JPS63116394A - 薄膜el素子 - Google Patents
薄膜el素子Info
- Publication number
- JPS63116394A JPS63116394A JP61262210A JP26221086A JPS63116394A JP S63116394 A JPS63116394 A JP S63116394A JP 61262210 A JP61262210 A JP 61262210A JP 26221086 A JP26221086 A JP 26221086A JP S63116394 A JPS63116394 A JP S63116394A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- thin film
- dielectric
- dielectric layer
- layer
- thickness
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000010409 thin film Substances 0.000 title claims description 68
- 239000010408 film Substances 0.000 claims description 7
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 7
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 4
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- BJXXCWDIBHXWOH-UHFFFAOYSA-N barium(2+);oxygen(2-);tantalum(5+) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[Ba+2].[Ba+2].[Ba+2].[Ba+2].[Ba+2].[Ta+5].[Ta+5].[Ta+5].[Ta+5] BJXXCWDIBHXWOH-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 238000010030 laminating Methods 0.000 claims description 2
- VEALVRVVWBQVSL-UHFFFAOYSA-N strontium titanate Chemical compound [Sr+2].[O-][Ti]([O-])=O VEALVRVVWBQVSL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 5
- 229910019752 Mg2Si Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 4
- 238000004020 luminiscence type Methods 0.000 description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- 229910052984 zinc sulfide Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000013543 active substance Substances 0.000 description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 3
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 239000011224 oxide ceramic Substances 0.000 description 3
- 229910052574 oxide ceramic Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000005083 Zinc sulfide Substances 0.000 description 2
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 229910052839 forsterite Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000001755 magnetron sputter deposition Methods 0.000 description 2
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 2
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 2
- DRDVZXDWVBGGMH-UHFFFAOYSA-N zinc;sulfide Chemical compound [S-2].[Zn+2] DRDVZXDWVBGGMH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 101100194322 Caenorhabditis elegans rei-1 gene Proteins 0.000 description 1
