JPS5940263B2 - 非破壊検査機器に用いる感度設定補助装置 - Google Patents
非破壊検査機器に用いる感度設定補助装置Info
- Publication number
- JPS5940263B2 JPS5940263B2 JP53032551A JP3255178A JPS5940263B2 JP S5940263 B2 JPS5940263 B2 JP S5940263B2 JP 53032551 A JP53032551 A JP 53032551A JP 3255178 A JP3255178 A JP 3255178A JP S5940263 B2 JPS5940263 B2 JP S5940263B2
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は磁気探傷器、超音波探傷器等の非破壊検査機器
の感度設定の際に用いられる感度設定補助装置に関する
。
の感度設定の際に用いられる感度設定補助装置に関する
。
この種の非破壊検査機器（以下ＮＤＩという）は所定の
感度を得るため、又は被検物の変更等に対処するために
定期的に、又は必要に応じて感度設定が行われる。
感度を得るため、又は被検物の変更等に対処するために
定期的に、又は必要に応じて感度設定が行われる。
この感度設定は従来次のようにして行われるのが一般的
であつた。すなわち、被検物と同仕様のものに形状・寸
法が既知の標準疵を適数個付してなるサンプルピースを
用意し、これをＮＤＩの検出部に臨ませ、被検物に対す
ると同様に走査して前記標準疵についての探傷信号を検
出部から標準疵の個数分、次々と得、この間にＮＤＩ中
の増幅回路部のゲインを調整してその出力が標準疵に対
応して定めた所定のレベルになるようにして行われる。
ところがこのような方法による場合は、標準疵からの探
傷信号は１回の走査では感度設定に十分なだけの個数が
得られず、再三に亘つてサンプルピースを移動させる等
複数回の走査が必要であり、多大の労力と長時間を要す
るという問題点があつた。しかも標準疵から得られる探
傷信号のレベルは一定せず、手動設定の場合は調整困難
、またＮＤＩに自動感度設定装置を付設している場合は
誤設定の虞れがあるという問題点もあつた。本発明は斯
かる従来の問題点を解決するためになされたものであつ
て、感度設定を容易且つ正確に行うことを可能としたＮ
ＤＩ用の感度設定補助装置を提供することを目的とし、
以下に本発明を鋼管用磁気探傷器に適用した実施例を示
す図面に基いて詳述する。第１図において１は感磁素子
よりなり、被検物たる鋼管に臨ませ探傷信号を得るため
の検出部、２は検出部１が出力する探傷信号を適当なレ
ベルにまで増幅する前置増幅器、３は前置増幅器２の出
力信号から直流分、高周波ノイズ等を除去するフィルタ
、４はフィルタ３の出力を増幅する主増幅器であつて、
該主増幅器４のゲイン調整により感度設定が手動により
行えるようにしており、更に該主増幅器４の出力信号は
ＣＲＴ５、レコーダ６に表示し得るようにしている一方
、有疵物と判断するに足る最小の疵から得られる探傷信
号に対応するレベルをしきい値とする比較器７に入力さ
れ、比較器□での比較の結果、主増幅器４からの入力信
号がしきい値よりも大である場合はマーカドライバ８を
作動させて、ペイントスプレーガンよりなるマーカ９か
ら被検物の有疵部分近傍にマークを付するように構成さ
れており、斯かる構成は従来の磁気探傷器の基本的構成
として公知である。
であつた。すなわち、被検物と同仕様のものに形状・寸
法が既知の標準疵を適数個付してなるサンプルピースを
用意し、これをＮＤＩの検出部に臨ませ、被検物に対す
ると同様に走査して前記標準疵についての探傷信号を検
出部から標準疵の個数分、次々と得、この間にＮＤＩ中
の増幅回路部のゲインを調整してその出力が標準疵に対
応して定めた所定のレベルになるようにして行われる。
ところがこのような方法による場合は、標準疵からの探
傷信号は１回の走査では感度設定に十分なだけの個数が
得られず、再三に亘つてサンプルピースを移動させる等
複数回の走査が必要であり、多大の労力と長時間を要す
るという問題点があつた。しかも標準疵から得られる探
傷信号のレベルは一定せず、手動設定の場合は調整困難
