JPS63137426A - 電子ビームパターン発生器 - Google Patents

電子ビームパターン発生器

Info

Publication number
JPS63137426A
JPS63137426A JP62294273A JP29427387A JPS63137426A JP S63137426 A JPS63137426 A JP S63137426A JP 62294273 A JP62294273 A JP 62294273A JP 29427387 A JP29427387 A JP 29427387A JP S63137426 A JPS63137426 A JP S63137426A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
aperture
rectangular
electron beam
image
spot
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP62294273A
Other languages
English (en)
Inventor
ジェームス・パトリック・ビースレイ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Koninklijke Philips NV
Original Assignee
Philips Gloeilampenfabrieken NV
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Philips Gloeilampenfabrieken NV filed Critical Philips Gloeilampenfabrieken NV
Publication of JPS63137426A publication Critical patent/JPS63137426A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y10/00Nanotechnology for information processing, storage or transmission, e.g. quantum computing or single electron logic
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/30Electron-beam or ion-beam tubes for localised treatment of objects
    • H01J37/317Electron-beam or ion-beam tubes for localised treatment of objects for changing properties of the objects or for applying thin layers thereon, e.g. for ion implantation
    • H01J37/3174Particle-beam lithography, e.g. electron beam lithography
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y40/00Manufacture or treatment of nanostructures
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/30Electron-beam or ion-beam tubes for localised treatment of objects
    • H01J37/3002Details
    • H01J37/3007Electron or ion-optical systems
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2237/00Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
    • H01J2237/15Means for deflecting or directing discharge
    • H01J2237/1505Rotating beam around optical axis
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J2237/00Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
    • H01J2237/30Electron or ion beam tubes for processing objects
    • H01J2237/317Processing objects on a microscale
    • H01J2237/3175Lithography
    • H01J2237/31776Shaped beam

