JPS63141447U - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPS63141447U JPS63141447U JP3423487U JP3423487U JPS63141447U JP S63141447 U JPS63141447 U JP S63141447U JP 3423487 U JP3423487 U JP 3423487U JP 3423487 U JP3423487 U JP 3423487U JP S63141447 U JPS63141447 U JP S63141447U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- reflected light
- rotates
- sector
- detection means
- plane parallel
- Prior art date
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- Pending
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
第1図は本考案の実施例装置を示す構成図、第
2図は第1図の本考案実施例装置において用いら
れる回転セクターの平面図である。 2……物体、3……光源、5……受光部、6…
…信号処理部、7……回転セクター、7a……基
準面、7b……切欠部。
2図は第1図の本考案実施例装置において用いら
れる回転セクターの平面図である。 2……物体、3……光源、5……受光部、6…
…信号処理部、7……回転セクター、7a……基
準面、7b……切欠部。
Claims (1)
- 測定すべき物体の表面に所定の入射角で光を照
射する光源と、反射率が既知の基準面と切欠部を
有し、前記物体と平行な面内を回転する回転セク
ターと、前記物体からの反射光と前記回転セクタ
ーの基準面からの反射光とを受光する反射光検出
手段と、この反射光検出手段で検出された、前記
物体からの反射光と前記基準面からの反射光とに
基づき、前記物体の反射率を演算する演算手段と
を具備する物体の光学的特性測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3423487U JPS63141447U (ja) | 1987-03-09 | 1987-03-09 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3423487U JPS63141447U (ja) | 1987-03-09 | 1987-03-09 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63141447U true JPS63141447U (ja) | 1988-09-19 |
Family
ID=30842590
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3423487U Pending JPS63141447U (ja) | 1987-03-09 | 1987-03-09 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63141447U (ja) |
-
1987
- 1987-03-09 JP JP3423487U patent/JPS63141447U/ja active Pending