JPS63126148A - 荷電粒子アナライザ− - Google Patents
荷電粒子アナライザ−Info
- Publication number
- JPS63126148A JPS63126148A JP61271545A JP27154586A JPS63126148A JP S63126148 A JPS63126148 A JP S63126148A JP 61271545 A JP61271545 A JP 61271545A JP 27154586 A JP27154586 A JP 27154586A JP S63126148 A JPS63126148 A JP S63126148A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- grid
- sample
- energy
- spherical
- particles
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000002245 particle Substances 0.000 title claims abstract description 69
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 6
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 13
- 238000000034 method Methods 0.000 description 11
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 4
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 2
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 2
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 2
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 1
- LFYJSSARVMHQJB-QIXNEVBVSA-N bakuchiol Chemical compound CC(C)=CCC[C@@](C)(C=C)\C=C\C1=CC=C(O)C=C1 LFYJSSARVMHQJB-QIXNEVBVSA-N 0.000 description 1
- 239000012141 concentrate Substances 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 238000005381 potential energy Methods 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
- 230000002747 voluntary effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/44—Energy spectrometers, e.g. alpha-, beta-spectrometers
- H01J49/46—Static spectrometers
- H01J49/48—Static spectrometers using electrostatic analysers, e.g. cylindrical sector, Wien filter
- H01J49/488—Static spectrometers using electrostatic analysers, e.g. cylindrical sector, Wien filter with retarding grids
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
イ、産業上の利用分野
本発明は試料から放出される荷電粒子の運動のエネルギ
ーおよび方向分布を測定することにより、試料の組成、
構造酸は電子状態等を調査する装置に関し、特に試料か
ら放射される荷電粒子のエネルギー分布或は、注目する
エネルギーの粒子の放出される方向分布を2次元的に測
定するのに適した装置に関する。
ーおよび方向分布を測定することにより、試料の組成、
構造酸は電子状態等を調査する装置に関し、特に試料か
ら放射される荷電粒子のエネルギー分布或は、注目する
エネルギーの粒子の放出される方向分布を2次元的に測
定するのに適した装置に関する。
口、従来の技術
従来、試料から放出される荷電粒子のエネルギーを分析
するには、ある適宜の方向の小さな立体角内に放出され
る粒子についてエネルギーを測定して、その方向に放出
される粒子エネルギー分布を調べる方法が一般に用いら
れており、放出粒子のエネルギーの角度分布を調べる場
合は、上記した小室角内の粒子のエネルギー分析装置を
、試料の粒子放射点を中心とする球面上で1次元的或は
2次元的に移動させ、上記球面を多くの画素域に区分し
て各画素毎に測定すると云う方法をとっている。この方
法によるときは、一つの方向の画素における成る値のエ
ネルギー粒子の放射強度を統計的なゆらぎが平均化され
るだけの時間をかけて測定し、その後隅の画素における
測定に移るので広い立体角内に放射される粒子のエネル
ギーの方向分布測定には大へんな時間を要していた。
するには、ある適宜の方向の小さな立体角内に放出され
る粒子についてエネルギーを測定して、その方向に放出
される粒子エネルギー分布を調べる方法が一般に用いら
れており、放出粒子のエネルギーの角度分布を調べる場
合は、上記した小室角内の粒子のエネルギー分析装置を
、試料の粒子放射点を中心とする球面上で1次元的或は
2次元的に移動させ、上記球面を多くの画素域に区分し
て各画素毎に測定すると云う方法をとっている。この方
法によるときは、一つの方向の画素における成る値のエ
ネルギー粒子の放射強度を統計的なゆらぎが平均化され
るだけの時間をかけて測定し、その後隅の画素における
