JPS63115040A - X線分析装置用ゴニオメ−タ - Google Patents

X線分析装置用ゴニオメ−タ

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Publication number
JPS63115040A
JPS63115040A JP61260187A JP26018786A JPS63115040A JP S63115040 A JPS63115040 A JP S63115040A JP 61260187 A JP61260187 A JP 61260187A JP 26018786 A JP26018786 A JP 26018786A JP S63115040 A JPS63115040 A JP S63115040A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
detector
ray
guide
crystal
ray detector
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP61260187A
Other languages
English (en)
Inventor
Takao Komatsubara
小松原 岳雄
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jeol Ltd
Original Assignee
Jeol Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Jeol Ltd filed Critical Jeol Ltd
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Publication of JPS63115040A publication Critical patent/JPS63115040A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は電子プローブX線分析装置等に使用されるゴニ
オメータの改良に関する。
[従来技術1 第5図は従来使用されているゴニオメータを示す図であ
り、1は対物レンズ、2は試料で、電子線3は該対物レ
ンズにより集束されて試料2上に照射される。4は基板
であり、この基板4はその延長面が光軸を含むように固
定され、この一方の面にゴニオメータが取り付けられて
いる。5は第1の直線ガイドで、ネジ棒により構成され
、モータ6より回転が与えられる。7は第2の直線ガイ
ドで、レールやシャフトにより構成されている。
前記第1の直線ガイド及び第2の直線ガイドは、試料2
上で角θで交叉する直線A及びBに沿って置かれている
。8は移動板で、該移動板8上には第1のガイドとして
ローランド円Rと同−半径又は半径は異なるが同心の円
弧の案内レール9を有している。該移動板8の一端は第
1の直線ガイド5に螺合されたスライダー10に回転可
能に取り付けられ、又、他端は第2の直線ガイド7上を
摺動するスライダー11に回転可能に取り付けられてい
る。前記スライダー10と移動板8との取付点には、プ
ーリ12及び分光結晶13が取り付けられている。14
は前記案内レール9上を移動する検出器台で、この台上
にはX線検出器15が支えられている。該検出器台14
にはスプリング16により張られたワイヤー17の一端
が固定され、該検出器台14を分光結晶13から離れる
向きに常に引張っている。18は検出器15に取り付け
られたブーりで、プーリ12との間に定長ベルト19が
張架され、該定長ベルト19の両端はベルト固定点20
a、20bで基板4に固定されている。
このような装置でモータ6を駆動すると、第1の直線ガ
イド5のネジ棒が回転し、スライダー10が直線Aに沿
って移動する。これにより移動板8の一端が直線A上を
移動するので、移動板8の他端はスライダー11と共に
直線ガイド7に案内されて直線B上を移動し、これに伴
い案内レール9も移動する。この移動に伴い、該分光結
晶13は直線Aに沿って移動すると共に、xIQ検出器
15は前記定長ベルト19に引っ張られて案内レール9
に案内されて移動する。この際、直線Aと分光結晶とが
成す角が変化する。更に、ベルト固定点20a、20b
とプーリ12との間隔が変化し、その間のベルト長さが
長く(又は短く)なるが、それにつれてプーリ12と1
8との間が短く(又は長く)なる。その結果、試料及び
分光絶間の距離と分光結晶及び検出器間の距離は常に等
しくされる。
このようにして、分光結晶13が結晶面を回転させなが
ら直線Aに沿って移動すると、X線検出器15は分光結
晶13によってブラック反射されX線集光点の移動に追
随するように移動する。
[発明が解決しようとする問題点] しかしながら、このように構成された装置では、X線検
出器15の位置を移動させるワイヤー19の張りに弛み
が僅かにあることがあるが、このような場合X線検出器
の位置が理想的なものからズしてしまう場合があった。
本発明は以上の欠点を解消して、X線検出器の移動に伴
うXI!検出器の位置ズレを防止した装置を堤供するこ
とを目的としている。
[問題点を解決するための手段] 上記目的を達成するため本発明は、直線ガイドに沿って
湾曲分光結晶の直線移動と回動を可能となし、前記分光
結晶からブラック反射されたX線の集光点が前記直線移
動と回転に伴って移動するのに追随してX線検出器が配
置されるようにXm検出器の移動をガイドするための検
出器ガイド手段を備えたX線分析装置用ゴニオメータに
おいて、前記検出器ガイド手段は前記検出器を常にロー
ランド円上に位置付けるための第1のガイドと、前記直
線移動と回転に伴う前記X線の集光点の軌跡の形状を有
する第2のガイドから成り、該第1゜第2の該ガイドと
の双方に案内されて前記xtQ検出器を移動させるよう
に構成したことを特徴としている。
[実施例] 以下本発明を図面に基づぎ詳述する。
第1図は本発明の一実施例を示す構成図で、第2図はそ
の要部を示す図である。尚、第1図及び第2図において
、従来装置と同一構成要素には同一番号を付してその説
明を省略する。第1図及び第2図において、G G;I
L基板4に形成されたX線検出器15の位置決めを行な
う第2のガイドとしてII能する案内溝で、該案内溝G
は分光結晶13を第1の直線ガイド5に沿って移動させ
た場合のX線集光点の移動軌跡であるレムニスケート曲
線形状に形成されている。21は検出器15の支持棒1
5aに圧入されたベアリングで、該ベアリング21は前
