子である。
貼付はテーブル42は、第6図に示すように、ウェハ・
チャックテーブル48と、このウェハ・チャックテーブ
ル48の周囲に設けられるフレーム・チャックテーブル
50とを含む。ウェハ・チャックテーブル48は、エア
ーシリンダ49によって」1下方向に移動可能に構成さ
れているとともに、圧縮コイルバネ51によって上方向
に付勢されている。ウェハ・チャックテーブル48の上
には保護フィルム52が敷設されている。反転フォーク
40によって搬送された半導体ウェハ2は、その裏面を
上側にした状態で、保護フィルム52を介してウェハ・
チャックテーブル48」二に載置サレる。保41フィル
ム52は、半導体ウェハ2の表面に傷を発生させないよ
うにするために用いられている。
第1図に戻って、符号54はフレーム・ローダ部である
。フレーム・ローダ部54は、複数枚のフレーム4を重
ねた状態で収納するフレーム・ストッカー56と、この
フレーム・ストッカー56に収納されたフレーム4を下
から順番に押し出すフレーム押し出し機構を備えている
。このフレーム押し出し機構は、第4図に示すように、
フレーム4を押し出すための押し出しプレート58と、
これを水平方向に駆動するエアーシリンダ60などから
構成されている。
フレーム・ローダ部54から供給されたフレーム4は、
フレーム送り出し部によって、フレーム位置決め部62
にまで送り出される。フレーム送り出し部は、フレーム
・ストッカー56から押し出されたフレーム4の内周面
に係合して、このフレーム4を送り出すフレーム・ブツ
シャ−64と、このフレーム・ブツシャ−64を」二げ
下ろしするためのエアーシリンダ66と、フレーム・プ
ッシャー64を水平方向に駆動するためのエアーシリン
ダ68などから構成されている。通常状態にお一冊一 いて、フレーム・ブツシャ−64は下降している。
フレーム・ストッカー56からフレーム4が押し出され
ると、エアーシリンダ66が駆動して、フレーム・プッ
シャー64を押し上げて、これをフレーム4の内側に差
し入れ、続いて、エアーシリンダ68が駆動して、フレ
ーム4をフレーム位置決め部62にまで送り出す。
フレーム位置決め部62は、送り出されたフレーム4を
位置決めするための2木の位置決めピン70(但し、第
4図には1本の位置決めピン70だけが現れている)が
設けられている。この位置決めピン70と、フレーム4
のVノツチ41.42が係合することによって、フレー
ム4が位置決めされる。P HS W 5は、位置決め
されたフレーム4を検出するための光電素子である。
位置決めされたフレーム4は、フレーム顕送部によって
貼付はテーブル42にまで搬送され、貼付はテーブル4
2のフレーム・チャックテーブル50に載置される。フ
レーム搬送部は、第5図に示すように、フレー1.4を
吸着保持するフレーム・チャックアーム72と、このフ
レーム・チャックアーム72を上昇させるエアーシリン
ダ73と、フレーム・チャックアーム72を水平方向に
駆動するためのエアーシリンダ74などから構成されて
いる。V L 3は、このフレーム・チャックアーム7
2の入/切を行う電磁弁、PUSW3は、フレーム・チ
ャックアーム72内の圧力低下を検出してON状態にな
る圧力スイツチである。
フレーム・チャックテーブル50は、前記フレーム搬送
部によって搬送されたフレーム4を吸着保持する。第5
図に示したVL4は、このフレーム・チャックテーブル
50の入/切を行う電磁弁、PUSW4は、フレーム・
チャックテーブル50内の圧力低下を検出してON状態
になる圧力スイツチである。また、P HS W 6は
、フレーム・チャックテーブル50」−のフレーム4を
検出する光電素子である。
次に、第1図および第6図に基づいて、テープ供給・巻
き取り機構および粘着テープの切断機構について説明す
る。
前述した保護フィルム52は、貼付はテーブル42の一
方側に設けられた保護フィルム供給リール76から供給
され、貼付はテーブル42の他方側に設けられた保護フ
ィルム巻き取りリール78によって巻き取られる。
符号80は、半導体ウェハ2を貼付けるための粘着テー
プ82を供給する粘着テープ供給リールである。粘着テ
ープ82は、これと同じ幅のセパレータ84と重ね合わ
された状態で粘着テープ供給リール80にセットされて
いる。セパレータ84は、粘着テープ82が粘着面を下
側にして送り出されるときに、粘着テープ82とは別に
セパレータ巻き取りリール86によって巻き取られる。
半導体ウェハ2の貼付けのために使用された粘着テープ
82の残りは残渣テープ巻き取りリール88によって巻
き取られる。
符号90は、上下方向に配設された複数本のローラから
なる貼付はローラユニットである。第6図に示すように
、粘着テープ供給リール80から供給された粘着テープ
82は、貼付はローラユニソ)90に’SJO字状に架
は渡され、さらに、貼付はローラユニット90に並設さ
れた剥離ローラユニット92に架は渡されて、残渣テー
プ巻き取りリール88に巻き取られる。
第7図に示すように、貼付はローラユニット90は、こ
れを水平駆動するエアーシリンダ94のロンド先端部に
結合されている。また、剥離ローラユニット92は、前
記エアーシリンダ94のシリンダ本体に結合されている
。貼付はローラユニット90および剥離ローラユニット
92は、それらの上部に設けられたカムホロワ−によっ
てレール96上を摺動するように構成されている。レー
ル96は、その両端部に設けられたエアーシリンダ98