測定に移るので広い立体角内に放射される粒子のエネル
ギーの方向分布測定には大へんな時間を要していた。
上述した難点を解消する方法として第3図に示すような
方法がイーストマン(Eastman)等によって提案
されている。この方法は導体の回転楕円面Mとその内側
に近接して面Mに平行に設けたグリッドG3とにより一
つのエネルギーローパスフィルタを構成し、楕円面Mの
一つの焦点位置に試料Sを置き、楕円面Mのもう一つの
焦点位置に小さな開口Aを配置し、この開口を中心に楕
、 円面Mと反対の側に開口Aを中心とする同心球面
グリッドG4.G5を設けてバイパスフィルタとし、こ
れらのグリッドの外側に2次元的な荷電粒子検出器りを
配置したものである。試料Sから各方向に放出された荷
電粒子は直進し、M、G3よりなるローパスフィルタで
、成るエネルギーE1より低いエネルギーの粒子は楕円
面Mで丁度鏡面反射されたように向きを変え、開口Aに
集中し、そのま\直進してグリッドG4.G5よりなる
バイパスフィルタに入射し、成るエネルギーE2より高
いエネルギーの粒子のみがグリッドG5を通過して検出
器りに入射する。図から明らかなように検出器りに入射
する荷電粒子の密度分布は試料Sから各方向に放射され
エネルギーがElとE2との間にあるエネルギーの方向
分布を平面上に投影したものになっている。
方法がイーストマン(Eastman)等によって提案
されている。この方法は導体の回転楕円面Mとその内側
に近接して面Mに平行に設けたグリッドG3とにより一
つのエネルギーローパスフィルタを構成し、楕円面Mの
一つの焦点位置に試料Sを置き、楕円面Mのもう一つの
焦点位置に小さな開口Aを配置し、この開口を中心に楕
、 円面Mと反対の側に開口Aを中心とする同心球面
グリッドG4.G5を設けてバイパスフィルタとし、こ
れらのグリッドの外側に2次元的な荷電粒子検出器りを
配置したものである。試料Sから各方向に放出された荷
電粒子は直進し、M、G3よりなるローパスフィルタで
、成るエネルギーE1より低いエネルギーの粒子は楕円
面Mで丁度鏡面反射されたように向きを変え、開口Aに
集中し、そのま\直進してグリッドG4.G5よりなる
バイパスフィルタに入射し、成るエネルギーE2より高
いエネルギーの粒子のみがグリッドG5を通過して検出
器りに入射する。図から明らかなように検出器りに入射
する荷電粒子の密度分布は試料Sから各方向に放射され
エネルギーがElとE2との間にあるエネルギーの方向
分布を平面上に投影したものになっている。
上述した方法では原理的にはグリッドはG3゜G4.G
5の3枚で足りるが、実際には検出器りを作動させるた
めに粒子を加速しなければならないから、加速グリッド
G5.G6と66を通過した粒子が直進するように66
と検出器りとの間の空間の電位を一定にするためのグリ
ッドG7、更に試料Sを囲んで同心2重球面のグリッド
Gl。
5の3枚で足りるが、実際には検出器りを作動させるた
めに粒子を加速しなければならないから、加速グリッド
G5.G6と66を通過した粒子が直進するように66
と検出器りとの間の空間の電位を一定にするためのグリ
ッドG7、更に試料Sを囲んで同心2重球面のグリッド
Gl。
G2を設けねばならないから、全部で8枚のグリッドを
必要とし、更に根本的な欠点として、粒子の方向分布像
が歪むのである。図で一つの中心粒子軌跡aを考え、試
料S側で、この軌跡の左右に、同じ角度θだけ離れた、
2本の粒子軌跡す。
必要とし、更に根本的な欠点として、粒子の方向分布像
が歪むのである。図で一つの中心粒子軌跡aを考え、試
料S側で、この軌跡の左右に、同じ角度θだけ離れた、
2本の粒子軌跡す。
Cを考えると、軌跡す、cの試料側での方向がツ・・し
変化したときの、開口A側の方向変化の倍率は、軌跡す
については縮小、Cについては拡大となっており、この
歪みを補正するため検出器りの面を軌#aに対して垂直
より図で右下がりに傾けるがこのような形で歪みが?i
[i正できるためにはθは、余り大きくとれない。また
試料面上で軌跡aを中心とする頂角2θの円錐面に沿っ
て放射された成るエネルギーの粒子の検出器り面上の像
は円にはならない。もう一つの根本的な欠点は、電子の
軌跡は光の反射の場合と異なり、回転楕円面の鏡を使っ
ても、電子の軌跡から考えた仮想的な反射面は回転楕円
面とは正確に一致しないことである。この不一致は取り
出す立体角が太き(なると、しだいに太き(なり、収束
しな(なる。従ってこの方法では余り大きな立体角の測
定はできないのである。
変化したときの、開口A側の方向変化の倍率は、軌跡す
については縮小、Cについては拡大となっており、この
歪みを補正するため検出器りの面を軌#aに対して垂直
より図で右下がりに傾けるがこのような形で歪みが?i
[i正できるためにはθは、余り大きくとれない。また
試料面上で軌跡aを中心とする頂角2θの円錐面に沿っ
て放射された成るエネルギーの粒子の検出器り面上の像
は円にはならない。もう一つの根本的な欠点は、電子の
軌跡は光の反射の場合と異なり、回転楕円面の鏡を使っ
ても、電子の軌跡から考えた仮想的な反射面は回転楕円
面とは正確に一致しないことである。この不一致は取り
出す立体角が太き(なると、しだいに太き(なり、収束
しな(なる。従ってこの方法では余り大きな立体角の測
定はできないのである。
なお上の方法ではMは回転楕円面であるから製作が稍面
倒である。面Mは球面で置換しても、球の半径に比し試
料Sと開口Aとの間の距離が十分小さければ、Sから出
た特定エネルギーの粒子は、近似的にAの位置に集まる
から一応目的を達成することができるが、この場合も中
心軌跡aから離れると収差が目立って来るため、収差の
制限から、上述した方法より一度に測定できる立体角は
更に小さくなる。
倒である。面Mは球面で置換しても、球の半径に比し試
料Sと開口Aとの間の距離が十分小さければ、Sから出
た特定エネルギーの粒子は、近似的にAの位置に集まる
から一応目的を達成することができるが、この場合も中
心軌跡aから離れると収差が目立って来るため、収差の
制限から、上述した方法より一度に測定できる立体角は
更に小さくなる。
ハ1発明が解決しようとする問題点
