JPH07101513B2 - 光デイスク記録再生装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、データファイル等の光ディスクの信号記録再
生方式において光ディスクの基材内、トラック上の異
物，欠陥（以下ディスク異物と称する）の多さに応じて
記録ピットの極性を設定した光ディスク記録再生装置に
関するものである。

従来の技術 従来のこの種の光ディスク記録再生装置は例えば特開昭
59−227040号公報に示されているように第８図のような
構成になっていた。第８図（ｂ）において、６はランド
またはグルーブからなるトラック、７は信号が記録され
た記録ピット部、８は信号が記録されていない未記録部
である。例えばモデイファイドFM（MFM）記録変調方式
における書込データを第８図（ａ）とすると光記録媒体
上の記録ピットは第８図（ｂ）のようになる。この記録
された信号を正しく再生するために、従来はピット７の
間隔のデューティが50％になるよう、記録様半導体レー
ザーの書込電流を制御していたが、ディスク異物による
再生信号振幅の欠けに対しては何ら対応していなかっ
た。

発明が解決しようとする問題点 このような従来の構成ではピット間のデューティにのみ
着目し、データ弁別マージンに対するビットエラーレー
ト（以下BERと称する）の向上は期待できてもディスク
異物に対する信号振幅の欠けに対しては考慮していない
ため、トータル的にはBERの向上が困難であった。

本発明はかかる点に鑑みてなされたもので、ディスク異
物に対応した信号記録方式を用いた光ディスク記録再生
装置を提供することを目的としている。

問題点を解決するための手段 本発明は上記問題点を解決するため、ディスクの記録媒
体上に信号を記録再生する手段と、ディスクの異物を検
出する検出手段とを有し、検出手段の出力信号の極性に
応じて記録する信号の極性を設定するものである。

作用 本発明は上記した構成により、ディスク異物により再生
信号の影響を受けやすい部分をデータ“O"に対応するよ
うに記録の極性を設定するとともに、データ“O"の部分
が多い変調方式を用いることにより、データがディスク
異物の影響を受ける度合を低くおさえることができ、BE
Rの向上がはかれる。

実 施 例 第２図は記録膜として記録光をあてると黒化され、記録
した部分の反射率があがる相変化膜の再生信号の波形図
である。未記録部はａで記録すると反射率がｂのように
高くなる。ディスクの異物によりｃは反射率が高くな
り、再生信号が＋極性となるもので記録膜の膜厚が薄く
なったりする（ピンホール）ことにより生じる。ｄは反
射率が低くなり−極性となるもので基材内の異物等によ
り生じる。またｅのようにトラック溝形状の異常であれ
ば反射率が高くなったり、低くなったりして再生信号は
＋，−極性のどちらにもでてくるものもある。このよう
なディスク異物があるトラックに信号を記録すると第３
図のように異物に応じて記録ピットの再生信号は影響を
うけることになる。一般にｅのようなトラック溝形状の
異常はスタンパー成形時に起こりやすく、これはディス
ク製造時にスタンパーを選別すれば、このような異物の
比率は小のものを作ることは容易である。ｃまたはｄの
ような異物はディスクの蒸着とかスパッターによる記録
膜形成時、あるいはインジェクション等によるレプリカ
形成時に生じる。相変化記録膜の場合、記録膜の膜厚に
より反射率が高くなったり、低くなったりするが、いわ
ゆるピンホールは低くなるものが多い。一方ディスク基
材内の異物があると、再生信号は必らず−極性となる。
これらを勘定すればディスク異物により再生信号は−極
性に出るディスクが圧倒的に多い。この場合の再生光に
よる未記録トラックの信号は第４図のようになる。信号
を記録する変調方式としてはFM方式やモデイファイドFM
（MFM）方式等があり、一般に“1"データの連続最小ケ
数と“0"データの連続最大ケ数により変調方式が特徴づ
けられる。第４図のような光ディスクの欠陥を有する場
合、できるだけｎが大のもの例えば、２−7,2−5,8−1
0,3PMといったような変調方式を用いるとよい。これら
の変調方式で信号を記録した場合、相変化記録膜の場合
は第５図のように信号“1"に相当する部分を記録ピット
と対応させ、反射率が大となるようにすれば、前述した
変調方式では未記録ピット部（“O"データ）の占める割
合がデータとしては多くなり、従って−極性に出るディ
スク異物の影響があっても未記録ピット部である確率が
多くなる。第５図の破線部で信号をスライスして読み出
すと未記録部はディスク異物がある無いにもかかわら
ず、本来の正しい情報としての“O"データとしてよみ出
すことができ、BERの向上をはかることができる。即
ち、相変化記録膜のときは“1"データのときに記録パワ
ーをオンして記録膜を黒化、反射率を上げ、“O"データ
のとき記録パワーはオフにして記録しない。

