JPS63104394A - Circuit board - Google Patents
Circuit boardInfo
- Publication number
- JPS63104394A JPS63104394A JP24830386A JP24830386A JPS63104394A JP S63104394 A JPS63104394 A JP S63104394A JP 24830386 A JP24830386 A JP 24830386A JP 24830386 A JP24830386 A JP 24830386A JP S63104394 A JPS63104394 A JP S63104394A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit board
- power supply
- circuit
- lsi
- supply terminal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 2
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 2
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 2
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Structure Of Printed Boards (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。(57) [Abstract] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、複数の回路が実装された回路基板で、特に1
つの回路を単独で動作させる回路基板に関するものであ
る。[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention relates to a circuit board on which a plurality of circuits are mounted, particularly one
This invention relates to a circuit board that allows two circuits to operate independently.
従来、複数の回路が実装された回路基板は、各回路に供
給される電源が同一種の場合には、1つの電源供給端子
から電源を供給している。Conventionally, in a circuit board on which a plurality of circuits are mounted, power is supplied from one power supply terminal when the same type of power is supplied to each circuit.
複数の回路が実装されている回路基板で1つの回路を検
査する場合、例えば、第2図は従来の回路基板の一例の
ブロック図であるが、大規模集積回路(LSI)15.
集積回路(IC)13.電子回路12.14が実装され
た回路基板11でLS115をインサーキット方式にて
検査する場合、LS115を活性状態にするため電源供
給端子16より電源を供給するのでICl3.電子回路
12.14も活性状態となる。このとき信号路18a、
18b、 18cに信号が流れるので被試験LS11
5へのまわりごみの影客を防止するガーディング作業が
複雑になり、ノイズの発生や信号のフィードバック・ル
ープの形成を完全に防止できないため、LS115の検
査が安定してできないという欠点がある。When testing a single circuit on a circuit board on which multiple circuits are mounted, for example, as shown in FIG. 2, which is a block diagram of an example of a conventional circuit board, a large-scale integrated circuit (LSI) 15.
Integrated circuit (IC)13. When testing the LS115 using the in-circuit method on the circuit board 11 on which the electronic circuits 12 and 14 are mounted, power is supplied from the power supply terminal 16 to activate the LS115, so ICl3. Electronic circuits 12.14 are also activated. At this time, the signal path 18a,
Since the signal flows to 18b and 18c, the LS11 under test
The guarding work to prevent surrounding debris from entering the LS115 is complicated, and the generation of noise and the formation of signal feedback loops cannot be completely prevented, so the LS115 cannot be inspected stably.
さらに、インサーキットテストの手法であるパルスイン
ジェクション(米国特許第3870953号)により被
試験LS115の前段に接続されたICl3が破壊され
るという欠点がある。Furthermore, there is a drawback that the ICl3 connected to the front stage of the LS 115 under test is destroyed by pulse injection (US Pat. No. 3,870,953), which is an in-circuit test method.
本発明はこれらの欠点を除去し、安定してLSIの検査
ができる回路基板を提供することにある。The object of the present invention is to eliminate these drawbacks and provide a circuit board that allows stable LSI testing.
本発明は複数の回路が実装された回路基板において、
1つの回路を単独で動作させる電源を供給する第1の電
源供給端子と、
他の回路を動作させる電源を供給する第2の電源供給端
子とを有することを特徴としている。The present invention provides a circuit board on which a plurality of circuits are mounted, a first power supply terminal that supplies power to operate one circuit independently, and a second power supply terminal that supplies power to operate other circuits. It is characterized by having the following.
次に本発明の実施例について図面を参照して説明する。 Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
第1図は本発明による一実施例を示すブロック図である
。この回路基板は、第1の電源供給端子7と、第2の電
源供給端子6とで構成される。FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment according to the present invention. This circuit board is composed of a first power supply terminal 7 and a second power supply terminal 6.
回路基板1には、複数の回路である電子回路2゜4とI
C3とLSI5とが実装されている。The circuit board 1 has a plurality of electronic circuits 2゜4 and I
C3 and LSI5 are implemented.
電源供給端子7は、電源供給路9を介してLSI5と接
続される。電源供給端子6は、電源供給路10を介して
電子回路2,4とIC3とに接続される。IC3は信号
路8cを介してLSI5と接続され、電子回路2は信号
路8aを介してLSI5と接続され、電子回路4は信号
路8bを介してLSI5と接続される。The power supply terminal 7 is connected to the LSI 5 via a power supply path 9. The power supply terminal 6 is connected to the electronic circuits 2 and 4 and the IC 3 via a power supply path 10. IC3 is connected to LSI 5 via signal path 8c, electronic circuit 2 is connected to LSI 5 via signal path 8a, and electronic circuit 4 is connected to LSI 5 via signal path 8b.
次に本実施例の動作を説明する。なお本実施例では、回
路基板に実装されたLSI5を実装された状態で検査す
る場合について説明する。1つの回路であるLSI5を
検査する場合、LSI5のみを活性化しなければならな
いので、電源供給端子7に電源を接続し、この電源は電
源供給路9を介してLSI5に印加される。電源供給端
子6には電源が接続されないので、電子回路2,4とI
C3は活性化されず、信号路8a、 8b、 8cには
電子回路2.4とIC3とからの信号が流れることはな
く、信号路8a、 8b、 8cはオープン状態となる
。Next, the operation of this embodiment will be explained. In this embodiment, a case where an LSI 5 mounted on a circuit board is inspected in a mounted state will be described. When testing one circuit, LSI 5, it is necessary to activate only LSI 5, so a power supply is connected to power supply terminal 7, and this power is applied to LSI 5 via power supply path 9. Since no power is connected to the power supply terminal 6, the electronic circuits 2, 4 and I
C3 is not activated, and the signals from the electronic circuit 2.4 and IC3 do not flow through the signal paths 8a, 8b, 8c, and the signal paths 8a, 8b, 8c are in an open state.