1.98□によって上下動可能に構成されている。貼付
はローラユニット90の下部には、ランク・ビニオン機
構100が設けられており、このラック・ピニオン機構
100は、ブレーキ102、クラッチ104を介して結
合されたモータ106によって駆動されるようになって
いる。
上述した貼付はローラユニット90および剥離ローラユ
ニット92の動作を第7図および第8図によって説明す
る。
通常状態において、各ローラユニソ1−90.92は貼
付はテーブル42よりも左側の原点位置にあり、レール
96は」1昇している。また、このときブレーキ102
およびクラッチ104は解除されている。
貼付は動作を行う場合、エアーシリンダ981.98□
が作動してレール96が下降する。そして、剥離ローラ
ユニット92に関連して設けられた図示しないコツタが
作動して剥離ローラユニット92を停止状態に維持する
。この状態で、エアーシリンダ94が作動すると貼付は
ローラユニット90だけが水平方向に駆動されて、貼付
はローラが貼付はテーブル42上の粘着テープ82を下
方に押圧しながら転動することによって、粘着テープ8
2と半導体ウェハ2との貼付けが行われる。
このときクラッチ104は開放されている。
粘着テープ82の切断後に、残渣テープをフレーム4な
どから1?、I[する場合、前記剥離ローラユニソト9
2のコックが解除されるとともに、ブレーキ102が作
動する。この状態で、エアーシリンダ94が作動すると
、貼付はローラユニット90は停止状態を維持するから
、剥離ローラユニット92とエアーシリンダ94とが一
体となって右方向に水平移動する。剥離ローラユニソ1
〜92は水平移動しながら、剥離ローラを回転駆動する
ことによって、残渣テープを剥離する。第8図は、この
ような剥離動作を終了した時点の各ローラユニット90
.92の位置を示している。
剥離動作終了後の各ローラユニソ)90.92の原点復
帰は、次のようにして行われる。
まず、エアーシリンダ9B、、98゜が作動して、レー
ル96を上昇させる。このようにレール96を上昇させ
るのは、原点復帰動作のときに各ローラユニット90.
92が貼付はテーブル42上を転動すると、前述した剥
離動作によって剥離された残渣テープがフレーム4等に
再び接着するからである。レール96が上昇するととも
に、ブレーキ102が解除され、クラッチ104が結合
される。そして、モータ106が作動してラック・ビニ
オン機構100が駆動されることにより、貼付はローラ
ユニット90および剥離ローラユニット92が一体とな
って、左方向に水平移動して原点復帰する。
貼付はテーブル42の上方向には、前述した貼付は動作
によって貼付けられた帯状の粘着テープ82をフレーム
4に沿って円形に切断するための粘着テープ切断機構1
08が設けられている。この粘着テープ切断機構108
は、第6図に示すように、貼付はテーブル42上の粘着
テープ82を押さえ付けて保持する押さえプレート11
0と、押さえプレート110の外周に沿って回転駆動さ
れるテープカッター112などから構成されている。押
さえプレート110およびテープカッター112は、一
体となって上下方向に移動可能に構成されている。
第6図に示した符号114は、貼付はテーブル42から
マウント・フレーム6を、排出するためのマウント・フ
レームチャックアームである。このマウント・フレーム
チャックアーム114は、前述した剥離ローラユニット
92に取り付けられている。マウント・フレームチャッ
クアーム114は、剥離ローラユニット92の剥離動作
とともに貼付はテーブル42側に移動して、マウント・
フレーム6を吸着保持し、剥離ローラユニット92等の
原点復帰動作によって、マウント・フレーム6を排出搬
送する。なお、第6図に示したVL5は、このマウント
・フレームチャックアーム114の入/切を行う電磁弁
、PUSW5は、マウント・フレームチャックアーム1
14内の圧力低下を検出してON状態になる圧力スイッ
チである。
マウント・フレームチャックアーム114によって吸着
保持されたマウント・フレーム6は、前記各ローラユニ
ソ)90.92の原点復帰動作によって、スイング反転
ユニット116にまで搬送される。スイング反転ユニッ
ト116は、第6図および第9図に示すように、搬送さ
れたマウント・フレーム6を保持するクランプ機構11
8の他に、保持したマウント・フレームを水平方向に約
180度スイングするスイング機構120、スイングさ
れたマウント・フレーム6を半導体ウェハ2の表面が上
になるように反転させる反転機構122、反転されたマ
ウント・フレームをヒートステージ126にまで下降さ
せる上下駆動機構124などを備えている。なお、クラ
ンプ機構118に備えられたPH3W7は、このクラン
プ機構II8にクランプされたマウント・フレーム6を
検出する光電素子である。
ヒートステージ126は、熱収縮性フィルムを支持体と
して用いた粘着テープを使用する場合、加熱することに
よってテープの張力を増大させる目的で設けられている
。第9図に示すように、このヒートステージ126に隣
接して、ヒートステージ126上のマウント・フレーム
6を押し出すためのマウント・フレーム押し出し機構1
28と、押し出されたマウント・フレーム6を第1図に
示すフレーム・カセット132(132,〜1324)
に搬送する搬送テーブル130が設けられている。搬送
テーブル130は、第9図に示すエアーシリンダ131
によって、水平方向に移動可能に構成されており、左側
