JPS63149506A - 変位測定器 - Google Patents
変位測定器Info
- Publication number
- JPS63149506A JPS63149506A JP29495586A JP29495586A JPS63149506A JP S63149506 A JPS63149506 A JP S63149506A JP 29495586 A JP29495586 A JP 29495586A JP 29495586 A JP29495586 A JP 29495586A JP S63149506 A JPS63149506 A JP S63149506A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- gap
- emitting diode
- circuit
- light emitting
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 title claims description 17
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims abstract description 13
- 239000000284 extract Substances 0.000 claims 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
この発明は、光の反射を用いて測定対象ギヤツブのギャ
ップ長を測定する変位１定２５に関するものである。
ップ長を測定する変位１定２５に関するものである。
［従来の技術］
第２図は、例えば特開昭６１−３１９６７号公報に示さ
れた、従来の変位測定器を示す構成図である６図におい
て、（１）は発光ダイオード、（２）はこの発光ダイオ
ード（１）に電流を流す駆動回路、（３）は発光ダイオ
ード（１）が発生する光を測定対象ギャップ（Ｇ）に導
く第１の光ファイバ、（４）は変位部（１０）からの反
射光を導く第２の光ファイバ、（５）は第２の光ファイ
バ（４）の出口で反射光を受け、これを電気信号に変換
する受光素子、（６）は受光素子（５）からの電気信号
を増幅する増幅器、（７）は増￥Ａ器（６）で増幅され
たアナログの電気信号をディジタル信号に変換するＡ／
Ｄ変換器、（８）は駆動回路（２）のｆｌｉｌｆ ＩＩ
Ｉを行うと共に、Ａ ／ Ｄ変換器（７）から送られる
ディジタル信号に基づきＪｌｌｌ定対象ギャップ（Ｇ）
のギャップ長を算出する演算処理回路である。また、第
３図には、受光素子（５）での受光量と測定対象ギャッ
プ（Ｇ）のギャップ長との関係が示されている６ 次に動作について説明する。発光ダイオード（１）には
駆動回路（２）から一定の電流が流されており、これに
より発光ダイオード（１）から第１の光ファイバ（３）
を通して一定量の光が測定対象ギャップ（Ｇ）へ送られ
る０次いで第２の光ファイバ（４）にて測定対象ギャッ
プ（Ｇ）より導かれた反射光を受け、この反射光の強度
に応じた電気信号が受光素子（５）から発生される。そ
してこの電気信号を増幅器（６）で増幅した後、Ａ／Ｄ
変換器（７）でディジタル信号に変換し、演算処理回路
（８）に入力して、このディジタル信号より演算して測
定対象ギャップ（Ｇ）のギャップ長、すなわち変位部（
１０）の変位を測定する。
れた、従来の変位測定器を示す構成図である６図におい
て、（１）は発光ダイオード、（２）はこの発光ダイオ
ード（１）に電流を流す駆動回路、（３）は発光ダイオ
ード（１）が発生する光を測定対象ギャップ（Ｇ）に導
く第１の光ファイバ、（４）は変位部（１０）からの反
射光を導く第２の光ファイバ、（５）は第２の光ファイ
バ（４）の出口で反射光を受け、これを電気信号に変換
する受光素子、（６）は受光素子（５）からの電気信号
を増幅する増幅器、（７）は増￥Ａ器（６）で増幅され
たアナログの電気信号をディジタル信号に変換するＡ／
Ｄ変換器、（８）は駆動回路（２）のｆｌｉｌｆ ＩＩ
Ｉを行うと共に、Ａ ／ Ｄ変換器（７）から送られる
ディジタル信号に基づきＪｌｌｌ定対象ギャップ（Ｇ）
のギャップ長を算出する演算処理回路である。また、第
３図には、受光素子（５）での受光量と測定対象ギャッ
プ（Ｇ）のギャップ長との関係が示されている６ 次に動作について説明する。発光ダイオード（１）には
駆動回路（２）から一定の電流が流されており、これに
より発光ダイオード（１）から第１の光ファイバ（３）
を通して一定量の光が測定対象ギャップ（Ｇ）へ送られ
る０次いで第２の光ファイバ（４）にて測定対象ギャッ
プ（Ｇ）より導かれた反射光を受け、この反射光の強度
に応じた電気信号が受光素子（５）から発生される。そ
してこの電気信号を増幅器（６）で増幅した後、Ａ／Ｄ
変換器（７）でディジタル信号に変換し、演算処理回路
（８）に入力して、このディジタル信号より演算して測
定対象ギャップ（Ｇ）のギャップ長、すなわち変位部（
１０）の変位を測定する。
［発明が解決しようとする問題点］
従来の変位側定器は以上のように構成されていたのて、
受光素子（５）での受光量を測定するためにＡ／Ｄ変換
器を！ピ・要とし、これに伴い増＠器も必要となり回路
が複雑で大きくなり、またＡ／Ｄ変換器を使用する二と