この状態で、LSI5の信号路8a、 8cに外部から
任意の信号を印加し、LSI5から出力された信号を信
号路8bで観測することによりLSI5を活性化した状
態で検査できる。このとき、信号路8a。In this state, by applying arbitrary signals from the outside to the signal paths 8a and 8c of the LSI 5 and observing the signal output from the LSI 5 on the signal path 8b, the LSI 5 can be inspected in an activated state. At this time, the signal path 8a.
8cに外部から任意の信号を印加するので電子回路2と
IC3とにこの信号が印加されるが、電子回路2とIC
3は活性化されてないので、印加された信号が電子回路
2とIC3に影響を与えることはない。Since an arbitrary signal is applied to 8c from the outside, this signal is applied to the electronic circuit 2 and the IC3.
3 is not activated, the applied signal does not affect the electronic circuit 2 and IC3.
本実施例では、回路基板の1辺に設けられた1つの電源
供給端子を使用したが、電源供給端子はこれに限定され
ることはなく、端子の数が複数個でも適用される。また
端子として回路基板のプリントコンタクト等の適用も可
能である。In this embodiment, one power supply terminal provided on one side of the circuit board is used, but the power supply terminal is not limited to this, and a plurality of terminals may be used. It is also possible to use printed contacts on circuit boards as terminals.
以上説明したように、複数の回路が実装された回路基板
に、1つの回路を単独で動作させる電源を供給する電源
供給端子を設けることにより、例えば、LSIを回路基
板内に実装した状態で、このLSIの検査を行うことが
でき、他の回路は活性化されないので、ノイズの発生や
信号のフィードバンク・ループの形成を防止する効果が
あり、さらにインサーキットテストの手法であるパルス
インジェクションを用いないのでLSIの前段に接続さ
れたICの破壊を防ぐ効果がある。As explained above, by providing a power supply terminal for supplying power to operate one circuit independently on a circuit board on which a plurality of circuits are mounted, for example, when an LSI is mounted on the circuit board, This LSI test can be performed without activating other circuits, which has the effect of preventing the generation of noise and the formation of signal feedbank loops.Furthermore, it uses pulse injection, which is an in-circuit test method. This has the effect of preventing damage to the IC connected to the front stage of the LSI.
第1回は、本発明による一実施例を示すブロック図、
第2図は、従来の回路基板の電源供給を示すブロック図
である。The first part is a block diagram showing an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a block diagram showing the power supply of a conventional circuit board.
Claims (1)
の回路を単独で動作させる電源を供給する第1の電源供
給端子と、 他の回路を動作させる電源を供給する第2の電源供給端
子とを有することを特徴とする回路基板。(1) In a circuit board on which multiple circuits are mounted, a first power supply terminal supplies power to operate one circuit independently, and a second power supply terminal supplies power to operate other circuits. A circuit board comprising:
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24830386A JPS63104394A (en) | 1986-10-21 | 1986-10-21 | Circuit board |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24830386A JPS63104394A (en) | 1986-10-21 | 1986-10-21 | Circuit board |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63104394A true JPS63104394A (en) | 1988-05-09 |
Family
ID=17176067
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP24830386A Pending JPS63104394A (en) | 1986-10-21 | 1986-10-21 | Circuit board |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63104394A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8567710B2 (en) | 2007-09-18 | 2013-10-29 | Aero Asahi Corporation | Cable protection device |
-
1986
- 1986-10-21 JP JP24830386A patent/JPS63104394A/en active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8567710B2 (en) | 2007-09-18 | 2013-10-29 | Aero Asahi Corporation | Cable protection device |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0213037A3 (en) | Semiconductor memory device having test pattern generating circuit | |
JPS5848534A (en) | Method of testing combination circuit network | |
US5127008A (en) | Integrated circuit driver inhibit control test method | |
JPS63104394A (en) | Circuit board | |
EP0950192B1 (en) | Core test control | |
JPS58196470A (en) | Test method in circuit by computer of electrical part, etc. with automatic inhibition of spurious signal | |
ATE222024T1 (en) | METHOD FOR PRODUCING THREE-DIMENSIONAL CIRCUITS | |
JPH0430470A (en) | Semiconductor integrated circuit | |
MY122055A (en) | Method of testing integrated circuits | |
JPH04184271A (en) | Detection method of intermediate level signal | |
JPH09159728A (en) | Method for testing printed board | |
JPH0582714A (en) | Bypass capacitor-built in ic | |
JP2002372571A (en) | Semiconductor test device | |
JPS5857787A (en) | Printed board | |
KR200159809Y1 (en) | Warming up circuit for power stabilizing circuit | |
JPH0282634A (en) | Tape carrier | |
JPS60113165A (en) | Burn-in device of semiconductor element | |
JPS604238A (en) | Semiconductor integrated circuit device | |
JPS63200262A (en) | Microprocessor | |
JPS636893A (en) | Printed wiring board | |
JPH0284027A (en) | Portable equipment | |
JPS58204600A (en) | Printed board mounting system | |
JPH02141813A (en) | Semiconductor device | |
JPS6124672U (en) | Printed wiring board inspection equipment | |
JPH04322091A (en) | Socket apparatus for integrated circuit |