、またＮＤＩに自動感度設定装置を付設している場合は
誤設定の虞れがあるという問題点もあつた。本発明は斯
かる従来の問題点を解決するためになされたものであつ
て、感度設定を容易且つ正確に行うことを可能としたＮ
ＤＩ用の感度設定補助装置を提供することを目的とし、
以下に本発明を鋼管用磁気探傷器に適用した実施例を示
す図面に基いて詳述する。第１図において１は感磁素子
よりなり、被検物たる鋼管に臨ませ探傷信号を得るため
の検出部、２は検出部１が出力する探傷信号を適当なレ
ベルにまで増幅する前置増幅器、３は前置増幅器２の出
力信号から直流分、高周波ノイズ等を除去するフィルタ
、４はフィルタ３の出力を増幅する主増幅器であつて、
該主増幅器４のゲイン調整により感度設定が手動により
行えるようにしており、更に該主増幅器４の出力信号は
ＣＲＴ５、レコーダ６に表示し得るようにしている一方
、有疵物と判断するに足る最小の疵から得られる探傷信
号に対応するレベルをしきい値とする比較器７に入力さ
れ、比較器□での比較の結果、主増幅器４からの入力信
号がしきい値よりも大である場合はマーカドライバ８を
作動させて、ペイントスプレーガンよりなるマーカ９か
ら被検物の有疵部分近傍にマークを付するように構成さ
れており、斯かる構成は従来の磁気探傷器の基本的構成
として公知である。
而して本発明に係る感度設定補助装置は以下のように構
成されている。すなわち、フイルタ３と主増幅器４との
接続点に対して本発明の感度設定補助装置の入出力信号
がスイツチ１０を介して出入りし得るようになつており
、スイツチ１０の本発明装置側端子はトリガ信号発生器
１１、演算部１２を構成するピーク値記憶器１２ａ及び
波形記憶・再生部１３を構成する波形記憶器１３ａ夫々
の入力端並びに出力部１４の出力端に夫々スイツチ１５
，１６を介して接続されている。トリガ信号発生器１１
はスイツチ１５の投入後最初に入力された所定レベル以
上の信号から本発明装置全体のトリガ信号を切出すもの
であつて、前記ピーク値記憶器１２ａ及び波形記憶器１
３ａにこのトリガ信号を入力するようにしている。
成されている。すなわち、フイルタ３と主増幅器４との
接続点に対して本発明の感度設定補助装置の入出力信号
がスイツチ１０を介して出入りし得るようになつており
、スイツチ１０の本発明装置側端子はトリガ信号発生器
１１、演算部１２を構成するピーク値記憶器１２ａ及び
波形記憶・再生部１３を構成する波形記憶器１３ａ夫々
の入力端並びに出力部１４の出力端に夫々スイツチ１５
，１６を介して接続されている。トリガ信号発生器１１
はスイツチ１５の投入後最初に入力された所定レベル以
上の信号から本発明装置全体のトリガ信号を切出すもの
であつて、前記ピーク値記憶器１２ａ及び波形記憶器１
３ａにこのトリガ信号を入力するようにしている。
演算部１２はピーク値記憶器１２ａと演算器１２ｂとか
らなり、ピーク値記憶器１２ａはトリガ信号の入力後に
スイツチ１５を経て入力される信号のピーク値を予め設
定された個数（複数）分記憶するものであり、演算器１
２ｂはピーク値記憶器１２ａが記憶した複数のピーク値
の代数平均値を求めてこれに対応する平均ピーク値信号
を出力するものであつて、その出力端は出力部１４の一
方の入力端に接続されている。波形記憶・再生部１３は
波形記憶器１３ａと波形再生器１３ｂとからなり、波形
記憶器１３ａはトリガ信号の入力後にスイツチ１５を経
て最初に入力された信号の波形を記憶しておくものであ
り、波形再生器１３ｂはこの波形記憶器１３ａに記憶さ
れた信号波形をそのまま再生出力するものであつて、そ
の再生信号は出力部１４の他方の入力端に入力されるよ
うにしている。出力部１４は乗算器等よりなり、波形再
生器１３ｂよりの再生信号波形及び演算器１２ｂよりの
平均ピーク値信号を基に、そのピーク値が平均ピーク値
に一致し、且つ前記再生信号の波形に相似な波形の信号
を予め設定された周期で反復出力するものである。叙上
の如く構成された本発明装置は次のようにして使用され
る。
らなり、ピーク値記憶器１２ａはトリガ信号の入力後に
スイツチ１５を経て入力される信号のピーク値を予め設
定された個数（複数）分記憶するものであり、演算器１
２ｂはピーク値記憶器１２ａが記憶した複数のピーク値
