JPS63153406A - 光学式変位センサ - Google Patents

光学式変位センサ

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JPS63153406A
JPS63153406A JP30199286A JP30199286A JPS63153406A JP S63153406 A JPS63153406 A JP S63153406A JP 30199286 A JP30199286 A JP 30199286A JP 30199286 A JP30199286 A JP 30199286A JP S63153406 A JPS63153406 A JP S63153406A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
measured
optical
path
displacement sensor
Prior art date
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Pending
Application number
JP30199286A
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English (en)
Inventor
Moriyuki Fujita
盛行 藤田
Masakatsu Kimura
正勝 木村
Masao Katsuyama
勝山 正男
Hideaki Ito
秀明 伊藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Cable Industries Ltd
Original Assignee
Mitsubishi Cable Industries Ltd
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Publication date
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  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Measurement Of Optical Distance (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (イ)産業上の利用分野 本発明は、光学式変位センサに関する。
(ロ)従来技術とその問題点 一般に、非接触で物体の変位や振動、表面荒さ等を測定
したい場合には光学式変位センサが使用される。従来の
この種の光学式変位センサは、第4図に示すように、投
光用光ファイバXと受光用光ファイバyとを一端で結束
してバンドルファイバとし、このバンドルファイバの端
面を被測定物2に対向配置する。そして、図外の光源か
らの光を投光用光ファイバχを介して被測定物2に照射
し、被測定物Zから反射された光を受光用光ファイバy
を介して図外の光測定器で測定する。この場合、バンド
ルファイバの端部と被測定物2間の距離11が変化する
と、これに伴なって投光パワーに対する受光パワーの比
、すなわち相対パワーが変化するので、その変化量から
被測定物の変位量が計測される。
このように、従来の光学式変位センサは、光ファイバX
、 Yを使用している関係」二、光の投光部分と受光部
分の位置が一致しない。すなわち、第5図に示すように
、投光用光ファイバXから放射されて被測定物Zから反
射された光は、投光用光ファイバXと異なる位置に配置
された受光用光ファイバyに入射する。そのため、被測
定物Zの変位と相対パワーとの関係は、第6図に示すよ
うに、ある変位量HOにおいてパワーの最大点Pを持つ
ことになる。たとえば、いま、aを投光用光ファイバX
のコア半径、θを投光用光ファイバXの光の放射角、D
Oを投光用光ファイバXのコア中心から受光用光ファイ
バyのコア外径までの距離とすると、最大点Pを示す変
位量HOは、 Ho−(D o −a)/ 2θ          
(1)となる。すなわち、投光用、受光用に光ファイバ
X% Yを使用している限り必ず最大点Pが現われるこ
とになる。
このような従来構成の光学式変位センサを使用して変位
量を測定する場合には、測定の安定性、容易性等を考慮
すれば、変位量が多くなれば相対パワーが低下する特性
、すなわち、第6図において最大点Pを示す変位i 1
−1 oから右の部分の特性を利用することが必要であ
る。逆に言えば、上記の最大点Pを示す変位量Hoから
左の部分の特性利用して変位量を測定するのは適当でな
い。したがって、従来の光学式変位センサでは、上記の
最大点Pから左の部分りはいわゆるデッドゾーンとなり
、微少な変位量を精度良く測定することができなかった
さらに、従来の光学式変位センサは、投光用、受光用の
光ファイバを組み合わて構成する必要があるため、小型
化が難しく、しかも、量産性、品質の安定性に欠ける等
の不都合があった。
本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであっ
て、従来のようなデッドゾーンが無く、微少変位を精度
良く測定することが可能であり、また、小型化が容易で