次に記録膜として記録光をあてると記録膜に穴あけを生
じ、記録した部分の反射率がさがる穴あけ記録膜を用い
た場合、再生信号の波形図は第６図のようになる。未記
録トラック部はａで記録すると反射率がｂのように下
る。ディスク異物の影響は相変化膜と同様に−極生に出
るｃが多い。従って前述した変調方式だと“O"のデータ
が多いため穴あけ膜ではディスク異物の影響を少なくす
るためには記録ピットが“O"に相当するようにする。即
ち“O"データのときに記録パワーをオンして穴あけを行
ない、“1"データのとき記録パワーはオフとする。こう
することによりディスク異物の影響があっても第７図に
示すように記録ピット（データ“O"に相当）は更に反射
率が下ることが多く、破線部でデータを読み出したとき
記録部はディスク異物の有無にかかわらず“O"として正
しく読み取ることができ、BERの向上をはかることがで
きる。本発明の一実施例を第１図とともに説明する。１
は記録膜識別回路で、未記録部の反射率により相変化膜
と穴あけ膜の識別を行う。一般に相変化膜の未記録部の
反射率は10〜30％で、穴あけ膜の反射率は35〜60％のた
め、相変化膜の上限の30％と穴あけ膜の下限の35％との
差異を検出することで識別する。識別回路１の出力によ
り、変調信号発生器２からのデータに応じて半導体レー
ザの記録パワー制御回路３の極性を決定する。もちろん
変調された信号のデータはできるだけ“O"の多いもので
ある。相変化膜の場合、データ“1"は記録パワーをオ
ン，穴あけ膜の場合、記録パワーをオフとし、データ
“O"のときは記録パワーを各々データ“1"のときと逆に
する。記録パワー制御回路３により、変調された半導体
レーザーの出力光を１μｍ前後のビームに絞る記録再生
光学系４を介してディスク５の記録膜上に記録する。

以上のようにこの実施例によれば、ディスクの異物があ
ってもビットエラーとなりにくい記録ピットの極性およ
びデータの変調方式を用いているためBERの向上をはか
ることができる。

もちろん＋極性に出るディスク異物が多いディスクでは
信号の極性を逆転してもよいことはいうまでもない。

また信号のピット長、あるいはピット間隔にデータを含
ませた場合、信号検出として、再生信号の振幅をそのま
まスライスして検出する振幅検出方式、あるいは再生信
号を微分して零クロスの位置を検出する微分検出方式い
ずれの場合にも本発明を適用できる。

発明の効果 以上述べてきたように本発明によれば、ディスク基材内
やトラック上の異物，欠陥を検出する手段の極性に応
じ、信号の記録の極性、および変調方式を設定すること
により、ディスクの異物の影響をうけにくく、BERの向
上をはかることができ、実用的にきわめて有用である。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例における光ディスク記録再生
装置のブロック図、第２図は本発明の光ディスク記録再
生装置の相変化膜の未記録トラックの再生信号の波形
図、第３図は同記録信号の波形図、第４図は同再生信号
の波形図、第５図は同記録信号の波形図、第６図は穴あ
け膜の再生信号の波形図、第７図は穴あけ膜の記録信号
の波形図、第８図は従来の記録方式のピットとデータの
関係説明図である。 １……記録膜識別回路、２……変調信号発生器、３……
記録パワー制御回路、４……記録再生光学系、５……デ
ィスク。

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】ディスクの記録媒体上に信号を記録再生す
   る光学手段と、この光学手段により測定された未記録部
   の反射率に応じて記録膜の種類を判別する識別手段と、
   この識別手段により記録ピットの反射率が未記録部に比
   べて高くなる記録膜が識別された場合は記録パワーオン
   を変調信号のデータ“1"に対応させ、記録ピットの反射
   率が未記録部に比べて低くなる記録膜が識別された場合
   は記録パワーオンを変調信号のデータ“0"に対応させる
   記録パワー制御回路とからなる光ディスク記録再生装
   置。
2. 【請求項２】上記変調信号はデータ“0"の連続最大ケ数
   が大きな変調方式を設定した特許請求の範囲第１項記載
   の光ディスク記録再生装置。