の代数平均値を求めてこれに対応する平均ピーク値信号
を出力するものであつて、その出力端は出力部１４の一
方の入力端に接続されている。波形記憶・再生部１３は
波形記憶器１３ａと波形再生器１３ｂとからなり、波形
記憶器１３ａはトリガ信号の入力後にスイツチ１５を経
て最初に入力された信号の波形を記憶しておくものであ
り、波形再生器１３ｂはこの波形記憶器１３ａに記憶さ
れた信号波形をそのまま再生出力するものであつて、そ
の再生信号は出力部１４の他方の入力端に入力されるよ
うにしている。出力部１４は乗算器等よりなり、波形再
生器１３ｂよりの再生信号波形及び演算器１２ｂよりの
平均ピーク値信号を基に、そのピーク値が平均ピーク値
に一致し、且つ前記再生信号の波形に相似な波形の信号
を予め設定された周期で反復出力するものである。叙上
の如く構成された本発明装置は次のようにして使用され
る。
まず本発明装置を用いて感度設定を行うには第１図に示
した如きサンプルピースＳを使用するのが好適である。
このサンプルピースＳは例えば３個の標準疵Ｓｌ，Ｓ２
，Ｓ３と、この標準疵より大きいトリガ疵Ｓ。とが縦列
形成された、被検対象の鋼管と同仕様の鋼管である。こ
のサンプルピースＳを検出部１に臨ませるべく軸心回転
させつつトリガ疵Ｓ。側から軸長方向に送導する。これ
に先立つてスイツチ１０，１５は閉、１６は開としてお
くと疵Ｓ。，Ｓｌ，Ｓ２，Ｓ３の存在のために検出部１
から得られた探傷信号は前置増幅器２、フイルタ３、ス
イツチ１０を経て本発明装置に入力される。まずトリガ
疵Ｓ。に対応する探傷信号はスイツチ１５を経てトリガ
信号発生器１１に入力されるので、トリガ信号が発生し
てピーク値記憶器１２ａ及び波形記憶器１３ａに入力さ
れ、両器が動作を開始する。このトリガ疵Ｓ。は大き目
に設定されているのでトリガ信号発生器１１はトリガ信
号の発生をミスすることはない。逆にトリガ疵Ｓ。より
小さい後続の標準疵Ｓｌ，Ｓ２，Ｓ３より得られる探傷
信号によつてトリガ信号を誤発生することもない。而し
て標準疵Ｓｌ，Ｓ２，Ｓ３により検出部から得られた、
夫々第２図Ａ，Ｂ，Ｃに示す如きピーク値Ｖｌ，Ｖ２，
Ｖ３の探傷信号Ｔｌ，Ｔ２，Ｔ３がピーク値記憶器１２
ａ及び波形記憶器１３ａに入力され、各ピーク値Ｖｌ，
Ｖ２，Ｖ３が順次ピーク値記憶器１２ａに記憶され、ま
た探傷信号Ｔ１の波形が波形記憶器１３ａに記憶される
。
した如きサンプルピースＳを使用するのが好適である。
このサンプルピースＳは例えば３個の標準疵Ｓｌ，Ｓ２
，Ｓ３と、この標準疵より大きいトリガ疵Ｓ。とが縦列
形成された、被検対象の鋼管と同仕様の鋼管である。こ
のサンプルピースＳを検出部１に臨ませるべく軸心回転
させつつトリガ疵Ｓ。側から軸長方向に送導する。これ
に先立つてスイツチ１０，１５は閉、１６は開としてお
くと疵Ｓ。，Ｓｌ，Ｓ２，Ｓ３の存在のために検出部１
から得られた探傷信号は前置増幅器２、フイルタ３、ス
イツチ１０を経て本発明装置に入力される。まずトリガ
疵Ｓ。に対応する探傷信号はスイツチ１５を経てトリガ
信号発生器１１に入力されるので、トリガ信号が発生し
てピーク値記憶器１２ａ及び波形記憶器１３ａに入力さ
れ、両器が動作を開始する。このトリガ疵Ｓ。は大き目
に設定されているのでトリガ信号発生器１１はトリガ信
号の発生をミスすることはない。逆にトリガ疵Ｓ。より
小さい後続の標準疵Ｓｌ，Ｓ２，Ｓ３より得られる探傷
信号によつてトリガ信号を誤発生することもない。而し
て標準疵Ｓｌ，Ｓ２，Ｓ３により検出部から得られた、
夫々第２図Ａ，Ｂ，Ｃに示す如きピーク値Ｖｌ，Ｖ２，
Ｖ３の探傷信号Ｔｌ，Ｔ２，Ｔ３がピーク値記憶器１２
ａ及び波形記憶器１３ａに入力され、各ピーク値Ｖｌ，
Ｖ２，Ｖ３が順次ピーク値記憶器１２ａに記憶され、ま
た探傷信号Ｔ１の波形が波形記憶器１３ａに記憶される
。
上記探傷信号Ｔｌ，Ｔ２，Ｔ３は本来同一波形、同一ピ
ーク値を有する筈のものであるが実際にはサンプルピー
スＳの揺動、表面の不整等に基因して若干不揃となつて
いる。ピーク値記憶器１２ａに記憶されたピーク値Ｖ，
，Ｖ２，Ｖ３は順次又は一斉に演算器１２ｂに入力され
、演算器１２ｂは出力部１４に対して（Ｖ，＋Ｖ２＋Ｖ
３Ｙ３に相当する平均ピーク値の信号を出力する。一方