本発明は上述したような状況に鑑み試料から放出される
荷電粒子のエネルギー分析を行う装置で、簡単な構造で
大きな立体角内に放出される荷電粒子のエネルギーの角
度分布が一度に測定できるような構成を提供しようとす
るものである。
荷電粒子のエネルギー分析を行う装置で、簡単な構造で
大きな立体角内に放出される荷電粒子のエネルギーの角
度分布が一度に測定できるような構成を提供しようとす
るものである。
二0問題点解決のための手段
第1図に示すように、球面のグリッド1と、その外側に
グリッド1と同心的に球面の電極2を配置し、グリッド
1の内側で同グリッドの球面中心より離れた位置に試料
Sを置き、グリッド1の中心に関して試料Sと対称の位
置に開口Aを有する遮蔽板3を配置し、この遮蔽板のグ
リッド1等と反対側の空間に開口Aに対向させて荷電粒
子に対する2次元的な検出手段4を配置した。
グリッド1と同心的に球面の電極2を配置し、グリッド
1の内側で同グリッドの球面中心より離れた位置に試料
Sを置き、グリッド1の中心に関して試料Sと対称の位
置に開口Aを有する遮蔽板3を配置し、この遮蔽板のグ
リッド1等と反対側の空間に開口Aに対向させて荷電粒
子に対する2次元的な検出手段4を配置した。
ホ0作用
試料Sから放出される荷電粒子を電子とする。
グリッド1は試料Sと同電位で、グリッド1の内側及び
更に図で下方の空間では電界はOである。
更に図で下方の空間では電界はOである。
グリッド1に対して電極2を一定の負電位に保つ。試料
Sから放射される電子はグリッド1の面までは直進し、
グリッド1と電極2との間の空間Fに入射し、この空間
F内ではグリッド1の球面中心を焦点とする楕円軌動を
画き、エネルギーと試料からの放射方向によって成る電
子は電極2に入射して吸収され、成る電子は空間Fで反
転して再びグリッド1の内側の空間に出る。こ\で或特
定のエネルギーを持った電子は空間Fで反転して試料S
からグリッド1に向って放射したときと平行な方向で再
びグリッド1の内側の空間に戻って来る。図ではこのよ
うな軌道を画く電子の軌道が三つ画いである。これらの
軌道においてグリッド1の球面中心Oと夫々の軌道の楕
円部分の中心Oから一番遠い所とを結ぶ直線が長軸であ
るが、その長軸に関して対称の形であり、従ってSから
出た特定エネルギーの電子はSから放射されたときと同
じ角度(図のθ)で開口Aを通過する。つまり、特定エ
ネルギーの電子によるSの像がAに形成され、それらの
電子が試料Sから出射した方向と平行な方向で開口へを
通過する。このため開口Aに対向させて配置した検出器
4の面には、試料Sから放射された特定エネルギーの電
子の角度分布の歪みのない分布像(球面を平面に投影す
ることによる歪みはあるが)が形成される。検出面をA
を中心とする球面にすれば、球面を平面に投影すること
による歪みもなくなる。
Sから放射される電子はグリッド1の面までは直進し、
グリッド1と電極2との間の空間Fに入射し、この空間
F内ではグリッド1の球面中心を焦点とする楕円軌動を
画き、エネルギーと試料からの放射方向によって成る電
子は電極2に入射して吸収され、成る電子は空間Fで反
転して再びグリッド1の内側の空間に出る。こ\で或特
定のエネルギーを持った電子は空間Fで反転して試料S
からグリッド1に向って放射したときと平行な方向で再
びグリッド1の内側の空間に戻って来る。図ではこのよ
うな軌道を画く電子の軌道が三つ画いである。これらの
軌道においてグリッド1の球面中心Oと夫々の軌道の楕
円部分の中心Oから一番遠い所とを結ぶ直線が長軸であ
るが、その長軸に関して対称の形であり、従ってSから
出た特定エネルギーの電子はSから放射されたときと同
じ角度(図のθ)で開口Aを通過する。つまり、特定エ
ネルギーの電子によるSの像がAに形成され、それらの
電子が試料Sから出射した方向と平行な方向で開口へを
通過する。このため開口Aに対向させて配置した検出器
4の面には、試料Sから放射された特定エネルギーの電
子の角度分布の歪みのない分布像(球面を平面に投影す
ることによる歪みはあるが)が形成される。検出面をA
を中心とする球面にすれば、球面を平面に投影すること
による歪みもなくなる。
上述した所から明らかなように、グリッド1と電極2と
は第3図の従来例のG3.Mのようなローパスフィルタ
を構成しているのではない。即ち本発明の構成では、エ
ネルギーフィルタ成るエネルギーEcを境にしてそれよ
り高いエネルギーの粒子は全て電極2に入射し、Ecよ
り低いエネルギーの粒子だけが反射してくるというよう
な機能を持ったものではな(、ある特定エネルギーの粒
子だけは、開口Aに集まりこれを通過するが、その他の
エネルギーの粒子は遮蔽板3上に分散して開口へを通過
できないという機能でエネルギーの選別が行われるので
ある。このため第3図の従来例のようにローパスフィル
タとバイパスフィルタを組合わせて特定のエネルギーの
粒子を選別する必要がなく、原理的にはグリッドは図の
グリッド1一つだけでよいのであり、検出器を作動させ
るため、粒子加速の必要があるとしても開口Aを中心と
する2つのグリッドを追加すれば十分であって、電極2
もグリッド1も球面であることと相俟って構造的に大へ
ん簡単なものである。
は第3図の従来例のG3.Mのようなローパスフィルタ
を構成しているのではない。即ち本発明の構成では、エ
ネルギーフィルタ成るエネルギーEcを境にしてそれよ
り高いエネルギーの粒子は全て電極2に入射し、Ecよ
り低いエネルギーの粒子だけが反射してくるというよう
な機能を持ったものではな(、ある特定エネルギーの粒
子だけは、開口Aに集まりこれを通過するが、その他の
エネルギーの粒子は遮蔽板3上に分散して開口へを通過
できないという機能でエネルギーの選別が行われるので
ある。このため第3図の従来例のようにローパスフィル
タとバイパスフィルタを組合わせて特定のエネルギーの
粒子を選別する必要がなく、原理的にはグリッドは図の
グリッド1一つだけでよいのであり、検出器を作動させ
るため、粒子加速の必要があるとしても開口Aを中心と
する2つのグリッドを追加すれば十分であって、電極2
もグリッド1も球面であることと相俟って構造的に大へ
ん簡単なものである。
