JPS6311014B2 - - Google Patents
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- JPS6311014B2 JPS6311014B2 JP53114080A JP11408078A JPS6311014B2 JP S6311014 B2 JPS6311014 B2 JP S6311014B2 JP 53114080 A JP53114080 A JP 53114080A JP 11408078 A JP11408078 A JP 11408078A JP S6311014 B2 JPS6311014 B2 JP S6311014B2
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- JP
- Japan
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- top plate
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- ray
- tomographic image
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Links
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- 238000003325 tomography Methods 0.000 claims description 7
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 7
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- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 3
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
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- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 2
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- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 description 1
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Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はX線、r線などの放射線を用いて被検
体の断層像を得る放射線断層撮影装置、例えばX
線を被検体に曝射し、被検体内を透過したX線の
強度を検出し、その結果をコンピユータで演算処
理し、前記被検査体の断層面内の組織のX線吸収
係数の分布を表示するコンピユーテツド・トモグ
ラフイー装置(以下単に〓CT装置〓と略称す
る。)の前記被検体を支持する寝台天板に関する
ものである。
体の断層像を得る放射線断層撮影装置、例えばX
線を被検体に曝射し、被検体内を透過したX線の
強度を検出し、その結果をコンピユータで演算処
理し、前記被検査体の断層面内の組織のX線吸収
係数の分布を表示するコンピユーテツド・トモグ
ラフイー装置(以下単に〓CT装置〓と略称す
る。)の前記被検体を支持する寝台天板に関する
ものである。
一般的なCT装置の概略構成を第1図に示し、
1はスキヤナユニツトで、このスキヤナユニツト
1は断層撮影を行なうべき被検体を挿入部2を挾
んでX線管3と検出部4とを設けている。X線管
3はX線高圧発生部5から高電圧を与えられて、
被検体にX線を照射する。また一般にX線を断層
幅に応じてコリメートするためのコリメータを設
け、そのビーム形状はスキヤン方式に応じてペン
シルビーム、フアンビーム等を用いている。さら
に上記X線管3の放射窓に近接してこのX線管3
から放射されるX線強度の変化による影響を補償
するための比較検出器6を設けている。前記X線