、しかも、量産性、品質の安定性に優れた光学式変位セ
ンサを提供することを目的とする。
(ハ)問題点を解決するための手段 従来、光分岐/結合器と称せられるものには、ガラス等
の基体内に1本の合流路部分とこれを2つに分岐した分
岐路部分とからなる光導波路を形成し、この合流路部分
と分岐路部分の各端部にそれぞれ光ファイバを接続し、
1本の光ファイバからの光信号を2分して各光ファイバ
に分配して取り出したり、逆に2本の光ファイバから両
光信号を合波して1本の光ファイバに伝送できるように
したものがある。かかる従来の光分岐/結合器は、光の
分岐、結合のためにのみ使用されており、したがって、
合流路部分と分岐路部分には必ず光ファイバが接続され
た構成が採られる。
ところが、この光分岐/結合器の光導波路の合流路部分
を光ファイバに接続するのではなくて、被測定物に対向
配置した場合には、合流路部分から放射された光の反射
光は、同じ合流路部分で受光されることになる。すなわ
ち、光の投光部分と受光部分とが一致するため、従来、
光ファイバで構成される光学式変位センサの抱えていた
上記の問題点が解消されることが期待される。
本発明は、かかる点に着目してなされたものであって、
上記の目的を達成するために、次の構成を採用した。す
なわち、本発明の光学式変位センサは、ガラスや高分子
材料などでできた基体内に光導波路が形成されてなるプ
ローブを備え、このプローブの前記光導波路は、1本の
合流路の一端を前記基体の端部に露出して被測定物に対
して所定の間隔を存して対向配置される投受光面を形成
する一方、前記合流路の他端部を2つに分岐して光源か
らの入射光を導く投光用分岐路と、前記被測定物からの
反射光を導く受光用分岐路とを設けている。
(ニ)作用 本発明の光学式変位センサでは、光源からの光をプロー
ブ内に形成された光導波路の投光用分岐路から合流路を
介して投受光面に導き、この投受光面から被測定物に対
して光を出射する。被測定物から反射された光は、同一
の投受光面で受光され、その光は合流路から受光用分岐
路を介して光測定器に導かれ、光測定器でそのパワーが
測定される。したがって、従来のにうなデッドゾーンが
なくなり、微少変位量についても測定が可能となる。
(ホ)実施例 以下、本発明を図面に示す実施例に基づいて詳細に説明
する。
第1図は光学式変位センサを使用した変位量測定装置の
全体を示す構成図である。この実施例の変位量測定装置
1では、本体部2に本発明の光学式変位センサ4が接続
されている。本体部2は光学式変位センサ4に制御信号
を与えるとともに、光学式変位センサ4からの検出信号
を処理する光測定器6とこの光測定器6の測定結果を表
示する表示器8とからなる。
一方、本発明の光学式変位センサ4は、第2図に示すよ
うに、カラスや高分子材料などでできた保護層としての
基体10内に光導波路12が形成されてなるプローブ1
4を備える。すなわち、このプローブ14は、ポリカー
ボネート等の高分子フィルム16にポリカーボネートと
ポリメチルメタクリレートからなる高屈折率部分を光導
波路12として形成し、この高分子フィルム16の両面
に基体lOをクラッドして構成される。
」−記の光導波路12は、1本の合流路12aの一端が
前記基体10の端部に露出されて被測定物18に対して
所定の間隔Hを存して対向配置される投受光面12.b
が形成される一方、前記合流路12aの他端部が2つに
分岐されて入射光を導く投光用分岐路12cと、前記被
測定物18からの反射光を導く受光用分岐路12dとが
形成されている。そして、投光用分岐路12cが基体1
0端面において露出する部分に光源としての発光ダイオ
ード、レイザーダイオード等の発光素子20が直結され
、また、受光用分岐路12dが基体10端面において露
出する部分にフォトダイオード、アバランンエフオトダ
イオード等の受光素子22が直結されている。そして、
各素子20.22の外部リード端子20a、22aがそ
れぞれ測定系6に接続される。
次に、本発明の作用について説明する。
変位量の測定にあたっては、プローブ14の投光面12
bを被測定物18に対向配置した後、光測定器6から発
光用制御信号を与えて発光素子20を発光させる。発光
素子20からの光は、プローブ14内の光導波路12の
投光用分岐路12cから合流路+2aに導かれ、その投
受光面12bから被測定物18に対して光が出射される
。被測定物18から反射された光は、同じ投受光面12
bで受光される。投受光面12bからの入射光は合流路
12aから受光用分岐路12dを介して受光素子22に
導かれ、この受光素子22で光電変換される。そして、
受光素子22からの検出信号が光測定器6に入力されて
、その光パワーが測定される。投受光面12bと被測定
物18の間の距離I]が変化すると、これに伴なって発
光素子20のパワーに対する受光素子22のパワーの比
、すなわち相対パワーが変化するので、その変化量から
被測定物18の変位量が測定され、その測定結果が表示
器8に表示される。
本発明の光学式変位センサ4では、被測定物18に対す
る投光部分と受光部分の位置が投受光面12bにおいて
一致するので、前述した(+)式におけるaとDoの値
が同じになり、Hoは零となる。
その結果、本発明の光学式変位センサ4においては、変
