JPS63107136A - プロ−ブカ−ド自動交換機能付プロ−バ - Google Patents
プロ−ブカ−ド自動交換機能付プロ−バInfo
- Publication number
- JPS63107136A JPS63107136A JP25407186A JP25407186A JPS63107136A JP S63107136 A JPS63107136 A JP S63107136A JP 25407186 A JP25407186 A JP 25407186A JP 25407186 A JP25407186 A JP 25407186A JP S63107136 A JPS63107136 A JP S63107136A
- Authority
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- Japan
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- probe card
- chuck
- connector
- prober
- probe
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- 239000000523 sample Substances 0.000 title claims abstract description 92
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 9
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 8
- 210000000707 wrist Anatomy 0.000 claims description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 abstract 1
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000032258 transport Effects 0.000 description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 239000013256 coordination polymer Substances 0.000 description 1
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の技術分野]
本発明はプローブカードの自動交換を可能にしたプロー
バに係り、特にプローブカードを自動的に搬送し、コネ
クタとの位置合せ、取り付け、取り外しを行うことので
きるプローブカード自動交換機能付プローバに関する。
バに係り、特にプローブカードを自動的に搬送し、コネ
クタとの位置合せ、取り付け、取り外しを行うことので
きるプローブカード自動交換機能付プローバに関する。
[発明の技術的背景]
プローバは、ウェハのチップパッドとプローブカードの
針とを接触させることによりチップをテスターのヘッド
と接続し、チップの電気的特性を測定するものであるが
、プローブカードは通常プローバのヘッドプレートに設
けたリングインサート部にねじで固定することにより取
付けられており、測定の条件やウェハの種類、大きさ等
が変ゎるたびに、マニュアルで取り外し、取り付けなど
の交換を行なっていた。しかし、このようなプローブカ
ードの交換はプローパ上に設置されている重量の大きい
テストヘッドを180°倒した状態で行わなければなら
ず、しかもプローブカードとコネクタを確実に位置出し
して固定する必要があり、オペレータにとって決して容
易な作業ではなかった。又、プローブカードを変更した
時はその都度1品名、大きさ、OFF (7)位置、X
及びY INDEX等の種々のデータをプローバのキー
ボードより入力しなければならなかった。
針とを接触させることによりチップをテスターのヘッド
と接続し、チップの電気的特性を測定するものであるが
、プローブカードは通常プローバのヘッドプレートに設
けたリングインサート部にねじで固定することにより取
付けられており、測定の条件やウェハの種類、大きさ等
が変ゎるたびに、マニュアルで取り外し、取り付けなど
の交換を行なっていた。しかし、このようなプローブカ
ードの交換はプローパ上に設置されている重量の大きい
テストヘッドを180°倒した状態で行わなければなら
ず、しかもプローブカードとコネクタを確実に位置出し
して固定する必要があり、オペレータにとって決して容
