JPS63152570U - - Google Patents
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- Publication number
- JPS63152570U JPS63152570U JP4341587U JP4341587U JPS63152570U JP S63152570 U JPS63152570 U JP S63152570U JP 4341587 U JP4341587 U JP 4341587U JP 4341587 U JP4341587 U JP 4341587U JP S63152570 U JPS63152570 U JP S63152570U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test
- card
- test program
- interface
- writing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Description
第１図は本考案の一実施例を示す構成図、第２
図、第３図は同構成の動作を示すフローチヤート
である。 １……カード、２……被試験素子、３……制御
ユニツト、４……コネクタ、５……スイツチ、６
……インターフエース、７……メモリ、８……試
験ユニツト、９……試験ヘツド、１０……試験結
果記憶メモリ。
図、第３図は同構成の動作を示すフローチヤート
である。 １……カード、２……被試験素子、３……制御
ユニツト、４……コネクタ、５……スイツチ、６
……インターフエース、７……メモリ、８……試
験ユニツト、９……試験ヘツド、１０……試験結
果記憶メモリ。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 被試験素子の試験プログラムの記憶素子を
持つカードと、このカードをセツトするためのコ
ネクタと、前記カードに記憶されている試験プロ
グラムを試験装置内に取り込むインターフエース
と、前記取り込まれた試験プログラムをもとに被
試験素子の試験を実行する手段とを具備したこと
を特徴とする半導体試験装置。 (2) 前記カードに記憶されている試験プログラ
ムは試験装置内の内部メモリに取り込まれること
を特徴とする実用新案登録請求の範囲第１項に記
載の半導体試験装置。 (3) 前記試験プログラムを前記カードへ書き込
むときは、内部メモリにセツトされた試験プログ
ラムを、前記コネクタにセツトされたカードに、
制御ユニツトの動作で前記インターフエースを通
して書き込むことを特徴とする実用新案登録請求
の範囲第２項に記載の半導体試験装置。 (4) 前記被試験素子の試験結果を記憶したメモ
リから前記インターフエースを介して記憶素子を
持つたカードへ前記試験結果を書き込む手段を具
備したことを特徴とする実用新案登録請求の範囲
第１項に記載の半導体試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4341587U JPS63152570U (ja) | 1987-03-26 | 1987-03-26 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4341587U JPS63152570U (ja) | 1987-03-26 | 1987-03-26 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63152570U true JPS63152570U (ja) | 1988-10-06 |
Family
ID=30860251
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4341587U Pending JPS63152570U (ja) | 1987-03-26 | 1987-03-26 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63152570U (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0580114A (ja) * | 1991-09-24 | 1993-04-02 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体試験装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58182567A (ja) * | 1982-04-21 | 1983-10-25 | Hitachi Ltd | 回路基板試験装置 |
-
1987
- 1987-03-26 JP JP4341587U patent/JPS63152570U/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58182567A (ja) * | 1982-04-21 | 1983-10-25 | Hitachi Ltd | 回路基板試験装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0580114A (ja) * | 1991-09-24 | 1993-04-02 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体試験装置 |
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