SU475686A1 - Устройство дл регистрации энергетических спектров электронов - Google Patents
Устройство дл регистрации энергетических спектров электроновInfo
- Publication number
- SU475686A1 SU475686A1 SU1877961A SU1877961A SU475686A1 SU 475686 A1 SU475686 A1 SU 475686A1 SU 1877961 A SU1877961 A SU 1877961A SU 1877961 A SU1877961 A SU 1877961A SU 475686 A1 SU475686 A1 SU 475686A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- electrons
- electron
- grid
- energy
- energy spectra
- Prior art date
Links
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
Изобретение относитс к технике спектроскоиии зар женных частиц малых и средних энергий и может быть применено дл получени энергетических спектров ионов и электронов , освобождаемых при взаимодействии корпускул рного и электромагнитного излучени в области энергий 50-2000 эв с конденсированной средой и изолированными атомами. Оно может быть использовано с наибольшим эффектом при исследовании энергетики неодноэлектронных процессов в разного рода эмисси х при больших энерги х возбуждени , а также при излучении Ожепроцессов, переходов при кратной ионизации, эффектов размножени электронных возбуждений и рассе ни энергии возбужденных электронов внутри твердого тела.
Известны приборы дл исследовани энергетических спектров фото- вторичной электронной эмиссии, состо шие из магнитных и электростатических анализаторов, устройств ввода эмиссии в анализируюшее поле и детекторов зар женных частиц.
Так, например, в приборе дл анализа рентгеновской фотоэмиссии по энерги м используетс магнитный анализатор электронных энергий, в фокальной плоскости которого установлен блок канальных электронных умножителей (КЭУ) (микроканальна плата), усиливаюишй в 10 -10 крат электронные потоки , которые образуют изображение электро.нных линий, и охватывающий участок спектра электронов в 10 эв одновременно.
Расположенный за канальной платой фосфоресцирующий экран при -подаче на него высокого напр жени преобразует импульсы тока умножителей в световые вспышки, которые регистрируютс сканируюш,ей видеокамерой и многоканальным анализатором с
электронной пам тью.
Недостатками описанного прототипа вл ютс невозможность регистрации электронных спектров одновременно во всей области энергий эмиттирующих электронов до 60-
70 эв и св занна с этим невозможность непосредственного получени парциальных энергетических спектров электронов в эмиссионный пачках с какой-либо определенной интересуюш ,ей численностью.
В предлагаемом устройстве с целью пр мой регистрации энергетического распределени электронов в эмиссионных пачках любой численности , за блоком канальных электрон1Из1Х умножителей по ходу -электронных пучков устано .влены последовательно суммируюша ускор юща сетка с 50%-ныМ пропусканием электронов, двухсеточный замедлитель электронов , управл юща сетка с 90%-ным пропусканием и запоминающа пластина потенциалоскопической электроннолучевой трубки,
причем суммирующа сетка подключена ко входу дифференциального амплитудного анализатора импульсов, выход которого подсоединен к управл ющей сетке.
Между блоком канальных умножителей и запоминающей пластиной ЭЛТ приложено посто нное электромагнитное .поле, достаточное дл стигматической фокусировки электронных пучков на поверхности запоминающей пластины .
На чертеже изображен общий вид одного из вариантов предлагаемого устройства (разрез в меридиональной -плоскости), где 1 -мишень , эмисси с которой исследуетс , 2 - электронный магнитный 180°-ный анализатор с входной щелью, 3 - блок КЭУ с диаметром отдельных каналов в несколько дес тков мкм, 4 - суммирующа сетка с прозрачностью Т дл электролов - 50%, 5-6 - двухсеточный замедлитель электронов, 7 - управл юща сетка, Т-90%, 8 - запоминающа пластина потенциалоскопической ЭЛТ, 9 - горизонтально отклон ющие пластины ЗЛТ, 10 - вертикально отклон ющие пластины, 11 - электронна пушка ЭЛТ; ААИ-амплитудный аиализатор импульсов.
Прибор работает следующим образом.
Пучок монохроматического света или моноэнергетических электронов возбуждает электронную эмиссию из мишени 1 (например, из фотокатода), котора ускор етс электрическим полем и фокусируетс так, что целиком проходит во входную щель анализатора 2.
В однородном поперечном магнитном поле траектории электронов любых энергий Е представл ют собой окружности, поэтому в фокальной плоскости анализатора электроны одинаковых энергий при повороте на 180° фокусируютс в узкие линии, перпендикул рные меридиональному сечению, причем щирина их тем больше, чем щире входна щель и больше углова апертура входного оучка.
При достаточно малом сечении индивидуальных КЭУ (пор дка дес тков м-к/м) и их высокой эффективности (0,8-0,9 при 400 эв) контур электронной линии переноситс на .выходную -плоскость блока КЭУ-3, конечно, с некоторыми искажени ми.
Далее, по выходе из блока 3, усиленные пучки электронов фокусируютс с помощью комбинированной магнитоэлектростатической фокусирующей электроннооптической системы (в нее вход т ускор юща сетка 4 и магнитна линза, не показанна на чертеже) на запоминающую пластину 8 ЭЛТ-потенциалоскопа , так, что осуществл етс перенос изображени электронного спектра с выхода блока КЭУ на запоминающую пластину 8.
Таким образом, на .пластине 8 образуетс потенциальный рельеф, соответствующий энергетическому (суммарному дл всех пачек) спектру электронной эмиссии.
Сетки 4 и 7 служат дл обеспечени условий управлени процессом регистрации энергетических спектров по совпадени м во времени импульсов от отдельных КЭУ.