検出部4は被検体を透過した後のX線を検出する
ものであり、たとえばヨウ化ナトリウム(NaI)
シンチレータと、光電子増倍管とを組合わせた高
感度検出系で通常コリメータをX線入射側に付設
している。7はコンピユータ等の演算処理装置で
上記検出部4の検出信号をプロジエクシヨンデー
タとして与えられて画像再構成のための演算を行
なう。対話型入出力部8から与えられた指示に応
じてX線高圧発生部5を制御するX線制御部9お
よびX線管3、検出系等の動作を制御するスキヤ
ナユニツト制御部10に指令を与える。なお上記
対話入出力部8はシステムを操作するためのオペ
レーターと演算処理装置7との対話に用いられ、
また、投影データの表示、データの検索等も行な
う。また、前記X線制御部9はX線管3に供給す
る高電圧を制御して電圧、電流を設定値に安定に
保つとともに過負荷に対する保護を行なうように
している。そして前記演算処理装置7によつて比
較検出器6および検出部4から与えられるアナロ
グの検出信号をデジタル信号に変換される。そし
てこのデイジタル信号を各種演算処理を行なつて
断層像の再構成を行なう。そうしてこの断層像の
データを磁気テープ、磁気デイスク等の外部記憶
装置11に記憶させ、あるいはCRT,TVモニタ
ー等のデータ表示部12に断層面におけるX線吸
収係数に応じた濃淡で表示するようにしている。
1はスキヤナユニツトで、このスキヤナユニツト
1は断層撮影を行なうべき被検体を挿入部2を挾
んでX線管3と検出部4とを設けている。X線管
3はX線高圧発生部5から高電圧を与えられて、
被検体にX線を照射する。また一般にX線を断層
幅に応じてコリメートするためのコリメータを設
け、そのビーム形状はスキヤン方式に応じてペン
シルビーム、フアンビーム等を用いている。さら
に上記X線管3の放射窓に近接してこのX線管3
から放射されるX線強度の変化による影響を補償
するための比較検出器6を設けている。前記X線
検出部4は被検体を透過した後のX線を検出する
ものであり、たとえばヨウ化ナトリウム(NaI)
シンチレータと、光電子増倍管とを組合わせた高
感度検出系で通常コリメータをX線入射側に付設
している。7はコンピユータ等の演算処理装置で
上記検出部4の検出信号をプロジエクシヨンデー
タとして与えられて画像再構成のための演算を行
なう。対話型入出力部8から与えられた指示に応
じてX線高圧発生部5を制御するX線制御部9お
よびX線管3、検出系等の動作を制御するスキヤ
ナユニツト制御部10に指令を与える。なお上記
対話入出力部8はシステムを操作するためのオペ
レーターと演算処理装置7との対話に用いられ、
また、投影データの表示、データの検索等も行な
う。また、前記X線制御部9はX線管3に供給す
る高電圧を制御して電圧、電流を設定値に安定に
保つとともに過負荷に対する保護を行なうように
している。そして前記演算処理装置7によつて比
較検出器6および検出部4から与えられるアナロ
グの検出信号をデジタル信号に変換される。そし
てこのデイジタル信号を各種演算処理を行なつて
断層像の再構成を行なう。そうしてこの断層像の
データを磁気テープ、磁気デイスク等の外部記憶
装置11に記憶させ、あるいはCRT,TVモニタ
ー等のデータ表示部12に断層面におけるX線吸
収係数に応じた濃淡で表示するようにしている。
また、被検体(図示せず)を前記スキヤナユニ
ツト1内の挿入部2に導入する場合、被検体を載
置、支持する寝台装置13内に設けられた駆動部
(図示せず)によつて被検体が載つている木製、
合成樹脂製等の放射線透過材質の天板14をX線
管3とX線検出器4を含むスキヤナユニツト1内
の仮想平面に対し、直交する方向図示Xへの運動
と、前記平面に平行な方向(図示Y)への運動を
制御し駆動する。また、X線管3よりX線パター
ン形状がフアンビームであるX線が曝射される。
ツト1内の挿入部2に導入する場合、被検体を載
置、支持する寝台装置13内に設けられた駆動部
(図示せず)によつて被検体が載つている木製、
合成樹脂製等の放射線透過材質の天板14をX線
管3とX線検出器4を含むスキヤナユニツト1内
の仮想平面に対し、直交する方向図示Xへの運動
と、前記平面に平行な方向(図示Y)への運動を
制御し駆動する。また、X線管3よりX線パター
ン形状がフアンビームであるX線が曝射される。