第1図に例示した軌道を画く粒子が全て同一エネルギー
を有するものであることについて簡単に説明しておく。
を有するものであることについて簡単に説明しておく。
第2図に示すように、半径Rの球を考え、この球の外側
にこの球の中心Oからの距離の2乗に反比例する引力の
場があるとすると、球面上の任意の点Pから図のY軸と
平行の方向に飛びだした粒子はその速度によって、図の
ように大小種々な楕円軸道を画く。これらの楕円は全て
Oを一つの焦点としているが、その中で特に長軸が図の
Y軸と一致している軌道群を考える。このような軌道群
の中の特別なものとして、球面の頂点TからY軸方向に
飛出した粒子について、TU=Rの点Uを上端とする直
線軌道がある。また球面の横のQ点からY方向に飛出し
た粒子については上述の軌道は球面に沿う円弧となる。
にこの球の中心Oからの距離の2乗に反比例する引力の
場があるとすると、球面上の任意の点Pから図のY軸と
平行の方向に飛びだした粒子はその速度によって、図の
ように大小種々な楕円軸道を画く。これらの楕円は全て
Oを一つの焦点としているが、その中で特に長軸が図の
Y軸と一致している軌道群を考える。このような軌道群
の中の特別なものとして、球面の頂点TからY軸方向に
飛出した粒子について、TU=Rの点Uを上端とする直
線軌道がある。また球面の横のQ点からY方向に飛出し
た粒子については上述の軌道は球面に沿う円弧となる。
これらの場合について球面から飛出すときの初速度を求
める。球面上の引力の強さをgとするとT点から測った
U点の位置のエネルギーEは E=gR/2 粒子の質量をm2球面上から飛出すときの初速をVとす
ると、第2図で、T点から飛出してU点で折返す粒子の
初速Vは運動のエネルギーと位置のエネルギーを等しい
と置いて ±mv2 =−LgR 故に v=79(7殆− 次に球面に沿って円軌道を画(粒子の速度Vを考えると
、 v = −f’a)g/処 でV=V 0一般の場合については第2図でJで示さ
れる軌道を考える。この軌道は軌道の球面上の出発点P
を通る水平線に関し上下対称であるから、軌道の上側の
焦点位置fは球の中心Oから2Rcosθの所にある。
める。球面上の引力の強さをgとするとT点から測った
U点の位置のエネルギーEは E=gR/2 粒子の質量をm2球面上から飛出すときの初速をVとす
ると、第2図で、T点から飛出してU点で折返す粒子の
初速Vは運動のエネルギーと位置のエネルギーを等しい
と置いて ±mv2 =−LgR 故に v=79(7殆− 次に球面に沿って円軌道を画(粒子の速度Vを考えると
、 v = −f’a)g/処 でV=V 0一般の場合については第2図でJで示さ
れる軌道を考える。この軌道は軌道の球面上の出発点P
を通る水平線に関し上下対称であるから、軌道の上側の
焦点位置fは球の中心Oから2Rcosθの所にある。
軌道の頂点と焦点との距離Xは楕円上の一点と二つの焦
点を結ぶ長さの和が一定2Rであるから、 X=R(1−cosθ) 故に球の中心Oから軌道頂点までの距離はR(1+co
sθ)である。軌道頂点における水平速度をUとすると
、面積速度一定の法則により、Rysinθ=R(1+
cosθ)U 故に 軌道頂点における位置のエネルギーLはまた運動のエネ
ルギーには 球面上の出発点における運動のエネルギーからKを引い
たものがLに等しいから 上式を整理すると、 %R。
点を結ぶ長さの和が一定2Rであるから、 X=R(1−cosθ) 故に球の中心Oから軌道頂点までの距離はR(1+co
sθ)である。軌道頂点における水平速度をUとすると
、面積速度一定の法則により、Rysinθ=R(1+
cosθ)U 故に 軌道頂点における位置のエネルギーLはまた運動のエネ
ルギーには 球面上の出発点における運動のエネルギーからKを引い
たものがLに等しいから 上式を整理すると、 %R。
8朝穴t+zΔθ士に20)=−ヲニ(t−t−2−υ
十(イ)2のとなり、θを含む項が消えてυ=〆8R/
ywt−となり、上記した軌道群に属する粒子の初速度
が全て等しいことが証明された。上述した楕円群に属す
る軌道は楕円が球面と交わる2点において、軌道方向が
互いに平行であり、全て等しい初速度を有しており第1
図において例示された軌道はこのような軌道群に属する
ので、全てが同じ初速度を持っているのである。モして
gの値はグリッドと球面電極間の電位差で決まるがら、
グリッドと球面電極との間に電圧を変えることにより、
検出しようとする粒子のエネルギーを変えることができ
るのである。
十(イ)2のとなり、θを含む項が消えてυ=〆8R/
ywt−となり、上記した軌道群に属する粒子の初速度
が全て等しいことが証明された。上述した楕円群に属す
る軌道は楕円が球面と交わる2点において、軌道方向が
互いに平行であり、全て等しい初速度を有しており第1
図において例示された軌道はこのような軌道群に属する
ので、全てが同じ初速度を持っているのである。モして
gの値はグリッドと球面電極間の電位差で決まるがら、
グリッドと球面電極との間に電圧を変えることにより、
検出しようとする粒子のエネルギーを変えることができ
るのである。
へ、実施例
第1図は本発明の一実施例を示す。グリッド1と電極2
とはOを共通中心とする同心球面であり、この実施例で
はグリッドの半径に対して電極の半径は2倍である。原
理的には電極2の半径をグリッド半径の2倍にしておけ
ば試料がら立体角2πステラジアン(半球面全体)の範
囲を一度に測定することができる。要求される立体角が
さ程大きくないときは電極半径はグリッド半径の2倍よ
り小さくてもよい。5はグリッド1と電極2の夫々の縁
の間に設けられた同心円状のガードリングで、抵抗6に
図のように接続されており、抵抗6の一端はグリッド1
に接続されると共に接地されており、他端は電極2に接
続されると共に電源7の負極側に接続されており、ガー
ドリング5によってグリッド1と電極2間の電界がグリ
ッド及び電極2の縁で乱れるのを防いでいる。3は半球
形のグリッド1の底面に位置する遮蔽板で導体で作られ
ており、これも接地されている。上の構成で電源7の出
力電圧を変えることで検出される荷電粒子のエネルギー
走査が行われる。遮蔽板3には中心Oからグリッドの半