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Nanotechnology (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Electron Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は電子ビームスポットの形を変えることができる
電子ビームパターン発生器に関するものである。特に、
本発明は電子ビームを発生する電子銃と、電子ビームの
断面形状を矩形に整形する第1矩形アパーチャと、この
第1矩形アパーチャの像を第2矩形アパーチャの面上に
集束する電子光学レンズと、この像を第2矩形アパーチ
ャの面の上方で偏向するビーム整形偏向装置と、第2矩
形アパーチャから出る電子ビームをターゲット面上に投
射して第1矩形アパーチャの像と第2矩形アパーチャの
重複部分から成る整形ビームスポットを形成する手段と
、この整形ビームスポットをターゲット面に沿って走査
させてパターンを発生させる走査手段と具えた電子ビー
ムパターン発生器に関するものである。斯パターン発生
器は集積回路のパターンを基板上の電子感応レジストに
書き込むのに使用されている。斯かる電子ビームパター
ン発生器の一例が欧州特許第0.049.87213号
に開示されている。そのビーム整形偏向系によれば一定
の電流密度及び種々の大きさ並びに縦横比の矩形電子ビ
ームスポットを発生させることができる。しかし、この
パターン発生器では細い線はこれらの線が矩形スポット
の辺に平行である場合にしか迅速に書き込むことができ
ない。即ち、斜めの線又は斜めのエツジの書込みが必要
とされる場合、斜めのエツジの出発位置から終わりの位
置まで互いに隣接させて多数回の平行スリットの露光を
行わなければならないので、かなり時間が斯かる。
現在のVLSIにおいては45@角の斜めのエツジ及び
斜めの線をいくつかのウェファ製造工程、特に相互接続
層に使って高い集積密度を達成することが一般的になっ
てきている。
rJournal of Vacuum 5cienc
e and TechnologyB3(1) J J
an、/Feb、 1985. p185に発表されて
いるLee H,Veneklasenの論文“A h
igh 5peed IEBLcolum diesi
gned to minimise beam 1nt
eractions”に、2個の第2矩形アパーチャを
、一方のアパーチャの辺が他方のアパーチャの辺に対し
45°になるように並べて設けた電子ビームパターン発
生器が開示されている。このパターン発生器では第1矩
形アパーチャの像を一方又は他方の第2アパーチャに重
複させて矩形又は直角二等辺三角形のビームスポットを
発生するようにしている。そしてこのために2個の第1
アパーチャを並べて設け、更に電子ビームを一方の第1
アパーチャ及びこれに関連する第2アパーチャから他方
の第1アパーチャ及びこれに関連する第2アパーチャへ
切換える手段を設けている。
本発明の目的は唯1個の第1アパーチャ及び唯1個の第
2アパーチャと簡単な電子光学系を用いて電子ビームス
ポットの大きさ及び形を制御し得るようにした電子ビー
ムパターン発生器を提供することにある。
本発明は頭書に記載したタイプの電子ビームパターン発
生器において、前記電子光学レンズを磁束が可逆の磁気
レンズとし、該レンズの磁束は22.5+n・45度(
n=0. 1. 2.・・・)の像回転を生じ、一方の
磁束方向では第1矩形アパーチャの集束像の辺が第2矩
形アパーチャの辺に平衡になり、前記ビーム整形偏向装
置により第2アパーチャ上の第1アパーチャ像の重複部
分を矩形にすることができ、且つ他方の磁束方向では第
1矩形アパーチャの集束像の辺が第2矩形アパーチャの
辺に対し45度になり、前記ビーム整形偏向装置により
第2アパーチャ上の第1アパーチャ像の重複部分を直角
二等辺三角形にすることができるようにしたことを特徴
とする。このように一方のアパーチャを他方のアパーチ
ャ上に結像するために必ず存在する電子光学レンズを像
回転特性を有する磁気レンズとすることにより得られる
利点は矩形スポットも三角形スポットも得ることができ
る点にあり、この場合電子ビームを切換える装置は不要
になる。
矩形スポットから三角形スポットへの変更に要する時間
は、いくつかのパターンにおいては多数回の斯かる変更
が必要とされるので、パターン発生器の総合書込み速度
に関し重要である。本発明の電子ビームパターン発生器
にふいては、電子光学レンズをビームの周囲に同軸的に
巻かれた、強磁性材料を殆ど含まないコイルで構成する
のが有利である。この場合電子光学レンズのインダクタ
ンスが最小になり、所定の印加電圧によるレンズ内の磁
束の急速な逆転及び従ってスポット形状の急速な変更が
可能になる。
直交する2方向にスポットの大きさに関し同じ範囲を得
るために、本発明においては、更に、第1および第2矩
形アパーチャを正方形にすることができる。この場合、
本発明を用いて直角二等辺三角形を発生させるときに直
角をはさむ三角形の2辺を第1アパーチャの4辺のうち
の2辺に平行にして4つの向きの直角三角形を得ること
ができる。成る又、直角三角形の斜辺を第1アパーチャ
の4辺のうちの1辺に平行にして他の4つの向きの直角
三角形を得ることもできる。また、ビーム整形偏向装置
を用いて第1アパーチャの像を第2アパーチャに対し適
当に偏向させて90度、45度及び135度の角の組合
せを有する直角二等辺三角形から8つの角が全て135
度の大角形までの図形を発生させることができる。
第2アパーチャは第1アパーチャの像と同一の大きさに
する必要はない。例えば第1アパーチャの像を第2アパ
ーチャより大きくし、第1アパーチャの像を第2アパー
チャ上に中心に位置させると、第2アパーチャの形に対