- 229910019018 Mg 2 Si Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052788 barium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001424 calcium ion Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 238000010549 co-Evaporation Methods 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 238000005401 electroluminescence Methods 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 1
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910003437 indium oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N indium(iii) oxide Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[In+3].[In+3] PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052745 lead Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000001459 lithography Methods 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 1
- 230000001902 propagating effect Effects 0.000 description 1
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- RGZQGGVFIISIHZ-UHFFFAOYSA-N strontium titanium Chemical compound [Ti].[Sr] RGZQGGVFIISIHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007738 vacuum evaporation Methods 0.000 description 1
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 description 1
Landscapes
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は文字図形などの表示に用いる薄膜EL素子に関
するものであり、更に詳しくは発光特性が長期に渡って
安定な薄膜EL素子に関する。
するものであり、更に詳しくは発光特性が長期に渡って
安定な薄膜EL素子に関する。
薄膜EL素子は薄型で表示の視認性が優れているため、
OA機器などの端末ディスプレイとして最適である。
OA機器などの端末ディスプレイとして最適である。
従来の技術
従来より電場発光螢光体を用いた固体映像表示装置とし
てX−Yマトリクス表示装置が知られている。この装置
は電場発光層の両面に水平平行電極群と垂直平行電極群
とを互いに直交するように配置し、それぞれの電極群に
接続された給電線により切換え装置を通して信号を加え
て両電極の交点部分の電場発光層(以下EL発光体層と
略称する)を発光させ(この交点の発光部分面を絵素と
称する)、発光した絵素の組み合わせによって文字記号
、図形等を表示させるものである。
てX−Yマトリクス表示装置が知られている。この装置
は電場発光層の両面に水平平行電極群と垂直平行電極群
とを互いに直交するように配置し、それぞれの電極群に
接続された給電線により切換え装置を通して信号を加え
て両電極の交点部分の電場発光層(以下EL発光体層と
略称する)を発光させ(この交点の発光部分面を絵素と
称する)、発光した絵素の組み合わせによって文字記号
、図形等を表示させるものである。
ここで用いられる固体映像表示装置の表示板としては、
通常ガラス等の透光性基板上に透明な平行電極群を形成
し、その上に第1誘電体層、EL発光体層、第2誘電体
層を順次積層し、さらにその上に背面平行電極群を下層
の透明平行電極群に直交する配置で積層して形成する。
通常ガラス等の透光性基板上に透明な平行電極群を形成
し、その上に第1誘電体層、EL発光体層、第2誘電体
層を順次積層し、さらにその上に背面平行電極群を下層
の透明平行電極群に直交する配置で積層して形成する。
一般に透明平行電極としては平滑なガラス基板上に酸化
インジウムを被着するなどにより形成される。これに直
交し、対向する背面電極としてはアルミニウムが真空蒸
着などにより形成される。
インジウムを被着するなどにより形成される。これに直
交し、対向する背面電極としてはアルミニウムが真空蒸
着などにより形成される。
