JPS63142659A - 半導体装置の製造方法 - Google Patents

半導体装置の製造方法

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JPS63142659A
JPS63142659A JP28919286A JP28919286A JPS63142659A JP S63142659 A JPS63142659 A JP S63142659A JP 28919286 A JP28919286 A JP 28919286A JP 28919286 A JP28919286 A JP 28919286A JP S63142659 A JPS63142659 A JP S63142659A
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Tadashi Yamaguchi
忠士 山口
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、紫外線消去型プログラマブル・リード・オン
リ・メモリ(以下、EPROI(という)素子やイメー
ジセンサ等の光半導体素子を実装してなる半導体装置の
製造方法に関するものである。
(従来の技術) 半導体装置に実装される光半導体素子のうち、例えばE
PROH素子は紫外線照射により記憶情報の消去が可能
なメモリであり、またイメージセンサに代表される光電
変換素子は光信号を電気信号に変換するものである。こ
の種の光半導体素子を実装した半導体装置として、例え
ば紫外線の照射、あるいは光信号の受光のための窓部材
を有するセラミック製の中空パッケージを用い、さらに
窓部材を透光性アルミナや石英ガラス等で構成したもの
が知られている。このような半導体装置はセラミック製
のパッケージに実装されているなめ、気密封止性に優れ
信頼性が高いという利点を有する反面、コスト高になる
という欠点がある。そこで樹脂製パッケージを用いた安
価な半導体装置の製造方法が種々提案されている。
従来、この種の半導体装置の製造方法としては、特開昭
57−30351号公報に記載されるものがあった。
以下、その構成を図を用いて説明する。
第2図(a) 、 (b) 、 (C)は従来の半導体
装置の一製造方法例を示す工程図である。
この製造工程では、第2図(a)に示すように、素子搭
載部1aの周囲に複数本のリード部1bを有するリード
フレーム1を用意し、光で動作する光半導体素子、例り
ばEPROM素子2を素子搭載部1a上に固着し、さら
にそのEPROM素子2をワイヤ3によりリード部1b
と接続した後、樹脂封止用の金型4にセットする。この
金型4は上部金型4−1及び下部金型4−2を備え、そ
の上部金型4−1には底面に凹部4aを有する上下動可
能なスライド部4bが設けられると共に、下部金型4−
2の上面にも凹部4Cが設けられている。このような上
部金型4−1と下部金型4−2の間にリードフレーム1
をセットした後、図示しないゲート部により樹脂5を注
入して下部金型4−2の凹部4C内に充填する。
次に、第2図(b)に示すように、樹脂5が充填される
時間を見はからってスライド部4bを上昇させ、図示し
ない他のゲート部より紫外線透過性の樹脂6を注入して
スライド部4bの底面下に充填する。
樹脂5,6の固化後、リードフレーム1を金型4により
取り出し、そのリードフレーム1からリード部1bを切
り離すと共に、そのリード部1bの曲げ加工等を施せば
、第2図(C)に示すような樹脂封止型の安価な半導体
装1が得られる。
このような半導体装置は、上方から紫外線を照射すると
、その紫外線が樹脂6を通してEPROM素子2上に入
射され、そのEPROM素子2に書込まれた情報が消去
される。新たな情報はリード部1bを通してEPRO)
l素子2に再書込みを行うことが可能となる。
(発明が解決しようとする問題点) しかしながら、上記の製造方法では、金型4の構造が複
雑になってしまい、成形加工が困難である池、樹脂注入
の装置も特種なものが必要であり、しかも注入の方法も
、最初に注入する樹脂5の充填時間の管理が難しく、素
子搭載部1aに樹脂5が回り込むおそれがあるので注入
圧力を高く設定できず、それによって気泡や未充填の発
生等といった問題点があった。また、窓部材として紫外
線透過性樹脂6を用いているが、その樹脂粒子の状態が
不均一であるため、透過光線の屈折率が変化し、信頼性
が低くなるという問題点もあった。
本発明は前記従来技術が持っていた問題点のうち、金型