易な作業ではなかった。又、プローブカードを変更した
時はその都度1品名、大きさ、OFF (7)位置、X
及びY INDEX等の種々のデータをプローバのキー
ボードより入力しなければならなかった。
[発明の目的コ
本発明は上記従来のマニュアルによるプローブカードの
交換の難点に鑑みなされたもので、自動的にプローブカ
ードの交換ができ、しかも自動交換時に確実な位置出し
とプローブカードからのデータの入力が可能なプローブ
カード自動交換機能付プローバを提供せんとするもので
ある。
交換の難点に鑑みなされたもので、自動的にプローブカ
ードの交換ができ、しかも自動交換時に確実な位置出し
とプローブカードからのデータの入力が可能なプローブ
カード自動交換機能付プローバを提供せんとするもので
ある。
[発明の概要]
このような目的を達成するために本発明はテストヘッド
と、該テストヘッドと電気的に接続されるプローブカー
ドを装着するコネクタと、前記プローブカードにウェハ
のチップパッドが接続するように前記ウェハを搭載搬送
するチャックとを備えたプローバにおいて、前記プロー
ブカード及び前記コネクタはそれぞれ互いに係合及び係
合解除するためのロック機構を備えると共に前記チャッ
クは前記プローブカードの搬送を兼ね且つ前記プローブ
カードを上方に移動させるリスト手段を有することを特
徴とする。
と、該テストヘッドと電気的に接続されるプローブカー
ドを装着するコネクタと、前記プローブカードにウェハ
のチップパッドが接続するように前記ウェハを搭載搬送
するチャックとを備えたプローバにおいて、前記プロー
ブカード及び前記コネクタはそれぞれ互いに係合及び係
合解除するためのロック機構を備えると共に前記チャッ
クは前記プローブカードの搬送を兼ね且つ前記プローブ
カードを上方に移動させるリスト手段を有することを特
徴とする。
又2本発明のプローバにおいては、プローブカードの少
なくとも一面にデータ部を設は且つプローバ側に該デー
タ部のデータを読み取るデータ読取手段を設けたことを
特徴とする。
なくとも一面にデータ部を設は且つプローバ側に該デー
タ部のデータを読み取るデータ読取手段を設けたことを
特徴とする。
更に1本発明のプローバにおいては、プローブカードと
コネクタの位置出しを行うために、プローブカード及び
コネクタにそれぞれ磁気又は光学素子及びそれら素子の
検知手段を備えたことを特徴とする。
コネクタの位置出しを行うために、プローブカード及び
コネクタにそれぞれ磁気又は光学素子及びそれら素子の
検知手段を備えたことを特徴とする。
[発明の実施例]
以下、本発明の好ましい実施例を図面に基き説明する。
第1図及び第2図は本発明のプローバの全体図を示し、
主としてローダ部l、プローバ部2、テストヘッド3及
び操作パネル4から成り、ローダ部lは、ハンドリング
アーム等の搬送手段(図示せず)によってカセット5内
に収納されたウェハを一枚ずつ取り出し、プローバ部2
のチャック6上に搬送する。プローバ部2はアラインメ
ントステージとXYステージから成り、アラインメント
ステージでチャック6上のウェハのファインアラインメ
ントを行い、XYステージでチャック6をXY方向に駆
動しながらウェハ7のチップのパッドとプローブカード
8の針と接触させて測定を行う、プローブカード8はプ
ローバのヘッドプレート9に設けたリングインサート部
10のコネクタ11に取り付けられる。そして、ヘッド
プレート9上にテストヘッド3を設置した時、プローブ
カード8はリングインサート部10を介してテストヘッ
ド3と電気的に接続され、ウェハ7のチップの測定が可
能となる0以上が第1図及び第2図のプローバにおける
通常のブロービングの機能で、これらはすでに公知のも
のであるが、本発明のプローバは更にプローブカードを
搬送、取り付け、取り外すための機能を備えている。以
下それら機能について詳述する。まずプローブカード8
について説明する。第3図(a)、(b)はプローブカ
ード8の詳細を示す図で、プローブカード8は中央にチ
ップのパッドに接触する針12を有し。
主としてローダ部l、プローバ部2、テストヘッド3及
び操作パネル4から成り、ローダ部lは、ハンドリング
アーム等の搬送手段(図示せず)によってカセット5内
に収納されたウェハを一枚ずつ取り出し、プローバ部2
のチャック6上に搬送する。プローバ部2はアラインメ
ントステージとXYステージから成り、アラインメント
ステージでチャック6上のウェハのファインアラインメ
ントを行い、XYステージでチャック6をXY方向に駆
動しながらウェハ7のチップのパッドとプローブカード