のアンローダ部に搬送するための搬送ベルト134と、
右側のアンローダ部に搬送するための搬送ベルト136
に、マウント・フレーム6を振り分けできるようになっ
ている。
なお、第9図に示した、PH3W8はヒートステージ1
26上のマウント・フレーム6を検出する光電素子、P
H3W9はヒートステージ126上のマウント・フレー
ム6の押し出しを検出する光電素子、PH3WI Oは
搬送テーブル130によるマウント・フレーム6の受け
取りを検出する光電素子である。
フレーム・カセット132は、複数のマウント・フレー
ム6を水平状態で等間隔に収納するもので、本実施例で
は4個のフレーム・カセット132、〜1324をセッ
トできる。フレーム・カセット132+、132□は左
側のアンローダ部に、フレーム・カセット1323.1
324は右側のアンローダ部に、それぞれセットされる
。各アンローダ部は、それぞれ上下方向に移動可能に構
成されている。
第1図に示す、符号138は操作盤である。この操作盤
138には、装置のエラーの種類に対応したコードを表
示する3桁の7セグメントLEDや操作キーなどが設け
られている。また、符号140は、自動運転動作やエラ
ー発生などを表示するパトライトである。
次に、本実施例に係る半導体ウェハの自動貼付は装置の
制御系の構成を第11図に基づいて説明する。
制御部142は、CPU144.ROM146゜RAM
14 B、操作盤コントローラ150.センサーコント
ローラ152.アクチュエータコントローラ154.パ
ルスモータコントローラ156などから構成されている
。CPU144は、ROM146に格納された処理プロ
グラムに従って、装置全体の制御を行う。RAM148
には、貼付けされる半導体ウェハの大きさなどのデータ
や処理条件が書き込まれる。操作盤コントローラ150
は操作盤138を、センサーコントローラ152は本装
置に備えられた圧力スイフチや光電素子などの各種のセ
ンサ一群158を、アクチュエータコントローラ154
は本装置に備えられたモータやエアーシリンダなどの各
種のアクチュエータ9160を、パルスモータコントロ
ーラ156はアライメント・テーブル20を回転駆動す
るパルスモータ24をそれぞれ制御するものである。
次に、上述した構成を備えた半導体ウェハの自動貼付は
装置の動作を、第12図に示した動作フローチャートに
従って説明する。
本装置の各部が原点に復帰しており、また、ウェハ・ロ
ーダ部およびアンローダ部にそれぞれウェハ・カセット
8およびフレーム・カセット132が装着された状態で
、本装置が始動されると、まず、ウェハ・カセット8が
装着された一方側のウェハ・ローダ部が下降する(ステ
ップS2)。
このウェハ・ローダ部に備えられたウェハ検出器によっ
て、ウェハ・カセット8内の半導体ウェハ2が検出され
たか否かが確認される(ステップS4)。
半導体ウェハ2が検出されると搬送ベル)16が駆動さ
れ、ウェハ・ローダ部に備えられたウェハ押し出し機構
10または12によって、前記検出された半導体ウェハ
2がウェハ・カセット8内から押し出される(ステップ
S8)。押し出された半導体ウェハ2は、搬送ベルト1
6に乗って半導体ウェハ位置合わせ部14へ搬送される
そして、アライメント・テーブル20が半導体ウェハ2
を受け取ったか否かが確認される(ステップ510)。
半導体ウェハ2の受け取りの確認は、第13図に示すよ
うに、アライメント・テーブル20の近傍に設けられた
光電素子PH3WI 1によって検出される。一定時間
経過後アライメント・テーブル20が半導体ウェハ2を
受け取らなかった場合は、エラー表示■が行われ(ステ
ップ512)、パトライト140のエラー表示ライトが
点灯するとともに、操作盤138の7セグメントLED
が、このエラーに対応したコードを表示する。
アライメント・テーブル20が半導体ウェハ2を受け取
ったことが確認されると、このアライメント・テーブル
20が上昇する(ステップ514)。そして、中心位置
合わせ板22.,22□が駆動して、この半導体ウェハ
2の中心の割り出しを行う(ステップ516)。半導体
ウェハ2の中心が割り出されると、アライメント・テー
ブル20の真空チャックが作動して、この半導体ウェハ
2が吸着される(ステップ818)。そして、前記真空
チャックに関連して設けられた圧力スイッチPUSWI
によって、半導体ウェハ2が確実に吸着されているか否
かが確認される(ステップ520)。
半導体ウェハ2の吸着が確認されると、その半導体ウェ
ハ2のオリエンテーションフラットOFの位置合わせが
行われる(ステップ524)。
以下、このステップにおいて行われる、半導体ウェハの
オリエンテーションフラットの位置合わせの手順を第1
3図および第14図に基づいて説明する。
第13図は、中心位置合わせ板22.,22□によって
中心割り出しされた半導体ウェハ2が、アライメント・
テーブル20によって吸着された状態を示している。オ
リエンテーションフラットOFの端部は、半導体ウェハ
2の大きさに応じて適宜に選択された光電素子PH3W
1.2.3の中の一つによって検出される。この図では
、便宜的に光電素子PH3WIのみを示している。光電
素子P HS W ]は、アライメント・テーブル20
の中心から半導体ウェハ2の半径よりも若干内側に位置
して設けられている。光電素子PH3WIの出力は、パ
ルスモータ24をコントロールするパルスモータコント
ローラ156に直接に与えられる。パルスモータコント