応する矩形のスポットを形成することができる。これが
ため、この場合には三角形モードにおいても第1アパー
チャの像と第2アパーチャをセンタリングすることによ
り一定サイズの矩形スポットを得ることができる。
本発明の主な目的は矩形スポット又は主角形スポットを
発生させることにあるが、他の形のスポットを発生させ
ることもできる。
電子光学レンズ内の磁束を逆転させるのに要する時間は
電子ビームパターン発生器の書込み速度の重要な決定要
素であることは既に述べた。走査手段の走査範囲により
カバーされる領域の書込み中に行われる磁束の逆転の回
数を最小にてきればこれに応じて書込み速度が増大する
。これがため、本発明の電子ビームパターン発生器の使
用に当たっては、前記走査手段の走査範囲によりカバー
されると共に整形ビームスポットを露光すべき矩形領域
を複数の列に分割し、前記電子光学レンズの磁束方向を
一方の方向にして1つの列をその上端から下端へと露光
し、次いで磁束方向を逆転してこの列の下端から上端へ
と露光し、次にこの逆方向の磁束をそのまま維持して隣
の列をその上端から下端へと露光し、次いで磁束方向を
逆転してこの列の下端から上端へと露光して、各列を両
磁束方向で露光するのに1回の磁束逆転を必要とするだ
けとする。この場合、所定の領域を書き込むのに必要と
される磁束の逆転回数が最少になる。
以下、図面につき本発明の詳細な説明する。
第1図は電子ビームパターン発生器のスポット整形シス
テムの構成を示す斜視線図であり、第2図は電子ビーム
パターン発生器の全体の構成を示す線図である。電子銃
1は電子ビームを発生し、その中心電子線2のみを示し
である。第1整形レンズ3は電子銃のクロスオーバをビ
ーム整形偏向装置6の位置に結像すると共にビームを第
1マスク5の第1矩形アパーチャ4に投射する。レンズ
3は光学レンズとして示しであるが通常の磁気レンズで
ある。第2図でも同様である。ビーム矩形偏向装置6は
直流電圧を印加して電子ビームを直交する2方向に偏向
する2対の互いに直交する静電偏向板として線図的に示
しであるが、同じ位置に2対の直交サドルコイルを用い
て磁気偏向を与えるようにすることもできる。電子光学
レンズ7はアパーチャ4の像8,8′を第2矩形アパー
チャ10を有する第2マスク9の面上に集束するもので
ある。ビーム整形偏向装置6を用いて像8,8′を任意
の方向に任意の量だけ偏向して第1アパーチャの像と第
2アパーチャの重複部分から成る整形ビームスポットを
形成することができる。第2図には整形ビームスポット
をターゲット面12に沿って走査させてパターンを発生
させる第2ビーム偏向装置11も示しである。最終対物
レンズ13はターゲット上のスポットを所要の大きさに
縮小し集束するものである。
電子光学レンズ7はビームの周囲に同軸的に巻いたコイ
ルとして示しである。このコイルは強磁性材料のないも
のとすると共にできるだけ小さくしてそのインダクタン
スが最小になるようにするのが望ましい。レンズ7は電
磁レンズであるため、このレンズはその像をその物体源
に対し、レンズの軸方向磁界成分Bの軸方向積分値に比
例する角度だけ回転させる。しかし、レンズ7の集束作
用は軸方向磁界成分の2乗の軸方向積分値に比例する。
従って、軸方向磁界成分Bと第1及び第2アパーチャ面
間の距離を、鋭い集束が所定の角度の像回転とともに得
られるように選択することができる。また、レンズ7の
コイルの直流励磁電流の逆転により集束を維持したまま
像の回転方向を逆転することができる。従って、レンズ
の直流励磁電流を逆転することによりレンズ回転の2倍
に等しい総合像回転を発生させることができる。
これがため、ビーム整形偏向装置は励磁電流の方向に依
存する2つのモードの何れのモードでも動作させること
ができる。第1矩形アパーチャと第2矩形アパーヤチの
対応する辺を互いに22.5度の角度をなすよう設定し
、レンズ回転を例えば22.5度に選択すると、第1の
モードでは第1アパーチャの像の辺が第2アパーチャの
辺に平行になる。この場合、第2アパーチャ上における
第1アパーチャ像の重複部分は矩形になり、その縦横比
を偏向装置6によりこの像に与えられる偏向に応じて調
整することかできる。第2のモードではレンズ7の励磁
電流が逆転され、第1アパーチャの像の辺が第2アパー
チャの辺に対し45度になる。
両モードにおける重複状態を第1図の下部に示してあた
、8は第1モードにおける像、8′は第2モードにおけ
る像である。
第3図は両モードにおける代表的な重複状態を示す。第
3図のAでは第1モードが動作中で、重複部分は矩形3
0になる。B、C,D及びEでは第2モードが動作中で
ある。Bは像の偏向がない場合の重複部分を示し、8角
形のスポット31が形成される。Cは像を偏向して他の
2角が45度の所望の直角二等辺三角形を4つの向きに
形成し得ることを示す。DはCに示す三角形と向きが4
5°異なる他の4つの45度の直角三角形を発生し得る
ことを示す。C及びDの何れの場合にも発生させる三角
形の大きさは任意に選択し得る像の偏向量により決まる
以上では、第1アパーチャの像と第2アパーチャは同一
の大きさの矩形であるものとしたが、実際には第1アパ
ーチャの像と第2アパーチャとの相対寸法については何
の制限もない。第3図のEでは第1アパーチャの像を第
2アパーチャの2倍の面積を有する矩形にしである。こ
の場合には発生し得る直角二等辺三角形の最大寸法が大
きくなる。
iレンズの回転は22.5度に限定されず、実際には2
2.5+n・45度(n=Q、  t、  2.・・・
)にすることができる。例えばn=1の場合、レンズ回
転は67.5度であり、総合正逆回転角は135°にな
る。
第1及び第2アパーチャは矩形であるため、45度に追
加される90度又はその整数倍の回転は第1アパーチャ
像の辺を第1モードでは第2アパーチャの辺に平行に、