第2図に前記曝射状態を模式的に示し、X線管
3より仮想線a,bによつて挾まれるX線フアン
ビームがX線検出器4全体を臨むように曝射され
る。X線検出器4は前記X線フアンビーム内の所
定X線パスの透過X線エネルギ強度を検出するた
め、例えばXe検出器セル4aを多数前記透過パ
スに対応するだけ並設されている。X線管3とX
線検出器4は常時対向し、仮想円孤C上を所定角
度単位で回転を行なう。この回転運動の際、前記
X線フアンビームの仮想外縁線a,bに回転中心
Oから下した垂線の足H,Hの軌跡はDのような
円孤となる。つまり、この円孤D内に被検査対象
物体(被検対)が包含されていれば、前記X線管
3とX線検出器4との回転運動による多方向から
のX線曝射による被検体の各部のX線吸収値が得
られ正常な断層像が得られる。すなわち、円孤D
内が撮影最適領域である。よつて、CT装置によ
るX線断層撮影時には常に被検体を前記領域D内
に挿入する必要がある。しかし、上記目的を達成
するためには、被検体のみを前記領域D内に導入
すべく操作するため、前記被検体を直接支持する
寝台装置13の天板14の両端部が前記領域D外
に突出する。
3より仮想線a,bによつて挾まれるX線フアン
ビームがX線検出器4全体を臨むように曝射され
る。X線検出器4は前記X線フアンビーム内の所
定X線パスの透過X線エネルギ強度を検出するた
め、例えばXe検出器セル4aを多数前記透過パ
スに対応するだけ並設されている。X線管3とX
線検出器4は常時対向し、仮想円孤C上を所定角
度単位で回転を行なう。この回転運動の際、前記
X線フアンビームの仮想外縁線a,bに回転中心
Oから下した垂線の足H,Hの軌跡はDのような
円孤となる。つまり、この円孤D内に被検査対象
物体(被検対)が包含されていれば、前記X線管
3とX線検出器4との回転運動による多方向から
のX線曝射による被検体の各部のX線吸収値が得
られ正常な断層像が得られる。すなわち、円孤D
内が撮影最適領域である。よつて、CT装置によ
るX線断層撮影時には常に被検体を前記領域D内
に挿入する必要がある。しかし、上記目的を達成
するためには、被検体のみを前記領域D内に導入
すべく操作するため、前記被検体を直接支持する
寝台装置13の天板14の両端部が前記領域D外
に突出する。
その領域D外の突出した天板14の端部にX線
が曝射されると、得られたX線断層像内に前記端
部より発生したアーチフアクトが現出する。この
断層画像内のアーチフアクトの現出は前記画像を
非常に見難くし、よつてCT装置の断層像による
診断上支障をきたす欠点がある。
が曝射されると、得られたX線断層像内に前記端
部より発生したアーチフアクトが現出する。この
断層画像内のアーチフアクトの現出は前記画像を
非常に見難くし、よつてCT装置の断層像による
診断上支障をきたす欠点がある。
上記アーチフアクト発生の原因である天板14
の位置関係を天板の長手方向に直角な断面図であ
る第3図に示し、領域D外の天板14の端部E,
E(破線で囲んだ円内)よりアーチフアクトFが
表われる。被検体15は完全に前記領域内に納ま
つている。第3図の天板14の長手方向に平行な
2端面はその仮想延長面が前記撮影最適領域Dと
交差する関係を有している。実験的に第3図に示
したような天板端部のエツジが鋭い場合、アーチ
フアクトFはその端面に沿つた天板の長手方向と
直角方向に現出することが知られている。
の位置関係を天板の長手方向に直角な断面図であ
る第3図に示し、領域D外の天板14の端部E,
E(破線で囲んだ円内)よりアーチフアクトFが
表われる。被検体15は完全に前記領域内に納ま
つている。第3図の天板14の長手方向に平行な
2端面はその仮想延長面が前記撮影最適領域Dと
交差する関係を有している。実験的に第3図に示
したような天板端部のエツジが鋭い場合、アーチ
フアクトFはその端面に沿つた天板の長手方向と
直角方向に現出することが知られている。
次に第4図に示す如く天板の2端面が同一面上
に位置するような関係とした場合、アーチフアク
トFはその両端を結ぶ線上に現出する。
に位置するような関係とした場合、アーチフアク
トFはその両端を結ぶ線上に現出する。
第5図の場合は、天板14の端部の端面を一定
曲率を有する曲面とした場合であつて、この場合
にはその頂点近傍より放射状に何本ものアーフア