ローラ156は、光7M。
素子PH3WIの検出信号によってパルスモータ24を
停止させるように構成されている。また、パルスモータ
コントローラ156はCPU144からの指令に基づい
て、パルスモータ24に回転量を出力するとともに、パ
ルスモータ24が停止状態になるまでの回転量をCPU
144に与える。
第14図は、オリエンテーションフラットOFの位置合
わせ動作のフローチャートである。以下、これに基づい
て説明する。
半導体ウェハ2がアライメント・テーブル20に吸着保
持されると、CPU144はパルスモータ24を例えば
、反時計方向に360°だけ回転させる回転量を設定し
くステップ5130)、これをパルスモータコントロー
ラ156を介してパルスモータ24に出力する(ステッ
プ5132)。
これにより、半導体ウェハ2がパルスモータ24によっ
て回転される。そして、オリエンテーションフラットO
Fの一方端が光電素子PH3WIによって検出されると
、その検出信号がパルスモータコントローラ156に与
えられて、パルスモータ24が停止する。
ステップ5132の終了後、CPUI 44は、パルス
モータ24が停止したか否かを監視している(ステップ
5134)。
パルスモータ24が停止したことを確認すると、CPU
144は、パルスモータ24を時計方向に360°回転
させる回転量を設定しくステップS−27= 136)、これをパルスモータコントローラ156を介
してパルスモータ24に出力する(ステップ3138)
。これにより、半導体ウェハ2が時計方向に回転される
。そして、オリエンテーションフラットOFの他端が光
電素子PH3WIによって検出されると、その検出信号
がパルスモータコントローラ156に与えられて、パル
スモータ24が停止する。
CPU14.4は、パルスモーク24の停止を確認する
と(ステップ5140)、そのときの時計方向の回転量
θを読み込む(ステップ5142)。
そして、パルスモータ24を反時計方向にθ/2だけ回
転させる回転量を設定しくステップ3144)、これを
パルスモータコントローラ156を介してパルスモータ
24に出力する。これにより、半導体ウェハ2は反時計
方向にθ/2回転される。
このような処理により、アライメント・テーブル20の
中心と光電素子P HS W 1とを結ぶ方向に対して
、オリエンテーションフラットOFが直角に交わる位置
で、半導体ウェハ2が停止する。
以上がオリエンテーションフラットOFの位置合わせの
基本的手順であるが、半導体ウェハ2の機種に応じて、
半導体ウェハ2を更に90’回転あるいは1806回転
して、最終的な位置決めを完了することもある。
以下、第12図に戻って本装置の動作説明を続ける。
オリエンテーションフラットOFの位置合わせが終了す
ると、再度、半導体ウェハ2の吸着の有無を確認する(
ステップ526)。これは、オリエンテーションフラッ
トOFの位置合わせ動作の際に、半導体ウェハ2がアラ
イメント・テーブル20から離脱することも考えられる
からである。
そして、このステップS26で、吸着されていないこと
が検出されると、前述したステップS22に進んでエラ
ー表示■を行う。
ところで、前述したステップS14が終了した後、ステ
ップS16に移行するとともに、ステップ528に移行
する。これにより、反転フォーク40が前進し、アライ
メント・テーブル20に吸着された半導体ウェハ2の下
方に挿入した状態で停止する。
反転フォーク40が半導体ウェハ2の下方に挿入された
後、アライメント・テーブル20が下降する(ステップ
530)。アライメント・テーブル20が下降すると同
時に、アライメント・テーブル20の吸着が解除され、
反転フォーク40の真空チャックが作動する。これによ
り、アライメンI−・テーブル20上の半導体ウェハ2
が、反転フォーク40に移って吸着保持される。
そして、反転フォーク40が半導体ウェハ2を確実に吸
着したか否かが確認される(ステップ532)。吸着の
有無は、反転フォーク40の真空チャックに関連して設
けられた圧力スイフチPUSW2からの検出信号に基づ
いて判断される。吸着が行われていない場合は、エラー
表示■を行い(ステップ534)、パトライト140の
エラー表示ライトが点灯するとともに、操作盤13Bの
7セグメントL E Dが、このエラーに対応したコー
ドを表示する。
半導体ウェハ2が反転フォーク40に確実に吸着されて
いる場合、反転フォーク40が反転する(ステップ83
6)。そして、反転フォーク40が、所定の反転位置に
あるか否かが確認される(ステップ838)。反転フォ
ーク40の反転の有無は、この反転フォーク40に関連
して設けられた光電素子PH3W4の検出信号に基づい
て判断される。反転フォーク40が所定位置にまで反転
していない場合、エラー表示■を行い(ステップ540
)、パトライト140のエラー表示ライトが点灯すると
ともに、操作盤138の7セグメントLEDが、このエ
ラーに対応したコードを表示する。
反転フォーク40が正しく反転されている場合には、再
び、半導体ウェハ2の吸着の確認を行い(ステップ54
1)、吸着されていない場合には前述したエラー表示■
を行う(ステップ534)。
半導体ウェハ2の吸着が確認されると、反転フォーク4
0が貼付はテーブル42側に後退する(ステップ542
)。そして、反転フォーク40= 31− は、半導体ウェハ2の吸着を解除して、移送した半導体
ウェハを、保護フィルム52に覆われたウェハ・チャッ