8の針と接触させて測定を行う、プローブカード8はプ
ローバのヘッドプレート9に設けたリングインサート部
10のコネクタ11に取り付けられる。そして、ヘッド
プレート9上にテストヘッド3を設置した時、プローブ
カード8はリングインサート部10を介してテストヘッ
ド3と電気的に接続され、ウェハ7のチップの測定が可
能となる0以上が第1図及び第2図のプローバにおける
通常のブロービングの機能で、これらはすでに公知のも
のであるが、本発明のプローバは更にプローブカードを
搬送、取り付け、取り外すための機能を備えている。以
下それら機能について詳述する。まずプローブカード8
について説明する。第3図(a)、(b)はプローブカ
ード8の詳細を示す図で、プローブカード8は中央にチ
ップのパッドに接触する針12を有し。
且つコネクタ11に取付けられる面にコネクタ11側の
端子と接続される全メッキラウンド13゜コネクタ11
側のロック機構であるロックリングに係止されるロック
機構(ロック部14)が形成されており、更にその同じ
面にデータ部としてデータの入った磁気テープ15又は
バーコード、文字などのID15’が貼付されている。
端子と接続される全メッキラウンド13゜コネクタ11
側のロック機構であるロックリングに係止されるロック
機構(ロック部14)が形成されており、更にその同じ
面にデータ部としてデータの入った磁気テープ15又は
バーコード、文字などのID15’が貼付されている。
一方、コネクタ11には第4図に示すようにロック機構
としてプローブカード8のロック部14の溝14aと係
合する突部16aを有するロックリング16が備えられ
る。ロックリング16の外周に設けたギア部16bはス
テップモータ18のウォ−ム18aと噛み合っておリモ
ータ18の回転によってロックリング16が回転するこ
とにより。
としてプローブカード8のロック部14の溝14aと係
合する突部16aを有するロックリング16が備えられ
る。ロックリング16の外周に設けたギア部16bはス
テップモータ18のウォ−ム18aと噛み合っておリモ
ータ18の回転によってロックリング16が回転するこ
とにより。
その突部16aをプローブカード8のロック部14と係
合させたり、又は係合を解いたりすることができる。
合させたり、又は係合を解いたりすることができる。
テストヘッド3又はリングインサート部10にはプロー
ブカードの磁気テープ15又はバーコード、文字などの
ID15’のデータを読み取るデータ読取手段17とし
て磁気ヘッド又は光学読取手段等を備える。
ブカードの磁気テープ15又はバーコード、文字などの
ID15’のデータを読み取るデータ読取手段17とし
て磁気ヘッド又は光学読取手段等を備える。
次にチャック6について説明する。
チャック6は通常、真空吸着によってウェハを吸着保持
し、各ステージで駆動されるものであるが1本発明にお
いてチャック6はウェハだけでなくプローブカード8を
搭載し、搬送するために使用される。そしてチャック6
には第5図に示すようにチャック上面6aより突出し可
能なピン19が設けられる。ピン19はチャック6上の
プローブカード8を上方にもち上げるリフト手段をなす
ものでプローブカード8がXYステージによってコネク
タ11下部に搬送されるとピン19がチャック上面6a
より突出してプローブカード8を上方に持ち上げ、プロ
ーブカード8をコネクタ11に近接させる。
し、各ステージで駆動されるものであるが1本発明にお
いてチャック6はウェハだけでなくプローブカード8を
搭載し、搬送するために使用される。そしてチャック6
には第5図に示すようにチャック上面6aより突出し可
能なピン19が設けられる。ピン19はチャック6上の
プローブカード8を上方にもち上げるリフト手段をなす
ものでプローブカード8がXYステージによってコネク
タ11下部に搬送されるとピン19がチャック上面6a
より突出してプローブカード8を上方に持ち上げ、プロ
ーブカード8をコネクタ11に近接させる。
以上のような構成において、プローブカード8の自動搬
送及び取り付けについて説明する。まずローダ部1にプ
ローブカード8専用のカセットをセットし、スタートす
る。ローダ部1はハンドリングアーム等によりカセット
よりプローブカード8を取り出しプローバ部2のチャッ
ク6上に搭載する。チャック6上に搭載されているもの
がプローブカード8であればアラインメントは行わすX
Yステージによってチャック6が駆動され、直接コネク
タ11下方にプローブカード8を搬送する。
送及び取り付けについて説明する。まずローダ部1にプ
ローブカード8専用のカセットをセットし、スタートす