この出力部には波形再生器１３ｂから探傷信号Ｔ１の再
生波形信号が入力される。而してサンプルピースＳを送
導し終えたときはスイツチ１５を開いてスイツチ１６を
閉じる。
ーク値を有する筈のものであるが実際にはサンプルピー
スＳの揺動、表面の不整等に基因して若干不揃となつて
いる。ピーク値記憶器１２ａに記憶されたピーク値Ｖ，
，Ｖ２，Ｖ３は順次又は一斉に演算器１２ｂに入力され
、演算器１２ｂは出力部１４に対して（Ｖ，＋Ｖ２＋Ｖ
３Ｙ３に相当する平均ピーク値の信号を出力する。一方
この出力部には波形再生器１３ｂから探傷信号Ｔ１の再
生波形信号が入力される。而してサンプルピースＳを送
導し終えたときはスイツチ１５を開いてスイツチ１６を
閉じる。
そうすると波形がＴ１と相似であつてピーク値が（Ｖ１
＋Ｖ２＋Ｖ３）／３である第２図Ｄに示す如き感度設定
のための標準波形Ｔ４が出力部１４からスイツチ１６，
１０を経て主増幅器４に所定周期で反復入力される。従
つてＣＲＴ５の表示を監視しつつ主増幅器４のゲインを
調整してその出力レベルを所定レベルにすることによつ
て感度設定が完了する。その後はスイツチ１０を開いて
本発明装置を切離し、被検物の探傷に備えればよい。上
述のような本発明装置による場合は以下のような利点が
ある。（１）サンプルピースの送導が１回で済み労力負
担が軽減される。
＋Ｖ２＋Ｖ３）／３である第２図Ｄに示す如き感度設定
のための標準波形Ｔ４が出力部１４からスイツチ１６，
１０を経て主増幅器４に所定周期で反復入力される。従
つてＣＲＴ５の表示を監視しつつ主増幅器４のゲインを
調整してその出力レベルを所定レベルにすることによつ
て感度設定が完了する。その後はスイツチ１０を開いて
本発明装置を切離し、被検物の探傷に備えればよい。上
述のような本発明装置による場合は以下のような利点が
ある。（１）サンプルピースの送導が１回で済み労力負
担が軽減される。
（２）標準波形Ｔ４を所望周期で、且つ反復的に得るこ
とができるので手動設定が容易に、しかも短時間内に行
える。
とができるので手動設定が容易に、しかも短時間内に行
える。
（３）自動感度設定装置が設けられている場合はその応
答速度に見合う周期で標準波形Ｔ４を得るようにすれば
よく、この標準波形Ｔ４は安定した反復信号であるので
正確な自動感度設定が行える。
答速度に見合う周期で標準波形Ｔ４を得るようにすれば
よく、この標準波形Ｔ４は安定した反復信号であるので
正確な自動感度設定が行える。
（４）標準波形Ｔ４は複数個の探傷信号の平均ピーク値
を有しているのでオペレータによる個人差が誤差として
混入する可能性が低い。
を有しているのでオペレータによる個人差が誤差として
混入する可能性が低い。
（５） ＮＤＩ装置は近時多チヤンネル化する傾向にあ
り、多チヤンネルの場合はチヤンネル毎に感度設定を行
う必要がある。
り、多チヤンネルの場合はチヤンネル毎に感度設定を行
う必要がある。
従つて従来の方法による場合は感度設定のための労力、
所要時間はチヤンネル数分倍加するが、本発明装置を用
いる場合は大幅に労力、所要時間を削減することが可能
となる。なお上述の実施例ではサンプルピースＳに付し
た標準疵の数を３個としたが、より多くする方が標準疵
に対応して得られる探傷信号間のバラツキを吸収し得て
望ましい。
所要時間はチヤンネル数分倍加するが、本発明装置を用
いる場合は大幅に労力、所要時間を削減することが可能
となる。なお上述の実施例ではサンプルピースＳに付し
た標準疵の数を３個としたが、より多くする方が標準疵
に対応して得られる探傷信号間のバラツキを吸収し得て
望ましい。
またサンプルピースに付した標準疵が１個の場合は該サ
ンプルピースによる数回の探傷を行い、感度設定するこ
とも考えられる。更に上述の実施例では演算器１２ｂに
より入力信号のピーク値の代数平均値を求めこれをピー
ク値の平均情報として出力することとしたが、入力信号
のピーク値のバラツキを考慮した統計学的演算を施して
その平均的数値を求めるようにしてもよい。更に本発明
は実施例の如き磁気探傷器に限らず超音波探傷器、渦流
探傷器にも適用可能であることは勿論であつて、いずれ
の場合にも省力化と探傷精度向上に優れた効果を奏する
。
