SU475686A1 - Устройство дл регистрации энергетических спектров электронов - Google Patents

Устройство дл регистрации энергетических спектров электронов

Info

Publication number
SU475686A1
SU475686A1 SU1877961A SU1877961A SU475686A1 SU 475686 A1 SU475686 A1 SU 475686A1 SU 1877961 A SU1877961 A SU 1877961A SU 1877961 A SU1877961 A SU 1877961A SU 475686 A1 SU475686 A1 SU 475686A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
electrons
electron
grid
energy
energy spectra
Prior art date
Application number
SU1877961A
Other languages
English (en)
Inventor
Олег Михайлович Сорокин
Original Assignee
Предприятие П/Я Р-6681
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я Р-6681 filed Critical Предприятие П/Я Р-6681
Priority to SU1877961A priority Critical patent/SU475686A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU475686A1 publication Critical patent/SU475686A1/ru

Links

Landscapes

  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Description

Изобретение относитс  к технике спектроскоиии зар женных частиц малых и средних энергий и может быть применено дл  получени  энергетических спектров ионов и электронов , освобождаемых при взаимодействии корпускул рного и электромагнитного излучени  в области энергий 50-2000 эв с конденсированной средой и изолированными атомами. Оно может быть использовано с наибольшим эффектом при исследовании энергетики неодноэлектронных процессов в разного рода эмисси х при больших энерги х возбуждени , а также при излучении Ожепроцессов, переходов при кратной ионизации, эффектов размножени  электронных возбуждений и рассе ни  энергии возбужденных электронов внутри твердого тела.
Известны приборы дл  исследовани  энергетических спектров фото- вторичной электронной эмиссии, состо шие из магнитных и электростатических анализаторов, устройств ввода эмиссии в анализируюшее поле и детекторов зар женных частиц.
Так, например, в приборе дл  анализа рентгеновской фотоэмиссии по энерги м используетс  магнитный анализатор электронных энергий, в фокальной плоскости которого установлен блок канальных электронных умножителей (КЭУ) (микроканальна  плата), усиливаюишй в 10 -10 крат электронные потоки , которые образуют изображение электро.нных линий, и охватывающий участок спектра электронов в 10 эв одновременно.
Расположенный за канальной платой фосфоресцирующий экран при -подаче на него высокого напр жени  преобразует импульсы тока умножителей в световые вспышки, которые регистрируютс  сканируюш,ей видеокамерой и многоканальным анализатором с
электронной пам тью.
Недостатками описанного прототипа  вл ютс  невозможность регистрации электронных спектров одновременно во всей области энергий эмиттирующих электронов до 60-
70 эв и св занна  с этим невозможность непосредственного получени  парциальных энергетических спектров электронов в эмиссионный пачках с какой-либо определенной интересуюш ,ей численностью.
В предлагаемом устройстве с целью пр мой регистрации энергетического распределени  электронов в эмиссионных пачках любой численности , за блоком канальных электрон1Из1Х умножителей по ходу -электронных пучков устано .влены последовательно суммируюша  ускор юща  сетка с 50%-ныМ пропусканием электронов, двухсеточный замедлитель электронов , управл юща  сетка с 90%-ным пропусканием и запоминающа  пластина потенциалоскопической электроннолучевой трубки,
причем суммирующа  сетка подключена ко входу дифференциального амплитудного анализатора импульсов, выход которого подсоединен к управл ющей сетке.
Между блоком канальных умножителей и запоминающей пластиной ЭЛТ приложено посто нное электромагнитное .поле, достаточное дл  стигматической фокусировки электронных пучков на поверхности запоминающей пластины .
На чертеже изображен общий вид одного из вариантов предлагаемого устройства (разрез в меридиональной -плоскости), где 1 -мишень , эмисси  с которой исследуетс , 2 - электронный магнитный 180°-ный анализатор с входной щелью, 3 - блок КЭУ с диаметром отдельных каналов в несколько дес тков мкм, 4 - суммирующа  сетка с прозрачностью Т дл  электролов - 50%, 5-6 - двухсеточный замедлитель электронов, 7 - управл юща  сетка, Т-90%, 8 - запоминающа  пластина потенциалоскопической ЭЛТ, 9 - горизонтально отклон ющие пластины ЗЛТ, 10 - вертикально отклон ющие пластины, 11 - электронна  пушка ЭЛТ; ААИ-амплитудный аиализатор импульсов.
Прибор работает следующим образом.
Пучок монохроматического света или моноэнергетических электронов возбуждает электронную эмиссию из мишени 1 (например, из фотокатода), котора  ускор етс  электрическим полем и фокусируетс  так, что целиком проходит во входную щель анализатора 2.
В однородном поперечном магнитном поле траектории электронов любых энергий Е представл ют собой окружности, поэтому в фокальной плоскости анализатора электроны одинаковых энергий при повороте на 180° фокусируютс  в узкие линии, перпендикул рные меридиональному сечению, причем щирина их тем больше, чем щире входна  щель и больше углова  апертура входного оучка.
При достаточно малом сечении индивидуальных КЭУ (пор дка дес тков м-к/м) и их высокой эффективности (0,8-0,9 при 400 эв) контур электронной линии переноситс  на .выходную -плоскость блока КЭУ-3, конечно, с некоторыми искажени ми.
Далее, по выходе из блока 3, усиленные пучки электронов фокусируютс  с помощью комбинированной магнитоэлектростатической фокусирующей электроннооптической системы (в нее вход т ускор юща  сетка 4 и магнитна  линза, не показанна  на чертеже) на запоминающую пластину 8 ЭЛТ-потенциалоскопа , так, что осуществл етс  перенос изображени  электронного спектра с выхода блока КЭУ на запоминающую пластину 8.
Таким образом, на .пластине 8 образуетс  потенциальный рельеф, соответствующий энергетическому (суммарному дл  всех пачек) спектру электронной эмиссии.
Сетки 4 и 7 служат дл  обеспечени  условий управлени  процессом регистрации энергетических спектров по совпадени м во времени импульсов от отдельных КЭУ.
Сетка 4 имеет Т 50% при размерах  чейки в несколько дес тков КМК. Это позвол ет отобрать на нее около 50% электронов из каждого индивидуального КЭУ.
Поскольку входна  апертура КЭУ невелика (несколько сот квадратных мкм), можно предположить , что пр.и небольших интенсивност х электронного потока на вход каждого КЭУ в течение его разрешающего времени ( нсек) попадает не более одного электрона. Тогда совпадение во времени токовых импульсов КЭУ будет означать (с точностью до разрешающего времени нсек) принадлежность вызывающих их электронов к одной эмиссионной пачке.
Если КЭУ все работают в режиме насыщени  и, следовательно, импульсы тока на выходе их всегда имеют одну и ту же величину (амплитудное распределение (АР) напоминает по виду 5-функцию) и если, кроме того, коэффициент усилени  не очень сильно варьирует в пределах полезной площади канальной платы, то можно считать, что амплитуда импульса напр жени , снимаемого с сетки 4, будет пропорциональна, числу электронов в пачке , эмиттируемой фотокатодом 1. Сигнал с сетки 4 подаетс  на ААИ, который настраиваетс  ,на группу каналов, соответствующую пачкам определенной численности, и в случае обнаружени  такой пачки выдет положительный разрешающий импульс на сетку 7.
Все остальное врем  сетка 7 находитс  под посто нным отрицательным потенциалом, что обеспечивает запирание электронных пучков, соответствующих пачкам любой другой численности .
При отпира.нии сетки 7 эмисси , соответствующа  пачкам с исследуемой численностью, создает на пластине 8 потенциалоскопа потенциальный рельеф, сохран   пространственное линейчатое распределение по энерги м, как уже отмечалось выше, пр.и условии отигматической фокусировки.
Расчет времени пролета электронами рассто ни  в 10 мм между сетками 4 и 7 при энергии в 1 кэв дает величину 0,5 нсек. Этого времени совершенно недостаточно дл  работы AAPI даже наносекундного диапазона. Поэтому в увеличенное пространство между сетками 4 и 7 введены еще две, 5 и 6, сетки высокого (90%) пропускани , наход щиес  под одинаковым .низким напр жением и образующие , таким образом, замедлитель электронных пучков.
При выборе соответствующих потенциала и рассто ни  между сетками (например, 2-4 в и 10 мм, соответственно) врем  прохождени  электронами участка замедлени  может быть легко увеличено до 10-30 нсек. Этого уже вполне достаточно дл  срабатывани  схемы ААИ и выдачи импульса управлени  на сетку 7.
SU1877961A 1973-02-02 1973-02-02 Устройство дл регистрации энергетических спектров электронов SU475686A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU1877961A SU475686A1 (ru) 1973-02-02 1973-02-02 Устройство дл регистрации энергетических спектров электронов