る。ローダ部1はハンドリングアーム等によりカセット
よりプローブカード8を取り出しプローバ部2のチャッ
ク6上に搭載する。チャック6上に搭載されているもの
がプローブカード8であればアラインメントは行わすX
Yステージによってチャック6が駆動され、直接コネク
タ11下方にプローブカード8を搬送する。
次いでチャック6のピン19を突出させてプローブカー
ド8をコネクタ11に接近させた後、チャツク6全体を
上昇させてプローブカード8とコネクタ11を当接させ
る。この状態でロックリング16を回転させてその突部
16aをプローブカード80ロツク部14の溝14aに
係合させてプローブカード8をコネクタ11に固定する
。このロックリングの回転と同時に、プローバ側にi2
置される磁気ヘッド17等のデータ読取り手段によって
プローブカード8上面の磁気カード15又はバーコード
、文字などのIDのデータを読み取りプローバ内のCP
Uに入力する。そしてロック機構(ロック部14とロッ
クリング16)の係合時にプローブカード8とコネクタ
11は金メツキラウンド13と端子ピンの位置が合致す
るようになっている。
ド8をコネクタ11に接近させた後、チャツク6全体を
上昇させてプローブカード8とコネクタ11を当接させ
る。この状態でロックリング16を回転させてその突部
16aをプローブカード80ロツク部14の溝14aに
係合させてプローブカード8をコネクタ11に固定する
。このロックリングの回転と同時に、プローバ側にi2
置される磁気ヘッド17等のデータ読取り手段によって
プローブカード8上面の磁気カード15又はバーコード
、文字などのIDのデータを読み取りプローバ内のCP
Uに入力する。そしてロック機構(ロック部14とロッ
クリング16)の係合時にプローブカード8とコネクタ
11は金メツキラウンド13と端子ピンの位置が合致す
るようになっている。
プローブカード8をコネクタ11から取り外すには、チ
ャック6をリングインサート部の下方に移動した状態で
取り付けと全く逆に、まずロックリング16を回転させ
て、その突部16aとロック部14の係合を解いてプロ
ーブカード8をチャック6上にのせ、ローダ部1へ搬送
し、ローダ部lでカセット内へ戻す。このようにして、
プローブカード8の自動交換が達成される。
ャック6をリングインサート部の下方に移動した状態で
取り付けと全く逆に、まずロックリング16を回転させ
て、その突部16aとロック部14の係合を解いてプロ
ーブカード8をチャック6上にのせ、ローダ部1へ搬送
し、ローダ部lでカセット内へ戻す。このようにして、
プローブカード8の自動交換が達成される。
以上の実施例においては、プローブカード8をコネクタ
11に接続する場合、ロック部14とロックリング16
が係合するようにあらかじめプローブカード8をチャッ
ク6に搭載する時に位置合わせしておくことが必要であ
るが1本発明においては自動的に位置合わせする機能を
付与することができる。
11に接続する場合、ロック部14とロックリング16
が係合するようにあらかじめプローブカード8をチャッ
ク6に搭載する時に位置合わせしておくことが必要であ
るが1本発明においては自動的に位置合わせする機能を
付与することができる。
第7図に示すように、プローブカード8はその周辺部に
配設される金メツキラウンド13より内側の所定の3点
に磁気又は光学素子としてマグネット21が埋め込まれ
ている。一方、コネクタ11には金メツキラウンド13
に対応してポコピン22が配設されると共に、マグネッ
ト21に対応する位置にホール素子又はマグネットダイ
オード等の検知手段23を設ける。
配設される金メツキラウンド13より内側の所定の3点
に磁気又は光学素子としてマグネット21が埋め込まれ
ている。一方、コネクタ11には金メツキラウンド13
に対応してポコピン22が配設されると共に、マグネッ
ト21に対応する位置にホール素子又はマグネットダイ
オード等の検知手段23を設ける。
そして、プローブカード8とコネクタ11を接近させた
状態でチャック6を回転させて3つの検知手段23の出
力のANDを取り9位置出しする。
状態でチャック6を回転させて3つの検知手段23の出
力のANDを取り9位置出しする。
位置出し終了後はチャック6を上昇させ前述のロック機
構(第7図には図示せず)によってコネクタ11にプロ
ーブカード8を接続固定する。この実施例では位置出し
のためにマグネット21及び磁気検知手段23を用いて
いるが、光学素子及び光学的検知手段を用いることも可
能である。マグネット20を用いた場合は、プローブカ
ード8に貼付するデータ部15として磁気テープは使え
