JPS63135951A - 電子写真感光体 - Google Patents
電子写真感光体Info
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- JPS63135951A JPS63135951A JP28275286A JP28275286A JPS63135951A JP S63135951 A JPS63135951 A JP S63135951A JP 28275286 A JP28275286 A JP 28275286A JP 28275286 A JP28275286 A JP 28275286A JP S63135951 A JPS63135951 A JP S63135951A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03G—ELECTROGRAPHY; ELECTROPHOTOGRAPHY; MAGNETOGRAPHY
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- G03G5/02—Charge-receiving layers
- G03G5/04—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
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- G03G5/082—Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic and not being incorporated in a bonding material, e.g. vacuum deposited
- G03G5/08214—Silicon-based
- G03G5/0825—Silicon-based comprising five or six silicon-based layers
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Photoreceptors In Electrophotography (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はアモルファスシリコン及びアモルファスシリコ
ンカーバイドから成る機能分離型電子写真感光体に関し
、特に光学バンドギャップの範囲を広くして光感度を高
めることができた電子写真感光体に関するものである。
ンカーバイドから成る機能分離型電子写真感光体に関し
、特に光学バンドギャップの範囲を広くして光感度を高
めることができた電子写真感光体に関するものである。
近年、超高速複写機やレーザービームプリンターなどの
開発が活発に進められており、これに伴ってこの機器に
搭載される電子写真感光体ドラムに安定した動作特性及
び耐久性が要求されている。この要求に対して水素化ア
モルファスシリコンが耐摩耗性、耐熱性、無公害性並び
に光感度特性等に優れているという理由から注目されて
いる。
開発が活発に進められており、これに伴ってこの機器に
搭載される電子写真感光体ドラムに安定した動作特性及
び耐久性が要求されている。この要求に対して水素化ア
モルファスシリコンが耐摩耗性、耐熱性、無公害性並び
に光感度特性等に優れているという理由から注目されて
いる。
かかるアモルファスシリコン(以下、a−3iと略す)
から成る電子写真感光体には第3図に示す通りの積層型
感光体が提案されている。
から成る電子写真感光体には第3図に示す通りの積層型
感光体が提案されている。
即ち、第3図によれば、アルミニウムなどの導電性基板
(1)上にa−5iキャリア注入阻止石(2) 、a−
3tキャリア発生層(3)及び表面保護層(4)を順次
積層しており、このキャリア注入阻止層(2)は基板(
1)からのキャリアの注入を阻止すると共に残留電位を
低下させるために形成されており、そして、表面保護層
(4)には高硬度な材料を用いて感光体の耐久性を高め
ている。
(1)上にa−5iキャリア注入阻止石(2) 、a−
3tキャリア発生層(3)及び表面保護層(4)を順次
積層しており、このキャリア注入阻止層(2)は基板(
1)からのキャリアの注入を阻止すると共に残留電位を
低下させるために形成されており、そして、表面保護層
(4)には高硬度な材料を用いて感光体の耐久性を高め
ている。
ところが、このa−Si感光体によれば、a−Siキャ
リア発生層(3)自体が有する暗抵抗率が10″Ω・C
l1l以下であり、これにより、この感光体の暗減衰率
が大きくなると共にそれ自体の帯電能を高めることが難
しくなり、その結果、この感光体を高速複写用に用いた
場合には光メモリー効果により先の画像が完全に除去さ
れずに残留し、次の画像形成に伴って先の画像が現れる
(ゴースト現象)という問題がある。
リア発生層(3)自体が有する暗抵抗率が10″Ω・C
l1l以下であり、これにより、この感光体の暗減衰率
が大きくなると共にそれ自体の帯電能を高めることが難
しくなり、その結果、この感光体を高速複写用に用いた
場合には光メモリー効果により先の画像が完全に除去さ
れずに残留し、次の画像形成に伴って先の画像が現れる
(ゴースト現象)という問題がある。
この問題を解決するために第4図に示すような機能分離
型感光体が提案されている。
型感光体が提案されている。
即ち、第4図によれば、導電性基板(1)上にキャリア
輸送層(5)及びキャリア発生層(3a)、所望により
表面保護層(4)を順次形成した積層型感光体を示して
おり、このキャリア輸送層(5)は暗抵抗率及びキャリ
ア移動度の両特性が大きくなるような材料で形成してい
る。そして、上記の各層をa−5i又はこのa−3iに
カーボンをドープさせたアモルファスシリコンカーバイ
ド(以下、a−SiCと略す)を用いて形成した機能分
離型感光体によれば、この感光体を高速複写用に用いた
場合ゴースト現象の発生を押えることができた。