クトFが現出する。以上第3図〜第5図に示した
ように天板端部形状と断層像内に現出するアーチ
フアクトとの関係が実験的に確認された。すなわ
ち、1)天板端部が平面的端面を有し、そのエツ
ジ部が鋭い場合において、アーチフアクトはその
端面に沿つた天板の長手方向とは直交する方向に
発生し、断層画像内に現出する。2)天板端部が
曲面となつている場合、つまりエツジ部が鈍い場
合において、アーチフアクトはその略頂点近傍よ
り放射状に数本のアーチフアクトが発生し、断層
画像内に現出する。
曲率を有する曲面とした場合であつて、この場合
にはその頂点近傍より放射状に何本ものアーフア
クトFが現出する。以上第3図〜第5図に示した
ように天板端部形状と断層像内に現出するアーチ
フアクトとの関係が実験的に確認された。すなわ
ち、1)天板端部が平面的端面を有し、そのエツ
ジ部が鋭い場合において、アーチフアクトはその
端面に沿つた天板の長手方向とは直交する方向に
発生し、断層画像内に現出する。2)天板端部が
曲面となつている場合、つまりエツジ部が鈍い場
合において、アーチフアクトはその略頂点近傍よ
り放射状に数本のアーチフアクトが発生し、断層
画像内に現出する。
本発明は以上述べたように、CT装置によつて
被検体の断層像を映出する際、被検体を撮影最適
領域Dに挿入する必要性から、前記被検体を直接
支持する寝台装置13の天板14端部が前記領域
D外に突出することが原因で、被検体の断層画像
内(領域D)に現出するアーチフアクトを防止す
るために、前記アーチフアクトを前記断層画像外
に現出させ、この天板端部の突出を原因とするア
ーチフアクトの悪影響を前記断層画像内に及ぼす
ことがないCT装置の寝台装置に用いられる天板
を提供することを目的とする。
被検体の断層像を映出する際、被検体を撮影最適
領域Dに挿入する必要性から、前記被検体を直接
支持する寝台装置13の天板14端部が前記領域
D外に突出することが原因で、被検体の断層画像
内(領域D)に現出するアーチフアクトを防止す
るために、前記アーチフアクトを前記断層画像外
に現出させ、この天板端部の突出を原因とするア
ーチフアクトの悪影響を前記断層画像内に及ぼす
ことがないCT装置の寝台装置に用いられる天板
を提供することを目的とする。
以下図面を参照しながら本発明の一実施例につ
いて説明する。
いて説明する。
第6図に示す如く、撮影最適領域Dの直径より
天板の幅を大きくし、且つ従来の天板14と同様
に幅方向に任意の曲率を備えている。更に、天板
の端部Eは平面状の端面とし、その2端面Eは共
にX線管3とX線検出器4のそれぞれの中心を結
ぶ仮想中心線に平行である。そして天板16は
被検体15を支持する。この場合、被検体15は
前記領域D内に含まれるように配置される。よつ
て前述した実験結果(1)により両端部Eより発生す
るアーチフアクトF,Fは前記領域D(断層像撮
影領域)外に現出し、実際の診断上有効な画像内
には現出しない。これにより、X線断層撮影画像
上での天板16のアーチフアクトの現出による画
質の劣化を防止することが可能となる。
天板の幅を大きくし、且つ従来の天板14と同様
に幅方向に任意の曲率を備えている。更に、天板
の端部Eは平面状の端面とし、その2端面Eは共
にX線管3とX線検出器4のそれぞれの中心を結
ぶ仮想中心線に平行である。そして天板16は
被検体15を支持する。この場合、被検体15は
前記領域D内に含まれるように配置される。よつ
て前述した実験結果(1)により両端部Eより発生す
るアーチフアクトF,Fは前記領域D(断層像撮
影領域)外に現出し、実際の診断上有効な画像内
には現出しない。これにより、X線断層撮影画像
上での天板16のアーチフアクトの現出による画
質の劣化を防止することが可能となる。
次に第二の実施例について、第7図を参照しな
がら説明する。
がら説明する。
第7図には第二の実施例の天板17の形状を示
し、図示の如く、第一の実施例の天板16と同
様、天板17の幅を前記領域Dの直径より大きく
し、更に被検体15の支持を確実に行なうために
幅方向に所定の曲率を有し、天板のアーチフアク
ト発生部である端面を平面とし、この2端面を前
記中心線に対し一定の傾きを有するように備
え、この端面の傾き状態は、被検体15が載置さ
れる側に向うに従い、次第に前記中心線より離
れるようにする。このような傾斜端面を有する天