ないので、代わりにバーコード、文字などのID15’
を用い光学読取手段によりデータを読み取るようにする
。
構(第7図には図示せず)によってコネクタ11にプロ
ーブカード8を接続固定する。この実施例では位置出し
のためにマグネット21及び磁気検知手段23を用いて
いるが、光学素子及び光学的検知手段を用いることも可
能である。マグネット20を用いた場合は、プローブカ
ード8に貼付するデータ部15として磁気テープは使え
ないので、代わりにバーコード、文字などのID15’
を用い光学読取手段によりデータを読み取るようにする
。
尚、コネクタ11の端子ビンとしてボコピン22を用い
たのは、ポコピン22を用いた場合、ロック機構を解く
と同時にポコビン22の内蔵するばねによって自動的に
プローブカード8とコネクタ11の接続が解かれ、自動
化の要請にかなうからである。
たのは、ポコピン22を用いた場合、ロック機構を解く
と同時にポコビン22の内蔵するばねによって自動的に
プローブカード8とコネクタ11の接続が解かれ、自動
化の要請にかなうからである。
[発明の効果コ
以上の説明からも明らかなように、本発明のプローバに
おいてはプローブカードの搬送にチャックを利用したの
で、従来のプローバの簡単な改造によってプローブカー
ドの搬送から取付け、取り外しまでを自動的に行うこと
ができ、しかもプローブカードにデータを担持させたの
で取付けと同時にプローブカード変更に伴うデータの変
更を自動的に入力することができる。更に、プローブカ
ードとコネクタ側に検出素子を設けることにより。
おいてはプローブカードの搬送にチャックを利用したの
で、従来のプローバの簡単な改造によってプローブカー
ドの搬送から取付け、取り外しまでを自動的に行うこと
ができ、しかもプローブカードにデータを担持させたの
で取付けと同時にプローブカード変更に伴うデータの変
更を自動的に入力することができる。更に、プローブカ
ードとコネクタ側に検出素子を設けることにより。
簡単に位置出しをすることができる。
第1図はプローバ全体図、第2図はプローバ部正面図、
第3図(a)、(b)はそれぞれプローブカードの平面
図及び側面図、第4図はロック機構を示す図、第5図は
チャックの側面図、第6図はプローブカードの第3図と
は別の実施例を示す図、第7図は第4図とは別のロック
機構を示す図である。 1・・・・・・・・・ローダ部 2・・・・・・・・・プローバ部 3・・・・・・・・・テストヘッド 4・・・・・・・・・操作パネル 6・・・・・・・・・チャック 7・・・・・・・・・ウェハ 8・・・・・・・・・プローブカード 10・・・・・・・リングインサート部11・・・・・
・・コネクタ 12・・・・・・・プローブ針 14・・・・・・・ロック部(ロック機構)15・・・
・・・・磁気テープ(データ部)16・・・・・・・ロ
ックリング(ロック機構)19・・・・・・・ピン(リ
フト機構)21・・・・・・・マグネット(磁気又は光
学素子)22・・・・・・・ボコピン 23・・・・・・・検知手段 代理人 弁理士 守 谷 −雄 第1図 第2図 第3図 第4図 第5図 第7図
第3図(a)、(b)はそれぞれプローブカードの平面
図及び側面図、第4図はロック機構を示す図、第5図は
チャックの側面図、第6図はプローブカードの第3図と
は別の実施例を示す図、第7図は第4図とは別のロック
機構を示す図である。 1・・・・・・・・・ローダ部 2・・・・・・・・・プローバ部 3・・・・・・・・・テストヘッド 4・・・・・・・・・操作パネル 6・・・・・・・・・チャック 7・・・・・・・・・ウェハ 8・・・・・・・・・プローブカード 10・・・・・・・リングインサート部11・・・・・
・・コネクタ 12・・・・・・・プローブ針 14・・・・・・・ロック部(ロック機構)15・・・
・・・・磁気テープ(データ部)16・・・・・・・ロ
ックリング(ロック機構)19・・・・・・・ピン(リ
フト機構)21・・・・・・・マグネット(磁気又は光
学素子)22・・・・・・・ボコピン 23・・・・・・・検知手段 代理人 弁理士 守 谷 −雄 第1図 第2図 第3図 第4図 第5図 第7図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 テストヘッドと、該テストヘッドと電気的に接続さ
れるプローブカードを装着するコネクタと、前記プロー
ブカードにウェハのチップパッドが接続するように前記
ウェハを搭載搬送するチャックとを備えたプローバにお
いて、前記プローブカード及び前記コネクタはそれぞれ
互いに係合及び係合解除するためのロック機構を備える
