JPS63123147A - Checking circuit for storage device - Google Patents

Checking circuit for storage device

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JPS63123147A
JPS63123147A JP61269012A JP26901286A JPS63123147A JP S63123147 A JPS63123147 A JP S63123147A JP 61269012 A JP61269012 A JP 61269012A JP 26901286 A JP26901286 A JP 26901286A JP S63123147 A JPS63123147 A JP S63123147A
Authority
JP
Japan
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circuit
test mode
error
storage
processing device
Prior art date
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Pending
Application number
JP61269012A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Masayuki Katori
香取 雅之
Shoji Yamaguchi
山口 彰治
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
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Publication of JPS63123147A publication Critical patent/JPS63123147A/en
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Abstract

PURPOSE:To smoothly continue testing by giving a function interrupting the transmission of the notification that a check circuit develops an error when an unloaded storage unit is selected and specifying a test mode in a variety of tests in the producing step of a computer or in a test at the time of terminating a fault. CONSTITUTION:A load decision circuit 9 controlling the transmission of the error occurrence notification 7 is provided. n-load display signals 8 outputted from n-storage units, an address bus 4 and a test mode specification signal 10 from a processor 1 are put together in the circuit 9, processed and decided. If the storage unit 3 addressed through the address bus 4 is unloaded in a test mode, it is provided with the function to interrupt the transmission of the error occurrence notification 7 to the processor 1. Thus, by specifying the test mode, such a disadvantage can be prevented that the check circuit which always patrols and checks the storage device behaves unnecessary actions to interrupt testing.

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 本発明は電算機システムを構成する記憶装置のチェック
回路に関し、特に電算機システムの特定の動作状態、例
えば試験、あるいは点検等を実施する際、記憶装置に実
装される複数の記憶ユニット中一部の記憶ユニットが取
り外された状態においても、所謂”パトロール”動作と
拮抗することなく、試験、点検が実施出来るよう改良さ
れた記憶装置のチェック回路に関するものである。
[Detailed Description of the Invention] [Summary] The present invention relates to a check circuit for a storage device constituting a computer system, and in particular, the present invention relates to a check circuit for a storage device constituting a computer system. This relates to a storage device check circuit that has been improved so that tests and inspections can be performed without conflicting with the so-called "patrol" operation even when some of the storage units are removed from among the multiple storage units installed. be.

〔産業上の利用分野〕[Industrial application field]

電算機システムの応用分野が広がるにつれて、その社会
に対する影響が大となり、特に社会に密着したシステム
、例えばバンキングシステム、座席予約システム等に一
旦障害が発生するとその影響は甚大、深刻なものとなり
得る。このため、電算機システムは運転中も常に、自動
的に内部の各部分のチェックを実行し、障害の発生前、
あるいは発生しても被害の拡大しない前に対応処置を講
する機能を持つのが常識となっている。
As the field of application of computer systems expands, its influence on society becomes greater, and once a failure occurs in a system that is closely connected to society, such as a banking system or seat reservation system, the influence can be enormous and serious. For this reason, the computer system automatically checks each internal part at all times during operation, and detects problems before they occur.
Or, even if a problem occurs, it is common sense to have a function to take countermeasures before the damage spreads.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

電算機システムの構成要素中、記憶装置、特に主記憶装
置に障害が発生すると、その影響は深刻で、誤動作、シ
ステム停止等の事態に発展する場合もある。このため記
憶装置は常時その読み出しデータをチェックし、エラー
の発生時にはECCコードによるデータの復元、或いは
システムに対して通知する等の手段が取られる。更に積
極的に、プログラム制御により、電算機システムの運転
中にも一定時間間隔で記憶装置の内容を順次読み出して
チェックする所謂”パトロール”動作が行われる。
When a failure occurs in a storage device, especially a main storage device among the components of a computer system, the effects are serious and may lead to malfunctions, system shutdowns, and other situations. For this reason, the storage device constantly checks its read data, and when an error occurs, measures are taken such as restoring the data using an ECC code or notifying the system. Furthermore, under program control, a so-called "patrol" operation is performed in which the contents of the storage device are sequentially read out and checked at fixed time intervals even while the computer system is operating.