クテーブル48上に移す(ステップ544)。ウェハ・
チャックテーブル48に移された半導体ウェハ2は、そ
の裏面が上になっている。
一方、前述したステップS4において半導体ウェハ2が
検出されると、ステップS8に移行するとともに、ステ
ップ346に移行する。これにより、フレーム・ストッ
カー56に収納されたフレーム4が、フレーム押し出し
機構によって押し出される。そして、フレーム・ストッ
カー56とフレーム位置決め部62との搬送経路途中に
設けられたフレーム・プッシャー64が上昇しくステッ
プ548)、押し出されたフレーム4の内側に係合した
状態で前進する(ステップ550)。これにより、フレ
ーム4はフレーム位置決め部62に送り出され、フレー
ム4のVノツチ4..4□が、フレーム位置決め部62
に設けられた位置決めビン70に係合することによって
、フレーム4の位開法めが行われる。
そして、フレーム4が確実に位置決めされたか否かが確
認される(ステップ552)。これは、フレーム位置決
め部62に設けられた光電素子PH3W5の検出信号に
基づいて判断される。フレーム4が位置合わせされてい
ない場合は、エラー表示■を行い(ステップ554)、
パトライト140のエラー表示ライトが点灯するととも
に、操作盤138の7セグメントLEDが、このエラー
に対応したコードを表示する。
フレーム4の位置決めが行われている場合、そのフレー
ム4を貼付はテーブル42にまで搬送するフレーム・チ
ャックアーム72が下降しくステップ556)、位置決
めされたフレーム4を吸着する(ステップ358)。次
に、フレーム・チャックアーム72がフレーム4を吸着
したか否かが確認される(ステップ560)。これは、
フレーム・チャックアーム72に関連して設けられた圧
力スイフチPUSW3の検出信号に基づいて判断される
。フレーム4が吸着されていない場合は、エラー表示■
を行い(ステップ562)、パトライト140のエラー
表示ライトが点灯するとともに、操作盤138の7セグ
メントLEDが、このエラーに対応したコードを表示す
る。
フレーム4が吸着されていることが確認されると、フレ
ーム・チャックアーム72が上昇する(ステップ564
)。そして、再び、フレーム4が吸着されていることを
確認しくステップ565)、吸着されていない場合は前
述したエラー表示■を行う(ステップ562)。フレー
ム4の吸着が確認されると、フレーム・チャックアーム
72は貼付はテーブル42にまで移動する(ステップ8
66)。そして、フレーム・チャックアーム72が下降
して、フレーム4をフレーム・チャックテーブル50に
移す(ステップ567)。
フレーム4の移載が確認されると、フレーム・チャック
テーブル50が作動して、載置されたフレーム4を吸着
保持する(ステップ570)。そして、フレーム・チャ
ックテーブル50がフレーム4を確実に吸着しているか
否かが確認される(ステップ571)。これは、フレー
ム・チャ・ツクテーブル50に関連して設けられた圧カ
スインチPUSW4の検出信号に基づいて判断される。
フレーム4が吸着されていない場合は、エラー表示■を
行い(ステップ572)、パトライト140のエラー表
示ライトが点灯するとともに、操作盤138の7セグメ
ントLEDが、このエラーに対応したコードを表示する
フレーム4がフレーム・チャックテーブル50に吸着さ
れていることをT+11 tvするとフレーム・チャッ
クアーム72の吸着を解除しくステップ573)、フレ
ーム・チャックアーム72が上昇する(ステップ574
)。
以上のステップによって、貼付はテーブル42に半導体
ウェハ2およびフレーム4がセットされる。
フレーム・チャックアーム72が上昇すると、貼付はロ
ーラユニット90が下降する(ステップ575)。これ
により、貼付はローラユニット90に架は渡された粘着
テープ82も下降して、この粘着テープ82はウェハ・
チャックテーブル48上の半導体ウェハ2の裏面に当接
する。貼付はローラユニット90が下降すると、この貼
付はローラユニット90は貼付はテーブル42に向かっ
て水平移動する。これにより、貼付はローラユニット9
0の貼付はローラが、半導体ウェハ2の裏面に当接した
粘着テープ82の上を転がりながら、軽く押圧し、半導
体ウェハ2と粘着テープ82とフレーム4との貼付けを
行う(ステップ376)。
半導体ウェハ2と粘着テープ82とフレーム4との貼付
けが終了すると、押さえプレート110とテープカッタ
ー112とが下降し、押さえプレー)110はフレーム
4上の粘着テープ82を押圧保持する。そして、テープ
カッター112が、押さえプレート110の周囲を】回
転することに □よって、フレーム4の外形よりも若干
小さくなるように、粘着テープ82を切断する(ステッ
プ878)。
粘着テープ82の切断が終了すると、ウェハ・チャック
テーブル48が下降しくステップS8〇)、保護フィル
ム巻き取りリール78が駆動して保護フィルム52を巻
き取るとともに、新しい保護フィルム52をウェハ・チ
ャックテーブル48上に引き出す(ステップ582)。
一方、粘着テープ82の切断が終了すると、剥離ローラ
ユニット92が貼付はテーブル42側に向かって水平方
向に移動する。これにより、フレーム4の周辺部に貼付
いている粘着テープ82の残渣を、フレーム4から剥離
する(ステップ584)。
粘着テープの剥離が終わると、貼付はテーブル42上の
マウント・フレーム6を排出するためのマウント・フレ
ームチャックアーム114が下降しくステップ586)