と共に前記チャックは前記プローブカードの搬送を兼ね
且つ前記プローブカードを上方に移動させるリスト手段
を有することを特徴とするプローブカード自動交換機能
付プローバ。 2 前記プローブカードは少なくとも一面にデータ部を
備え且つ前記プローバは前記データ部のデータを読み取
るデータ読取手段を備えたことを特徴とする特許請求の
範囲第1項記載のプローブカード自動交換機能付プロー
バ。 3 前記プローブカードは磁気又は光学素子を有し且つ
前記コネクタは該磁気又は光学素子を検出する検知手段
を備えたことを特徴とする特許請求の範囲第1項及び第
2項記載のプローブカード自動交換機能付プローバ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25407186A JPH0680710B2 (ja) | 1986-10-24 | 1986-10-24 | プロ−ブカ−ド自動交換機能付プロ−バ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP25407186A JPH0680710B2 (ja) | 1986-10-24 | 1986-10-24 | プロ−ブカ−ド自動交換機能付プロ−バ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63107136A true JPS63107136A (ja) | 1988-05-12 |
JPH0680710B2 JPH0680710B2 (ja) | 1994-10-12 |
Family
ID=17259816
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP25407186A Expired - Fee Related JPH0680710B2 (ja) | 1986-10-24 | 1986-10-24 | プロ−ブカ−ド自動交換機能付プロ−バ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0680710B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH051235U (ja) * | 1991-06-24 | 1993-01-08 | 株式会社東京精密 | 半導体素子検査装置 |
US6414478B1 (en) | 1999-07-09 | 2002-07-02 | Tokyo Electron Limited | Transfer mechanism for use in exchange of probe card |
JP2009229251A (ja) * | 2008-03-24 | 2009-10-08 | Yokogawa Electric Corp | 半導体テスト装置 |
CN106353669A (zh) * | 2016-10-15 | 2017-01-25 | 广州明森科技股份有限公司 | 一种智能卡芯片读写功能的检测装置 |
-
1986
- 1986-10-24 JP JP25407186A patent/JPH0680710B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH051235U (ja) * | 1991-06-24 | 1993-01-08 | 株式会社東京精密 | 半導体素子検査装置 |
US6414478B1 (en) | 1999-07-09 | 2002-07-02 | Tokyo Electron Limited | Transfer mechanism for use in exchange of probe card |
JP2009229251A (ja) * | 2008-03-24 | 2009-10-08 | Yokogawa Electric Corp | 半導体テスト装置 |
CN106353669A (zh) * | 2016-10-15 | 2017-01-25 | 广州明森科技股份有限公司 | 一种智能卡芯片读写功能的检测装置 |
CN106353669B (zh) * | 2016-10-15 | 2023-04-07 | 广州明森科技股份有限公司 | 一种智能卡芯片读写功能的检测装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0680710B2 (ja) | 1994-10-12 |
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