位量と相対パワーとの関係を示す特性図は第3図に示す
ようになる。すなわち、相対パワーの最大点Pは常に変
位量Hが零の位置となり、従来の」;うなデッドゾーン
が無いために微少変位を精度良く測定することができる
。また、光導波路12の幅Wと厚さTが大きくなるのに
伴なって同図中二点破線で示すように、分解能が低下す
る反面、測定範囲が広がる傾向を示すので、光導波路I
2の幅Wと厚さTとを適宜設定することによって所望の
測定範囲と分解能を得ることが可能となる。
なお、この実施例の光学式変位センサ4では、発光素子
20と受光素子22とを投光用と受光用の各分岐路12
c、12dに直結しているが、両分岐路12c、+2d
にそれぞれ一旦光ファイバを連結し、一方の光ファイバ
に発光素子を、他方の光ファイバに受光素子を接続した
構成とすることも可能である。
(へ)効果 以」二のように本発明によれば、基体内に光導波路を形
成し、この光導波路を1本の合流路の一端を前記基体の
端部に露出して被測定物に対して所定の間隔を存して対
向配置される投受光面を形成する一方、前記合流路の他
端部を2つに分岐して光源からの入射光を導く投光用分
岐路と、前記被測定物からの反射光を導く受光用分岐路
とを形成した構成としているので、被測定物に対して投
光部と受光部との位置が一致することになる。したがっ
て、従来のようなデッドゾーンが無くなるので、微少変
位を精度良く測定することが可能となる。しかも、発光
素子や受光素子を直結できるので小型化が容易であり、
さらに、量産性、品質の安定性に優れる等の優れた効果
が発揮される。
【図面の簡単な説明】
第1図ないし第3図は本発明の実施例を、第4図ないし
第6図は従来例をそれぞれ示すもので、第1図は変位セ
ンサを使用した変位量測定装置の全体を示す構成図、第
2図は変位センサと被測定物とを示す斜視図、第3図は
本発明の変位センサを使用して得られる変位量と相対パ
ワーとの関係を示す特性図、第4図は変位センサの平面
図、第5図は第4図の変位センサの投光用光ファイバと
受光用光ファイバとの光学的関係を示す説明図、第6図
は第4図の変位センサを使用して得られる変位量と相対
パワーとの関係を示す特性図である。 4・・・光学式変位センサ、10・・・基体、12・・
光導波路、12a・・・合流路、12b・・・投受光面
、12C・・・投光用分岐路、12d・・・受光用分岐
路、14・・プローブ、18・・・被測定物。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)ガラスや高分子材料などでできた基体内に光導波
    路が形成されてなるプローブを備え、このプローブの前
    記光導波路は、1本の合流路の一端が前記基体の端部に
    露出されて被測定物に対して所定の間隔を存して対向配
    置される投受光面が形成される一方、前記合流路の他端
    部は2つに分岐されて光源からの入射光を導く投光用分
    岐路と、前記被測定物からの反射光を導く受光用分岐路
    とが設けられていることを特徴とする光学式変位センサ
JP30199286A 1986-12-17 1986-12-17 光学式変位センサ Pending JPS63153406A (ja)

Priority Applications (1)

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JP30199286A JPS63153406A (ja) 1986-12-17 1986-12-17 光学式変位センサ

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JPS63153406A true JPS63153406A (ja) 1988-06-25

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JP30199286A Pending JPS63153406A (ja) 1986-12-17 1986-12-17 光学式変位センサ

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006328626A (ja) * 2005-05-20 2006-12-07 Truetzschler Gmbh & Co Kg たとえばフラット・カード、ローラ・カード、練篠フレーム、精梳綿機などの紡績用前処理機において、たとえば綿、合成繊維などの少なくとも一本の繊維スライバ、繊維ウェブなどの繊維材料の質量および/または質量変動を確認する装置

Cited By (1)

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JP2006328626A (ja) * 2005-05-20 2006-12-07 Truetzschler Gmbh & Co Kg たとえばフラット・カード、ローラ・カード、練篠フレーム、精梳綿機などの紡績用前処理機において、たとえば綿、合成繊維などの少なくとも一本の繊維スライバ、繊維ウェブなどの繊維材料の質量および/または質量変動を確認する装置

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