。マウント・フレーム6を吸着する(ステップ588)
、そして、マウント・フレーム6が確実に吸着されたか
否かが確認される(ステップ590)。これは、マウン
ト・フレームチャックアーム114に関連して設けられ
た圧力スイッチPUSW5の検出信号に基づいて判断す
る。マウント・フレーム6が吸着されていない場合はエ
ラー表示Xを行い(ステップ592)、パトライト14
0のエラー表示ライトが点灯するとともに、操作盤13
8の7セグメントLEDが、このエラーに対応したコー
ドを表示する。
マウント・フレーム6が吸着されていることが確認され
ると、マウント・フレームチャックアーム114が上昇
する(ステップ594)。マウント・フレームチャック
アーム114が上昇した後、再び、マウント・フレーム
6の吸着を確認しくステップ595)、吸着されていな
い場合にはエラー表示Xを行う(ステップ592)。マ
ウント・フレーム6の吸着を確認すると、貼付はテーブ
ル42にまで移動している貼付はローラユニット90お
よび剥離ローラユニット92が元の位置(原点)にまで
戻る(ステップ596)。貼付はローラユニット90お
よび剥離ローラユニット92が原点復帰するとともに、
マウント・フレーム6を吸着したマウント・フレームチ
ャックアーム114もスイング反転ユニット116方向
に移動する(ステップ398)。そして、マウント・フ
レームチャックアーム114がスイング反転ユニット1
16のクランプ機構118にマウント・フレーム6の一
端を挿入する位置にまで移動したところで、再び、マウ
ント・フレーム6の吸着を確認しくステップ399)、
吸着されていない場合にはエラー表示Xを行う(ステッ
プ592)。
マウント・フレーム6の吸着が確認されると、スイング
反転ユニット116のクランプ機構118が閉じてマウ
ント・フレーム6をクランプする(ステ・7プ5100
)。そして、マウント・フレーム6が確実にクランプさ
れているか否かを確認する(ステップ5102)。これ
は、前記クランプ機構118に備えられた光電素子PH
3W7の検出信号に基づいて判断する。マウント・フレ
ーム6がクランプされていない場合は、エラー表示XI
を行い(ステップ3104)、パトライト140のエラ
ー表示ライトが点灯するとともに、操作盤138の7セ
グメントLEDが、このエラーに対応したコードを表示
する。
マウント・フレーム6がクランプされていることを確認
すると、スイング反転ユニット116は、水平方向に約
180度スイングしくステップ8106)、再び、マウ
ント・フレーム6のクランプを確認する(ステップ51
07)。クランプされていない場合はエラー表示X■を
行う(ステップ5104)。マウント・フレーム6のク
ランプが確認されると、半導体ウェハ2の表面が上にな
るようにマウント・フレーム6を反転させる(ステップ
3108)。そして、もう一度、マウント・フレーム6
のクランプを確認しくステップ5IO9)、クランプさ
れていない場合にはエラー表示xrを行う(ステップS
 104)。
マウント・フレーム6のクランプが確認されると、ヒー
トステージ126上に他のマウント・フレーム6が無い
ことを確認する(ステップ3110)。これは、ヒート
ステージ126に設けられた光電素子PH5W8の検出
信号に基づいて行われる。ヒートステージ126に他の
マウント・フレーム6があれば、エラー表示X■を行い
(ステップ5111)、パトライト140のエラー表示
=40− ライトが点灯するとともに、操作盤138の7セグメン
トLEDが、このエラーに対応したコードを表示する。
ヒートステージ126に他のマウント・フレーム6が無
いことが確認されると、スイング反転ユニット116は
下降しくステップ3112)、マウント・フレーム6が
ヒートステージ126上にまで来たところで、クランプ
機構118が解放する(ステップ3113)。これによ
って、マウント・フレーム6はヒートステージ126に
移される。
ヒートステージ12Gに移されたマウント・フレーム6
は、ここで加熱される(ステップ5l14)。これによ
り、マウント・フレーム6の粘着テープが収縮して、そ
のテープ張力を強くする。
ただし、このような弛み除去を必要としない場合、この
ステップ5114は省略される。
(以下、余白) マウント・フレーム6の加熱を終了すると、マウント・
フレーム押し出し機構128が作動して、ヒートステー
ジ126上のマウント・フレームを押し出す(ステップ
5116)。そして、マウント・フレーム6がヒートス
テージ126から押し出されたか否かが確認される(ス
テップ5l18)。これは、ヒートステージ126の端
部に設けられた光電素子PH3W9の検出信号に基づい
て判断する。マウント・フレーム6の押し出しが行われ
ていない場合はエラー表示X■を行い(ステップ512
0)、パトライト140のエラー表示ライトが点灯する
とともに、操作盤138の7セグメントL E Dが、
このエラーに対応したコードを表示する。
ヒートステージ126から押し出されたマウント・フレ
ーム6は、アンローダ部に搬送するための搬送テーブル
130に乗る。そして、この搬送テーブル130に設け
られた光電素子PH3WIOによって、マウント・フレ
ーム6が搬送テーブル130に受け取られたか否かを確
認する(ステップ5122)。搬送テーブル130にマ
ウント・フレーム6が受け取られていない場合は、エラ
ー表示XIVを行い(ステップ5124)、パトライト