輸送層(5)及びキャリア発生層(3a)、所望により
表面保護層(4)を順次形成した積層型感光体を示して
おり、このキャリア輸送層(5)は暗抵抗率及びキャリ
ア移動度の両特性が大きくなるような材料で形成してい
る。そして、上記の各層をa−5i又はこのa−3iに
カーボンをドープさせたアモルファスシリコンカーバイ
ド(以下、a−SiCと略す)を用いて形成した機能分
離型感光体によれば、この感光体を高速複写用に用いた
場合ゴースト現象の発生を押えることができた。
しかしながら、このように上記感光体を高速複写用に用
いた場合、その高速性に伴って一回の複写当りの画像露
光量が減少し、これによって十分な光減衰とならず、原
稿の濃淡コントラストに対応する感光体の電位差が十分
に大きくならず、その結果、画像にカブリが生じるとい
う問題がある。
いた場合、その高速性に伴って一回の複写当りの画像露
光量が減少し、これによって十分な光減衰とならず、原
稿の濃淡コントラストに対応する感光体の電位差が十分
に大きくならず、その結果、画像にカブリが生じるとい
う問題がある。
従って本発明の目的は光感度を広範囲の波長領域に亘っ
て高めて十分な光減衰特性を得て、これによって高速複
写に適した電子写真感光体を提供することにある。
て高めて十分な光減衰特性を得て、これによって高速複
写に適した電子写真感光体を提供することにある。
本発明によれば、導電性基板上に少なくともキャリア輸
送層及びキャリア発生層を形成した電子写真感光体にお
いて、前記キャリア発生層がa−9iから成る層領域と
0.1乃至10.OOOppmの周期律表第Va族元素
を含むa−SiCから成る層領域によって形成されてい
ることを特徴とする電子写真感光体が提供される。
送層及びキャリア発生層を形成した電子写真感光体にお
いて、前記キャリア発生層がa−9iから成る層領域と
0.1乃至10.OOOppmの周期律表第Va族元素
を含むa−SiCから成る層領域によって形成されてい
ることを特徴とする電子写真感光体が提供される。
以下、本発明の詳細な説明する。
第1図及び第2図は本発明の感光体の典型的な層構成を
示しており、第1図によれば、導電性基板(1)上にキ
ャリア注入阻止層(2)、キャリア輸送層(5)、キャ
リア発生層(3b)及び表面保護層(4)を順次積層し
た積層型感光体を示しており、或いは第2図に示すよう
に第1図中のキャリア注入阻止層(2)を除いてもよい
。
示しており、第1図によれば、導電性基板(1)上にキ
ャリア注入阻止層(2)、キャリア輸送層(5)、キャ
リア発生層(3b)及び表面保護層(4)を順次積層し
た積層型感光体を示しており、或いは第2図に示すよう
に第1図中のキャリア注入阻止層(2)を除いてもよい
。
このような積層型感光体においてキャリア発生層(3b
)を少なくとも2種類の層領域から成るように形成し、
これによって光感度を広範囲な波長領域に亘って増大さ
せることを特徴とする。
)を少なくとも2種類の層領域から成るように形成し、
これによって光感度を広範囲な波長領域に亘って増大さ
せることを特徴とする。
第1図及び第2図によれば、このキャリア発生層(3b
)は基板側から感光体表面へ向けて層厚方向に亘ってア
モルファスシリコン層領域(以下、a−s i i 領
域と略す)(6)、及びアモルファスシリコンカーバイ
ド層領域(以下、a−3iCjil域と略す)(7)が
順次形成されており、後者のa−5iC層領域(7)に
は周期律表第Va族元素(以下、Va族元素と略す)が
所定の範囲内で含有されている。
)は基板側から感光体表面へ向けて層厚方向に亘ってア
モルファスシリコン層領域(以下、a−s i i 領
域と略す)(6)、及びアモルファスシリコンカーバイ
ド層領域(以下、a−3iCjil域と略す)(7)が
順次形成されており、後者のa−5iC層領域(7)に
は周期律表第Va族元素(以下、Va族元素と略す)が
所定の範囲内で含有されている。
上記両層領域(6) (7)はアモルファス化したシリ
コン元素(St)を主要な構成元素とし、そのStのダ
ングリングボンドを一価元素で終端し、これによって光
導電性が有するようになったという点では共通するが、
a−Siii領域(6)の分光感度が650nm以上の
長波長領域で急激に低下するのに対して、この層領域(
6)にカーボン元素(C)を主要構成元素として添加し
且つ0.1乃至10.OOOppmのVa族元素を含有
させると、短波長領域ではa−Sili?iJf域(6
)に比べて光感度が劣るが、その反面、長波長領域では
光感度の回復が顕著となり、特に650nm以上の波長
領域ではa−5iJifii域(6)に比べて著しく光
感度を高めることができることを見い出した。
コン元素(St)を主要な構成元素とし、そのStのダ
ングリングボンドを一価元素で終端し、これによって光
導電性が有するようになったという点では共通するが、
a−Siii領域(6)の分光感度が650nm以上の
長波長領域で急激に低下するのに対して、この層領域(
6)にカーボン元素(C)を主要構成元素として添加し
且つ0.1乃至10.OOOppmのVa族元素を含有
させると、短波長領域ではa−Sili?iJf域(6
)に比べて光感度が劣るが、その反面、長波長領域では
光感度の回復が顕著となり、特に650nm以上の波長
領域ではa−5iJifii域(6)に比べて著しく光
感度を高めることができることを見い出した。
このような知見に基(a−SiC層領域(7)によれば
、Va族元素を含まないa−3iC層の分光感光ピーク
がa−St層に比べて短波長側ヘシフトすると共に光感
度特性が全般に低下するという従来周知の現象と全く相
い反している。この点について本発明者等が行った実験
結果に基いて推論するならば、a−5iC層にVa族元
素を所定の範囲内で含有させるとその層全体に亘って膜
質が改善され、励起キャリアの移動度が高くなると共に
光導電性が向上し、更に層厚方向に膜中の深部にまで浸
透し得る長波長光に対して吸収係数が大きくなり、これ
により、顕著に光感度特性を高める効果があると考えら