径より稍小さい距離だけ離れた所に試料Sをセットする
窓Wが設けられて、0を中心にしてWと対称の位置に開
口Aが穿たれている。hl、h2はグリッド1及び球面
電極2に穿たれた小孔で、この小孔を通して試料Sを励
起する励起線例えばX線が試料面に入射せしめられる。
とはOを共通中心とする同心球面であり、この実施例で
はグリッドの半径に対して電極の半径は2倍である。原
理的には電極2の半径をグリッド半径の2倍にしておけ
ば試料がら立体角2πステラジアン(半球面全体)の範
囲を一度に測定することができる。要求される立体角が
さ程大きくないときは電極半径はグリッド半径の2倍よ
り小さくてもよい。5はグリッド1と電極2の夫々の縁
の間に設けられた同心円状のガードリングで、抵抗6に
図のように接続されており、抵抗6の一端はグリッド1
に接続されると共に接地されており、他端は電極2に接
続されると共に電源7の負極側に接続されており、ガー
ドリング5によってグリッド1と電極2間の電界がグリ
ッド及び電極2の縁で乱れるのを防いでいる。3は半球
形のグリッド1の底面に位置する遮蔽板で導体で作られ
ており、これも接地されている。上の構成で電源7の出
力電圧を変えることで検出される荷電粒子のエネルギー
走査が行われる。遮蔽板3には中心Oからグリッドの半
径より稍小さい距離だけ離れた所に試料Sをセットする
窓Wが設けられて、0を中心にしてWと対称の位置に開
口Aが穿たれている。hl、h2はグリッド1及び球面
電極2に穿たれた小孔で、この小孔を通して試料Sを励
起する励起線例えばX線が試料面に入射せしめられる。
4は遮蔽板3の下方で開口へに対向して配置された粒子
検出器で、この実施例では蛍光板であり、その上面には
グリッド8,9が蛍光板と平行に張設されており、グリ
ッド8は接地、9は正の高電圧が印加してあり、グリッ
ド8を通過した電子はグリッド8,9間で蛍光板4に垂
直の方向に加速されて蛍光板4に当たり、これを発光さ
せる。蛍光板4の発光パターンが試料Sから放射される
電子のうち成る特定のエネルギーを持ったものの放射角
度分布を示す。蛍光板4の代わりにチャンネルプレート
を置いて電子の分布パターンを電気的な映像信号に変換
するようにしてもよい。或は上述したような2次元的な
電子検出手段ではな(,1次元的な検出器で電子検出面
を一方向に走査するようにしてもよい。
検出器で、この実施例では蛍光板であり、その上面には
グリッド8,9が蛍光板と平行に張設されており、グリ
ッド8は接地、9は正の高電圧が印加してあり、グリッ
ド8を通過した電子はグリッド8,9間で蛍光板4に垂
直の方向に加速されて蛍光板4に当たり、これを発光さ
せる。蛍光板4の発光パターンが試料Sから放射される
電子のうち成る特定のエネルギーを持ったものの放射角
度分布を示す。蛍光板4の代わりにチャンネルプレート
を置いて電子の分布パターンを電気的な映像信号に変換
するようにしてもよい。或は上述したような2次元的な
電子検出手段ではな(,1次元的な検出器で電子検出面
を一方向に走査するようにしてもよい。
電極2の半径14cm1グリツド1の半径7 ell
、10点から試料窓Wの中心及び開口Aの中心までの距
ML 5 cra 、開口Aの孔径1+w++としたと
き、エネルギー分解能(ΔE/E )は約1/100で
ある。
、10点から試料窓Wの中心及び開口Aの中心までの距
ML 5 cra 、開口Aの孔径1+w++としたと
き、エネルギー分解能(ΔE/E )は約1/100で
ある。
エネルギー分解能は試料S及び開口Aの位置をグリッド
1の縁に近づける程向上する。開口Aの下側に開口Aを
中心として同心2正半球形のグリッドよりなるバイパス
フィルターを置(ことにより一部エネルギー分解能を向
上させうる。
1の縁に近づける程向上する。開口Aの下側に開口Aを
中心として同心2正半球形のグリッドよりなるバイパス
フィルターを置(ことにより一部エネルギー分解能を向
上させうる。
本発明の装置は上述したように試料から放射される荷電
粒子のうち任意のエネルギーを有す・るものの放射角度
による分布を測定する場合の外、検出手段4の所に位置
分解能のない検出器を配置することにより大きい立体角
内に放射される全荷電粒子のエネルギー分布を測定する
こともでき、大きい立体角内に放射される荷電粒子の全
部を合わせて検出するからきわめて明るいエネルギー分
析器となる。なお、第1図における試料Sの荷電粒子放
射点は、試料そのものでなく、試料上の一点から放射さ
れる粒子をレンズ系により収束させた収束点であっても
よい。
粒子のうち任意のエネルギーを有す・るものの放射角度
による分布を測定する場合の外、検出手段4の所に位置
分解能のない検出器を配置することにより大きい立体角
内に放射される全荷電粒子のエネルギー分布を測定する
こともでき、大きい立体角内に放射される荷電粒子の全
部を合わせて検出するからきわめて明るいエネルギー分
析器となる。なお、第1図における試料Sの荷電粒子放
射点は、試料そのものでなく、試料上の一点から放射さ
れる粒子をレンズ系により収束させた収束点であっても
よい。
ト、効果
本発明エネルギー分析装置は上述したような構成で、主
要部は一組の同心半球状のグリッドと電極だけであり、
基本的にローパスフィルタとバイパスフィルタを要する
第3図の構成に比し構造が大へん簡単である。また、グ
リッドを構成しているワイヤの近辺を通る荷電粒子軌道
及びワイヤに当たる荷電粒子は軌道が乱れ、このような
軌道の乱れた荷電粒子は目的のエネルギーの粒子の検出
器への到達率を低下させる一方目的外のエネルギーの粒
子で検出器に入射するものが増すので、感度低下とバッ
クグラウンド増加と云う2重の障碍作用を有するから、
グリッドは成るべ(少ない方がよいが、本発明では基本
的にはグリッドは一枚でよ(、第3図の従来例が最小限
三枚必要であるのに比し、グリッド数が少(、第3図の
従来例では目的エネルギーの粒子の検出器への到達率(
透過率)は34%程度であるが、本発明ではその2倍の
約66%である。そしてこのことは他方では本発明の方
がバックグラウンドも少ないことを意味している。また
近似式を使っておらず、全立体角で収束が保証されるの