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU1877961A SU475686A1 (ru) 1973-02-02 1973-02-02 Устройство дл регистрации энергетических спектров электронов

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU475686A1 true SU475686A1 (ru) 1975-06-30

Family

ID=20540973

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU1877961A SU475686A1 (ru) 1973-02-02 1973-02-02 Устройство дл регистрации энергетических спектров электронов

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU475686A1 (ru)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4184073A (en) * 1978-05-25 1980-01-15 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army Fast response electron spectrometer
US4849629A (en) * 1986-11-14 1989-07-18 Shimadzu Corporation Charged particle analyzer

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4184073A (en) * 1978-05-25 1980-01-15 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army Fast response electron spectrometer
US4849629A (en) * 1986-11-14 1989-07-18 Shimadzu Corporation Charged particle analyzer

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5202561A (en) Device and method for analyzing ions of high mass
White et al. Time‐of‐flight photoelectron spectroscopy of gases using synchrotron radiation
US4810882A (en) Mass spectrometer for positive and negative ions
US8350213B2 (en) Charged particle beam detection unit with multi type detection subunits
US5463218A (en) Detection of very large molecular ions in a time-of-flight mass spectrometer
US5401965A (en) Secondary ion mass spectrometer for analyzing positive and negative ions
JPS5917500B2 (ja) 中性粒子検出装置
GB2318679A (en) Ion detectors for mass spectrometers
Doyle et al. A new approach to nuclear microscopy: the ion–electron emission microscope
Gruntman et al. H atom detection and energy analysis by use of thin foils and TOF technique
SU475686A1 (ru) Устройство дл регистрации энергетических спектров электронов
JPS6226142B2 (ru)
US11978617B2 (en) Focal plane detector
Kruglov et al. A beam diagnostic system for low-intensity radioactive beams
Poschenrieder et al. New Directional and Energy Focusing Time of Flight Mass Spectrometers for Special Tasks in Vacuum and Surface Physics
EP1051735A2 (en) Charged particle energy analysers
SU439775A1 (ru) Устройство дл регистрации энергетических спектров электронной эмиссии
Laprade et al. Recent advances in small pore microchannel plate technology
Berthelier et al. High resolution focal plane detector for a space-borne magnetic mass spectrometer
US3602752A (en) Cathode structure with magnetic field producing means
US3586853A (en) Axial beam time of flight mass spectrometer
Almen et al. Fast rise time, high sensitivity MCP ion detector for low-energy ion spectroscopy
JPS6245424Y2 (ru)
US3413479A (en) Radiation detector and amplifier having an input axial slot
Boerboom Array detection of mass spectra, a comparison with conventional detection methods