140のエラー表示ライトが点灯するとともに、操作盤
138の7セグメントLEDが、このエラーに対応した
コードを表示する。
搬送テーブル130にマウント・フレーム6が受け取ら
れている場合は、このマウント・フレーム6をアンロー
ダ部にまで搬送し、前記アンローダ部にセットされたフ
レーム・カセット132に収納する(ステップ5126
)。アンローダ部に設けられた光電素子によって、マウ
ント・フレーム6がフレーム・カセット132に収納さ
れたことが検出されると、アンローダ部は1ピツチ上昇
して、次のマウント・フレーム6が収納されるのを待つ
(ステップ3128)。
以上のように、ウェハ・ローダ部から供給された半導体
ウェハ2を所定方向に位置合わせした後、粘着テープ8
2に貼付けし、半導体ウェハ2が貼付けされたマウント
・フレーム6をフレーム・カセット132に収納すると
いう半導体ウェハ2の一連の貼付は作業が自動的に行わ
れる。
次に、本実施例に係る半導体ウェハの自動貼付は装置に
備えられる、アライメント・テーブル20の半導体ウェ
ハ受け取り検出部の構成をさらに具体的に説明しよう。
ウェハ・ローダ部から吸着された半導体ウェハ2が、ア
ライメント・テーブル20に受け取られないと、本装置
の一連の貼付は動作が行われなくなるから、アライメン
ト・テーブル20の半導体ウェハ受け取りを検出するこ
とは、上述した半導体ウェハの自動貼付は装置において
重要である。
ところで、上述した本装置の説明から明らかなように、
アライメント・テーブルの半導体ウェハ受け取り検出部
は、アライメント・テーブル20に供給された半導体ウ
ェハ2を検出する半導体ウェハ検出手段としての光電素
子PH3WI 1と、この光電素子PH3WIIの検出
信号に基づいて、アライメント・テーブル20の半導体
ウェハ受け取りミスを判別するエラー判別手段としての
制御44一 部142とに対応している。また、この半導体ウェハ受
け取り検出部の動作は、第12図に示した動作フローチ
ャートにおけるステップSIOに相当する。
次に、このステップSIOにおいて行われる半導体ウェ
ハ受け取り検出部のさらに具体的な動作を、第15図に
基づいて説明する。
ウェハ押し出し機構10 (または12)が駆動されて
、ウェハ・カセット8から半導体ウェハ2が押し出され
たとする(第12図に示すステップS8)。このウェハ
押し出し機構10 (または12)の押し出し動作が終
了すると同時に、第11図に示した制御部142のCP
tJ144に含まれるタイマがクリアされる(ステップ
sio+)。
そして、搬送された半導体ウェハ2をアライメント・テ
ーブル20が受り取ったか否かを、光電素子PH3WI
 1の検出信号に基づいて判断する(ステップ310□
)。光電素子PH3WI lは、半導体ウェハ2を検出
すると○N状態になる。この光電素子PH3WIIがO
N状態になっていない場合は、前記タイマがタイムオー
バーしたか否かを6育認する(ステップ5103)。タ
イムオーバしていなければ、ステップ5102に戻る。
一方、タイムオーバした場合は、ウェハ・カセット8か
ら押し出された半導体ウェハ2が、何等かの原因でアラ
イメント・テーブル20に搬送されなかったものと判断
して、エラー表示■(ステップ512)を行う。
ステップ5102において、光電素子PH3W11が半
導体ウェハ2を検出したことが確認されると、第12図
において説明したステップS14に進んで、アライメン
ト・テーブル20を上昇させる。
次に、上述した実施例に係る半導体ウェハの自動貼付は
装置にエラーが発生した場合に行われる、回復処理を簡
単に説明しよう。
前述したような各種のエラーが発生すると、そのエラー
発生箇所の後工程にあたる各機構部は、各動作を継続し
てそれぞれの動作サイクルを終了したところで停止する
。一方、エラーが発生した箇所と、その前工程にあたる
各機構部は、エラーが発生した時点で停止する。オペレ
ータは、上述したエラー表示に基づいて、エラー発生箇
所のワーク(例えば、半導体ウェハ2やフレーム4など
)を取り外し、あるいは、カセットを正しくセットする
などの適宜の措置を採る。そして、エラー発生箇所の前
工程にあたる各機構部を原点に戻し、本装置を再スター
トさせる。
なお、上述した実施例において、アライメント・テーブ
ル20に供給される半導体ウェハ2を検出する半導体ウ
ェハ検出手段は、光電素子PH3Wllに限られず例え
ば、近接スイッチなど、適宜の検出手段を用いることが
可能である。
また、アライメント・テーブル20の半導体ウェハ受け
取りミスを示す表示態様は、実施例で説明したものに限
られず、ブサー表示など種々変形実施できる。
さらに、本発明に係る半導体ウェハ自動貼付は装置は、
実施例において説明した装置に限定されるものでないこ
とは勿論である。
〈発明の効果〉 以上の説明から明らかなように、本発明に係る半導体ウ
ェハの自動貼付は装置は、アライメント・テーブルに供
給された半導体ウェハを検出する半導体ウェハ検出手段
と、ウェハ・ローダ部から半導体ウェハが供給開始され
てから一定時間の間に、前記半導体ウェハ検出手段が前
記半導体ウェハを検出したか否かによって、アライメン
ト・テーブルの半導体ウェハ受け取りミスを判別するエ
ラー判別手段を備えている。
したかって、本発明によれば、ウェハ・ローダ部から供
給された半導体ウェハが、何等かの異常発生によって、
アライメントテーブルに受け取られなかった場合に、オ
ペレータが、この半導体ウェハ自動貼付は装置の異常発
