JPS63128791A - 金属導体を有する高密度多層ガラス・セラミツク構造体の製造方法 - Google Patents

金属導体を有する高密度多層ガラス・セラミツク構造体の製造方法

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JPS63128791A JP17928587A JP17928587A JPS63128791A JP S63128791 A JPS63128791 A JP S63128791A JP 17928587 A JP17928587 A JP 17928587A JP 17928587 A JP17928587 A JP 17928587A JP S63128791 A JPS63128791 A JP S63128791A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 A、産業上の利用分野 この発明は内部に金属ベースの導体を有する多層ガラス
・セラミック基板を作成する方法に関するものである。
詳細にいえば、この発明は上記のガラス・セラミックお
よび金属ベースの導体の高密度パッケージを作成する方
法に関する。
B、従来技術 半導体パッケージ・デバイスの分野で周知のように、多
層ガラス・セラミック回路はガラス・セラミックの電気
的に絶縁された積層体と、この層上に堆積したパターン
化した導体とからなっている。この分野で周知であり、
かつ実施されているように、多層ガラス・セラミック回
路は一連の処理工程によって作成される。
典型的な場合、導体が載置されたガラス・セラミック層
のスタックは、ガラス拳セラミックに混合されたバイン
ダ材料が燃え尽きるような温度まで加熱される。上記の
バインダ材料の除去後、積層されたスタックをより高い
温度で焼成し、ガラスが融着して、高密度となり、かつ
導体の金属粒子が焼結稠密金属となるようにする。
C0発明が解決しようとする問題点 しかしながら、これらの多層ガラス・セラミック/Cu
基板を製造する際の厄介な問題のひとつは、稠密な(〉
98%)ガラス・セラミックをもたらす焼結サイクルを
発生させることである。稠密なガラス・セラミックには
ピンのろう付けおよびワイヤーボンディングのために、
強い基板と密着面金属パッドが必要である。さらに、セ
ラミック表面上の細線パターンには、欠陥を許容レベル
まで下げるために、稠密で、空孔のない表面が必要であ
る。
米国特許第450433θ号「内部に銅ベースの導体を
有する多層ガラス・セラミック構造を作成する方法」に
は、ポリメチル・メタクリレートのバインダ、ジブチル
フタレートの可塑剤、ならびにメチルエチルケトン びブチルアルコールの溶剤を含んだガラス・セラミック
のグリーンΦシートの焼成が記載されている。バインダ
の解重合および除去のための焼成温度は、550〜65
0℃である。この範囲以上の加熱は避けるよう教示され
ているが、これはこのような温度によってガラスの成分
が融着し、バインダの除去を妨げるからである。使用さ
れている焼結工程はチッ素および水の雰囲気における熱
処理を含んでおり、バインダを除去するための温度にお
いて、水が解離し、雰囲気中に水素の10−7〜10−
8の分圧をもたらすようになっている。次の工程におい
て、雰囲気の蒸気圧が変化して、チッ素を乾燥させ、温
度が1時間の間に900℃まで上げられる。この期間中
に、ガラス・セラミックおよび金属導体は稠密化する。
ガラス・セラミックの強度は、空孔および残留炭素の量
によっては、満足できないものになることもある。
この特許は、この発明が焼結処理の異なる工程における
稠密化の際にチッ素および水素の混合物を使用するので
あるから、この発明とは異なっている。さらに、この発
明は700〜800℃という温度範囲における数時間の
乾燥工程を含んでおり、これは上記の米国特許第450
4339号では教示されていないものである。これらの
付加的な工程によって、基板材料中での気泡の形成が効
果的に抑制され、より高密度のガラス拳セラミックがも
たらされると考えられる。
ヘロン他(Herron et al)の米国特許第4
234367号においては、ガラス・セラミックがまず
、少なくとも当初は純粋なチッ素の雰囲気であり、その
後水蒸気と水素ガスの雰囲気に変更される雰囲気中で、
約5時間の間に徐々に800℃まで加熱される。次いで
、加熱を水素ガスに対する水蒸気の割合が104の雰囲
気において、約6時間の間、約800℃の定常温度で保
持する。その後、雰囲気を純粋なチッ素ガスに変更し、
熱を2時間の間に約100℃上げ、次いで数時間かけて
温度を下げる。上述のように、この発明の方法は最初の
加熱工程において水蒸気を使用するものではなく、その
代りに、水素ガスおよびチッ素ガスを使用するものであ
る。この特許の第8欄、第26〜34行には、ガラス・
セラミックの融着温度未満の温度において、湿性および
乾性の化成ガスとともに中性または還元性の雰囲気を使
用することが困難であると指摘されている。意外なこと
に、この方法はこの温度よりも下の乾性の化成ガスを使
用し、酸化鋼の形成によって生じる大幅な体積の変化の
問題を解決している。さらに、800℃以下の温度にお
いて数時間の間乾燥を行なうという第3の工程は、米国
特許第4234387号においては教示されていない。
したがって、この発明の目的は、金属ベースの導体を有
する稠密な(有孔率が最小で、ガラス・セラミックが9
8%超の)多層ガラス・セラミック基板をもたらす方法
を提供することである。
この発明の他の目的は、上記の方法によって薄膜金属パ
ッドをガラス−セラミックに付着させることである。
この発明のさらに他の方法は、残留炭素の酸化がガラス
の稠密化の際に生起せず、それ故、1100pp超の残
留炭素を許容できることを、上記の方法で確実とするこ
とである。
この発明のさらにまた他の目的は、焼成サイクル中の炭
素の酸化が、coおよびCO2の圧力がガラスの稠密化
の際に1気圧を超えないようにすることである。
D0問題点を解決するための手段 銅の導体を有する高密度多層ガラス舎セラミック回路を
形成する方法を、以下で開示する。
この方法において、焼尽工程はチッ素ガスと分圧がきわ
めて低い酸素との雰囲気中で、25℃から約700〜8
00℃まで徐々に上げられるガラス・セラミック温度に
よって行なわれる。
バインダ材料中の残留炭素の焼尽が次いで、湿性のチッ
素ガスと水素の存在のもとに、水素ガスに対する水蒸気
の割合を104として、温度を約700℃から800℃
に数時間維持することによって行なわれる。
次いで、乾性の化成ガス(水素/チッ素が1/10の割
合)の存在のもとに、数時間、温度を約700ないし8
00℃(好ましいのは、700ないし785℃)に維持
し、セラミック材料から水を除去する。
続いて、乾性の化成ガスの環境を維持しながら、温度を
2時間の間に920℃ないし960°Cに上げ、上記セ
ラミック材料の稠密化と上記セラミック材料の結晶化を
行なう。この乾性の化成ガスの環境は、残留炭素の酸化
を防ぎ、セラミック材料中に気泡を発生させ、空孔をも
たらすことになる二酸化炭素または一酸化炭素の発生を
防止する。
結晶後の工程において、雰囲気を水素、チッ素および水
、またはこれらの一部品混合物に変更し、金属を酸化し
、ガラス・セラミックへのボンディングを行なうことが
できる。
予備焼尽工程において、化成ガス(水素ガスおよびチッ
素ガス)の雰囲気中で、ガラス・セラミック温度を25
℃から約700〜800℃(好ましいのは785℃)ま
で、約り℃/分の速度で上げることによって、バインダ
を処理する。バインダ材料中の残留炭素の焼尽は、湿性
のチッ素ガスと化成ガス(水素10%、チッ素90%)