の構造の複雑化と、樹脂注入方法の困難性の点について
解決した半導体装置の製造方法を提供するものである。
(問題点を解決するための手段) 本発明は前記問題点を解決するために、素子搭載部の周
囲に回路パターンが形成されたプリント基板を用い、そ
の素子搭載部上に光により動作する半導体素子を固着し
その半導体素子を前記回路パターンの内方端部に接続す
ると共に、その回路パターンの外方端部に外部引出し用
のリードを接続する工程と、金型を用いて前記素子搭載
部を包囲するように前記プリント基板のリード接続箇所
を樹脂封止する工程と、前記素子搭載部上の半導体素子
を光透過性の窓部材で封止する工程とを、順次施すよう
にしたものである。
(作用) 本発明によれば、以上のように半導体装置の製造方法を
構成したので、半導体素子を搭載するプリント基板はそ
の樹脂成形時における素子搭載部側への注入樹脂の流入
を阻止するように働き、樹脂注入圧の高設定を可能にさ
せると共に、金型及び樹脂注入装置の構造を簡易化させ
る。また窓部材は成形樹脂と共に半導体素子を封止する
ように働く。従って前記問題点を除去できるのである。
(実施例) 第1図(a) 、 (b) 、 (c)は本発明の一実
施例を示す半導体装置の製造工程図であり、以下それら
の図面を参照しつつ本実施例の製造方法を説明する。
(1)第1図(a)の工程 表面に素子搭載部10aとその周囲に形成された回路パ
ターン10bとを有するプリント基板10を用意し、光
により動作する半導体素子、例えばEPRO)l素子1
1を素子搭載部10a上に固着し、さらにそのEPRO
M素子11をワイヤ12により回路パターン10bの内
方端部に接続した後、その回路パターン10bの外方端
部に、外部引出し用の複数本のリード13を低温半田や
スポットウェルド等の手段を用いて電気的および機械的
に接続する。
なお、回路パターン10bとリード13との接続は、E
PROM素子11の搭載前に行なってもよい。
(2)第1図(b)の工程 上部金型14−1及び下部金型14−2を有する樹脂封
止用の金型14を用意する。上部金型14−1の底面に
は、EPROM素子11を収容するための凹部14aと
、その凹部14aの外周を包囲するように回路パターン
10bとリード13の接続箇所を収容するための枠状の
溝14と、凹部14aと溝14を分離する隔壁部14c
とが形成されている。また下部金型14−2の上面には
、プリント基板10を収容する凹部14dと、その外縁
を包囲するように前記溝14bに対向配置された溝14
eとが形成されている。そしてそれらの溝14b 、 
14eには、図示されていないが樹脂注入口が連設され
ている。
このような金型14を用い、その下部金型14−2の凹
部14dにプリント基板10をセットし、上方から上部
金型14−1の底面を接合すると、プリント基板10は
上部金型14−1の隔壁部14cと下部金型14−2の
凹部14dとで金型14に固定されている。その後、図
示しない樹脂注入口から樹脂15を注入すると、その樹
脂15が上下の溝14b 、 14e内に充填される。
この際、清14b 、 14bはプリント基板10及び
隔壁部14cによって上部金型14−1の凹部14aと
遮断されているため、素子搭載部10aへの樹脂15の
流入が防止される。
(3)第1図(C)の工程 樹脂15が固化した後、プリント基板10及びリード1
3を金型14から取り出し、その樹脂15の上端開口部
に、アルミナ、石英ガラス等からなる光透過性の板状窓
部材16を接着剤17により封止固定する。
その後、リード13の曲げ加工等を施せば、中空の樹脂
パ・ンケージに実装された半導体装置が得られる。
本実施例では次のような利点を有する。
プリント基板10の素子搭載部10a上にEPROM素
子11を搭載し、その素子搭載部10aを露出させかつ
素子搭載部10aへ樹脂15が流入しないような構造の
金型14を用いて、プリント基板10を包み込むように
樹脂成形を行った後、窓部材16により封止を行うため
、金型14の構造も従来と比較して簡単であり、さらに
樹脂注入の装置も一最に用いられているものと同程度の
もので充分である。また樹脂成形の際に素子搭載部10
aには金型14の構造上、樹脂15が流入しないため、
樹脂15の注入圧力を高く設定することができ、それに
よって気泡の発生や未充填状態の問題も解決できる。従
って低価格で量産性に優れた高品質の半導体装置の提供
が可能となる。
なお、本発明は図示の実施例に限定されず、種々の変形