で、広い立体角の測定域を確保でき、第3図の従来装置
では一度に測定できる範囲は1.8ステラジアン程度で
あるが、本発明では6.28ステラジアン程度と第3図
に示すような従来例の約3倍である。
要部は一組の同心半球状のグリッドと電極だけであり、
基本的にローパスフィルタとバイパスフィルタを要する
第3図の構成に比し構造が大へん簡単である。また、グ
リッドを構成しているワイヤの近辺を通る荷電粒子軌道
及びワイヤに当たる荷電粒子は軌道が乱れ、このような
軌道の乱れた荷電粒子は目的のエネルギーの粒子の検出
器への到達率を低下させる一方目的外のエネルギーの粒
子で検出器に入射するものが増すので、感度低下とバッ
クグラウンド増加と云う2重の障碍作用を有するから、
グリッドは成るべ(少ない方がよいが、本発明では基本
的にはグリッドは一枚でよ(、第3図の従来例が最小限
三枚必要であるのに比し、グリッド数が少(、第3図の
従来例では目的エネルギーの粒子の検出器への到達率(
透過率)は34%程度であるが、本発明ではその2倍の
約66%である。そしてこのことは他方では本発明の方
がバックグラウンドも少ないことを意味している。また
近似式を使っておらず、全立体角で収束が保証されるの
で、広い立体角の測定域を確保でき、第3図の従来装置
では一度に測定できる範囲は1.8ステラジアン程度で
あるが、本発明では6.28ステラジアン程度と第3図
に示すような従来例の約3倍である。
第1図は本発明の一実施例装置の要部縦断側面図、第2
図は本発明における電子軌道の説明図、第3図は従来の
一例の装置の縦断側面図である。 1・・・グリッド、2・・・電極、3・・・遮蔽板、4
・・・荷電粒子検出手段、5・・・ガードリング、S・
・・試料、A・・・開口、W・・・窓。 代理人 弁理士 縣 浩 介 s1図 第3図 特開昭A1−97M;4”;暑姉正め内宛市1絣手続補
正書(自発) 昭和62年 1月23日 特許庁長官 黒 1)明 雄 殿 1、事件の表示 昭和61年特許願第271545号
2)発明の名称 荷電粒子アナライザー 3、補正する者 事件との関係 特許出願人 住 所 千葉県千葉市弥生町1番纏170号東大西千葉
宿舎1棟503号 氏名 大 門 寛 4、代 理 人 住 所 大阪市東区横堀5丁目16番地中甚ビル内氏
名 (7045)弁理士 縣 浩 介5、補正
により増加する発明の数 06、補正の対象 明細書の発明の詳細な説明の欄 8、補正の内容 1 明細書の第2頁第9行「ある適宜の方向・・・」を
、「ある適宜の方向・・・」と補正します。 2 明細書の第2頁第14行「小丘角内の粒子・・・」
を、「小立体角内の粒子・・・」と補正します。 3 明細書の第8頁第15行「エネルギーフィルタ成る
・・・」を、「エネルギーフィルタのように成る・・・
」と補正します。
図は本発明における電子軌道の説明図、第3図は従来の
一例の装置の縦断側面図である。 1・・・グリッド、2・・・電極、3・・・遮蔽板、4
・・・荷電粒子検出手段、5・・・ガードリング、S・
・・試料、A・・・開口、W・・・窓。 代理人 弁理士 縣 浩 介 s1図 第3図 特開昭A1−97M;4”;暑姉正め内宛市1絣手続補
正書(自発) 昭和62年 1月23日 特許庁長官 黒 1)明 雄 殿 1、事件の表示 昭和61年特許願第271545号
2)発明の名称 荷電粒子アナライザー 3、補正する者 事件との関係 特許出願人 住 所 千葉県千葉市弥生町1番纏170号東大西千葉
宿舎1棟503号 氏名 大 門 寛 4、代 理 人 住 所 大阪市東区横堀5丁目16番地中甚ビル内氏
名 (7045)弁理士 縣 浩 介5、補正
により増加する発明の数 06、補正の対象 明細書の発明の詳細な説明の欄 8、補正の内容 1 明細書の第2頁第9行「ある適宜の方向・・・」を
、「ある適宜の方向・・・」と補正します。 2 明細書の第2頁第14行「小丘角内の粒子・・・」
を、「小立体角内の粒子・・・」と補正します。 3 明細書の第8頁第15行「エネルギーフィルタ成る
・・・」を、「エネルギーフィルタのように成る・・・
」と補正します。
Claims (2)
- (1)球状のグリッドの外側に、このグリッドと同心に
球状電極を配置し、上記グリッドの内側でグリッドの縁
線に近い位置に荷電粒子放射点を設け、グリッドの球面
中心と上記粒子放射点とを含む平面上に遮蔽板を配置し
、上記グリッドの球面中心に関して、上記粒子放射点と
対称の位置において上記遮蔽板に開口を設け、この遮蔽
板の上記グリッドとは反対の側において、上記開口に対
向させて荷電粒子検出手段を配置したことを特徴とする
荷電粒子アナライザー。 - (2)特許請求の範囲第1項においてグリッド及び電極
が半球でなく、球の一部または全部である荷電粒子アナ
ライザー。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61271545A JPS63126148A (ja) | 1986-11-14 | 1986-11-14 | 荷電粒子アナライザ− |
DE8787116800T DE3780766T2 (de) | 1986-11-14 | 1987-11-13 | Analysator fuer geladene teilchen. |
EP87116800A EP0268232B1 (en) | 1986-11-14 | 1987-11-13 | Charged particle analyzer |
US07/120,155 US4849629A (en) | 1986-11-14 | 1987-11-13 | Charged particle analyzer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61271545A JPS63126148A (ja) | 1986-11-14 | 1986-11-14 | 荷電粒子アナライザ− |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63126148A true JPS63126148A (ja) | 1988-05-30 |