の存在のもとに、水素ガスに対する水蒸気の割合を10
4として、温度を約700℃から800℃(好ましいの
は770〜785℃)に数時間維持することによって行
なわれる。
E、実施例 この発明によれば、高密度多層ガラス・遁ラミック回路
を形成する方法が教示される。この教示の過程で、銅(
Cu)の内部金属組織およびニッケル(N1)合金など
のさまざまな表面金属組織に適合した焼結工程を説明す
る。さらに、開示される雰囲気および温度のサイクルは
、残留炭素の酸化を少なりシ、これによってガラス構造
を稠密化するようになされている。焼尽後に残る残留炭
素が、−酸化炭素および二酸化炭素のガスを生じ、融着
するガラス中に気泡を形成し、かつガラスの密度を下げ
るものであると仮定する。
この発明による方法において、当分野の技術者には、導
体が堆積されたグリーン・シートのガラス・セラミック
の多層構造が、当分野で公知の手法によって形成される
ものであることが、容易に理解されよう。かかるグリー
ン拳シート基板を製造する好ましい方法は、米国特許第
4234387号、特に第6〜7欄の工程1〜7の方法
である。
第1図はこの発明の複合した処理順序を示したものであ
る。この図面において、グリーン・シートはまず、予備
焼尽工程において、チッ素を含んでおり、酸素の分圧が
きわめて低い雰囲気中で加熱される。ガラス・セラミッ
クの温度は25℃から約700〜800°C(好ましい
のは785℃)まで、約3°C/分の速度で徐々に上げ
られる。次いで、バインダ材料中の残留炭素の焼尽が、
湿性のチッ素ガスと化成ガス(水素10%、チッ素90
%)の存在のもとに、水素ガスに対する水蒸気の割合を
104として、温度を約700°Cから785℃の範囲
に数時間維持することによって行なわれる。
700℃ないし785℃に4〜48時間置い装のち、湿
性チッ素/化成ガスの雰囲気を乾性化成ガス(水素/チ
ッ素が1/10の割合)に切り換え、温度を約700〜
800°Cの範囲に数時間維持する。
この時点で、乾性の化成ガスの雰囲気を維持したまま、
熱を約2時間の間、2〜b 度で、ガラスの稠密化および結晶化温度(約920℃〜
980℃)まで上昇させる。この乾性の化成ガスは残留
炭素、の酸化を防ぎ、セラミック材料中に気泡を発生さ
せ、空孔をもたらすことになる二酸化炭素または一酸化
炭素の発生を防止する。
温度を次いで、約5〜b 度まで下げる。
第2図は、第1図とほぼ同じであるが、稠密化および結
晶化サイクル中に使用される乾性の化成ガスを約1時間
の間維持し、その時点で雰囲気を切り換え、容積比が1
02・4の湿性の化成ガス(N20 / N2)の酸化
性の雰囲気を導入する点が異なっている処理方法を示す
ものである。積層体は次いで、約1時間の間詰晶化温度
に保持され、その後温度は第1図に関して述べたように
して、下げられる。このことは表面の金属パッドから酸
化ニッケル・フィルムを形成し、ガラス・セラミックに
ボンディングすることを可能とするものである。焼結雰
囲気の最後の変更が冷却中の低い温度において行なわれ
、高い温度で行なわれた被着ボンディングに影響をおよ
ぼさずに、Ni表面を還元する。しかしながら、希望す
る場合には、この最後の処理を酸化物フィルムの化学的
除去に代えることもできる。
この発明に対する認識と理解を深めるため、上記の反応
の熱力学および動力学を以下で説明する。
第3図は、N20/H2のさまざまな割合および温度に
対する02の等価分圧を示したものである。
第4図は、さまざまな分圧の02および温度におけるC
uおよびCu酸化物の凝縮相の安定性を示したものであ
る。これら2本の曲線を重ね合せ、Cuを酸化してCu
2OにするH 20 / H2の割合を、さまざまな温
度に対して決定することもできる。たとえば、785℃
(1058°K)において、104に等しいH20/ 
H2の割合の雰囲気を、Cuを酸化させることなく使用
することができる。
すなわち、実際には、炭素を焼尽するのに使用される雰
囲気は、N2(82℃の露点の)と化成ガス(N2中に
10%の82 )を混合することによって構成されてい
る。H20/ H2の割合が104・7未満の雰囲気を
使用できることは明らかである。
785℃という温度を選択したのは、これが数時間保持
しておけば、ガラス粒子の稠密化が顕著なものとする温
度だからであるが、この温度はガラス・セラミックの構
成によって変更できるものである。
酸化によってほとんどの炭素を除去したのち、残留炭素
がさらに酸化されることのないような雰囲気において、
稠密化を行なう必要がある。第5図は、炭素の酸化に対
する熱化学のグラフである。
1100°K (823°C)の温度、ならびに大気圧
のIQ−10の酸素分圧(すなわち、N20/H2が約
104の場合の酸素の等価分圧)において、CO2の平
衡分圧が大気圧の約107であることが判明した。この
ことはガラスに埋設され、かつ大気圧のIQ−10の分
圧に等しい化学ポテンシャルを有する酸素に露出された
炭素粒子が、CO□の分圧が大気圧の107になるまで
、酸化するということを意味する。このような反応およ
び形成される気泡が、ガラス・セラミックの密度を下げ
る大きな原因であることは明らかである。
残留炭素が確実に大気圧のIQ−20未満の酸素分圧に
露出されるようにすることによって、炭素の酸化を抑制
することができる。この時点で、COの平衡分圧は1気
圧(すなわち、大気圧においてデバイス中に気泡を発生
させるに必要な圧力)未満となる。第3図より、T=1
100’K。
l o g  P o2= −20において、N20/
H2は10−1未満である。
開示した焼結サイクルにおいて、上述の状態は1)シス
テムからN20を除去し、かつ2)雰囲気中のH2の含
有量を増加させることによって確保される。システムか
ら、したがって雰囲気からの820の除去は、温度が7
00℃まで下げられ、乾燥した化成ガス(H2/N2=
0.1)がシステム中に流される乾燥サイクルによって
行なわれる。
後者の温度は乾燥中のガラスの稠密化を少なくするよう
なものが選ばれる。
十分な乾燥ののち、炭素をさらに酸化させずに、同一の
雰囲気において温度を920〜960°Cに上げること
によって、稠密化と結晶化を行なう。
炉から820を除去するのに必要な時間は、各炉の構成
、特に酸化還元を行なうことのできる多孔質材料および
金属面の存在によって左右される。
付加的な注意事項のひとつはptまたはCuなどの触媒
上でH2と反応させることによって、ガス混合体中から
自由酸素を除去することである。
第2図に示し、かつ上述した他の改変形において、稠密
化および結晶化サイクルをさらに変更し、表面金属パッ
ドの付着を確実とすることができる。
F0発明の効果 この発明の方法によれば稠密で表面に空孔のない高密度
の多層ガラス・セラミック基板が形成できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、この発明のさまざまな工程および温度サイク
ルを示すグラフである。 第2図は、温度サイクルを変更し、ニッケル(Ni)の
金属表面パッドの付着性を改善した、この発明の異なる
工程および温度サイクルを示すグラフである。 第3図は、H2o/H2のさまざまな割合に対する02
0等価分圧と温度のグラフである。 第4図は、0゜のさまざまな分圧における銅および酸化
鋼の凝縮相の安定領域と温度とのグラフである。 第5図は、酸素のさまざまな分圧において炭素が存在す
る場合の、1100°KにおけるCOおよびCO3の平
衡分圧を示すグラフである。 FIG、1 時間(時間) FIG、2 時間 (時i1) FIG、3 500 600 700  goo     1000
 1100 1200 1300FIG、4

