JPS63154974A - ケ−ブルの絶縁劣化自動測定システム - Google Patents

ケ−ブルの絶縁劣化自動測定システム

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Publication number
JPS63154974A
JPS63154974A JP30325386A JP30325386A JPS63154974A JP S63154974 A JPS63154974 A JP S63154974A JP 30325386 A JP30325386 A JP 30325386A JP 30325386 A JP30325386 A JP 30325386A JP S63154974 A JPS63154974 A JP S63154974A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cable
partial discharge
microcomputer
leakage current
measurement
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP30325386A
Other languages
English (en)
Inventor
Mitsugi Aihara
相原 貢
Yasutaka Fujiwara
藤原 靖隆
Yasumitsu Ebinuma
康光 海老沼
Akira Nagaoka
永岡 明
Katsuaki Nanba
克明 難波
Nobuhiro Sasaki
伸洋 佐々木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
SWCC Corp
Original Assignee
Showa Electric Wire and Cable Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Showa Electric Wire and Cable Co filed Critical Showa Electric Wire and Cable Co
Priority to JP30325386A priority Critical patent/JPS63154974A/ja
Publication of JPS63154974A publication Critical patent/JPS63154974A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は電カケープルの絶縁劣化を監視するための自動
測定システムに係り、特にマイクロコンピュータを用い
たこの種の自動測定システムに関する。
[従来技術の説明コ 従来、ケーブルの絶縁劣化測定として多く行なわれてい
る方法に、漏れ電流の測定および部分放電の測定がある
。これらの測定は例えば第3図に示す測定回路によって
行なわれる。すなわち、ケーブル10に直流電源20に
よって電圧を印加することにより生じる部分放電パルス
を部分放電検出用インピーダンスRdで検出し、増幅後
カウンタ30で発生数をカウントすると共に、漏れ電流
検出用インピーダンス40で漏れ電流を検出し、記録#
150に記録する。
そして、これら部分放電パルス数と漏れ電流とに基づき
、ケーブルの絶縁劣化を判定する。
[発明が解決しようとする問題点コ ところで、このような従来のケーブル絶縁劣化測定はオ
ペレータか印加電圧を昇圧しながら漏れ電流及び部分放
電パルスを測定するため測定に熟練を要し、しかも印加
電圧の昇圧速度によって各測定値が影響を受け、誤差を
生じろという欠点があった。更に部分放電の測定はパル
スの大きさによってアッテネータを変えなからカウンタ
により発生数を数えているため、測定時刻のずれが生じ
、規定時間での正確な発生数のカウントができないとい
う問題もある。
本発明はこのような従来の問題点を解決し、オペレータ
の違いやその習熟度に影響されることのないケーブル絶
縁劣化自動測定システムを提供することを目的とする。
[問題点を解決するための手段] このような目的を達成するために本発明の絶縁劣化自動
測定システムは、ケーブルの被測定相に直流電圧を印加
する直流電源部、該直流電圧の印加により生じる漏れ電
流を検出する漏れ電流検出部、前記直流電圧の印加によ
り生じる部分放電パルスを検出する部分放電検出部及び
前記部分放電パルスの伝達時間により部分放電位置を標
定する位置標定部をマイクロコンピュータによって制御
し、該マイクロコンピュータによって印加電圧の昇圧、
測定、測定データの解析及び表示を行うように構成され
る。
以下、本発明の実施例を図面に基き説明する。
第1図において被測定ケーブル1aは遠方端である一端
を結合コンデンサCk、増幅器Ampを介してパルス返
し用ケーブル1bの一端と接続され、且つノイズ比較用
のガード返し用ケーブル1cの一端と接続されている。
また、被測定ケーブル1aの測定端は保護抵抗Rbを介
して直流型′g2に接続される。直流電源2は安定化電
源21及び直流発生器22から成り、直流発生器22は
漏れ電流検出部3の漏れ電流検出器31に接続される。
漏れ電流検出器31は直流電源2からの電圧印加時の被
測定相の漏れ電流を検出して記録計32に表示する。又
、被測定ケーブル1a及びパルス返し用ケーブル1bは