従来の記憶装置の一例を第2図に示す。本例によると記
憶装置2には通常プリント板ユニット構造をとる記憶ユ
ニット3がn枚、コネクタに挿入されることにより実装
されている。ここに端子Aはアドレス入力端子、端子り
はデータ出力端子である。処理表置工がデータを読みだ
すときはアドレスバス4に記憶アドレスを送出し、図示
していない読み出し指令を発信する。No、I〜No、
nの記憶ユニット3はアドレスバス4の、通常上位の桁
に指定されるユニット指定入力を解読し、自己がアドレ
スされていると判定すると、通常下位の桁に指定される
ユニット内アドレスを解読し、そのデータを読み出して
データバス5に送出する。データはデータバス5を経由
してチェック回路6でチェックを受ける。若しデータに
異常が発見されると、チェック回路6はエラー発生通知
信号7を処理装置1に送出し、また、ECCコードを使
用している時は訂正動作を実行する。
An example of a conventional storage device is shown in FIG. According to this example, n memory units 3, which normally have a printed board unit structure, are mounted in the memory device 2 by being inserted into connectors. Here, terminal A is an address input terminal, and terminal A is a data output terminal. When the processing table holder reads data, it sends a storage address to the address bus 4 and issues a read command (not shown). No, I~No,
The memory unit 3 of n decodes the unit designation input, which is usually specified in the upper digit of the address bus 4, and when it determines that it is being addressed, decodes the intra-unit address, which is usually specified in the lower digit. , reads the data and sends it to the data bus 5. The data is checked by a check circuit 6 via a data bus 5. If an abnormality is found in the data, the check circuit 6 sends an error occurrence notification signal 7 to the processing device 1, and also executes a correction operation when an ECC code is used.

このようなシステムにおいて、記憶ユニット3の何れか
が抜き取られた状態でその記憶ユニットがアクセスされ
ると、その記憶ユニットよりの読み出しデータはデータ
バス5上ですべて0″になり、チェック回路6は恰も記
憶ユニ・7ト3に障害が発生したかの如く判定し、エラ
ー表示信号7を処理装置1に対して発信する。この動作
はパトロール動作に対しても同様な効果を表す。
In such a system, if any of the storage units 3 is removed and accessed, the read data from that storage unit becomes all 0'' on the data bus 5, and the check circuit 6 It is determined as if a failure has occurred in the storage unit 7 3, and an error display signal 7 is sent to the processing device 1. This operation has a similar effect on the patrol operation.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

上記のように記憶装置に対するパトロール動作を常時実
行する電算機システムが、製造段階での各種の試験、或
いは障害復旧時の試験等において、記憶装置内の一部の
記憶ユニットを取り外した状態での運転を必要とする場
合がある。このような場合、パトロール動作が、記憶ユ
ニットの実装されていない記憶装置アドレスに到達する
と、上記説明したように、チェック回路6は恰も記憶ユ
ニットに障害が発生したかの如く判定し、処理装置に通
知し、プログラムがこれをシステムエラーとして処理す
ることがあるため、システムの停止等が頻繁に発生し、
試験の続行に支障を来すことが多く、これを防止する手
段が要求されていた。
As mentioned above, a computer system that constantly performs patrol operations on storage devices may be used with some storage units removed during various tests at the manufacturing stage or during failure recovery tests. May require driving. In such a case, when the patrol operation reaches a storage device address where no storage unit is installed, the check circuit 6 determines as if a failure has occurred in the storage unit, as described above, and causes the processing device to and the program may treat this as a system error, resulting in frequent system outages, etc.
This often interferes with the continuation of the test, and a means to prevent this has been required.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

上記の問題点を解決するため本発明においては第1図に
その原理を示すように、記憶袋W2のデータチェック回
路に実装判定回路9を付加した。
In order to solve the above-mentioned problems, in the present invention, a mounting determination circuit 9 is added to the data check circuit of the storage bag W2, the principle of which is shown in FIG.