第1誘電体層や第2誘電体層に用いる材料としては、誘
電率が大きく、絶縁破壊電界強度が大きい材料が低電圧
駆動に適している。前者は、主に透明電極および背面電
極により印加される電圧の、より多くの割合をEL発光
体層に印加し、駆動電圧を低下させるためであり、後者
は主に絶縁破壊を起こさない安定な動作のために重要で
ある。このような低電圧で駆動ができ、安定性の優れた
薄膜EL素子を構成するための誘電体層としては誘電率
が大きな酸化物誘電体薄膜(特開昭66−45595参
照)の方が誘電率が小さな酸化珪素や窒化珪素(特公昭
63−42398参照)よシ適しており、酸化物誘電体
薄膜を用いた薄膜EL素子が広く研究されている。
電率が大きく、絶縁破壊電界強度が大きい材料が低電圧
駆動に適している。前者は、主に透明電極および背面電
極により印加される電圧の、より多くの割合をEL発光
体層に印加し、駆動電圧を低下させるためであり、後者
は主に絶縁破壊を起こさない安定な動作のために重要で
ある。このような低電圧で駆動ができ、安定性の優れた
薄膜EL素子を構成するための誘電体層としては誘電率
が大きな酸化物誘電体薄膜(特開昭66−45595参
照)の方が誘電率が小さな酸化珪素や窒化珪素(特公昭
63−42398参照)よシ適しており、酸化物誘電体
薄膜を用いた薄膜EL素子が広く研究されている。
発明が解決しようとする問題点
マトリクス状電極を有する薄膜EL素子を、−斉反転方
式により線順次駆動(特公昭56−27354参照)し
、1走査期間で2回の発光を行わせる場合、透明電極と
背面電極に挾まれた各絵素においては絵素が配置された
場所によって、正極性のパルスが印加されてから逆方向
のパルスが印加されるまでの時間と、逆極性のパルスが
印加されてから正極性のパルスが印加されるまでの時間
が異なる。このような正・逆パルスの位相が異なる駆動
法により従来技術による薄膜EL素子を長時間駆動した
場合表示情報に応じて発光させた絵素では、発光させな
かった絵素と比較して、発光開始電圧が数ボルト変動す
るという問題点があった。
式により線順次駆動(特公昭56−27354参照)し
、1走査期間で2回の発光を行わせる場合、透明電極と
背面電極に挾まれた各絵素においては絵素が配置された
場所によって、正極性のパルスが印加されてから逆方向
のパルスが印加されるまでの時間と、逆極性のパルスが
印加されてから正極性のパルスが印加されるまでの時間
が異なる。このような正・逆パルスの位相が異なる駆動
法により従来技術による薄膜EL素子を長時間駆動した
場合表示情報に応じて発光させた絵素では、発光させな
かった絵素と比較して、発光開始電圧が数ボルト変動す
るという問題点があった。
本発明の目的は、前記問題点を解決し、位相が異なる交
流パルスや正・逆方向の振幅が異なる交流パルスで、駆
動しても、長期間て渡シ安定した動作が可能な薄膜EL
素子を提供することにある。
流パルスや正・逆方向の振幅が異なる交流パルスで、駆
動しても、長期間て渡シ安定した動作が可能な薄膜EL
素子を提供することにある。
問題点を解決するための手段
本発明は、透光性基板上に、透BA電極、第1誘電体層
、EL発光体層、第2誘電体層、および背面電極を順次
積層してなる薄膜EL素子において、前記第1誘電体層
および前記第2誘電体層の前記EL発光体層側の一部分
、または全部を特定された薄膜材料であるMq2S i
O4薄膜で構成することにより上記問題点を解決した
。
、EL発光体層、第2誘電体層、および背面電極を順次
積層してなる薄膜EL素子において、前記第1誘電体層
および前記第2誘電体層の前記EL発光体層側の一部分
、または全部を特定された薄膜材料であるMq2S i
O4薄膜で構成することにより上記問題点を解決した
。
作 用
発光開始電圧の変動は、EL発光体層と誘電体、層との
界面に、種々の深さのトラップ準位が新たに形成される
ことや、EL発光体層と誘電体層との反応により生じる
ものと考えられる。誘電体層のEL発光層と接する部分
に、少くともMq2S I O4薄膜を介在させた複合
誘電体層にすることにより、トラップ準位の形成が抑制
され、長時間に渡り安定した動作が可能になったものと
考えられる。もちろん複合誘電体層とせず、単に狗2S
104薄膜で誘電体層を形成しても同様な効果がある
。と言うのは誘電体層とEL発光層の界面の性質が重要
であるからである。
界面に、種々の深さのトラップ準位が新たに形成される
ことや、EL発光体層と誘電体層との反応により生じる
ものと考えられる。誘電体層のEL発光層と接する部分
に、少くともMq2S I O4薄膜を介在させた複合
誘電体層にすることにより、トラップ準位の形成が抑制
され、長時間に渡り安定した動作が可能になったものと
考えられる。もちろん複合誘電体層とせず、単に狗2S
104薄膜で誘電体層を形成しても同様な効果がある
。と言うのは誘電体層とEL発光層の界面の性質が重要
であるからである。
実施例
第1図は本発明にかかる薄膜EL素子の断面構造を示す
。図において、1はガラス基板であり、その上に合金タ
ーゲットを用いてインジウム、スズ混晶酸化物薄膜(以
下ITo薄膜と略称する)を直流スパッタ法で形成し、
ホ) IJソグラフィ技術によりストライブ状に加工し
、透明電極2とした。その上にチタンジルコン酸ストロ