れる。
、Va族元素を含まないa−3iC層の分光感光ピーク
がa−St層に比べて短波長側ヘシフトすると共に光感
度特性が全般に低下するという従来周知の現象と全く相
い反している。この点について本発明者等が行った実験
結果に基いて推論するならば、a−5iC層にVa族元
素を所定の範囲内で含有させるとその層全体に亘って膜
質が改善され、励起キャリアの移動度が高くなると共に
光導電性が向上し、更に層厚方向に膜中の深部にまで浸
透し得る長波長光に対して吸収係数が大きくなり、これ
により、顕著に光感度特性を高める効果があると考えら
れる。
従って、650nm以上の長波長光に高感度なa−Si
C層領域と650nm以下に高感度なa−3iFifi
l域とを積層して成るキャリア発生層(3b)を形成す
ると高光感度の波長領域を幅広くすることができる。
C層領域と650nm以下に高感度なa−3iFifi
l域とを積層して成るキャリア発生層(3b)を形成す
ると高光感度の波長領域を幅広くすることができる。
前記Va族元素にはN、P、As、Sb等があり、就中
、Pが共有結合性に優れて半導体特性を敏感に変え得る
点で望ましい。また、このVa族元素の含有量は0.1
乃至10.000ppa+ 、好適には0.1乃至1
、000ppmの範囲内で設定すればよ(,0,lpp
m未満の場合、分光感度が長波長側で十分に回復せず且
つ650nm以上の波長でa−5i層よりも劣り、また
、10、000ppmを越えた場合、暗抵抗率が小さく
なると共に明抵抗率に対する暗抵抗率の比率が小さくな
り、電子写真特性を劣化させる。
、Pが共有結合性に優れて半導体特性を敏感に変え得る
点で望ましい。また、このVa族元素の含有量は0.1
乃至10.000ppa+ 、好適には0.1乃至1
、000ppmの範囲内で設定すればよ(,0,lpp
m未満の場合、分光感度が長波長側で十分に回復せず且
つ650nm以上の波長でa−5i層よりも劣り、また
、10、000ppmを越えた場合、暗抵抗率が小さく
なると共に明抵抗率に対する暗抵抗率の比率が小さくな
り、電子写真特性を劣化させる。
a−SiJi!領域(6)及びa−3iC@85域(7
)が光導電性を有するように含有させるダングリングボ
ンド終端用元素には水素元素01)やハロゲン元素があ
り、これらの元素の含有量は5乃至50原子%、好適に
は5乃至40原子%、最適には10乃至30原子%がよ
く、通常、H元素が用いられる。このH元素が用いられ
るとその元素が上記終端部に取り込まれ易いのでバンド
ギャップ中の局在準位密度を低減させ、これにより、優
れた半導体特性が得られる。
)が光導電性を有するように含有させるダングリングボ
ンド終端用元素には水素元素01)やハロゲン元素があ
り、これらの元素の含有量は5乃至50原子%、好適に
は5乃至40原子%、最適には10乃至30原子%がよ
く、通常、H元素が用いられる。このH元素が用いられ
るとその元素が上記終端部に取り込まれ易いのでバンド
ギャップ中の局在準位密度を低減させ、これにより、優
れた半導体特性が得られる。
また、このH元素の一部をハロゲン元素に置換してもよ
く、これにより、両者のJ! 領域(6) (7)の局
在準位密度を下げて光導電性及び耐熱性(温度特性)を
高めることができ、その置換比率はダングリングボンド
終端用全元素中0.01乃至50原子%、好適には1乃
至30原子%がよい。また、このハロゲン元素にはFt
CItBr、 I+At等があるが、就中、Fを用いる
とその大きな電気陰性度によって原子間の結合が大きく
なり、これによって熱的安定性に優れるという点で望ま
しい。
く、これにより、両者のJ! 領域(6) (7)の局
在準位密度を下げて光導電性及び耐熱性(温度特性)を
高めることができ、その置換比率はダングリングボンド
終端用全元素中0.01乃至50原子%、好適には1乃
至30原子%がよい。また、このハロゲン元素にはFt
CItBr、 I+At等があるが、就中、Fを用いる
とその大きな電気陰性度によって原子間の結合が大きく
なり、これによって熱的安定性に優れるという点で望ま
しい。
また、前記a−SiCl!?+i域(7)が光導電性が
有するようになった点について、a−5iCのカーボン
含有量が重要な要因であることも見い出しており、本発
明者等がカーボンの含有比率を幾通りにも変えて光導電
性の有無を確かめる実験を行ったところ、a−SiCN
領域(7)中にカーボンを1乃至90原子%、好適には
5乃至50原子%の範囲内で含有させるとよく、或いは
この範囲内で層厚方向に亘ってカーボン含有量を変えて
もよい。
有するようになった点について、a−5iCのカーボン
含有量が重要な要因であることも見い出しており、本発
明者等がカーボンの含有比率を幾通りにも変えて光導電
性の有無を確かめる実験を行ったところ、a−SiCN
領域(7)中にカーボンを1乃至90原子%、好適には
5乃至50原子%の範囲内で含有させるとよく、或いは
この範囲内で層厚方向に亘ってカーボン含有量を変えて
もよい。
また、上記キャリア発生層によれば、基板側から感光体
表面へ向けてa−SiJifiJI域(6)及びa−8
iC層領域(7)を順次積層しているが、この積層順序
を逆にしてもよい。そして、この積層順序とは無関係に
、両者の層領域(6) (7)のいずれかのうち感光体
表面側に位置する層領域については、その層領域の厚み
を0.1乃至10μ鋼、好適には0.5乃至5μmの範
囲内に設定するとよく、これによって他方の層領域へ最
も有効に光が到達する。
表面へ向けてa−SiJifiJI域(6)及びa−8
iC層領域(7)を順次積層しているが、この積層順序
を逆にしてもよい。そして、この積層順序とは無関係に
、両者の層領域(6) (7)のいずれかのうち感光体
表面側に位置する層領域については、その層領域の厚み
を0.1乃至10μ鋼、好適には0.5乃至5μmの範
囲内に設定するとよく、これによって他方の層領域へ最
も有効に光が到達する。
前記キャリア輸送層(5)にはそれ自体高抵抗率を有し