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】  金属導体パターンが表面上に設けられるバインダ材料
    を含んだガラス・セラミックのグリーン・シートを積層
    し、この積層体を焼成して、金属導体を有する高密度多
    層ガラス、セラミック構造体を製造する方法において、 (a)窒素ガス及び水素ガスを含む雰囲気中で、前記積
    層体を、含有するガラスの軟化温度とアニール温度との
    間の焼尽温度までしだいに加熱する予備加熱の工程と、 (b)前記(a)の工程の雰囲気を、湿った窒素ガスと
    化成ガスの雰囲気に置き換えて、前記積層体を前記焼尽
    温度中にしばらく維持する工程と、(c)次に加熱温度
    を前記焼尽温度のすぐ下の乾燥温度に下げて、前記(b
    )の工程の雰囲気を窒素と水素を含む乾いた化成ガスの
    雰囲気に置き換え、前記積層体を前記乾燥温度にしばら
    く維持する工程と、 (d)次に前記積層体を、含有するガラスの稠密化また
    は結晶化の温度まで加熱し、この温度にしばらく維持す
    る工程と、 を含むことを特徴とする前記方法。
JP17928587A 1986-11-12 1987-07-20 金属導体を有する高密度多層ガラス・セラミツク構造体の製造方法 Granted JPS63128791A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006186126A (ja) * 2004-12-28 2006-07-13 Ngk Spark Plug Co Ltd 配線基板の製造方法