ンチウム5r(zro、2Ti(3B )03誘電体薄
膜3を酸化物セラミックターゲットを用い、高周波マグ
ネトロンスパッタ法で、厚さ600nmに形成した。
。図において、1はガラス基板であり、その上に合金タ
ーゲットを用いてインジウム、スズ混晶酸化物薄膜(以
下ITo薄膜と略称する)を直流スパッタ法で形成し、
ホ) IJソグラフィ技術によりストライブ状に加工し
、透明電極2とした。その上にチタンジルコン酸ストロ
ンチウム5r(zro、2Ti(3B )03誘電体薄
膜3を酸化物セラミックターゲットを用い、高周波マグ
ネトロンスパッタ法で、厚さ600nmに形成した。
さらにその上に、Mg25t○4酸化物セラミツクター
ゲツトを用い、50nmの厚さのMg2Si○42膜4
を高周波マグネトロンスパッタ法で形成した。
ゲツトを用い、50nmの厚さのMg2Si○42膜4
を高周波マグネトロンスパッタ法で形成した。
5r(Zr Tt )O誘電体薄膜3とMg2
S 1O40,20,83 薄膜により、第1誘電体層6が形成される。
S 1O40,20,83 薄膜により、第1誘電体層6が形成される。
Mg 2S iO4薄膜4の上には、共蒸着法により、
基板温度200″Cで、厚さ400 nmのマンガン添
加硫化亜鉛薄膜からなるEL発光体層6を形成した。
基板温度200″Cで、厚さ400 nmのマンガン添
加硫化亜鉛薄膜からなるEL発光体層6を形成した。
その後、真空中450〜680°Cの温度範囲で1時間
熱処理をして発光体層の光学的活性化を行った。発光体
層の上に再びMg2 S s O4薄膜了を前記と同様
な手法で50nmの厚さに形成した。その上にタンタル
酸バリウムB a T a 20e誘電体薄膜8を、酸
化物セラミックをターゲットとして、高周波スパッタ法
で厚さ20 nmに形成した。B a T a 20
e誘電体薄膜8とMg2Si○4薄膜7により、第2誘
電体層9が形成される。最後にその上に厚さ150nm
のAIを真空蒸着し、ホトリソグラフィ技術により、I
To透明電極とは直交する方向に、ストライプ状の背面
電接10を形成し、薄膜EL素子を完成した。
熱処理をして発光体層の光学的活性化を行った。発光体
層の上に再びMg2 S s O4薄膜了を前記と同様
な手法で50nmの厚さに形成した。その上にタンタル
酸バリウムB a T a 20e誘電体薄膜8を、酸
化物セラミックをターゲットとして、高周波スパッタ法
で厚さ20 nmに形成した。B a T a 20
e誘電体薄膜8とMg2Si○4薄膜7により、第2誘
電体層9が形成される。最後にその上に厚さ150nm
のAIを真空蒸着し、ホトリソグラフィ技術により、I
To透明電極とは直交する方向に、ストライプ状の背面
電接10を形成し、薄膜EL素子を完成した。
本発明の一実施例にかかる薄膜EL素子と、その薄膜E
L素子からMg2Si○4薄膜4および7を除いた従来
の薄膜EL素子とに、第2図に示すような位相の異なる
交流パルス電圧を印加した。その結果第3図に示すよう
に、従来の薄膜EL素子では100時間で約6チ発光開
始電圧が低下したのに対しく第2図d)、本発明の薄膜
EL素子では1.0係以下であった(第2図b)、更に
それ以後5000時間まで、はとんど発光開始電圧の低
下は見られなかった。
L素子からMg2Si○4薄膜4および7を除いた従来
の薄膜EL素子とに、第2図に示すような位相の異なる
交流パルス電圧を印加した。その結果第3図に示すよう
に、従来の薄膜EL素子では100時間で約6チ発光開
始電圧が低下したのに対しく第2図d)、本発明の薄膜
EL素子では1.0係以下であった(第2図b)、更に
それ以後5000時間まで、はとんど発光開始電圧の低
下は見られなかった。
本実施例ではMg2 S iO4薄膜をEL発光体層の
両側に接して形成したが、第1誘電体側だけに形成した
場合でも、効果は多少落ちるが有効であった。
両側に接して形成したが、第1誘電体側だけに形成した
場合でも、効果は多少落ちるが有効であった。
すなわち、EL発光体層と接する第1.第2誘電体層の
薄膜誘電体材料によって、上記発始電圧の経時変化の割
合が変り、本発明のMg 2 S i○4薄膜のように
実験の結果選定された特定誘電体薄膜が発光体層と接し
ていなくてはならない。もちろんMc12sio4薄膜
のみで第1誘電体層と第2誘電体層の片方または両方を
形成してもかなわない。しかし、特に低電圧駆動のEL
素子を作成する場合、複合誘電体層を形成した方が都合
が良い。一般に低電圧駆動のEL素子を作成する場合、
厚さの薄い誘電体薄膜を用いるか、厚くとも誘電率の高
い誘電体薄膜を用いればよい。薄い誘電体薄膜の使用は
EL素子の耐絶縁破壊特性に難があるので、本発明の目
的の経時的に安定な発光開始電圧を持ち、かつ低電圧駆
動のEL素子を得ようとする場合、実施例のごときペロ
プスカイト組成酸化物であるチタン酸ストロンチウム系
の厚い誘電体と薄いMg2Si○4薄膜を組合わし、E
L発光体層とMg2 S i04薄膜が接するように配
置すればよい。この時Mq2S 104の膜厚はより薄
い方が低電圧駆動に都合がよいが、Mg25 i O4
薄膜の効果は20 nm以上で現われるので、製膜時の
膜厚コントロールのし易さを考慮して実施例のように5
0nm付近が適当である。ペロブスカイト組成酸化物誘