且つキャリア移動度が十分に大きければ種々の材料を用
いることができ、この材料には、例えば、PVK、ピラ
ゾリン、オキサゾール、ヒドラゾン、N−フェニルカル
バゾール、スチルベン等の有機半導体、Se、5e−T
e+5e−As、CdS、ZnO,a−Si、 a−3
iC,a−SiO,a−3iN等の無機半導体がある。
且つキャリア移動度が十分に大きければ種々の材料を用
いることができ、この材料には、例えば、PVK、ピラ
ゾリン、オキサゾール、ヒドラゾン、N−フェニルカル
バゾール、スチルベン等の有機半導体、Se、5e−T
e+5e−As、CdS、ZnO,a−Si、 a−3
iC,a−SiO,a−3iN等の無機半導体がある。
キャリア輸送層をa−5i又はa−SiCによって形成
した場合、キャリア発生層と基本的に同一材料によって
形成することができるために同一の成膜装置を用いて連
続的に形成できるという点で望ましい、この場合、キャ
リア輸送層には光導電性が要求されていないが、励起キ
ャリアの移動度を大きく且つ高い帯電能に設定するため
に暗導電率を1〇−1(Ω・cm)−’以下にする必要
がある。
した場合、キャリア発生層と基本的に同一材料によって
形成することができるために同一の成膜装置を用いて連
続的に形成できるという点で望ましい、この場合、キャ
リア輸送層には光導電性が要求されていないが、励起キ
ャリアの移動度を大きく且つ高い帯電能に設定するため
に暗導電率を1〇−1(Ω・cm)−’以下にする必要
がある。
即ち、a−Stキャリア輸送層を形成した場合、この層
の暗導電率を10− ” (Ω・cab)−’以下に設
定するためにIIIa族元素を所定の範囲内で含有させ
て真性化させるのが望ましく、或いはそれだけで不十分
であれば、キャリア注入阻止層を形成して補完させても
よい。
の暗導電率を10− ” (Ω・cab)−’以下に設
定するためにIIIa族元素を所定の範囲内で含有させ
て真性化させるのが望ましく、或いはそれだけで不十分
であれば、キャリア注入阻止層を形成して補完させても
よい。
また、a−SiCキャリア輸送層を形成した場合、この
層にB等のma族元素及びN、 P、 As、 Sb+
83等の周期律表第Va族元素を含有させるか、或い
はこれらの元素を含有させなくても暗導電率を10−
” (Ω・cm、)−’以下に設定することができる。
層にB等のma族元素及びN、 P、 As、 Sb+
83等の周期律表第Va族元素を含有させるか、或い
はこれらの元素を含有させなくても暗導電率を10−
” (Ω・cm、)−’以下に設定することができる。
そこで、上記a−3iCキャリア輸送層をa−SiCQ
域(7)と比較した場合、後者の層領域(7)がVa族
元素を含有させるのに対して、a−3iCキャリア輸送
層が添加元素の選択範囲が広くなると共に暗導電率を1
0− ” (Ω・Cm)−’以下に設定するという点で
区別し得る。
域(7)と比較した場合、後者の層領域(7)がVa族
元素を含有させるのに対して、a−3iCキャリア輸送
層が添加元素の選択範囲が広くなると共に暗導電率を1
0− ” (Ω・Cm)−’以下に設定するという点で
区別し得る。
このキャリア輸送層(5)の厚みは1乃至100μ醜、
好適には5乃至50μmの範囲内に設定するのがよ<、
1 μm未満であれば電荷保持能力に劣ってゴースト現
象が顕著になり、100μmを超えると画像の分解能が
劣化すると共に残留電位が大きくなる(頃向にある。
好適には5乃至50μmの範囲内に設定するのがよ<、
1 μm未満であれば電荷保持能力に劣ってゴースト現
象が顕著になり、100μmを超えると画像の分解能が
劣化すると共に残留電位が大きくなる(頃向にある。
本発明によれば、機能分離型感光体であってキャリア輸
送1i (5)及びキャリア発生層(3b)を必須不可
欠な層構成とし、両者の層(5) (3b)が第1図及
び第2図に示すような積層順序になっているのが一般的
であるが、この積層順序を変えてもよい。
送1i (5)及びキャリア発生層(3b)を必須不可
欠な層構成とし、両者の層(5) (3b)が第1図及
び第2図に示すような積層順序になっているのが一般的
であるが、この積層順序を変えてもよい。
例えばキャリア輸送層(5)を有機半導体により形成す
る場合、基板(1)上にキャリア発生層(3b)を薄膜
形成し、次いでその上にこの有機半導体を塗布してキャ
リア輸送層(5)とすることができる。
る場合、基板(1)上にキャリア発生層(3b)を薄膜
形成し、次いでその上にこの有機半導体を塗布してキャ
リア輸送層(5)とすることができる。
また、本発明によれば、この基本的な21!!構成に、
第1図に示すようなキャリア注入阻止層(2)を形成し
てもよく、この層(2)はキャリア輸送層(5)からの
キャリアを円滑に基板側へ移動させ且つ基板からキャリ
ア輸送層(5)へのキャリア注入を阻止するために形成
するものであり、この層(2)はポリイミド樹脂などの
有機材料、SiO□、SiO,A1zOt+SiC+S
iJ++ アモルファスカーボン、a−Si。
第1図に示すようなキャリア注入阻止層(2)を形成し
てもよく、この層(2)はキャリア輸送層(5)からの
キャリアを円滑に基板側へ移動させ且つ基板からキャリ
ア輸送層(5)へのキャリア注入を阻止するために形成
するものであり、この層(2)はポリイミド樹脂などの
有機材料、SiO□、SiO,A1zOt+SiC+S
iJ++ アモルファスカーボン、a−Si。
a−SiCなどの無機材料によって形成される。
更にこのキャリア注入阻止層(2)を形成するに当たっ
て半導体材料を用いる場合、その伝導型をN型に制御す
るのが望ましく、これによって注入阻止作用が一段と向
上する。例えばこのN型半導体材料にはP等のVa族元
素を50乃至110000ppの範囲内で含有するa−
Si又はa−5iCがある。
て半導体材料を用いる場合、その伝導型をN型に制御す
るのが望ましく、これによって注入阻止作用が一段と向
上する。例えばこのN型半導体材料にはP等のVa族元
素を50乃至110000ppの範囲内で含有するa−