JPH0426181B2 JPH0426181B2 (ja) | 1992-05-06 |
Family
ID=17501557
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61271545A Granted JPS63126148A (ja) | 1986-11-14 | 1986-11-14 | 荷電粒子アナライザ− |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4849629A (ja) |
EP (1) | EP0268232B1 (ja) |
JP (1) | JPS63126148A (ja) |
DE (1) | DE3780766T2 (ja) |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5008535A (en) * | 1988-09-02 | 1991-04-16 | U.S. Philips Corporation | Energy analyzer and spectrometer for low-energy electrons |
JPH02201857A (ja) * | 1989-01-30 | 1990-08-10 | Shimadzu Corp | 球面型荷電粒子アナライザ |
US4983830A (en) * | 1989-06-29 | 1991-01-08 | Seiko Instruments Inc. | Focused ion beam apparatus having charged particle energy filter |
US5059785A (en) * | 1990-05-30 | 1991-10-22 | The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy | Backscattering spectrometry device for identifying unknown elements present in a workpiece |
DE69028700T2 (de) * | 1990-07-09 | 1997-04-30 | Shimadzu Corp | Analysator für geladene Teilchen mit sphärischer Elektrode |
US5451784A (en) * | 1994-10-31 | 1995-09-19 | Applied Materials, Inc. | Composite diagnostic wafer for semiconductor wafer processing systems |
US5801386A (en) * | 1995-12-11 | 1998-09-01 | Applied Materials, Inc. | Apparatus for measuring plasma characteristics within a semiconductor wafer processing system and a method of fabricating and using same |
US5962850A (en) * | 1998-03-04 | 1999-10-05 | Southwest Research Institute | Large aperture particle detector with integrated antenna |
DE69924240T2 (de) * | 1999-06-23 | 2006-02-09 | ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft für Halbleiterprüftechnik mbH | Ladungsträgerteilchenstrahlvorrichtung |
US6690007B2 (en) | 2000-08-07 | 2004-02-10 | Shimadzu Corporation | Three-dimensional atom microscope, three-dimensional observation method of atomic arrangement, and stereoscopic measuring method of atomic arrangement |
US20060022147A1 (en) * | 2004-08-02 | 2006-02-02 | Nanya Technology Corporation | Method and device of monitoring and controlling ion beam energy distribution |
KR100782370B1 (ko) * | 2006-08-04 | 2007-12-07 | 삼성전자주식회사 | 지연 전기장을 이용한 이온 에너지 분포 분석기에 근거한이온 분석 시스템 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
SU475686A1 (ru) * | 1973-02-02 | 1975-06-30 | Предприятие П/Я Р-6681 | Устройство дл регистрации энергетических спектров электронов |
JPS52488A (en) * | 1975-06-23 | 1977-01-05 | Hitachi Ltd | Apparatus for composite analysis |
DE2920972A1 (de) * | 1978-05-25 | 1979-11-29 | Kratos Ltd | Vorrichtung zur spektroskopie mit geladenen teilchen |