記案内溝GにΔGの微小間隙をもって嵌っている。この
微小間隙GはX線検出器15を移動させた場合に、ベア
リング21を案内溝Gの溝端部に沿って滑かに回転させ
るためのものである。
22a、22bはスプリングである。
このように構成された装置では、モータ6を駆動すると
前述の如く分光結晶13は結晶面を回転させながら、直
線Aに沿って移動する。一方、検出器台14は案内レー
ル9に沿って動くようにされていると共に、支持棒15
aによって案内溝Gに沿って動くようにされているため
、移動板8の移動に伴いX線検出器15の位置は常に上
記条件を満たすものとして該ベルト19の張力によらず
に定められる。又、この際分光結晶13の結晶面の回転
とX線検出器15の方向の回転は従来と同じようにベル
ト19によって伝達される力をプーリ12,18を介し
て前記両者に伝えることによって行なわれる。この様に
して、分光結晶13が結晶面を回転させながら直線Aに
沿って移動すると、X線検出器15は分光結晶13によ
ってブラック反射されたxiの集光点の移動に追従する
ように移動する。
第3図は本発明の他の実施例を説明するための図である
。第1図の実施例においては、分光結晶13をローラン
ド円上に位置付けるための第1のガイドを移動板8に設
けられた円弧状の案内レール9により構成したが、第3
図に示すように、移動板8′にアーム23の一端を固定
して、@端に検出器15′を配置することにより、円弧
状レールと代えることもでき、この場合にも案内溝Gの
双方に案内されて航記X線検出器を移動させることによ
り、最初の実施例と同様の効果を達成できる。
第4図は本発明の更に他の実施例を示すためのもので、
図中第3図と同一の構成要素に対しては同一番号を付し
ている。
この実施例においては、直線ガイド7及び移動板8に代
えて、スライダー10を中心として回転自在に取り付け
られたアーム24を設けると共に、アーム24とアーム
23との連結点をガイドするための円弧状ガイド溝25
を設けたもので、このようにしても前述した実施例と同
様の効果を達成することができる。
尚、上記実施例においては、前記第2のガイドとして案
内溝Gを形成したが、航記X線の集光点の軌跡の形状を
有する案内レールを前記基板に設けても良い。。
[発明の効果コ 以上詳述した様に本発明によれば、XIi!検出器は前
記検出器をローランド円上に位置付けるための第1のガ
イドと、X線集光点の軌跡の形状を有する第2のガイド
の双方に案内されて移動するため、Xm検出器の位置決
めにはベルト等の弛みの影響が介入することない。従っ
て、Xn検出器を常にX線集光位置に正確に位置付ける
ことができるため、X線分光における波長分解能を向上
させることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の構成図、第2図はその要部
を説明するための図、第3図は他の実施例を説明するた
めの図、第4図は更に他の実施例を説明するための図、
第5図は従来装置を説明するための図である。 1:対物レンズ、2:試料、3:電子線、4:基板、5
:第1の直線ガイド、6:モータ、7:第2の直線ガイ
ド、8:移動板、9:案内レール、10.11ニスライ
ダー、12:プーリ、13:分光結晶、14:検出器台
、15:X線検出器、16:スプリング、17:ワイヤ
ー、18:プーリ、19:定長ベルト、20a、20b
:ベルト固定率、21:べ7 +) > ’j、22a
、22bニスプリング、23,24:アーム、R:ロー
ランド円、G:案内溝25:円弧状ガイド溝 特許出願人  日本電子株式会社 第2図 バ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 直線ガイドに沿つて湾曲分光結晶の直線移動と回動を可
    能となし、前記分光結晶からブラック反射されたX線の
    集光点が前記直線移動と回転に伴って移動するのに追随
    してX線検出器が配置されるようにX線検出器の移動を
    ガイドするための検出器ガイド手段を備えたX線分析装
    置用ゴニオメータにおいて、前記検出器ガイド手段は前
    記検出器を常にローランド円上に位置付けるための第1
    のガイドと、前記直線移動と回転に伴う前記X線の集光
    点の軌跡の形状を有する第2のガイドとから成り、該第
    1、第2の該ガイドとの双方に案内されて前記X線検出
    器を移動させるように構成したことを特徴とするX線分
    析装置用ゴニオメータ。
JP61260187A 1986-10-31 1986-10-31 X線分析装置用ゴニオメ−タ Pending JPS63115040A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61260187A JPS63115040A (ja) 1986-10-31 1986-10-31 X線分析装置用ゴニオメ−タ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61260187A JPS63115040A (ja) 1986-10-31 1986-10-31 X線分析装置用ゴニオメ−タ

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS63115040A true JPS63115040A (ja) 1988-05-19

Family

ID=17344537

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP61260187A Pending JPS63115040A (ja) 1986-10-31 1986-10-31 X線分析装置用ゴニオメ−タ

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JP (1) JPS63115040A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0720069A (ja) * 1993-06-30 1995-01-24 Shimadzu Corp X線分光器

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0720069A (ja) * 1993-06-30 1995-01-24 Shimadzu Corp X線分光器

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