各々結合コンデンサCK、正弦波ノイズ除去回路DL及
び増幅器Ampを介して部分放電位置標定部4のデジタ
ルメモリ41に接続される。Rはパルス検出用の抵抗で
ある。部分放電位置標定部4は被測定ケーブル1aで発
生する部分放電パルスが被測定ケーブル1aを伝達する
時間とパルス返し用ケーブル1bを経て伝達する時間と
を比較することによって被測定ケーブル1aにおける部
分放電位置を標定する。
更に被測定ケーブル1a及びガード返し用ケーブル1c
は各々結合コンデンサCKを介して部分放電検出部5に
接続される。部分放電検出部5は被測定ケーブル1aと
ガード返し用ケーブルlc1 のパルス信号の差をとる
バランサーBL−1、ノイズ除去回路ND−2及び増幅
器CD−5によって被測定ケーブル1aの部分放電パル
スからノイズを除去し、真の部分放電パルスを増幅して
オシロスコープ51に出力すると共にパルスハイドアナ
ライザーPHAでパルスをカウントすると共にA/D交
換する。
直流な源2、漏れ電流検出部3、部分放電位置標定部4
及び部分放電検出部5はマイクロコンピュータ(以下、
マイコンと略す)61を含む制御部6に接続されており
、マイコン61によって直流型g2による印加電圧の昇
圧速度、漏れ電流検出部3、部分放電位置標定部4及び
部分放電検出部5の作動制御が行なわれると共に、漏れ
電流検出部βの記録計32のデータ、部分放電位置標定
部4のマイコン4′2の標定データ及び部分放電検出部
5のパルスハイドアナライザーPHAでA/D変換され
たデータがマイコン61に入力され、マイコン61はこ
れらデータに基き、ケーブルlの絶縁劣化の度合を判定
し速報を作成してプリンタ62等の表示手段で速報を出
力する。
[実施例] 次に、このような構成におけるマイコン61による測定
制御の一実施例を第2図のフローチャートを参照して説
明する。
第2図に示すフローチャートのSjage [では、測
定開始に際して行う測定準備ステップすなわちセットリ
ーク測定、メガ測定及びパルス校正等のステップを順次
マイコン61のCRTに表示する。
これに従って所定の被測定相の準備ステップが終了する
と、Stage IIに進む。St、age IIでは
マイコン61により電源2を駆動制御して自動的に昇圧
を行う。印加電圧が所定値に達した後、SLage I
nで自動測定を行う。すなわち昇圧直後、位置標定、部
分放電測定を行ない、続けて1分後及び3分後の位置標
定、漏れ電流測定1部分放電測定を行ない、更に、5分
、7分、10分後の漏れ電流測定を行う。測定終了後、
SjagelVで印加電圧を自動降下し、今、測定した
相以外の相を測定する場合は、Stage lの(Dに
戻って同様の測定を行ない。
すべての測定が終了した後、測定結果を解析し速報を作
成し、プリンタ62に出力する。オペレータはこの速報
に基き、ケーブルの復旧を行う。
[発明の効果] 以上の実施例からも明らかなように1本発明のケーブル
の絶縁劣化自動測定システムにおいては。
電圧の印加、各測定部の測定、測定結果の解析等をす入
でマイコンにより制御しているので、従来のようにオペ
レータの熟練を必要とせず、しかもオペレータの違いに
よる誤差を生じることがなく正確に絶縁劣化の測定がで
きる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のシステム概略図、第2図は本発明によ
るフローチャートの一実施例を示す図、第3図は従来の
ケーブル絶縁劣化測定装置である。 1・・・・・・・ケーブル 1a・・・・・被測定ケーブル 2・・・・・・・直流電源部 3・・・・・・・漏れ電流検出部 4・・・・・・・部分放電位置標定部 5・・・・・・・部分放電検出部 6・・・・・・・制御部

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. ケーブルの被測定相に直流電圧を印加する直流電源部、
    該直流電圧の印加時に生じる漏れ電流を検出する漏れ電
    流検出部、前記直流電圧の印加により前記被測定相に生
    じた部分放電パルスを検出する部分放電検出部、前記部
    分放電パルスの伝達時間より部分放電位置を標定する位
    置標定部及び前記直流電源部と前記漏れ電流検出部と前
    記部分放電検出部と前記位置標定部とを制御し、印加電
    圧の昇圧、測定、測定データの解析及び表示を行うマイ
    クロコンピュータを備えたことを特徴とするケーブルの
    絶縁劣化自動測定システム。
JP30325386A 1986-12-19 1986-12-19 ケ−ブルの絶縁劣化自動測定システム Pending JPS63154974A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5150059A (en) * 1989-11-09 1992-09-22 B & C Diagnostics Kft. Method and apparatus for testing the condition of insulating system
JP2002083863A (ja) * 2000-08-07 2002-03-22 Samsung Electronics Co Ltd 半導体設備の静電チャック駆動電源自動放電装置

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