データを読み出す場合処理袋W1よりアドレスバス4に
より複数の記憶ユニット3の内の一個が選択され、読み
出しデータはデータバス5上に出力され、使用する装置
に送出される前に読み出し誤りの有無がチェック回路6
によりチェックされる。チェックの結果データに誤りが
発見されるとエラー信号11が発生し、処理装置1に対
してエラー発生通知7を送出する。
When reading data, one of the plurality of storage units 3 is selected from the processing bag W1 by the address bus 4, the read data is output onto the data bus 5, and the presence or absence of a read error is checked before being sent to the device to be used. Check circuit 6
Checked by. If an error is found in the data as a result of the check, an error signal 11 is generated and an error occurrence notification 7 is sent to the processing device 1.

ここで本発明はエラー発生通知7の送出を制御する実装
判定回路9を設け、n個の記憶ユニット各々より出力さ
れる実装表示信号8を計n本、アドレスバス4、処理装
置1よりの試験モード指定信号10をここにまとめ、処
理、判定を行い、試験モードにおいては、アドレスバス
4によりアドレスされた記憶ユニット3が実装されてい
ないユニットであれば処理装置1に対するエラー発生通
知7の送出を遮断する機能を持たせた。
Here, the present invention provides a mounting determination circuit 9 that controls the sending of the error occurrence notification 7, and tests a total of n mounting display signals 8 output from each of the n storage units, the address bus 4, and the processing device 1. The mode designation signals 10 are collected here, processed and judged, and in the test mode, if the storage unit 3 addressed by the address bus 4 is not mounted, an error occurrence notification 7 is sent to the processing device 1. It has a function to shut it off.

〔作用〕[Effect]

上記の如く、試験モードが指定されると、実装されてい
ない記憶ユニットが選択された時にチェック回路のエラ
ー発生通知発信を遮断する機能を持たせ、電算機の製造
段階での各種の試験、或いは障害復旧時の試験等におい
ては試験モードを指定しておくことにより、パトロール
動作が、実装されていない記憶ユニットのアドレスに到
達した場合に、例えデータバス上で読み出し誤りと判定
されることが有っても、処理装置へのエラー発生通知の
発信が遮断され、システムの停止等の発生を防止し、試
験をスムースに続行可能とすることが可能となる。
As mentioned above, when the test mode is specified, a function is provided to cut off the error occurrence notification transmission of the check circuit when an unmounted storage unit is selected, and it is possible to perform various tests at the manufacturing stage of the computer, or By specifying a test mode in tests during failure recovery, etc., even if a patrol operation reaches an address in a storage unit that is not implemented, it may be determined that there is a read error on the data bus. Even if the error occurs, the transmission of the error notification to the processing device is blocked, thereby preventing the system from stopping, etc., and allowing the test to continue smoothly.

〔実施例〕〔Example〕

第1図に本発明による記憶装置の原理を示す。 FIG. 1 shows the principle of a storage device according to the present invention.

読み出しを行う場合、処理装置1よりアドレスバス4を
経由して記憶ユニット3 (No、1〜No、n)の何
れか一個を指定するアドレス信号がアドレス入力端子A
に入力し、データがデータバス5に出力され、チェック
回路6にてチェックを受ける動作は従来例と同様である
。本発明の骨子は実装判定回路9にある。実装判定回路
9にはn個の記憶ユニット3の端子により発信される1
本の実装表示信号8、アドレスバス4、処理装置よりの
試験モード指定信号10、チェック回路よりのエラー信
号11の各信号が入力する。
When reading, an address signal designating any one of the storage units 3 (No, 1 to No, n) is sent from the processing device 1 via the address bus 4 to the address input terminal A.
The operation of inputting the data to the data bus 5, outputting the data to the data bus 5, and checking the data in the check circuit 6 is the same as in the conventional example. The gist of the present invention lies in the mounting determination circuit 9. 1 transmitted from the terminals of the n storage units 3 to the mounting determination circuit 9.
Signals such as a book mounting display signal 8, an address bus 4, a test mode designation signal 10 from the processing device, and an error signal 11 from the check circuit are input.

