JPS63152034A - 光デイスク - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明は、クロストーク評価用に適した光ディスクに関
する。

従来技術 一般に、光ディスク（コンパクトディスク等を含む）で
は、ディスク上に多数のトラック（スパイラル方式によ
れば、トラックの本数自体は１本であるが、ディスク半
径方向に見れば多数のトラックが存在するといえる）が
設けられている。これらのトラックは近接した状態とな
るが、あるトラック上での読取り時に隣接トラック上の
情報が混在すると好ましくない。例えば、光デイスク用
の光ピツクアップにおいて、光軸ずれないしは光軸傾き
があると、クロストーク量が増え良好なる読取りができ
ないこととなる。又、光ディスクのピット形状（例えば
、幅、深さ、断面形状等）によりクロストーク量が変化
することとなる。このようなことから、隣接トラック間
についてのクロストークの評価が必要となる。

そこで、従来のクロストークの評価法について第５図を
参照して説明する。これは、レーザスポットがあるトラ
ック上に位置する時のＲＦ振幅と、レーザスポットが隣
接トラック間中央上に位置する時のＲＦ振幅との比をク
ロストーク値としているものである。即ち、トラック上
のスポットＡと隣接トラック間車のスポットＢとにおけ
るＲＦ振幅比である。

ところが、実際に問題となるクロストーク量は第５図中
において、スポットＡによりあるピット列す上のピット
１を読取る際に、隣接トラック上の隣接ピット列ａ、ｃ
のピット信号の混入する量である。ところが、コンパク
トディスクや光ディスクにおいては、これらのピット列
ａ、ｂ、ｃの状態は極めて近似したものであり、隣接ピ
ット列間についてのクロストーク量のみを分離して測定
することは困難なものである。即ち、通常の光ディスク
にあっては１種々のピット長で種々のデユーティ比のピ
ット列が存在する。しかし、隣接トラック間ではそれ程
信号に差がない。このため、トラック上に位置するスポ
ットＡのような場合であっても、周波数−信号レベル特
性は例えば第６図のようになり、クロストーク量を明確
に分離できないものである。

目的 □　本発明は、このような点に鑑みなされたもので、隣
接トラック間のピット列についてのクロストーク量のみ
の分離評価がしやすく、クロストーク量の定量化等に寄
与し得る光ディスクを得ることを目的とする。

構成 本発明は、上記目的を達成するため、同じ長さで同じデ
ユーティ比を持つピットをディスク一周以下の長さの範
囲で形成したピット列に対し、隣接トラック上に前記ピ
ット列のピットと異なる長さのピットを同じ長さで同じ
デユーティ比で形成したピット列を設けたことを特徴と
するものである。

以下、本発明の一実施例を第１図ないし第３図に基づい
て説明する。まず、第１図に本実施例による特徴的なピ
ット列構造を示す。例えば光ディスクのあるトラック１
周分に渡って長さがＱ、　　＝１μｍに統一されたピッ
ト２をデユーティ比が５０％（即ち、ピット２間の長さ
Ｑ２も１μｍ）の条件で形成したピット列すが設けられ
ている。そして、このピット列すの内外に隣接するトラ
ック上には前記ピット列す上のピット２とは異なる長さ
Ｑ、＝１．５μｍのピット３によるピット列ａ。

Ｃが形成されている。ここに、これらのピット列ａ、ｃ
自体は同じ長さＭ、＝１．５μｍに統一されたピット３
を同じデユーティ比５０％（即ち、ピット３間の長さＱ
４　＝１．５μｍ）にて形成したものである。

ここに、このようなピット列ａ、ｂ、ｃ、〜を光デイス
ク４上のスパイラル状トラック上に位置させて形成する
場合には、トラック自体は厳密には１本であるのでこの
１本のトラック上のどこかでピット長を切換える必要が
ある。この点、例えば第２図中に示す記録領域５内中の
斜線部６を各ピット列ａ、ｂ、ｃ、〜についてのピット
長の切換え部として切換えればよい。つまり、はぼ同じ
半径方向の領域内でピット長を切換えるものであり、ス
パイラル方式であっても各ピット列の全長□は１周以下
とされている。ここに、第２図中の斜線部６の円周角θ
は１０°以下であればピット列が途切れても問題はない
。又、トラックが同心円状のものであっても、もちろん
よい。