が可能である。その変形例としては、例えば次のような
ものがある。
(i) 上記実施例では下部金型14−2に凹部14d
を設けたなめ、プリント基板10の裏面が外部に露出し
ている。機械的強度をより大きくするために、第3図の
ような変形例も採用できる。
すなわち、前記第1図(a)の工程において、プリント
基板10の裏面に樹脂部材18を固着しておき、その後
第1図(b)の工程において、金型14を用いて樹脂封
止を行えば、プリント基板10の裏面が樹脂部材18で
おおわれて外部に露出しない。これにより機械的強度や
水分等の阻止力をより向上させることができる。また下
部金型14−2にプリント基板収容用の凹部14dを設
ける必要もない。
(11)  半導体素子としてEPf?ON素子11を
用いた場合、必ずしも板状の窓部材16を用いる必要は
なく、ポツティング等の手段を用いて紫外線透過性樹脂
により封止を行ってもよい。
<1ii)  半導体素子としてはEPRO)l素子1
1の他、イメージセンサに代表される光電変換素子等の
他の光半導体素子を用いることもできる。
(発明の効果) 以上詳細に説明したように、本発明によれば、プリント
基板上に半導体素子を搭載し、そのプリント基板を包み
込むように金型を用いて樹脂成形した後、窓部材で半導
体素子を封止したので、金型や樹脂注入装置は簡単な構
造のものでよく、さらに樹脂注入圧を高くして気泡の発
生や未充填状態を防止でき、それによって低価格、高品
質かつ量産性に優れる半導体装置の提供が可能となる。
また従来まったく不可能であった光素子の樹脂成形バ・
ソケージへの搭載も、本発明を用いれば容易に行える。
【図面の簡単な説明】
第1図(a) 、 (b) 、 (C)は本発明の実施
例を示す半導体装置の製造工程図、第2図(a) 、 
(b) 。 (、C)は従来の半導体装置の製造工程図、第3図は第
1図の変形例を示す図である。 10−・・・・・プリント基板、10a・・・・・・素
子搭載部、10b・・・・・・回路パターン、11・・
・・・・EPROH素子(半導体素子)、13・・・・
・・リード、14・・・・・・金型、14−1・・・・
・・上部金型、14−2・・・・・・下部金型、14a
・・・・・・凹部、14b 、 14e・・・・・・溝
、15・・・・・・樹脂、16・・・・・・窓部材、1
8・・・・・・樹脂部材。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 素子搭載部の周囲に回路パターンが形成されたプリント
    基板を用い、 その素子搭載部上に光により動作する半導体素子を固着
    しその半導体素子を前記回路パターンの内方端部に接続
    すると共に、その回路パターンの外方端部に外部引出し
    用のリードを接続する工程と、 金型を用いて前記素子搭載部を包囲するように前記プリ
    ント基板のリード接続箇所を樹脂封止する工程と、 前記素子搭載部上の半導体素子を光透過性の窓部材で封
    止する工程とを、 順次施したことを特徴とする半導体装置の製造方法。
JP28919286A 1986-12-04 1986-12-04 半導体装置の製造方法 Expired - Lifetime JPH079951B2 (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH031440U (ja) * 1989-05-23 1991-01-09
WO1996012303A1 (en) * 1994-10-14 1996-04-25 National Semiconductor Corporation Integrated circuit package assembly including a window and methods of manufacturing

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH031440U (ja) * 1989-05-23 1991-01-09
WO1996012303A1 (en) * 1994-10-14 1996-04-25 National Semiconductor Corporation Integrated circuit package assembly including a window and methods of manufacturing

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