第3図に実装判定回路9の実施例の回路の詳細を示す。FIG. 3 shows details of an embodiment of the mounting determination circuit 9.

アドレスバス4から入力するアドレス信号は記憶ユニッ
ト3の一個を指示すると同時にアドレスデコーダ21に
入力し、記憶ユニット番号No、1〜No、nに対応す
る1本の線にデコードされ、n個のアンド回路22の一
方の端子に入力する。アンド回路22の他の側の入力端
子には各記憶ユニット3(No、1〜No、n)のに端
子より発信される実装表示信号8が、同一のユニット番
号に対応して入力する。その結果、ある記憶ユニットが
指示された時、実装表示信号が”1”即ち、その記憶ユ
ニットが実装されている時はアンド回路22は1″を出
力し、この出力はオア回路23を経由してアンド回路2
4に入力する。もし、アドレスバス4で指示された記憶
ユニット3が抜き取られていると実装表示信号8はO″
を示し、アンド回路22の出力端子には”0”が現れる
。アンド回路22の出力端子は全てオア回路23に入力
されているので、上記の事態、即ちアドレスバス4が成
る記憶ユニットを指示した時に、その記憶ユニットから
実装表示信号が出て居ない状態が発生すると、オア回路
23の出力には0”が現れる。アンド回路24には上記
のオア回路23の出力、処理装置より入力する試験モー
ド指定信号10、チェック回路6の出力であるエラー信
号11が入力している。従って、試験モードが指定され
た状態で、且つ、記憶ユニット3が実装されていない時
は、その記憶ユニットが選択された時には、エラー信号
11力び1”を示してもアンド回路24に出力が現れず
、オア回路25の出力であるエラー発生通知7は発信さ
れない。しかし、実装表示信号8が”1”である時は、
エラー発生通知7は正常に発信されることは容易に理解
出来よう。かくして試験モードにおいては、実装されて
いない記憶ユニットをパトロールすることによるエラー
発生通知は抑制され、本発明の目的は達成される。 以
上は試験モードの場合の動作であるが、一般の運転状態
では試験モード指定信号10が”0”になる。この場合
、アンド回路24は出力が抑制され、アンド回路27が
エラー発生通知7の発生に使われる。試験モード指定信
号1oは普通の運転状態では”0”を示し、この入力は
インバータ26により反転され”1″となり、アンド回
路27に入力する。この状態でエラー信号11が1″に
なるとアンド回路27の出力が1″となり、オア回路2
5を経由してエラー発生通知7が処理装置1へ発信され
、正常の動作が実行される。
An address signal input from the address bus 4 designates one memory unit 3 and is simultaneously input to the address decoder 21, decoded into one line corresponding to the memory unit number No. 1 to No. It is input to one terminal of the circuit 22. The mounting display signal 8 transmitted from the terminal of each storage unit 3 (No. 1 to No. n) corresponding to the same unit number is input to the input terminal on the other side of the AND circuit 22. As a result, when a certain storage unit is specified, the mounting display signal is "1", that is, when that storage unit is mounted, the AND circuit 22 outputs 1'', and this output is passed through the OR circuit 23. AND circuit 2
Enter 4. If the storage unit 3 specified by the address bus 4 has been removed, the mounting display signal 8 will be O''.
, and "0" appears at the output terminal of the AND circuit 22. Since all the output terminals of the AND circuit 22 are input to the OR circuit 23, the above situation occurs, that is, when the memory unit consisting of the address bus 4 is designated, the mounting indication signal is not output from the memory unit. Then, 0'' appears at the output of the OR circuit 23.The output of the OR circuit 23, the test mode designation signal 10 input from the processing device, and the error signal 11 which is the output of the check circuit 6 are input to the AND circuit 24. Therefore, when the test mode is specified and the storage unit 3 is not installed, the AND circuit is not activated even if the error signal 11 is 24, and the error occurrence notification 7, which is the output of the OR circuit 25, is not transmitted. However, when the mounting display signal 8 is "1",
It is easy to understand that the error occurrence notification 7 is sent normally. Thus, in the test mode, error notifications due to patrolling uninstalled storage units are suppressed, and the object of the present invention is achieved. The above is the operation in the test mode, but the test mode designation signal 10 becomes "0" under normal operating conditions. In this case, the output of the AND circuit 24 is suppressed, and the AND circuit 27 is used to generate the error occurrence notification 7. The test mode designation signal 1o indicates "0" under normal operating conditions, and this input is inverted by the inverter 26 to become "1" and is input to the AND circuit 27. In this state, when the error signal 11 becomes 1'', the output of the AND circuit 27 becomes 1'', and the OR circuit 2
5, an error occurrence notification 7 is sent to the processing device 1, and normal operation is executed.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