ンプルピースによる数回の探傷を行い、感度設定するこ
とも考えられる。更に上述の実施例では演算器１２ｂに
より入力信号のピーク値の代数平均値を求めこれをピー
ク値の平均情報として出力することとしたが、入力信号
のピーク値のバラツキを考慮した統計学的演算を施して
その平均的数値を求めるようにしてもよい。更に本発明
は実施例の如き磁気探傷器に限らず超音波探傷器、渦流
探傷器にも適用可能であることは勿論であつて、いずれ
の場合にも省力化と探傷精度向上に優れた効果を奏する
。
図面は本発明の実施例を示すものであつて、第１図はサ
ンプルピース及び磁気探傷器と共に示す本発明装置のプ
ロツク図、第２図は本発明装置の動作を説明するための
波形図である。 １１・・・・・・トリガ信号発生器、１２・・・・・・
演算部、１２ａ・・・・・・ピーク値記憶器、１２ｂ・
・・・・・演算器、１３・・・・・・波形記憶・再生部
、１３ａ・・・・・・波形記憶器、１３ｂ・・・・・・
波形再生器、１４・・・・・・出力部。
ンプルピース及び磁気探傷器と共に示す本発明装置のプ
ロツク図、第２図は本発明装置の動作を説明するための
波形図である。 １１・・・・・・トリガ信号発生器、１２・・・・・・
演算部、１２ａ・・・・・・ピーク値記憶器、１２ｂ・
・・・・・演算器、１３・・・・・・波形記憶・再生部
、１３ａ・・・・・・波形記憶器、１３ｂ・・・・・・
波形再生器、１４・・・・・・出力部。
Claims (1)
- １ 非破壊検査機器の検出部から得られる複数の探傷信
号のうちの少くとも１つの波形を記憶・再生する波形記
憶・再生部と、所定個数の探傷信号のピーク値の平均的
数値を求めて平均情報信号を出力する演算部と、波形記
憶・再生部の再生信号及び前記平均情報信号が入力され
、そのピーク値が前記平均的数値に一致し、且つ前記再
生信号の波形に相似な波形の信号を任意の周期で出力部
とを具備することを特徴とする感度設定補助装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP53032551A JPS5940263B2 (ja) | 1978-03-21 | 1978-03-21 | 非破壊検査機器に用いる感度設定補助装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP53032551A JPS5940263B2 (ja) | 1978-03-21 | 1978-03-21 | 非破壊検査機器に用いる感度設定補助装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS54124785A JPS54124785A (en) | 1979-09-27 |
| JPS5940263B2 true JPS5940263B2 (ja) | 1984-09-28 |
Family
ID=12362059
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP53032551A Expired JPS5940263B2 (ja) | 1978-03-21 | 1978-03-21 | 非破壊検査機器に用いる感度設定補助装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5940263B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5837557U (ja) * | 1981-09-04 | 1983-03-11 | 新日本製鐵株式会社 | 渦流探傷装置の感度較正装置 |
| JP5006349B2 (ja) * | 2009-01-08 | 2012-08-22 | 株式会社日立ビルシステム | ワイヤーロープの探傷装置の校正装置 |
-
1978
- 1978-03-21 JP JP53032551A patent/JPS5940263B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS54124785A (en) | 1979-09-27 |
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