Si又はa−5iCがある。
このキャリア注入阻止層(2)は必ず形成しなくてはな
らぬというものではなく、本発明者等が繰り返し行った
実験によれば、キャリア輸送層(5)の暗抵抗率が10
IffΩ・cm以上であれば第2図に示すようにキャリ
ア注入阻止層(2)を形成しなくても電子写真感光体と
して十分に実用に供することができることを見い出した
。
らぬというものではなく、本発明者等が繰り返し行った
実験によれば、キャリア輸送層(5)の暗抵抗率が10
IffΩ・cm以上であれば第2図に示すようにキャリ
ア注入阻止層(2)を形成しなくても電子写真感光体と
して十分に実用に供することができることを見い出した
。
また、表面保護層(4)にはそれ自体高絶縁性、高耐食
性及び高硬度特性を有するものであれば、種々の材料を
用いることができ、例えば前記のキャリア注入阻止層(
2)に用いたのと同様な無機材料又は有機材料を用いる
ことができ、これにより、感光体の耐久性及び耐環境性
を高めることができる。
性及び高硬度特性を有するものであれば、種々の材料を
用いることができ、例えば前記のキャリア注入阻止層(
2)に用いたのと同様な無機材料又は有機材料を用いる
ことができ、これにより、感光体の耐久性及び耐環境性
を高めることができる。
かくして本発明の電子写真感光体によれば、キャリア発
生層の分光感光を幅広い波長に亘って高め、これによっ
て光減衰を大きくして高速複写に好適となる。
生層の分光感光を幅広い波長に亘って高め、これによっ
て光減衰を大きくして高速複写に好適となる。
次に本発明者等は上記の結果を踏まえて、更に鋭意研究
に努めたところ、上述したような2種類の層領域につい
てはそれ以外に種々の態様があり、これによっても本発
明の目的を達成することができることを見い出した。
に努めたところ、上述したような2種類の層領域につい
てはそれ以外に種々の態様があり、これによっても本発
明の目的を達成することができることを見い出した。
即ち、第5図乃至第12図によれは、横軸はキャリア発
生層(3b)の基板側から感光体表面側までの層厚を表
しており、縦軸はカーボン含有量或いはVa族元素含有
量を表しており、いずれの含有量もそれぞれ相対量であ
る。これらの図において、横軸に付された6及び7はそ
れぞれa−3i層領域(6)及びa−SiCJW層領域
7)に対応した領域であり、実線及び破線はそれぞれカ
ーボン含有量及びVa族元素含有量を示す。尚、上記横
軸中左側方向又は右側方向はそれぞれ基板側方向又は感
光体表面側のいずれでもよい。
生層(3b)の基板側から感光体表面側までの層厚を表
しており、縦軸はカーボン含有量或いはVa族元素含有
量を表しており、いずれの含有量もそれぞれ相対量であ
る。これらの図において、横軸に付された6及び7はそ
れぞれa−3i層領域(6)及びa−SiCJW層領域
7)に対応した領域であり、実線及び破線はそれぞれカ
ーボン含有量及びVa族元素含有量を示す。尚、上記横
軸中左側方向又は右側方向はそれぞれ基板側方向又は感
光体表面側のいずれでもよい。
これらの図から明らかな通り、カーボン含有量及びVa
族元素含有量をそれぞれ層厚方向に亘って漸次変えたり
、或いはa−3iJiijN域(6)にVa族元素を含
有させてもよい。
族元素含有量をそれぞれ層厚方向に亘って漸次変えたり
、或いはa−3iJiijN域(6)にVa族元素を含
有させてもよい。
次に本発明の電子写真感光体の製法を述べる。
本発明に係るキャリア発生層はグロー放電分解法、イオ
ンブレーティング法、反応性スパッタリング法、真空蒸
着法、熱CVD法等の薄膜生成手段を用いることができ
、また、これに用いられる原料には固体、液体、気体の
いずれでもよい。
ンブレーティング法、反応性スパッタリング法、真空蒸
着法、熱CVD法等の薄膜生成手段を用いることができ
、また、これに用いられる原料には固体、液体、気体の
いずれでもよい。
また、キャリア発生層以外の層を形成するに当たって、
これらの層をa−St又はa−SiCにより形成するの
であれば、同様な薄膜生成手段を用いることができると
いう点で望ましく、更に同一の成膜装置を用いた場合、
共通した薄膜生成手段によって連続的に積層することが
できるという利点がある。
これらの層をa−St又はa−SiCにより形成するの
であれば、同様な薄膜生成手段を用いることができると
いう点で望ましく、更に同一の成膜装置を用いた場合、
共通した薄膜生成手段によって連続的に積層することが
できるという利点がある。
例えばグロー放電分解装置を用いてa−St又はa−S
iCから成る感光体を製作する場合、その気体原料とし
てSiH4,5idli、5itlsなどのSi系ガス
、CH4゜CJt、CzHa、CzHlClHmなどの
C系ガスがあり、そして、Heガス、H2ガス等をキャ
リアガスとして用いればよい。
iCから成る感光体を製作する場合、その気体原料とし
てSiH4,5idli、5itlsなどのSi系ガス
、CH4゜CJt、CzHa、CzHlClHmなどの
C系ガスがあり、そして、Heガス、H2ガス等をキャ
リアガスとして用いればよい。
このグロー放電分解法によれば、ケイ素(St)含有ガ
ス及びアセチレン(CJz)ガスの混合ガスよりa−S
iC層領域又はa−SiC層を形成させる場合、著しく
大きな高速成膜性が達成できるという点で望ましい。本
発明者等が繰り返し行った実験によれば、このSt含有
ガスとして上述した種々のSi系ガスを用いることがで
きるが、例えばSiH4ガス及びC,H,ガスを用いた
場合、5乃至20μm/時の成膜速度が得られた。因に
5il14ガスとCH,ガスを用いてa−3iC膜を生
成した場合、その成膜速度は約0.3乃至1μm/時で
ある。
ス及びアセチレン(CJz)ガスの混合ガスよりa−S
iC層領域又はa−SiC層を形成させる場合、著しく
大きな高速成膜性が達成できるという点で望ましい。本
発明者等が繰り返し行った実験によれば、このSt含有
ガスとして上述した種々のSi系ガスを用いることがで
