JPS6311676A - 化学銅めつき浴 - Google Patents

化学銅めつき浴

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JPS6311676A
JPS6311676A JP15261986A JP15261986A JPS6311676A JP S6311676 A JPS6311676 A JP S6311676A JP 15261986 A JP15261986 A JP 15261986A JP 15261986 A JP15261986 A JP 15261986A JP S6311676 A JPS6311676 A JP S6311676A
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JP
Japan
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cuprous
plating bath
salt
plating
copper plating
Prior art date
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Pending
Application number
JP15261986A
Other languages
English (en)
Inventor
Koji Kondo
宏司 近藤
Katsuhiko Murakawa
邑川 克彦
Nobumasa Ishida
石田 信正
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Denso Corp
Original Assignee
NipponDenso Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by NipponDenso Co Ltd filed Critical NipponDenso Co Ltd
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Publication of JPS6311676A publication Critical patent/JPS6311676A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C18/00Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating
    • C23C18/16Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by reduction or substitution, e.g. electroless plating
    • C23C18/31Coating with metals
    • C23C18/38Coating with copper
    • C23C18/40Coating with copper using reducing agents

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Chemically Coating (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は例えばプリント配線板の導体回路の形成などに
用いられる化学銅めっき浴に関するものである。
〔従来の技術〕
銅塩、錯化剤、還元剤およびPH調整剤よりなる化学銅
めっき浴はたとえばプリント配線板の導体回路を形成す
るために広く用いられているが、めっき析出速度が1〜
2μm / hrと遅いという問題がある。そこで、電
解的に銅を析出させた銅めっき被膜が、多く使用されて
いる。化学銅めっきは、いたる所に使われているが主な
例として、導体形成がある。その化学銅めっきによる導
体形成法はアディティブ法と呼ばれ、導体回路の形成に
際し電極取シ付は等が不要であることなどKよシ、導体
形成が簡単であシ、コストダウンが容易であるなどの利
点を有する。さらに、アディティブ法は導体回路の高集
積化によるファインライン化も可能にする。
〔発明が解決しようとする問題点〕
従来一般的に使用されている化学銅めっき浴では、銅塩
として硫酸鋼、錯化剤としてEDTA、ロッセル塩、還
元剤としてホルムアルデヒドが使用されることが多い。
かかる従来の化学銅めっき浴はたとえばプリント基板に
おけるサブトラクト法の下地めっきには広く使用されて
いたが、アディティブ法には殆ど普及していないのが現
状である。
アディティブ法に使用される化学銅めっき浴は、高速厚
付銅析出を可能にすることが前提となる第一条件である
高速厚付銅析出を可能にする化学銅めっき浴の組成はこ
れまでの研究では、上記したごとき一般的浴組成に安定
化剤、活性剤を痕跡量添加したものが提案されている。
これらの提案によY)LOpm/hr  程度のめつき
析出速度が達成されたとの報告はあるものの、安定化剤
、活性剤の浴中の量を適量に維持しつつ高速厚付銅析出
を実現するのは著しい困難性が予想されるのみならず、
アディティブ法実現の目標に近づくにはよシ高遠のめつ
き析出速度が切望される。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明者等は、めっき析出速度向上の観点からは従来殆
ど着目されていなかった銅塩の銅のイオン価を検討した
。従来化学銅めっき浴の銅塩は第二銅イオン((+u!
+)の塩が用いられていた。周知のとおり第一銅イオン
(Cu  )から金属銅への還元反応の速度は第二銅イ
オン(c u 2 + )から金属銅への還元反応の速
度よシ速いのであるが、触媒選択性がなくまた第一銅イ