第2モードでは45度に保つことになる。nの選択によ
り、レンズ7の設計が容易になる。
第2図には実際の電子ビームパターン発生器の構成を示
しである。前述の構成素子に加えて、ビームをスポット
移動中スイッチオフし、所定の期間中スイッチオン又は
“フラッシュ”させるビーム消去器14を設けて所望の
電子露光を行うことができるようになっている。更に、
コンデンサレンズ15及び16を設けて対物レンズ13
によりスポットの最終縮小を与える前に所望のスポット
縮小を発生させて非点収差補正器のような他の装置を配
置し得る場所が得られるようにしである。
第4図は本発明を用いて45度で傾斜する線を書き込む
際に得られる書込速度とパターン精細度の改善を示すも
のである。Aでは電子ビームパターン発生器は1つの向
きの矩形しか書き込む能力を持たないものとする。この
場合には斜めの線はスポットを許容し得るエツジ精細度
と一致する垂直高さの水平の長い矩形に整形することに
より発生される。最初の露光40を行った後にビームを
ターンオフすると共に矩形の高さだけ垂直方向及び水平
方向に移動させ、次いで次の露光41を行う。この処理
を所要の回数をくり返して所要の長さの斜めの線を発生
させる。Bでは本発明の第2モードを用いて斜めの線の
水平幅に等しい長さの底辺を有する直角二等辺三角形を
発生させる。露光40に等しい時間の最初の露光により
直角二等辺三角形42を発生させる。次いでビームをタ
ーンオフさせると共にビーム整形偏向装置を付勢して三
角形42と同じ大きさであるが反対向きの三角形43を
発生させる。次いで第2ビーム偏向装置11を用いて三
角形43を三角形42に隣接させて斜めの線の第1線分
が得られるようにして第2の露光を行う。この第4図の
例では已における2回の三角形の露光によりAにおける
14回の矩形の露光によりカバーされる区域に等しい区
域を露光することができるため、露光回数を7分の1に
低域するとこができると共に、階段状の縁の線ではなく
なめらかな縁の縁を得ることができる。
第5及び第6図は本発明を用いて発生させることができ
る2つの代表的なパターンを示す。種々の縦横比及び大
きさの矩形と種々の向き及び大きさの直角二等辺三角形
とを種々に組合せて基板上に広範囲の形状の露光区域を
発生させることができること明かである。これら形状の
45度の斜めの縁は水平及び垂直の縁と同一のなめらか
さ及び鮮鋭度で得られる。
第7図は、電子光学レンズの磁束の逆転回数を最少にす
る基板の露光方法を示すものである。基板上の代表的に
は2 mm X 2 mmの方形領域70が走査手段の
走査範囲によりカバーされるものとする。
領域70を代表的には50μmと50μmのサブ方形区
域の列に分割する。初めに、第1列の上端71において
矩形72を発生する磁束方向を選択する。次いでサブ区
域73内の全ての矩形を書き込み、続いてサブ区域74
.75及び76内の矩形を順に書き込む。
第1列の下端において磁束を逆転させて三角形77を発
生させる。次いでサブ区域76内の全ての三角形を書き
込み、続いてサブ区域75.74及び73内の全ての三
角形を順に書き込む。第1列の上端71において整形ビ
ームスポットを磁束の逆転を行わずに隣の列78の上端
へと移動させる。次いで、列78の全てのサブ区域内の
三角形を列の上端から下端へと書き込む。列78の下端
において磁束の逆転を行って矩形79を発生させる。次
いで列78内の全ての矩形を上端から下端へと書き込む
。列7日の上端においてスポ7)を隣の列の上端に移動
させてこの列内の矩形を書き込む状態にする。このとき
の磁束方向は第1列の上端71における磁束方向と同一
になる。この書込みシーケンスを全ての列に対してくり
返す。本例の方法では各列の下端において1列につき1
回磁束逆転を行うだけでよい。これがため、磁束逆転の
回数が最少になり、これに応じて書込み速度が増大する
尚、各サブ区域内の矩形及び三角形の書込みを次のサブ
区域に移る前に完了させることも好適である。特に微細
なパターンを書込む場合には矩形と三角形の位置合わせ
が極めて重要である。矩形と三角形を1つのサブ区域に
順次書込む場合、ビーム偏向回路におけるドリフト作用
が最小になる。
この場合には1つのサブ区域内の矩形を書き込み、続い
てレンズの磁束逆転後にこのサブ区域内の三角形を書き
込む。次いでビームを次の隣接サブ区域に移動させ、最
初にこの区域内の三角形を書き込み、続いて磁束逆転後
に矩形を書き込む。このようにすると1サブ区域につき
1回の磁束逆転が必要とされるだけとなる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明電子ビームパターン発生器のスポット整
形システムの斜視構成図、 第2図は本発明電子ビームパターンの全体の構成図、 第3図は本発明により得られるスポット形状の範囲を示
す図、 第4図は45度の斜めの線を書き込む際に得られる書込
み速度の増大を説明するための図、第5及び第6図は本
発明により発生し得る代表的な単位パターンの2例を示
す図、 第7図は基板を整形電子ビームで露光する方法の一例を
説明するための図である。 1・・・電子銃 2・・・電子ビームの中心電子線 3・・・第1整形レンズ 4・・・第1矩形アパーチャ 5・・・第1マスク 6・・・ビーム整形偏向装置 7・・・電子光学レンズ(磁気レンズ)8.8′・・・
第1矩形アパーチャの像9・・・第2マスク 10・・・第2矩形アパーチャ 11・・・第2ビーム偏向装置(走査手段)12・・・
ターゲット面 13・・・最終対物レンズ 14・・・ビーム消去器 15、16・・・コンデンサレンズ 70・・・走査手段でカバーされる矩形領域73〜76
・・−短形サブ区域 72、79・・・矩形スポット 77・・・三角形スポット 特許出願人  エヌ・ベー・フィリップス・フルーイラ
ンペンファフリケン