板を使用すれば、前記実験結果(1)によりアーチフ
アクトFは端面に沿つた天板の長手方向とは直交
する方向に発生する。よつて発生するアーチフア
クトは前記領域D外に現出するため、実際の断層
画像内には現出されず、第一の実施例同様に、被
検体15のX線断層画像内にアーチフアクトの現
出によつて画像が劣化し医師等の診断術者に対す
るCT装置によつて得られる断層像による診断に
支障をきたすことがない明瞭な断層画像が得られ
る効果がある。
し、図示の如く、第一の実施例の天板16と同
様、天板17の幅を前記領域Dの直径より大きく
し、更に被検体15の支持を確実に行なうために
幅方向に所定の曲率を有し、天板のアーチフアク
ト発生部である端面を平面とし、この2端面を前
記中心線に対し一定の傾きを有するように備
え、この端面の傾き状態は、被検体15が載置さ
れる側に向うに従い、次第に前記中心線より離
れるようにする。このような傾斜端面を有する天
板を使用すれば、前記実験結果(1)によりアーチフ
アクトFは端面に沿つた天板の長手方向とは直交
する方向に発生する。よつて発生するアーチフア
クトは前記領域D外に現出するため、実際の断層
画像内には現出されず、第一の実施例同様に、被
検体15のX線断層画像内にアーチフアクトの現
出によつて画像が劣化し医師等の診断術者に対す
るCT装置によつて得られる断層像による診断に
支障をきたすことがない明瞭な断層画像が得られ
る効果がある。
また、他の実施例とし第8図に示す如く天板1
8の幅を撮影最適領域Dの直径より大きくし、幅
方向に任意の曲率を有し、アーチフアクトの原因
である天板端面が平面であり、その被検体載置側
に向うに従い仮想中心線に近づくが、前記端面の
仮想延長面が前記撮影最適領域Dとは交点を生じ
ないような傾斜を有するものとする。寝台天板が
このような端面形状及び傾斜を有することによ
り、端面より発生するアーチフアクトFは撮影最
適領域D外に現出する。したがつて、画像の対象
範囲内にアーチフアクトは現われないため、アー
チフアクトによる断層像画質の劣化は防止でき
る。
8の幅を撮影最適領域Dの直径より大きくし、幅
方向に任意の曲率を有し、アーチフアクトの原因
である天板端面が平面であり、その被検体載置側
に向うに従い仮想中心線に近づくが、前記端面の
仮想延長面が前記撮影最適領域Dとは交点を生じ
ないような傾斜を有するものとする。寝台天板が
このような端面形状及び傾斜を有することによ
り、端面より発生するアーチフアクトFは撮影最
適領域D外に現出する。したがつて、画像の対象
範囲内にアーチフアクトは現われないため、アー
チフアクトによる断層像画質の劣化は防止でき
る。
以上述べたように本発明によるCT装置の寝台
装置の天板端部の両端面を第6図に示す如く前記
X線管3とX線検出器4の各々の中心を結ぶ線に
平行、あるいは第7図に示す如く被検体とし接触
側に向うに従い前記中心線より離れるように形成
するか、また、第8図に示す如く天板の幅を大き
くし、その端面の仮想延長線が前記撮影最適領域
Dと交点を生じないように形成することにより、
実験結果(1)によれば天板端面を原因として発生す
るアーチフアクトはその端面に沿つた天板の長手
方向とは直交する方向に発生するため、撮影領域
と天板端面延長面との関係を上記のようにすれ
ば、アーチフアクトは撮影領域外に現出し、よつ
て得られる断層画像内には現出せず、このアーチ
フアクトの影響による画質の劣化を防止すること
が可能となり、実際の診断において有用である明
瞭な画像を得ることができる。
装置の天板端部の両端面を第6図に示す如く前記
X線管3とX線検出器4の各々の中心を結ぶ線に
平行、あるいは第7図に示す如く被検体とし接触
側に向うに従い前記中心線より離れるように形成
するか、また、第8図に示す如く天板の幅を大き
くし、その端面の仮想延長線が前記撮影最適領域
Dと交点を生じないように形成することにより、
実験結果(1)によれば天板端面を原因として発生す
るアーチフアクトはその端面に沿つた天板の長手
方向とは直交する方向に発生するため、撮影領域
と天板端面延長面との関係を上記のようにすれ
ば、アーチフアクトは撮影領域外に現出し、よつ
て得られる断層画像内には現出せず、このアーチ
フアクトの影響による画質の劣化を防止すること
が可能となり、実際の診断において有用である明