電体は一般に高い誘電率を持ち、S r T 103で
140.Ti位置に更にZr を20係固溶させた実施
例で示した5r(Zr0.2T1o、8)03は100
の誘電率を持つ。
薄膜誘電体材料によって、上記発始電圧の経時変化の割
合が変り、本発明のMg 2 S i○4薄膜のように
実験の結果選定された特定誘電体薄膜が発光体層と接し
ていなくてはならない。もちろんMc12sio4薄膜
のみで第1誘電体層と第2誘電体層の片方または両方を
形成してもかなわない。しかし、特に低電圧駆動のEL
素子を作成する場合、複合誘電体層を形成した方が都合
が良い。一般に低電圧駆動のEL素子を作成する場合、
厚さの薄い誘電体薄膜を用いるか、厚くとも誘電率の高
い誘電体薄膜を用いればよい。薄い誘電体薄膜の使用は
EL素子の耐絶縁破壊特性に難があるので、本発明の目
的の経時的に安定な発光開始電圧を持ち、かつ低電圧駆
動のEL素子を得ようとする場合、実施例のごときペロ
プスカイト組成酸化物であるチタン酸ストロンチウム系
の厚い誘電体と薄いMg2Si○4薄膜を組合わし、E
L発光体層とMg2 S i04薄膜が接するように配
置すればよい。この時Mq2S 104の膜厚はより薄
い方が低電圧駆動に都合がよいが、Mg25 i O4
薄膜の効果は20 nm以上で現われるので、製膜時の
膜厚コントロールのし易さを考慮して実施例のように5
0nm付近が適当である。ペロブスカイト組成酸化物誘
電体は一般に高い誘電率を持ち、S r T 103で
140.Ti位置に更にZr を20係固溶させた実施
例で示した5r(Zr0.2T1o、8)03は100
の誘電率を持つ。
他にSrの位置をBa、Pb、Caイオン等で部分的あ
るいは全部置換してもよいし、Tiの位置をSn。
るいは全部置換してもよいし、Tiの位置をSn。
Hf等で置換しても安定な高誘電率薄膜が得られる。第
1誘電体層は上記のごとき厚いペロブスカイト組成酸化
物誘電体と薄いMg25104薄膜との複合層を用い、
第2誘電体層としては実施例のごとき比較的誘電率が2
2と小さいが膜厚の薄いB a Ta 206薄膜とM
g25in4薄膜との複合誘電体層を用いることで本発
明の目的にかなった、耐電圧特性の良好な低電圧1駆動
型のEL素子を作成できる。
1誘電体層は上記のごとき厚いペロブスカイト組成酸化
物誘電体と薄いMg25104薄膜との複合層を用い、
第2誘電体層としては実施例のごとき比較的誘電率が2
2と小さいが膜厚の薄いB a Ta 206薄膜とM
g25in4薄膜との複合誘電体層を用いることで本発
明の目的にかなった、耐電圧特性の良好な低電圧1駆動
型のEL素子を作成できる。
第2誘電体層は比較的誘電率の低い誘電体薄膜を用いた
方が、一般にEL素子の伝播性絶縁破壊を抑制すること
ができ、更に低電圧駆動をさせる場合はその厚さを薄く
すればよい。
方が、一般にEL素子の伝播性絶縁破壊を抑制すること
ができ、更に低電圧駆動をさせる場合はその厚さを薄く
すればよい。
EL発光体層6は活性物質を含む硫化亜鉛ZnSを用い
ることができる。活性物質としては実施例のMn以外に
、TbF3t S mF 3+ E r F 3. T
mF3.DyF3rP r F 3が適当である。E
L発光体層6はZnS以外のもの、たとえばCaSやS
rSに活性物質を含んだものも利用でき、電場発光を示
すものであればよい。
ることができる。活性物質としては実施例のMn以外に
、TbF3t S mF 3+ E r F 3. T
mF3.DyF3rP r F 3が適当である。E
L発光体層6はZnS以外のもの、たとえばCaSやS
rSに活性物質を含んだものも利用でき、電場発光を示
すものであればよい。
発明の効果
以上のように本発明によれば、低電圧駆動も可能であり
、長時間の駆動によっても発光開始電圧の変動が極めて
小さい薄膜EL素子を再現性良く形成することができ、
コンピュータ端末などの薄形、高品位ディスプレイなど
に広く利用でき、実用的価値が大きい。
、長時間の駆動によっても発光開始電圧の変動が極めて
小さい薄膜EL素子を再現性良く形成することができ、
コンピュータ端末などの薄形、高品位ディスプレイなど
に広く利用でき、実用的価値が大きい。
第1図は本発明にかかる薄膜EL素子の構成を示す断面
図、第2図は薄膜EL素子の駆動電圧波形を示す図、第
3図は発光開始電圧の経時変化を示す図である。 1・・・・・・ガラス基板、2・・・・・・透明電極、
3・・・・・・酸化物誘電体薄膜、4・・・・・・Mg
25104薄膜、5・・・・・・第1誘電体層、6・・
・・・・EL発光体層、7・・・・・・Mq2Sio4
薄膜、8・・・・・・酸化物誘電体薄膜、9・・・・・
・第2誘電体層、1o・・・・・・背面電極。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名ブー
ーー力゛“ラス1すr文 ?−−−送朋電靴 3−一一皺化駒誘電体應哀 4 −M92SiO4傳戻 δ−−−苓1彷覧本第 6一−−EL発光1午墨 7−−−M92SiQ4為朕 3−一一卸暗ヒ午り翌)1覧1キ亭蝉哀9−−−篤2梧
亀1苓峨 10−−一肯況霜口仮 第1図 /n
図、第2図は薄膜EL素子の駆動電圧波形を示す図、第
3図は発光開始電圧の経時変化を示す図である。 1・・・・・・ガラス基板、2・・・・・・透明電極、