このようなピット列ａ、ｂ、ｃ、〜を形成してなる光デ
ィスクにおいて、例えばピット列すにレーザ光を集光し
、そのスポットにより信号を読取った場合の信号レベル
を第３図に示す。なお、信号の取り込みは、スパイラル
方式であれば斜線部６を除く部分で信号を取り込むこと
となる。ここに、もし、ピット列すのピット２だけが読
取り信号として出現するのであれば、例えば第３図中の
周波数すでの信号レベルＢのみが生ずる筈である。

しかし、クロストークの影響により隣接するトラツク上
のピット列ａ、ｃのピット３による信号も周波数ａにお
いて信号レベルＡとして出現する。

そして、これらの信号レベル比Ｂ／Ａがクロストーク量
として評価できるものとなる。ここに、ピット列すに対
する隣接トラック上のピット列ａ。

Ｃはピット、ピット間隔が異なる状態で形成されている
ので、この信号レベル比Ｂ／Ａのように充分分離してク
ロストーク量を評価できる（前述した従来方式の第６図
と対比すると明確である）。

なお、本実施例ではピット列すに隣接するトラック上の
ピット列ａ、ｃ同志は全く同一のものとしたが（従って
、ピット列はａ、ｂ、ｃ、ｂ、ａ。

Ｃ９〜のように繰返される）、ピット列ａ、ｂ。

Ｃについて全て各々のピット長を異ならせて形成するよ
うにしてもよい。何れにしても、隣接トラック上のピッ
ト列間では各々のピット長が整数倍の関係とならないよ
うに設定するのがよい。これは、例えば１μｍと２μｍ
のようにピット長が整数倍の関係であると、そのピット
から出る信号中の高周波成分がクロストーク用のピット
の信号の周波数と同一となり１分離が困難となるからで
ある。

又、本実施例は例えば第４図に示すように各トラック間
にトラッキング制御用の案内溝７を形成してなる、所謂
ランド記録用フォーマットの光ディスクであっても同様
に適用し得る。

ところで、本実施例によるクロストーク評価用のディス
クによるメリットについて検討する。まず、光デイスク
用の光ピツクアップでは、光軸ずれや倒れがあるとクロ
ストーク量が増加する。よって、本実施例方式のクロス
トーク評価用の光ディスクを用いてクロストーク量を検
出し、このクロストーク量が小さくなるように光ピツク
アップの調整を行なうようにすれば光軸ずれを防止する
ことができる。つまり、ピックアップの光軸調整に供す
ることができる。次に、クロストーク量は光ディスクの
ピット形状によっても変化する。よって、本実施例方式
のクロストーク評価用光ディスクを用いてクロストーク
量を検出することにより、クロストーク量が少なくなく
ピット形状の最適化の検討に供することもできる。更に
は、製造工程において、スタンパより転写された溝形状
が正しいものであるかの検討にも利用できる。又、光デ
イスク基板に複屈折があると、レーザ光のスポットに非
点収差を生じ、クロストーク量を増加させることとなる
。よって、この点でも本実施例方式によりクロストーク
量を評価することにより、基板の複屈折の影響の検討に
供することもできる。

効果 本発明は、上述したように隣接トラック間で各々のピッ
ト列をピット長が異なるピットによるものとして形成し
たので、クロストーク量のみの分離評価が容易なものと
なり、クロストーク量の定量化に供し、更には光ピツク
アップの光軸調整、ピットないしは溝形状の最適化等に
供することができるものである。

【図面の簡単な説明】

第１図ないし第３図は本発明の一実施例を示すもので、
第１図はピット形状を示す平面図、第２図はディスクの
平面図、第３図は周波数−信号レベル特性図、第４図は
変形例を示す平面図、第５図は従来例を示す平面図、第
６図は周波数−信号レベル特性図である。 ２．３・・・ピット、ａ、ｂ、Ｃ・・・ピット死出　願
　人　　　株式会社　　　リ　コ　−３」　図　　　３
２陪 Ｑｆ）Ｌ ３６図 １滲収−

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 同じ長さで同じデューティ比を持つピットをディスク一
   周以下の長さの範囲で形成したピット列に対し、隣接ト
   ラック上に前記ピット列のピットと異なる長さのピット
   を同じ長さで同じデューティ比で形成したピット列を設
   けたことを特徴とする光ディスク。