本発明の実施により、常時パトロール動作を行う記憶装
置のチェック回路が必要以外の動作をすることにより試
験実施が妨害されるのを、試験モ−ドを指定することに
より防止することが可能となる。
By implementing the present invention, by specifying a test mode, it is possible to prevent the test execution from being interrupted due to unnecessary operation of the check circuit of the storage device that constantly performs patrol operations. .

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明による記憶装置チェック回路の原理図で
ある。 第2図は従来の記憶装置のチェック回路の一例である。 第3図は本発明による実装判定回路9の詳細な実施例で
ある。 図において、 1は処理装置、2は記憶装置、3は記憶ユニット、4は
アドレスバス、5はデータバス、6はチ11はエラー信
号、21はアドレスデコーダ、23.25はオア回路、
22.24.27はアンド回路、26はインバータ回路
である。
FIG. 1 is a principle diagram of a storage device check circuit according to the present invention. FIG. 2 is an example of a check circuit for a conventional storage device. FIG. 3 shows a detailed embodiment of the mounting determination circuit 9 according to the present invention. In the figure, 1 is a processing device, 2 is a storage device, 3 is a storage unit, 4 is an address bus, 5 is a data bus, 6 is an error signal, 21 is an address decoder, 23.25 is an OR circuit,
22, 24, and 27 are AND circuits, and 26 is an inverter circuit.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 実装表示信号(8)の発信機能を具備する複数個の記憶
ユニット(3)が、複数個のコネクタに実装され、処理
装置(1)より入力するアドレスバス(4)により該記
憶ユニット(3)の一個が選択され情報の入出力を実行
する記憶装置(2)であって、 読み出し時にはデータバス(5)上の情報をチエック回
路(6)によりチエックし、誤りを検出することにより
エラー信号(11)が発生した場合、エラー発生通知(
7)を該処理装置(1)に対して発信する機能を具備し
、 該処理装置(1)より試験モード指定信号(10)が発
信されている時に、該アドレスバス(4)により選択さ
れた該記憶ユニット(3)が実装されていない場合は該
エラー発生通知(7)の該処理装置(1)に対する発信
を遮断する機能を具備する実装判定回路(9)を有する
ことを特徴とする記憶装置のチエック回路。
[Claims] A plurality of storage units (3) each having a function of transmitting a mounting indication signal (8) are mounted on a plurality of connectors and are connected to each other by an address bus (4) inputted from a processing device (1). A storage device (2) in which one of the storage units (3) is selected and executes input/output of information, and when reading, information on the data bus (5) is checked by a check circuit (6) to detect errors. If an error signal (11) is generated by doing so, an error occurrence notification (
7) to the processing device (1), and when the test mode designation signal (10) is being sent from the processing device (1), the test mode designation signal (10) selected by the address bus (4) is provided. A memory characterized by having an implementation determination circuit (9) having a function of blocking transmission of the error occurrence notification (7) to the processing device (1) when the storage unit (3) is not installed. Equipment check circuit.
JP61269012A 1986-11-12 1986-11-12 Checking circuit for storage device Pending JPS63123147A (en)

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56134397A (en) * 1980-03-21 1981-10-21 Tokyo Electric Co Ltd Memory function check system for extended ram of electronic equipment

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