によって、変位測定の処理に時間がかかる等の問題点が
あった。
受光素子（５）での受光量を測定するためにＡ／Ｄ変換
器を！ピ・要とし、これに伴い増＠器も必要となり回路
が複雑で大きくなり、またＡ／Ｄ変換器を使用する二と
によって、変位測定の処理に時間がかかる等の問題点が
あった。
この発明は上記のような問題点を解決するためになされ
たもので、回路の簡素化および縮小化が行なわれると共
に、特に、予め測定対象ギャップに対する光の必要量が
わかっている場合のギャップの判定処理に要する時間の
短縮のできる変位測定器を得ることを目的とする。
たもので、回路の簡素化および縮小化が行なわれると共
に、特に、予め測定対象ギャップに対する光の必要量が
わかっている場合のギャップの判定処理に要する時間の
短縮のできる変位測定器を得ることを目的とする。
［間に点を解決するための手段］
この発明に係る変位測定器においては、発光ダイオード
に直列に接続された、例えば抵抗値の異なる複数個の抵
抗からなる可変抵抗手段と、これらの抵抗のうちの所望
の抵抗値を持つ抵抗を介して発光ダイオーダに電流を供
給する駆動回路からなるＴＬ流制御回路を設けて、発光
ダイオードの光量な任意に変えられるようにすると共に
、反射光の強度の測定を反射光の有無の２値量として演
算処理回路に入力するようにしたものである。
に直列に接続された、例えば抵抗値の異なる複数個の抵
抗からなる可変抵抗手段と、これらの抵抗のうちの所望
の抵抗値を持つ抵抗を介して発光ダイオーダに電流を供
給する駆動回路からなるＴＬ流制御回路を設けて、発光
ダイオードの光量な任意に変えられるようにすると共に
、反射光の強度の測定を反射光の有無の２値量として演
算処理回路に入力するようにしたものである。
［作用］
この発明においては、可変抵抗手段の抵抗を個別に、ま
たは組み合わせて１定することにより、発光ダイオード
に供給する電流を電流制御回路により制御し、これによ
り発光ダイオーダからの出射光量が所望の値に、Ｉ、１
１御され、それぞれの光量の時の反射光の有無により測
定対象ギャップのギャップ長が求められる。
たは組み合わせて１定することにより、発光ダイオード
に供給する電流を電流制御回路により制御し、これによ
り発光ダイオーダからの出射光量が所望の値に、Ｉ、１
１御され、それぞれの光量の時の反射光の有無により測
定対象ギャップのギャップ長が求められる。
［実施例コ
第１図はこの発明による変位測定器の一実施例を示すブ
ロック図である。第１図においては、それぞれ抵抗値の
異なる抵抗（Ｒ，）〜（Ｒｎ）からなる可変抵抗手段（
９）と、これらの抵抗（Ｒ３）〜（Ｒｎ＞の所定のもの
をｊ１定し、これを介して発光ダイオーダ（１）に電流
を供給する駆動回路（２）とからなる破線で示された電
流制御回路（１１）が、発光ダイオーダ（１）に直列に
接続されている。また、演算処理回路（８）は駆動回路
（２）の制御を行うと共に、反射光を受けたことにより
受光素子（５）から発生される電気信号を直接入力し、
これから測定対象ギャップ（Ｇ）のギャップ長を判定す
る。
ロック図である。第１図においては、それぞれ抵抗値の
異なる抵抗（Ｒ，）〜（Ｒｎ）からなる可変抵抗手段（
９）と、これらの抵抗（Ｒ３）〜（Ｒｎ＞の所定のもの
をｊ１定し、これを介して発光ダイオーダ（１）に電流
を供給する駆動回路（２）とからなる破線で示された電
流制御回路（１１）が、発光ダイオーダ（１）に直列に
接続されている。また、演算処理回路（８）は駆動回路
（２）の制御を行うと共に、反射光を受けたことにより
受光素子（５）から発生される電気信号を直接入力し、
これから測定対象ギャップ（Ｇ）のギャップ長を判定す
る。
次に動作について説明する。演算処理回路く８）からの
＄１＋ ｆ：Ａにより、駆動回路（２）から測定対象ギ
ャップ（Ｇ）の必要ギャップ長に対応した駆動電流を流
すように可変抵抗手段（９）の抵抗（Ｒ，）〜（Ｒｎ）
の単体および組み合わせが設定され、発光ダイオーダ（
１）を駆動する。これにより発光ダイオーダ（１）はこ
の駆動電流に応じた強度の光を第１の光ファイバ（３）
を介して測定対象ギャップ（Ｇ）へ送り、測定対象ギャ
ップ（Ｇ）からの反射光を第２の光ファイバ（４）を介
して受光素子（５）に送り、受光素子（５）は受光すれ
ば電気信号を発生する。すなわち、受光素子（５）は受
光して、これが限界値を越えれば論理値“′１″、そう
でない時は論理値“Ｏ′”のいずれかのレベル信号を演
算処理回路（８）に入力し、これに従って測定対象ギャ
ップ（Ｇ）の判定がされる。
＄１＋ ｆ：Ａにより、駆動回路（２）から測定対象ギ
ャップ（Ｇ）の必要ギャップ長に対応した駆動電流を流
すように可変抵抗手段（９）の抵抗（Ｒ，）〜（Ｒｎ）
の単体および組み合わせが設定され、発光ダイオーダ（
１）を駆動する。これにより発光ダイオーダ（１）はこ
の駆動電流に応じた強度の光を第１の光ファイバ（３）
を介して測定対象ギャップ（Ｇ）へ送り、測定対象ギャ
ップ（Ｇ）からの反射光を第２の光ファイバ（４）を介
して受光素子（５）に送り、受光素子（５）は受光すれ
ば電気信号を発生する。すなわち、受光素子（５）は受
光して、これが限界値を越えれば論理値“′１″、そう
でない時は論理値“Ｏ′”のいずれかのレベル信号を演
算処理回路（８）に入力し、これに従って測定対象ギャ