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、電子ビームを発生する電子銃と、電子ビームの断面
    形状を矩形に整形する第1矩形アパーチャと、この第1
    矩形アパーチャの像を第2矩形アパーチャの面上に集束
    する電子光学レンズと、この像を第2矩形アパーチャの
    面の上方で偏向するビーム整形偏向装置と、第2矩形ア
    パーチャから出る電子ビームをターゲット面上に投射し
    て第1矩形アパーチャの像と第2矩形アパーチャの重複
    部分から成る整形ビームスポットを形成する手段と、こ
    の整形ビームスポットをターゲット面に沿って走査させ
    てパターンを発生させる走査手段と具えた電子ビームパ
    ターン発生器において、前記電子光学レンズを磁束が可
    逆の磁気レンズとし、該レンズの磁束は22.5+n・
    45度(n=0、1、2、・・・)の像回転を生じ、一
    方の磁束方向では第1矩形アパーチャの集束像の辺が第
    2矩形アパーチャの辺に平衡になり、前記ビーム整形偏
    向装置により第2アパーチャ上の第1アパーチャ像の重
    複部分を矩形にすることができ、且つ他方の磁束方向で
    は第1矩形アパーチャの集束像の辺が第2矩形アパーチ
    ャの辺に対し45度になり、前記ビーム整形偏向装置に
    より第2アパーチャ上の第1アパーチャ像の重複部分を
    直角二等辺三角形にすることができるようにしたことを
    特徴とする電子ビームパターン発生器。 2、前記電子光学レンズはビームの周囲に同軸的に巻か
    れた、強磁性材料を殆ど含まないコイルで構成したこと
    を特徴とする特許請求の範囲第1項記載の電子ビームパ
    ターン発生器。 3、前記第1及び第2矩形アパーチャは正方形にしてあ
    ることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の電子ビ
    ームパターン発生器。 4、前記走査手段の走査範囲によりカバーされると共に
    整形ビームスポットを露光すべき矩形領域を複数の列に
    分割し、前記電子光学レンズの磁束方向を一方の方向に
    して1つの列をその上端から下端へと露光し、次いで磁
    束方向を逆転してこの列の下端から上端へと露光し、次
    にこの逆方向の磁束をそのまま維持して隣の列をその上
    端から下端へと露光し、次いで磁束方向を逆転してこの
    列の下端から上端へと露光して、各列を両磁束方向で露
    光するのに1回の磁束逆転を必要とするだけであること
    を特徴とする特許請求の範囲第1〜3項の何れかに記載
    の電子ビームパターン発生器の使用方法。 5、前記走査手段の走査範囲によりカバーされると共に
    整形ビームスポットで露光すべき領域を複数のサブ区域
    に分割し、前記電子光学レンズの磁束方向を一方の方向
    として1つのサブ区域を矩形スポットで露光し、次いで
    磁束方向を逆転してこのサブ区域を三角形スポットで露
    光し、次にこの逆方向の磁束をそのまま維持して隣のサ
    ブ区域を三角形スポットで露光し、次いで磁束方向を逆
    転してこのサブ区域を矩形スポットで露光して、各サブ
    区域を両磁束方向で露光するのに1回の磁束逆転を必要
    とするだけであることを特徴とする特許請求の範囲第1
    〜3項の何れかに記載の電子ビームパターン発生器の使
    用方法。
JP62294273A 1986-11-24 1987-11-24 電子ビームパターン発生器 Pending JPS63137426A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
GB08628058A GB2197751A (en) 1986-11-24 1986-11-24 Variable shaped spot electron beam pattern generator
GB8628058 1986-11-24