きるが、例えばSiH4ガス及びC,H,ガスを用いた
場合、5乃至20μm/時の成膜速度が得られた。因に
5il14ガスとCH,ガスを用いてa−3iC膜を生
成した場合、その成膜速度は約0.3乃至1μm/時で
ある。
次に本発明の実施例に述べられる電子写真感光体をグロ
ー放電分解法を用いて全層に亘ってa−St又はa−S
iCにより形成した場合、その製作法を第13図の容量
結合型グロー放電分解装置により説明する。
ー放電分解法を用いて全層に亘ってa−St又はa−S
iCにより形成した場合、その製作法を第13図の容量
結合型グロー放電分解装置により説明する。
図中、第1.第2.第3.第4.第5タンク(8) (
9) (10)(11) (12)には、それぞれSi
L、Czlh+PL (Hzガス希釈で0.2%含有)
、o、、Noガスが密封されており、H2はキャリア
ーガスとしても用いられる。これらのガスは対応する第
1.第2.第3.第4第5調整弁(13)’(14)
(15) (16) (17)を開放することにより放
出され、その流量がマスフローコントローラ(1B)
(19)(20) (21) (22)により制御され
、第1.第2.第3.第4タンク(8) (9) (1
0) (11)からのガスは第1主管(23)へ、第5
タンク(12)からのHeガスは第2主管(24)へ送
られる。尚、(25) (26)は止め弁である。第1
主管(23)及び第2主管(24)を通じて流れるガス
は反応管(27)へと送り込まれるが、この反応管(2
7)の内部には容量結合型放電用電極(28)が設置さ
れてお、それに印加される高周波電力は50%4乃至3
KWが、また周波数はl MHz乃至50M)Izが適
当である。反応管(27)の内部には、アルミニウムか
ら成る筒状の成膜用基板(29)が試料保持台(30)
の上に載置されており、この保持台(30)はモーター
(31)により回転駆動されるようになっており、そし
て、基板(29)は適当な加熱手段により約200乃至
400℃好ましくは約200乃至350℃の温度に均一
に加熱される。更に、反応管(27)の内部にはa−S
iC膜形成時に高度の真空状態(放電時のガス圧0.1
乃至2.0Torr )を必要とすることにより回転ポ
ンプ(32)と拡散ポンプ(33)に連結されている。
9) (10)(11) (12)には、それぞれSi
L、Czlh+PL (Hzガス希釈で0.2%含有)
、o、、Noガスが密封されており、H2はキャリア
ーガスとしても用いられる。これらのガスは対応する第
1.第2.第3.第4第5調整弁(13)’(14)
(15) (16) (17)を開放することにより放
出され、その流量がマスフローコントローラ(1B)
(19)(20) (21) (22)により制御され
、第1.第2.第3.第4タンク(8) (9) (1
0) (11)からのガスは第1主管(23)へ、第5
タンク(12)からのHeガスは第2主管(24)へ送
られる。尚、(25) (26)は止め弁である。第1
主管(23)及び第2主管(24)を通じて流れるガス
は反応管(27)へと送り込まれるが、この反応管(2
7)の内部には容量結合型放電用電極(28)が設置さ
れてお、それに印加される高周波電力は50%4乃至3
KWが、また周波数はl MHz乃至50M)Izが適
当である。反応管(27)の内部には、アルミニウムか
ら成る筒状の成膜用基板(29)が試料保持台(30)
の上に載置されており、この保持台(30)はモーター
(31)により回転駆動されるようになっており、そし
て、基板(29)は適当な加熱手段により約200乃至
400℃好ましくは約200乃至350℃の温度に均一
に加熱される。更に、反応管(27)の内部にはa−S
iC膜形成時に高度の真空状態(放電時のガス圧0.1
乃至2.0Torr )を必要とすることにより回転ポ
ンプ(32)と拡散ポンプ(33)に連結されている。
以上のように構成されたグロー放電分解装置に゛おいて
、例えば、a−SiC膜(P、 0. Nを含有する)
を基板(35)に形成する場合には、第工、第2.第3
.第4調整弁(13) (14) (15) (16)
を開いてそれぞれより5tH4,PHs、Hzガスを放
出し、且つ第5調整弁(17)を開いてHeガスを放出
する。放出量はマスフローコントローラ(1B) (1
9) (20) (21) (22)により制御され、
5iHt、Cdh、PHs、Hzの混合ガスは第1主管
(23)を介して、Heガスは第2主管(24)を介し
て反応管°(27)へと流し込まれる。そして、反応管
(27)の内部が0.1乃至2.QTorr程度の真空
状態、基板温度が200乃至400℃、容量型放電用電
極(28)の高周波電力が50匈乃至3KW 、周波数
が1乃至50MHzに設定されていることに相俟ってグ
ロー放電がおこり、ガスが分解してP、N、0を含有し
たa−5iC膜が基板上に高速で形成される。
、例えば、a−SiC膜(P、 0. Nを含有する)
を基板(35)に形成する場合には、第工、第2.第3
.第4調整弁(13) (14) (15) (16)
を開いてそれぞれより5tH4,PHs、Hzガスを放
出し、且つ第5調整弁(17)を開いてHeガスを放出
する。放出量はマスフローコントローラ(1B) (1
9) (20) (21) (22)により制御され、
5iHt、Cdh、PHs、Hzの混合ガスは第1主管
(23)を介して、Heガスは第2主管(24)を介し
て反応管°(27)へと流し込まれる。そして、反応管
(27)の内部が0.1乃至2.QTorr程度の真空
状態、基板温度が200乃至400℃、容量型放電用電
極(28)の高周波電力が50匈乃至3KW 、周波数
が1乃至50MHzに設定されていることに相俟ってグ
ロー放電がおこり、ガスが分解してP、N、0を含有し
たa−5iC膜が基板上に高速で形成される。
次に本発明の実施例を述べる。
(例1)
本例においては層厚方向に亘って単一組成のa−Si膜
又はa−SiC膜を形成して分光感度特性を測定した。
又はa−SiC膜を形成して分光感度特性を測定した。