Сетка 4 имеет Т 50% при размерах чейки в несколько дес тков КМК. Это позвол ет отобрать на нее около 50% электронов из каждого индивидуального КЭУ.
Поскольку входна апертура КЭУ невелика (несколько сот квадратных мкм), можно предположить , что пр.и небольших интенсивност х электронного потока на вход каждого КЭУ в течение его разрешающего времени ( нсек) попадает не более одного электрона. Тогда совпадение во времени токовых импульсов КЭУ будет означать (с точностью до разрешающего времени нсек) принадлежность вызывающих их электронов к одной эмиссионной пачке.
Если КЭУ все работают в режиме насыщени и, следовательно, импульсы тока на выходе их всегда имеют одну и ту же величину (амплитудное распределение (АР) напоминает по виду 5-функцию) и если, кроме того, коэффициент усилени не очень сильно варьирует в пределах полезной площади канальной платы, то можно считать, что амплитуда импульса напр жени , снимаемого с сетки 4, будет пропорциональна, числу электронов в пачке , эмиттируемой фотокатодом 1. Сигнал с сетки 4 подаетс на ААИ, который настраиваетс ,на группу каналов, соответствующую пачкам определенной численности, и в случае обнаружени такой пачки выдет положительный разрешающий импульс на сетку 7.
Все остальное врем сетка 7 находитс под посто нным отрицательным потенциалом, что обеспечивает запирание электронных пучков, соответствующих пачкам любой другой численности .
При отпира.нии сетки 7 эмисси , соответствующа пачкам с исследуемой численностью, создает на пластине 8 потенциалоскопа потенциальный рельеф, сохран пространственное линейчатое распределение по энерги м, как уже отмечалось выше, пр.и условии отигматической фокусировки.
Расчет времени пролета электронами рассто ни в 10 мм между сетками 4 и 7 при энергии в 1 кэв дает величину 0,5 нсек. Этого времени совершенно недостаточно дл работы AAPI даже наносекундного диапазона. Поэтому в увеличенное пространство между сетками 4 и 7 введены еще две, 5 и 6, сетки высокого (90%) пропускани , наход щиес под одинаковым .низким напр жением и образующие , таким образом, замедлитель электронных пучков.
При выборе соответствующих потенциала и рассто ни между сетками (например, 2-4 в и 10 мм, соответственно) врем прохождени электронами участка замедлени может быть легко увеличено до 10-30 нсек. Этого уже вполне достаточно дл срабатывани схемы ААИ и выдачи импульса управлени на сетку 7.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU1877961A SU475686A1 (ru) | 1973-02-02 | 1973-02-02 | Устройство дл регистрации энергетических спектров электронов |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU1877961A SU475686A1 (ru) | 1973-02-02 | 1973-02-02 | Устройство дл регистрации энергетических спектров электронов |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU475686A1 true SU475686A1 (ru) | 1975-06-30 |
Family
ID=20540973
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU1877961A SU475686A1 (ru) | 1973-02-02 | 1973-02-02 | Устройство дл регистрации энергетических спектров электронов |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU475686A1 (ru) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4184073A (en) * | 1978-05-25 | 1980-01-15 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | Fast response electron spectrometer |
US4849629A (en) * | 1986-11-14 | 1989-07-18 | Shimadzu Corporation | Charged particle analyzer |
-
1973
- 1973-02-02 SU SU1877961A patent/SU475686A1/ru active
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4184073A (en) * | 1978-05-25 | 1980-01-15 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | Fast response electron spectrometer |
US4849629A (en) * | 1986-11-14 | 1989-07-18 | Shimadzu Corporation | Charged particle analyzer |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5202561A (en) | Device and method for analyzing ions of high mass | |
White et al. | Time‐of‐flight photoelectron spectroscopy of gases using synchrotron radiation | |
US4810882A (en) | Mass spectrometer for positive and negative ions | |
US8350213B2 (en) | Charged particle beam detection unit with multi type detection subunits | |
US6051831A (en) | High-mass detector with high mass-resolution for time-of-flight mass spectrometers | |
US5463218A (en) | Detection of very large molecular ions in a time-of-flight mass spectrometer | |
US5401965A (en) | Secondary ion mass spectrometer for analyzing positive and negative ions | |
JPS5917500B2 (ja) | 中性粒子検出装置 | |
Doyle et al. | A new approach to nuclear microscopy: the ion–electron emission microscope | |
US20240128070A1 (en) | Multimode ion detector with wide dynamic range and automatic mode switching | |
Gruntman et al. | H atom detection and energy analysis by use of thin foils and TOF technique | |
SU475686A1 (ru) | Устройство дл регистрации энергетических спектров электронов | |
JPS6226142B2 (ru) | ||
JP7528191B2 (ja) | 焦点面検出器 | |
Kruglov et al. | A beam diagnostic system for low-intensity radioactive beams | |
Poschenrieder et al. | New Directional and Energy Focusing Time of Flight Mass Spectrometers for Special Tasks in Vacuum and Surface Physics | |
EP1051735A2 (en) | Charged particle energy analysers | |
SU439775A1 (ru) | Устройство дл регистрации энергетических спектров электронной эмиссии | |
Laprade et al. | Recent advances in small pore microchannel plate technology | |
US3602752A (en) | Cathode structure with magnetic field producing means | |
US3586853A (en) | Axial beam time of flight mass spectrometer | |
Almen et al. | Fast rise time, high sensitivity MCP ion detector for low-energy ion spectroscopy | |
Bertacco et al. | A high-efficiency photon detector for parallel acquisition of UV inverse photoemission spectroscopy | |
JPS6245424Y2 (ru) | ||
Boerboom | Array detection of mass spectra, a comparison with conventional detection methods |