オンは水に不溶であるために、第−鋼イオンは化学銅め
っきの銅イオン源として不適格と考えられている。例え
ば、特公昭52−29969号公報、特公昭52−29
970号公報によると、第一銅イオンと結合してキレー
ト化合物を形成するチオ尿素などを無電解めっき浴に添
加することKより非触媒的還元反応を抑制して浴を安定
化する技術が言及されてお)、第一銅イオンは触媒性鋼
還元−析出を妨げるものとして把握されている。上記し
たチオ尿素のほかにも、ビピリジル、フェナントロリン
などの錯化剤がCu 1+→(’uの反応を抑制し、触
媒不在下の銅析出(即ち析出する必要がない場所への銅
被膜形成)を防止するために使用されている。
上述のように1従来の化学銅めっき浴では第−鋼イオン
は自然発生的に、反応副生成物としであるいは不所望成
分として存在するものであった。
本発明は第一銅に可溶性処理を施しそして錯化させると
、極めて高速度なめっきが触媒選択性を持って実現され
るとの発見に基づいて完成したものである。
以下、本発明者等の実験を参照して第一銅の可溶性処理
と錯化についてさらに詳しく説明する。
〔実施例〕
銅塩・・・・・・・・・・・・・・・CuC1(0,0
6mol /L )可溶性処理剤=HC1(80ml/
L)錯化剤・・・・・・・・・・・・トリエタノールア
ミン(0,18mol/L)還元剤・・・・・・・・・
・・・HCHO(0,25mol /L )PH・・・
・・・・・・・・・・・・12.5浴温・・・・・・・
・・・・・・・・45°Cめっき析出速度・・・29μ
m/hr 比較実験例 銅塩・・・・・・・・・・・・・・・Cu5O4(0−
06mol / L )錯化剤・・・・・・・・・・・
・EDTA (0,18mol / L )還元剤・・
・・・・・・・・・・HCHO(0,25mol /L
 )PH・・・・・・・・・・・・・・・l 2,5浴
温・・・・・・・・・・・・・・・45’Cめっき析出
速度・・・7μm / hrこの実験例に見られる様に
、銅塩(CuC1)をMCIで可溶性処理するとと忙よ
ってめっき析出速度が約4倍に高められた。この様なめ
っき析出速度の向上は驚異的である。従来、Cu1+→
(’u反応は、例えば、特公昭52−29969号公報
、特公昭52−29970号公報に説明されている様に
触媒選択性がない、即ち触媒不存在下で進行すると考え
られていた。本発明者は、従来の考え方とは異なり、第
一銅塩の触媒存在下還元反応の可能性を想定している。
上記実験例の様な高速めっき析出が得られたのは、本来
活性が高く、反応速度が高いCu1+→Cu反応が触媒
存在下で起こること、そしてこの反応を起すためKはC
u 1+を安定にする錯化剤の選択が重要であることに
よると考えられる。
上記した実験例および考察から、第一銅塩を化学銅めっ
き液に用いることは高速めっきの見地から有益であシ、
かつ従来、第−銅塩を化学銅めっき液に用いなかったの
は第一銅塩を、その活性を損なわないように安定化する
方法がなかった為ということが明らかである。実際、種
々の第一銅塩を使用して化学銅めっきを行なったところ
従来にない高速めっきが可能になった。
本発明において、第一銅塩としては特に限定されず、ハ
ロゲン化第−銅(ヨウ化鋼、塩化鋼、臭化鋼)、シアン
化第−鋼、酸化第一銅、硫化第一銅などが使用可能であ
る。また、可溶性処理剤としては特に限定されず塩酸、
硫酸、硝酸、ふつ酸、ホウふり化水素酸等の鉱酸のすべ
て、塩化アンモニウム、アンモニア、シアン化アルカリ
塩、その他の塩類などが使用可能である。錯化剤として
は、EDTA、酒石酸、N、N、N’、 N’−テトラ
キス(2−ヒドロキシプロピル)、エチレンジアミン、
シアン化物、モノエタノールアミン、ジェタノールアミ
ン、ニトリロトリ酢酸、エチレンシアばン、アンモニア
、塩化アンモニウム、尿素、チオ尿素など公知の錯化剤
すべて用いることができる。還元剤およびPH調整剤と
しては公知のものを使用すればよい。
第−銅塩の可溶性処理法では、水性液中にて第一銅塩が
、Cu1+の形態を実質的に保ちながら溶解されるよう
に第−銅塩と可溶性処理剤を反応させる。反応温度は特
に限定されないが、+o +’c〜+i o o−pc
が好ましい。可溶性処理により可1こ 畝った第一銅塩は、還元剤と反応しない限シ、安定であ
るので、可溶性処理後保存して、第−銅塩補充時期にめ
っき浴に添加してもよい。
本発明によりg製された化学銅めっき浴によるめっき方
法は、従来の低速めっき法の場合と同じである。
なお、金属銅と第二銅塩を反応させて第−銅塩とし、こ
れを可溶性処理して本発明にて使用することもできる。
また、いかなる添加剤とも併用可能である。
〔発明の効果〕
本発明によると、従来の高速化学銅めっきと同等以上の
高速めつきが簡単な手段で実現できる。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、銅塩、錯化剤、還元剤およびPH調整剤を含んでな
    る化学銅めっき浴であって、第一銅塩を可溶性処理した
    後錯化剤により錯化されていることを特徴とする化学銅
    めっき浴。2、金属銅を第二銅塩と反応させて生成した
    第一銅塩が可溶性処理されていることを特徴とする特許
    請求の範囲第1項記載の化学銅めっき浴。
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WO1996020294A1 (fr) * 1994-12-27 1996-07-04 Ibiden Co., Ltd. Solution de pre-traitement pour depot autocatalytique, bain et procede de depot autocatalytique
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