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS63137426A true JPS63137426A (ja) 1988-06-09

Family

ID=10607834

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP62294273A Pending JPS63137426A (ja) 1986-11-24 1987-11-24 電子ビームパターン発生器

Country Status (4)

Country Link
US (1) US4825033A (ja)
EP (1) EP0269181A3 (ja)
JP (1) JPS63137426A (ja)
GB (1) GB2197751A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04364716A (ja) * 1991-06-12 1992-12-17 Fujitsu Ltd 荷電ビーム露光方法
JP2008521254A (ja) * 2004-11-22 2008-06-19 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド 成形ビーム書き込みシステムにおける臨界寸法均一性に対する低周波数エラーソースを排除する方法

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2835097B2 (ja) * 1989-09-21 1998-12-14 株式会社東芝 荷電ビームの非点収差補正方法
JP2625219B2 (ja) * 1989-10-23 1997-07-02 株式会社日立製作所 電子線描画装置
DE4208484C2 (de) * 1992-03-14 1998-09-17 Ald Vacuum Techn Gmbh Magnetisches Ablenksystem für einen Hochleistungs-Elektronenstrahl
US5663568A (en) * 1995-10-20 1997-09-02 Lucent Technologies Inc. Apparatus for controlling a charged particle beam and a lithographic process in which the apparatus is used
US6225637B1 (en) * 1996-10-25 2001-05-01 Canon Kabushiki Kaisha Electron beam exposure apparatus
US7448734B2 (en) * 2004-01-21 2008-11-11 Silverbrook Research Pty Ltd Inkjet printer cartridge with pagewidth printhead
US7244953B2 (en) * 2005-10-03 2007-07-17 Applied Materials, Inc. Beam exposure writing strategy system and method
JP4870437B2 (ja) * 2006-01-11 2012-02-08 株式会社ニューフレアテクノロジー 偏向収差補正電圧の演算方法及び荷電粒子ビーム描画方法
US20120219886A1 (en) 2011-02-28 2012-08-30 D2S, Inc. Method and system for forming patterns using charged particle beam lithography with variable pattern dosage
US9341936B2 (en) 2008-09-01 2016-05-17 D2S, Inc. Method and system for forming a pattern on a reticle using charged particle beam lithography
US9448473B2 (en) 2009-08-26 2016-09-20 D2S, Inc. Method for fracturing and forming a pattern using shaped beam charged particle beam lithography
US9612530B2 (en) 2011-02-28 2017-04-04 D2S, Inc. Method and system for design of enhanced edge slope patterns for charged particle beam lithography
US9034542B2 (en) 2011-06-25 2015-05-19 D2S, Inc. Method and system for forming patterns with charged particle beam lithography
JP6234998B2 (ja) 2012-04-18 2017-11-22 ディー・ツー・エス・インコーポレイテッドD2S, Inc. 荷電粒子ビームリソグラフィを用いてパターンを形成するための方法およびシステム
US9343267B2 (en) 2012-04-18 2016-05-17 D2S, Inc. Method and system for dimensional uniformity using charged particle beam lithography