即ち、3×3CI11の角形のアルミニウム製平板を用
意し、第13図に示したアルミニウム製筒状基板(29
)の周面を一部切り欠いてこの切り欠き部にこの平板を
設置し、この平板上にa−3t膜又はa−SiC膜を生
成する。
意し、第13図に示したアルミニウム製筒状基板(29
)の周面を一部切り欠いてこの切り欠き部にこの平板を
設置し、この平板上にa−3t膜又はa−SiC膜を生
成する。
先ず、第1タンク(8)より5t)I4ガスを1010
05eの流量で、第4タンク(11)よりH2ガスを3
00secmの流量で放出し、そして、基板温度を30
0℃に、ガス圧をQ、45Torrに、高周波電力を1
50−に設定し、グロー放電分解法により上記平板上に
5μmの厚みのa−3t膜を形成した。
05eの流量で、第4タンク(11)よりH2ガスを3
00secmの流量で放出し、そして、基板温度を30
0℃に、ガス圧をQ、45Torrに、高周波電力を1
50−に設定し、グロー放電分解法により上記平板上に
5μmの厚みのa−3t膜を形成した。
また、上記の製法のなかで、更に第2タンク(9)より
CJzガスを10105eの流量で放出し、且つ第3タ
ンク(10)よりPH,ガスを5sccn+の流量で放
出し、他は同一の製作条件によって同様に平板上に5μ
mの厚みのa−SiC膜を形成した。
CJzガスを10105eの流量で放出し、且つ第3タ
ンク(10)よりPH,ガスを5sccn+の流量で放
出し、他は同一の製作条件によって同様に平板上に5μ
mの厚みのa−SiC膜を形成した。
かくして得られたa−Si膜及びa−SiC膜について
それぞれ分光感度特性を測定した結果、第14図に示す
通りとなった。図中、○印及び・印はそれぞれa−Si
膜及びa−5iC膜の分光感度のプロットであり、al
bはそれぞれの分光感度曲線である。尚、この分光感度
の測定値は各波長において等エネルギー光を照射した時
の光導電率を示す。
それぞれ分光感度特性を測定した結果、第14図に示す
通りとなった。図中、○印及び・印はそれぞれa−Si
膜及びa−5iC膜の分光感度のプロットであり、al
bはそれぞれの分光感度曲線である。尚、この分光感度
の測定値は各波長において等エネルギー光を照射した時
の光導電率を示す。
この結果より明らかな通り、a−SiC膜によれば、6
50nm以下の波長領域においてa−Si膜より分光感
度が低いが、650nm以上の波長領域においてはa−
Si膜よりも高い光感度となっており、これによってa
−Si膜及びa−5iC膜を積層して成るキャリア発生
層を形成した場合、分光感度の有効な波長領域が広くな
ることが期待できる。
50nm以下の波長領域においてa−Si膜より分光感
度が低いが、650nm以上の波長領域においてはa−
Si膜よりも高い光感度となっており、これによってa
−Si膜及びa−5iC膜を積層して成るキャリア発生
層を形成した場合、分光感度の有効な波長領域が広くな
ることが期待できる。
(例2)
本例においては、第13図に示したグロー放電分解装置
を用いて第1表に示した製作条件によって基板(29)
上にキャリア注入阻止層(2)、キャリア輸送層(5)
、a−5iJij領域(6) 、a−3iC?+、l
i域(7)及び表面保護層(4)を順次形成し、電子写
真感光体ドラムを製作した。但しキャリア注入阻止層(
2)の形成にNOガスを用いて酸素と窒素をドープし、
基板に対する密着性を高めている。また、上記a−Sf
C層領域(7)のP含有量を二次イオン質量分析法によ
って測定したところ、約60 ppmであった。
を用いて第1表に示した製作条件によって基板(29)
上にキャリア注入阻止層(2)、キャリア輸送層(5)
、a−5iJij領域(6) 、a−3iC?+、l
i域(7)及び表面保護層(4)を順次形成し、電子写
真感光体ドラムを製作した。但しキャリア注入阻止層(
2)の形成にNOガスを用いて酸素と窒素をドープし、
基板に対する密着性を高めている。また、上記a−Sf
C層領域(7)のP含有量を二次イオン質量分析法によ
って測定したところ、約60 ppmであった。
このドラムを高速複写機に搭載し、感光体を−5,6K
Vのコロナチャージャによって負極性に帯電させ、次い
で画像露光して磁気ブラシ現像を行うというサイクルに
よって画像を得るに当たって、その印字速度を80回/
分という高速複写レベルにまで高めたところ、画像濃度
が高く、高コントラストでゴースト現象が全く生じない
良質な画像が得られた。
Vのコロナチャージャによって負極性に帯電させ、次い
で画像露光して磁気ブラシ現像を行うというサイクルに
よって画像を得るに当たって、その印字速度を80回/
分という高速複写レベルにまで高めたところ、画像濃度
が高く、高コントラストでゴースト現象が全く生じない
良質な画像が得られた。
然るに前述の第1表の製作条件のなかで、キャリア発生
層を形成するに当たってCm)Ifガス及びPH3ガス
の放出を止め、他の条件はa−3iIi!fiI域の生
成と同一の製作条件によって30分間成膜形成し、これ
によってa−3iJi!領域により成るキャリア発生層
を形成し、更に他の各層を第1表に示した条件によって
同様に形成した電子写真感光体を製作し、この感光体を
用いて上記と同じ印字速度で画像を得たところ、画像コ
ントラストが小さくなって画像全面に亘ってカブリが生
じた。
層を形成するに当たってCm)Ifガス及びPH3ガス
の放出を止め、他の条件はa−3iIi!fiI域の生
成と同一の製作条件によって30分間成膜形成し、これ
によってa−3iJi!領域により成るキャリア発生層
を形成し、更に他の各層を第1表に示した条件によって
同様に形成した電子写真感光体を製作し、この感光体を
用いて上記と同じ印字速度で画像を得たところ、画像コ
ントラストが小さくなって画像全面に亘ってカブリが生
じた。
〔発明の効果〕
以上の通り、本発明の電子写真感光体によれば、高速複
写機搭載用感光体に機能分離型の電子写真感光体を用い
るのに当たって、その感光体の光感度が広範囲な波長領