ップ（Ｇ）の判定がされる。
このため、特に予め測定対象ギャップに対する光の必要
量がわかっている場合の、ギャップの判定処理を行う場
合に効果的であり、判定処理に要する時間を短縮するこ
とができる。
量がわかっている場合の、ギャップの判定処理を行う場
合に効果的であり、判定処理に要する時間を短縮するこ
とができる。
［発明の効果コ
以上のようにこの発明によれば、発光ダイオーダに供給
する電流を電流制御回路によりｖ制御して出射光量を任
意に変えられるようにし、受光側の回路を受光素子のみ
で構成し、反射光の強度の測定を反射光の有無の２値旦
として演算処理回路に入力するようにしので、回路の簡
素化および縮小化が行なわれると共に、特に予め測定対
象ギャップに対する光の必要量がわかっている場合には
、判定処理に要する時間の短縮ができるという効果が得
られる。
する電流を電流制御回路によりｖ制御して出射光量を任
意に変えられるようにし、受光側の回路を受光素子のみ
で構成し、反射光の強度の測定を反射光の有無の２値旦
として演算処理回路に入力するようにしので、回路の簡
素化および縮小化が行なわれると共に、特に予め測定対
象ギャップに対する光の必要量がわかっている場合には
、判定処理に要する時間の短縮ができるという効果が得
られる。
第１図はこの発明による変位測定器の一実施例を示すブ
ロック図、第２図は従来の変位測定器を示すブロック図
、第３図は第２図における受光量とギャップ長との関係
を示す線図である。 図において、（１）は発光ダイオード、（２）は駆動回
路、（３）は第１の光ファイバ、（４）は第２の光ファ
イバ、（５）は受光素子、（８）は演算処理回路、（９
）は可変抵抗手段、（１０）は変位部、（１１）は電流
制御回路、（Ｇ）は測定対象ギャップである。 扇１図 １ 、発光ダイオード ３ ： 第１の尤７７弓ｌで ４ ゛ 第２の た７フイハ１ ５ 、 受光章千 ９、可蜜竹寅予段 １０ ゛ 変住粗
ロック図、第２図は従来の変位測定器を示すブロック図
、第３図は第２図における受光量とギャップ長との関係
を示す線図である。 図において、（１）は発光ダイオード、（２）は駆動回
路、（３）は第１の光ファイバ、（４）は第２の光ファ
イバ、（５）は受光素子、（８）は演算処理回路、（９
）は可変抵抗手段、（１０）は変位部、（１１）は電流
制御回路、（Ｇ）は測定対象ギャップである。 扇１図 １ 、発光ダイオード ３ ： 第１の尤７７弓ｌで ４ ゛ 第２の た７フイハ１ ５ 、 受光章千 ９、可蜜竹寅予段 １０ ゛ 変住粗
Claims (1)
- 変位部に照射する光の光源である発光ダイオードと、こ
の発光ダイオードに直列に接続された可変抵抗手段およ
びこの可変抵抗手段を介して上記発光ダイオードに電流
を流すための駆動回路からなる電流制御回路と、上記発
光ダイオードにより発生された光を上記変位部との間の
測定対象ギャップに導き、さらにその反射光を取り出す
光ファイバと、この光ファイバの出口からの反射光を受
け、その光量がこれの限界値を越えた時に電気信号を発
生する受光素子と、上記駆動回路の制御および上記受光
素子からの電気信号の有無に基づいて上記測定対象ギャ
ップのギャップ長を求める演算処理回路とを備えたこと
を特徴とする変位測定器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29495586A JPS63149506A (ja) | 1986-12-12 | 1986-12-12 | 変位測定器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29495586A JPS63149506A (ja) | 1986-12-12 | 1986-12-12 | 変位測定器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63149506A true JPS63149506A (ja) | 1988-06-22 |
Family
ID=17814454
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29495586A Pending JPS63149506A (ja) | 1986-12-12 | 1986-12-12 | 変位測定器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63149506A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20030096777A (ko) * | 2002-06-17 | 2003-12-31 | 박승환 | 양면 반사 측정방식을 이용한 광섬유 변위센서 |
-
1986
- 1986-12-12 JP JP29495586A patent/JPS63149506A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20030096777A (ko) * | 2002-06-17 | 2003-12-31 | 박승환 | 양면 반사 측정방식을 이용한 광섬유 변위센서 |
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