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE139983C (ja) *
US4182958A (en) * 1977-05-31 1980-01-08 Rikagaku Kenkyusho Method and apparatus for projecting a beam of electrically charged particles
GB2055243B (en) * 1979-08-01 1983-07-06 Zeiss Jena Veb Carl Method and device for tilting planar beam probes
JPS5740927A (en) * 1980-08-26 1982-03-06 Fujitsu Ltd Exposing method of electron beam
JPH0732108B2 (ja) * 1982-07-28 1995-04-10 株式会社日立製作所 電子線露光装置
US4544847A (en) * 1983-07-28 1985-10-01 Varian Associates, Inc. Multi-gap magnetic imaging lens for charged particle beams
GB8415623D0 (en) * 1984-06-19 1984-07-25 Nixon W C Charged particle sources

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04364716A (ja) * 1991-06-12 1992-12-17 Fujitsu Ltd 荷電ビーム露光方法
JP2008521254A (ja) * 2004-11-22 2008-06-19 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド 成形ビーム書き込みシステムにおける臨界寸法均一性に対する低周波数エラーソースを排除する方法

Also Published As

Publication number Publication date
GB8628058D0 (en) 1986-12-31
EP0269181A2 (en) 1988-06-01
EP0269181A3 (en) 1989-03-01
GB2197751A (en) 1988-05-25
US4825033A (en) 1989-04-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS63137426A (ja) 電子ビームパターン発生器
JP2829942B2 (ja) 電子ビーム・システム
KR0174585B1 (ko) 래스터 주사 방식의 리소그래피를 위한 선량 변조 및 화소 편향 시스템
JP3206143B2 (ja) 荷電粒子ビーム露光方法
US6433348B1 (en) Lithography using multiple pass raster-shaped beam
US3956635A (en) Combined multiple beam size and spiral scan method for electron beam writing of microcircuit patterns
JPS63114125A (ja) 荷電ビ−ム露光装置
US4112305A (en) Method of projecting a beam of charged particles
JP2002118060A (ja) 荷電ビーム露光装置、荷電ビーム露光方法、露光データ作成方法、露光データを作成するプログラムを記録したコンピュータ読取り可能な記録媒体、及び、露光データを記録したコンピュータ読取り可能な記録媒体
US5674413A (en) Scattering reticle for electron beam systems
US4393312A (en) Variable-spot scanning in an electron beam exposure system
JP3310400B2 (ja) 電子ビーム露光方法および露光装置
US5444257A (en) Electron-beam exposure system for reduced distortion of electron beam spot
JPH0316775B2 (ja)
US4167676A (en) Variable-spot scanning in an electron beam exposure system
US20020024020A1 (en) Electron-beam drawing appraratus electron-beam drawing method
JP3247700B2 (ja) 走査形投影電子線描画装置および方法
JPH06333793A (ja) 露光装置
JP3481017B2 (ja) 荷電粒子ビーム露光装置および該荷電粒子ビーム露光装置の露光データ処理方法
JP3104814B2 (ja) 荷電粒子線描画装置
JPH047585B2 (ja)
JP3101100B2 (ja) 電子ビーム露光装置
JP2677292B2 (ja) 半導体装置の製造方法と荷電粒子ビーム用透過マスク
JP3373185B2 (ja) 荷電ビーム描画装置および荷電ビーム描画方法
JPH01286310A (ja) 荷電ビーム露光方法