瞭な画像を得ることができる。
第1図は一般的CT装置の原理を説明するため
の概略構成図、第2図はそのX線管、X線ビー
ム、撮影最適領域、被検体、天板、X線検出器の
相対的位置関係を示した図、第3図〜第5図は従
来のCT装置用寝台装置の天板形状を示した断面
図、第6図,第7図及び第8図は本発明による天
板の形状を示した断面図である。 3…X線管、4…X線検出器、13…寝台装
置、14…天板、15…被検体、D…撮影最適領
域、E…天板端部、…中心線、O…回転中心。
の概略構成図、第2図はそのX線管、X線ビー
ム、撮影最適領域、被検体、天板、X線検出器の
相対的位置関係を示した図、第3図〜第5図は従
来のCT装置用寝台装置の天板形状を示した断面
図、第6図,第7図及び第8図は本発明による天
板の形状を示した断面図である。 3…X線管、4…X線検出器、13…寝台装
置、14…天板、15…被検体、D…撮影最適領
域、E…天板端部、…中心線、O…回転中心。
Claims (1)
- 1 被検体を天板にのせ、この被検体をほぼ中心
としてX線源とX線検出器を対向配置させ、前記
X線検出器からの信号に基づいて前記中心をほぼ
中心とした撮影領域について再構成を行うことに
より前記被検体の断層像を得るコンピユーテツド
トモグラフイー装置において、前記天板の長手方
向の両端面に平面部を設け、且つその平面の延長
に前記撮影領域がほとんど含まれないようにした
ことを特徴とするコンピユーテツドトモグラフイ
ー装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11408078A JPS5540555A (en) | 1978-09-19 | 1978-09-19 | Bed ceilinggplate for computed tomography device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11408078A JPS5540555A (en) | 1978-09-19 | 1978-09-19 | Bed ceilinggplate for computed tomography device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5540555A JPS5540555A (en) | 1980-03-22 |
JPS6311014B2 true JPS6311014B2 (ja) | 1988-03-10 |
Family
ID=14628550
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11408078A Granted JPS5540555A (en) | 1978-09-19 | 1978-09-19 | Bed ceilinggplate for computed tomography device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5540555A (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6168688A (ja) * | 1984-09-12 | 1986-04-09 | 株式会社日立製作所 | 現金支払装置 |
JPH0354725Y2 (ja) * | 1984-12-13 | 1991-12-04 | ||
CN101382507A (zh) * | 2007-09-05 | 2009-03-11 | 同方威视技术股份有限公司 | 一种检查航空货运集装箱中违禁物品的装置 |
CN101382508A (zh) * | 2007-09-05 | 2009-03-11 | 同方威视技术股份有限公司 | 一种检查航空货运集装箱中违禁物品的装置和方法 |
-
1978
- 1978-09-19 JP JP11408078A patent/JPS5540555A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5540555A (en) | 1980-03-22 |
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