生とその箇所を知ることができ、これにより適宜な措置
を迅速に採ることができるので、半導体ウェハ自動貼付
は装置の稼動効率を向上させる上でたいへん好都合であ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例に係る半導体ウェハの自動貼
付は装置の全体構成の概略を示した説明図、第2図は前
記実施例における半導体ウェハ位置合わせ部および反転
フォーク周辺部の構成図、第3図は前記実施例における
オリエンテーションフラット端部検出部の構成図、第4
図は前記実施例におけるフレーム・ローダ部とフレーム
位置決め部周辺の構成図、第5図は前記実施例における
フレーム搬送部周辺の構成図、第6図は前記実施例にお
ける粘着テープ供給系統と粘着テープ切断機構周辺の構
成図、第7図および第8図は前記実施例における貼付は
ローラユニットと剥離ローラユニットとの構成および動
作説明図、第9図は前記実施例におけるヒートステージ
周辺の構成図、第10図は前記実施例において使用され
る半導体ウェハ、フレームおよびマウント・フレームの
説明図、第11図は前記実施例における制御系統の構成
の概略を示したブロック図、第12図は前記実施例の動
作フローチャート、第13図は前記実施例におけるオリ
エンテーションフラット位置合わせの説明図、第14図
は前記実施例におけるオリエンテーションフラット位置
合わせの動作フローチャート、第15図は前記実施例に
おけるアライメント・テーブルの半導体ウェハ受け取り
ミス検出の具体的な動作フローチャートである。 2・・・半導体ウェハ、OF・・・オリエンテーション
フラット、4・・・フレーム、6・・・マウント・フレ
ーム、8・・・ウェハ・カセット、14・・・半導体ウ
ェハ位置合わせ部、20・・・アライメント・テーブル
、24・・・パルスモータ、32・・・オリエンテーシ
ョンフラット端部検出部、40・・・反転フォーク、4
2・・・貼付はテーブル、48・・・ウェハ・チャック
テーブル、50・・・フレーム・チャックテーブル、5
4・・・フレーム・ローダ部、62・・・フレーム位置
決め部、72・・・フレーム・チャックアーム、82・
・・粘着テープ、90・・・貼付はローラユニット、9
2・・・剥離ローラユニット、108・・・粘着テープ
切断機構、114・・・マウント・フレームチャックア
ーム、116・・・スイング反転ユニット、11B・・
・クランプ機構、126・・・ヒートステージ、128
・・・マウント・フレーム押し出し機構、130・・・
搬送テーブル、132・・・フレーム・カセット、13
8・・・操作盤、140・・・パトライト、142・・
・制御部、144・・・CPU、PH3WI〜PH3W
I 1・・・光電素子、PUSWI〜PUSW5・・・
圧力スイツチ。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  オリエンテーションフラットが形成された半導体ウェ
    ハを位置合わせして粘着テープに貼付ける半導体ウェハ
    の自動貼付け装置であって、前記半導体ウェハを供給す
    るウェハ・ローダ部と、前記ウェハ・ローダ部から供給
    された半導体ウェハを受け取って、前記半導体ウェハの
    位置合わせを行うアライメント・テーブルと、前記アラ
    イメント・テーブルが、前記ウェハ・ローダ部から供給
    された半導体ウェハを受け取ったか否かを検出するアラ
    イメント・テーブルの半導体ウェハ受け取り検出部とを
    含み、前記半導体ウェハ受け取り検出部は、前記アライ
    メント・テーブルに供給された半導体ウェハを検出する
    半導体ウェハ検出手段と、前記ウェハ・ローダ部から半
    導体ウェハが供給開始されてから一定時間の間に、前記
    半導体ウェハ検出手段が、前記半導体ウェハを検出した
    か否かによって、前記アライメント・テーブルの半導体
    ウェハ受け取りミスを判別するエラー判別手段とを備え
    たことを特徴とする半導体ウェハの自動貼付け装置。
JP61304777A 1986-12-18 1986-12-18 半導体ウエハの自動貼付け装置 Pending JPS63155631A (ja)

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JP61304777A JPS63155631A (ja) 1986-12-18 1986-12-18 半導体ウエハの自動貼付け装置

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JP61304777A JPS63155631A (ja) 1986-12-18 1986-12-18 半導体ウエハの自動貼付け装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11188620A (ja) * 1997-10-20 1999-07-13 Ebara Corp ポリッシング装置
JP2005039114A (ja) * 2003-07-17 2005-02-10 Disco Abrasive Syst Ltd 半導体ウェーハ移し替え装置
CN104229541A (zh) * 2014-09-03 2014-12-24 苏州震昇机电设备有限公司 一种圆带自动粘接机

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