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4971738A (en) * 1988-07-18 1990-11-20 International Business Machines Corporation Enhanced removal of carbon from ceramic substrate laminates
FR2643364B1 (fr) * 1989-02-22 1993-08-13 Air Liquide Procede d'elaboration de composants multicouches ceramique-metal et appareil pour sa mise en oeuvre
GB2229572A (en) * 1989-03-14 1990-09-26 Oxley Dev Co Ltd Ceramic multilayer structure
US5682018A (en) * 1991-10-18 1997-10-28 International Business Machines Corporation Interface regions between metal and ceramic in a metal/ceramic substrate
US5716713A (en) * 1994-12-16 1998-02-10 Ceramic Packaging, Inc. Stacked planar transformer

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4234367A (en) * 1979-03-23 1980-11-18 International Business Machines Corporation Method of making multilayered glass-ceramic structures having an internal distribution of copper-based conductors
JPS59995A (ja) * 1982-06-16 1984-01-06 富士通株式会社 銅導体多層構造体の製造方法
US4474731A (en) * 1983-03-28 1984-10-02 International Business Machines Corporation Process for the removal of carbon residues during sintering of ceramics
US4671928A (en) * 1984-04-26 1987-06-09 International Business Machines Corporation Method of controlling the sintering of metal particles

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006186126A (ja) * 2004-12-28 2006-07-13 Ngk Spark Plug Co Ltd 配線基板の製造方法
JP4533129B2 (ja) * 2004-12-28 2010-09-01 日本特殊陶業株式会社 配線基板の製造方法

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JPH0150120B2 (ja) 1989-10-27
EP0267602A2 (en) 1988-05-18
EP0267602A3 (en) 1990-08-01

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