域に亘って高くなるようなキャリア発生層を形成し、こ
れにより、原稿の濃淡コントラストに対応して感光体の
電位差を十分に大きくすることができ、その結果、カブ
リのない高コントラストで良質な画像が得られる電子写
真感光体となった。
写機搭載用感光体に機能分離型の電子写真感光体を用い
るのに当たって、その感光体の光感度が広範囲な波長領
域に亘って高くなるようなキャリア発生層を形成し、こ
れにより、原稿の濃淡コントラストに対応して感光体の
電位差を十分に大きくすることができ、その結果、カブ
リのない高コントラストで良質な画像が得られる電子写
真感光体となった。
第1図及び第2図は本発明の電子写真感光体の典型的な
層構成を示す説明図、第3図は電子写真感光体の一触的
な層構成を示す説明図、第4図は従来の機能分離型の層
構成を示す説明図、第5図、第6図、第7図、第8図、
第9図、第10図、第11図及び第12図は本発明に係
る電子写真感光体のキャリア発生層の層厚方向に亘るカ
ーボン含有量と周期律表第Va族元素含有量を示す線図
、第13図は本発明の実施例に用いられる容量結合型グ
ロー放電分解装置の説明図、第14図は分光感度特性曲
線を表わす線図である。 1・・・導電性基板 2・・・キャリア注入阻止層 3.3a、3b ・・キャリア発生層4・・・表面保
護層 5・・・キャリア輸送層 6・・・アモルファスシリコン層領域 7・・・アモルファスシリコンカーバイドN 974域
特許出願人 (663)京セラ株式会社同 温
材 孝夫
層構成を示す説明図、第3図は電子写真感光体の一触的
な層構成を示す説明図、第4図は従来の機能分離型の層
構成を示す説明図、第5図、第6図、第7図、第8図、
第9図、第10図、第11図及び第12図は本発明に係
る電子写真感光体のキャリア発生層の層厚方向に亘るカ
ーボン含有量と周期律表第Va族元素含有量を示す線図
、第13図は本発明の実施例に用いられる容量結合型グ
ロー放電分解装置の説明図、第14図は分光感度特性曲
線を表わす線図である。 1・・・導電性基板 2・・・キャリア注入阻止層 3.3a、3b ・・キャリア発生層4・・・表面保
護層 5・・・キャリア輸送層 6・・・アモルファスシリコン層領域 7・・・アモルファスシリコンカーバイドN 974域
特許出願人 (663)京セラ株式会社同 温
材 孝夫
Claims (1)
- 導電性基板上に少なくともキャリア輸送層及びキャリア
発生層を形成した電子写真感光体において、前記キャリ
ア発生層がアモルファスシリコンから成る層領域と0.
1乃至10,000ppmの周期律表第Va族元素を含
むアモルファスシリコンカーバイドから成る層領域によ
って形成されていることを特徴とする電子写真感光体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28275286A JPS63135951A (ja) | 1986-11-26 | 1986-11-26 | 電子写真感光体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28275286A JPS63135951A (ja) | 1986-11-26 | 1986-11-26 | 電子写真感光体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63135951A true JPS63135951A (ja) | 1988-06-08 |
Family
ID=17656596
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP28275286A Pending JPS63135951A (ja) | 1986-11-26 | 1986-11-26 | 電子写真感光体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63135951A (ja) |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58215658A (ja) * | 1982-06-09 | 1983-12-15 | Konishiroku Photo Ind Co Ltd | 電子写真感光体 |
JPS58217940A (ja) * | 1982-06-12 | 1983-12-19 | Konishiroku Photo Ind Co Ltd | 電子写真感光体 |
JPS6228757A (ja) * | 1985-07-30 | 1987-02-06 | Konishiroku Photo Ind Co Ltd | 感光体 |
JPS6228759A (ja) * | 1985-07-30 | 1987-02-06 | Konishiroku Photo Ind Co Ltd | 感光体 |
-
1986
- 1986-11-26 JP JP28275286A patent/JPS63135951A/ja active Pending
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58215658A (ja) * | 1982-06-09 | 1983-12-15 | Konishiroku Photo Ind Co Ltd | 電子写真感光体 |
JPS58217940A (ja) * | 1982-06-12 | 1983-12-19 | Konishiroku Photo Ind Co Ltd | 電子写真感光体 |
JPS6228757A (ja) * | 1985-07-30 | 1987-02-06 | Konishiroku Photo Ind Co Ltd | 感光体 |
JPS6228759A (ja) * | 1985-07-30 | 1987-02-06 | Konishiroku Photo Ind Co Ltd | 感光体 |
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