3・・・・・・酸化物誘電体薄膜、4・・・・・・Mg
25104薄膜、5・・・・・・第1誘電体層、6・・
・・・・EL発光体層、7・・・・・・Mq2Sio4
薄膜、8・・・・・・酸化物誘電体薄膜、9・・・・・
・第2誘電体層、1o・・・・・・背面電極。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名ブー
ーー力゛“ラス1すr文 ?−−−送朋電靴 3−一一皺化駒誘電体應哀 4 −M92SiO4傳戻 δ−−−苓1彷覧本第 6一−−EL発光1午墨 7−−−M92SiQ4為朕 3−一一卸暗ヒ午り翌)1覧1キ亭蝉哀9−−−篤2梧
亀1苓峨 10−−一肯況霜口仮 第1図 /n
Claims (4)
- (1)透光性基板上に、透明電極,第1誘電体層,EL
発光体層、第2誘電体層、および背面電極を順次積層し
てなる薄膜EL素子において、前記第1誘電体層および
前記第2誘電体層の前記EL発光体層と接する側の一部
分、または全部がMg_2SiO_4薄膜で構成されて
いることを特徴とする薄膜EL素子。 - (2)第1誘電体層をEL発光体層に接する部分の20
nm以上の厚さを持つMg_2SiO_4薄膜と、ペロ
ブスカイト組成酸化物誘電体薄膜との積層膜としたこと
を特徴とする特許請求の範囲第1項記載の薄膜EL素子
。 - (3)第1誘電体層をEL螢光体層と接する部分の20
nm以上の厚さを持つMg_2SiO_4薄膜とチタン
酸ストロンチウム系酸化物誘電体薄膜とで構成したこと
を特徴とする特許請求の範囲第1項記載の薄膜EL素子
。 - (4)第2誘電体層をEL発光体層と接する20nm以
上の厚さを持つMg_2SiO_4薄膜とタンタル酸バ
リウム系酸化物誘電体薄膜とで構成したことを特徴とす
る特許請求の範囲第1項記載の薄膜EL素子。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61262210A JPS63116394A (ja) | 1986-11-04 | 1986-11-04 | 薄膜el素子 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61262210A JPS63116394A (ja) | 1986-11-04 | 1986-11-04 | 薄膜el素子 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63116394A true JPS63116394A (ja) | 1988-05-20 |
Family
ID=17372606
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61262210A Pending JPS63116394A (ja) | 1986-11-04 | 1986-11-04 | 薄膜el素子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63116394A (ja) |
-
1986
- 1986-11-04 JP JP61262210A patent/JPS63116394A/ja active Pending
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0258888B1 (en) | Thin film electroluminescence display device | |
JPS63116394A (ja) | 薄膜el素子 | |
JPS63116392A (ja) | 薄膜el素子 | |
JPH07118389B2 (ja) | 薄膜el素子 | |
JPS6386388A (ja) | 薄膜el素子 | |
JPH07118388B2 (ja) | 薄膜el素子およびその製造方法 | |
JPS63119195A (ja) | 薄膜el素子 | |
JPS63119196A (ja) | 薄膜el素子 | |
JPS63239796A (ja) | 薄膜el素子 | |
JPS6366897A (ja) | 薄膜el素子およびその製造方法 | |
JPS63252392A (ja) | 薄膜el素子 | |
JPS63254699A (ja) | 薄膜el素子およびその製造方法 | |
JPS63126192A (ja) | 薄膜el素子の製造方法 | |
JP2502560B2 (ja) | 誘電体膜の形成方法 | |
JPH01227395A (ja) | 薄膜el素子の製造方法 | |
JPH0516158B2 (ja) | ||
JPS62237693A (ja) | 薄膜el素子 | |
JPS6359519B2 (ja) | ||
JPS62147693A (ja) | 薄膜el素子 | |
JPH088147B2 (ja) | 薄膜el素子 | |
JPS62285398A (ja) | 直流駆動薄膜el素子 | |
JPS6124192A (ja) | 薄膜エレクトロルミネツセンス素子 | |
JPS62237694A (ja) | 薄膜el素子およびその製造方法 | |
JPS62285395A (ja) | 直流駆動薄膜el素子 | |
JPS6180793A (ja) | 薄膜el素子 |