DE3138929A1 (de) * | 1981-09-30 | 1983-04-14 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Verbessertes sekundaerelektronen-spektrometer fuer die potentialmessung an einer probe mit einer elektronensonde |
JPS5878362A (ja) * | 1981-10-31 | 1983-05-11 | Shimadzu Corp | 荷電粒子エネルギ−分析器 |
US4546254A (en) * | 1983-03-24 | 1985-10-08 | Shimadzu Corporation | Charged particle energy analyzer |
DE3484246D1 (de) * | 1984-12-22 | 1991-04-11 | Leybold Heraeus Gmbh & Co Kg | Analysator fuer geladene teilchen. |
US4633084A (en) * | 1985-01-16 | 1986-12-30 | The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy | High efficiency direct detection of ions from resonance ionization of sputtered atoms |
JPH0736321B2 (ja) * | 1985-06-14 | 1995-04-19 | イーツエーテー、インテグレイテツド、サーキツト、テスチング、ゲゼルシヤフト、フユア、ハルプライタープリユーフテヒニク、ミツト、ベシユレンクテル、ハフツング | 定量的電位測定用スペクトロメ−タ−対物レンズ装置 |
-
1986
- 1986-11-14 JP JP61271545A patent/JPS63126148A/ja active Granted
-
1987
- 1987-11-13 US US07/120,155 patent/US4849629A/en not_active Expired - Lifetime
- 1987-11-13 DE DE8787116800T patent/DE3780766T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1987-11-13 EP EP87116800A patent/EP0268232B1/en not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0268232A2 (en) | 1988-05-25 |
DE3780766D1 (de) | 1992-09-03 |
DE3780766T2 (de) | 1993-03-18 |
EP0268232A3 (en) | 1989-10-18 |
US4849629A (en) | 1989-07-18 |
JPH0426181B2 (ja) | 1992-05-06 |
EP0268232B1 (en) | 1992-07-29 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPS63126148A (ja) | 荷電粒子アナライザ− | |
JP6757036B2 (ja) | 静電レンズ、並びに、該レンズとコリメータを用いた平行ビーム発生装置及び平行ビーム収束装置 | |
JP3266286B2 (ja) | 荷電粒子エネルギー分析器 | |
JPWO2008013232A1 (ja) | 球面収差補正減速型レンズ、球面収差補正レンズシステム、電子分光装置および光電子顕微鏡 | |
JP2021027038A (ja) | 分光およびイメージングシステム | |
JPS62176959U (ja) | ||
US6730907B1 (en) | Charged particle device | |
JPH0510897A (ja) | X線光電子分光イメージング装置 | |
EP0295653B1 (en) | High luminosity spherical analyzer for charged particles | |
JPH0114666B2 (ja) | ||
JPS5878361A (ja) | 荷電粒子エネルギ−分析装置 | |
JP2021057178A (ja) | インプットレンズおよび電子分光装置 | |
JPH0421307B2 (ja) | ||
US7126117B2 (en) | Imaging energy filter for electrons and other electrically charged particles and method for energy filtration of the electrons and other electrically charged particles with the imaging energy filter in electro-optical devices | |
JP2015036670A (ja) | 電子分光装置 | |
Vaisberg et al. | The possibility of making fast measurements of ion distribution function | |
JPH07318521A (ja) | X線分析方法およびその装置 | |
JPS63126149A (ja) | 荷電粒子アナライザ | |
SU993362A1 (ru) | Масс-спектрометр | |
JPH0269692A (ja) | 荷電粒子ビームのエネルギーの球状ミラー分析器 | |
JPS637656B2 (ja) | ||
JPS62226554A (ja) | 荷電粒子エネルギ−アナライザ | |
JP2001235439A (ja) | 放射電子顕微鏡 | |
JPH0578137B2 (ja) | ||
CN115639229A (zh) | 多毛细管会聚透镜的中子成像谱仪及其成像方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |