JPS6298732A - ウエハの洗浄装置 - Google Patents

ウエハの洗浄装置

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JPS6298732A
JPS6298732A JP23986285A JP23986285A JPS6298732A JP S6298732 A JPS6298732 A JP S6298732A JP 23986285 A JP23986285 A JP 23986285A JP 23986285 A JP23986285 A JP 23986285A JP S6298732 A JPS6298732 A JP S6298732A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
solution
liquid
bubbles
cleaning
Prior art date
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Pending
Application number
JP23986285A
Other languages
English (en)
Inventor
Shigeyuki Yamamoto
山本 重之
Takashi Suzuki
隆 鈴木
Yorihisa Maeda
前田 順久
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication of JPS6298732A publication Critical patent/JPS6298732A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は半導体ウェハの洗浄、ウェットエツチングを行
なうウェハの洗浄装置に関するものである。
従来の技術 近年、ウェハの洗浄装置は搬送の自動化を施されたもの
が多く、ウェハが25枚収納されたカセットをロボット
がチャックし、処理槽へ浸漬させる方式が一般的である
以下図面を参照しながら、上述した従来のウェハの洗浄
装置の一例について説明する。
第2図は従来のウェハの洗浄装置の処理槽とチャックを
示すものである。第2図において1はウェハ、2はウェ
ハ表面上に付着している気泡、3は25枚のウェハを等
ピンチで収納するテフロン製のカセット、4は処理槽、
5は処理槽中の処理液、6,7はチャンク、8は搬送ロ
ボットである。
以上のように構成されたウェハの洗浄装置について、以
下その動作について説明する。
まず、チャック6.7の開閉によってカセット3を保持
する。次に搬送ロボット8が移動、下降し、カセット3
を処理液已に浸漬するが、表面に気泡2が存在する。気
泡を除去するため搬送ロボット8が上下に2〜6crn
程度揺動動作を繰り返す。
発明が解決しようとする問題点 しかしながら上記のような構成では、搬送ロボットによ
る微小行程の揺動動作であるだめに動作スピードが遅く
、気泡が充分に除去されず残留するという問題がある。
特に枚葉式で1枚ないし2枚ずつ洗浄、エツチングする
場合は、スルーブツトをバッチ式と同程度にするには1
回の処理時間を短かくする必要があり、処理液の濃度が
濃くなる。このため気泡が存在すると気泡の部分と他の
部分との差異が表われ、製品の性能に影響を及ぼす。
本発明は上記問題点に鑑み、ウェハの洗浄やウェットエ
ツチングを行なう場合にウェハ表面上の気泡を速やかに
除去する機能を有するウェハの洗浄装置を提供するもの
である。
問題点を解決するだめの手段 上記問題点を解決するために本発明のウェハの洗浄装置
は、処理槽中にウェハを保持するウェハ保持具と、処理
液を循環させるためのポンプと、前記ウェハを含む面内
の近傍において前記ウェハをはさむ位置に設けた液吸入
口と液噴出口とを備えだものである。
作  用 本発明は上記した構成によって、ウェハ表面にウェハ表
面と略平行な処理液の流れを当てることにより、ウェハ
表面上の気泡を液流と共に押し流し、除去することがで
きる。
実施例 以下本発明の一実施例のウェハの洗浄装置について、図
面を参照しながら説明する。
第1図は本発明の実施例の処理槽を示すものである。
第1図において、9はウェハ、10はウェハ表面上に付
着している気泡、11はウェハ保持具で、ウェハの厚み
より若干厚い溝を有し、ウェハを1枚保持できるように
なっている。12は処理槽、13は処理液、14は液吸
入口であり、塩化ビニルパイプの先端を閉じ、途中に小
孔14aを多数あけてなるものである。16は配管、1
6はポンプであり、本実施例ではテフロン製ベローズポ
ンプを用いた。17は液噴出口であり、塩化ビニルのパ
イプの先端を閉じ、途中にウェハの方を向いている側に
一列に多数の小孔17aをあけてなるものである。
以上のように構成されたウェハの洗浄装置について、以
下第1図を用いてその動作を説明する。
まずウェハ9はウェハ保持具11に保持される。
ウェハ保持具11が洗浄槽に移動し、ウェハ9を洗浄液
13に浸漬させる。このときウェハ9の表面上に気泡1
0が存在する。次にポンプ16を作動させ、処理液13
を液吸入口14より吸引し、液噴出口17より流出させ
る液噴出口17より流出した処理液は液流を生じ、ウェ
ハ9の表面上を流れる。気泡10はこの液流に押し流さ
れ、ウェハ9の表面から離れる。
以上のように本実施例によれば、液吸入口と液噴出口を
ウェハを直径方向ではさむ位置に設け、ポンプで液流を
発生させることにより、ウェハ表面上の気泡を除去する
ことができる。
なお本実施例ではウェハ保持具は処理中固定していだが
、液流を当てると同時に揺動させても良い。まだ、1枚
のウェハを保持するようにしたが、液流の通過できる間
隔をあけて複数枚保持するようにしても良い。
発明の効果 以上のように本発明は、処理槽中にウニノ・を保持する
ウェハ保持具と、処理液を循環させるためのポンプと、
前記ウェハを含む面内の近傍において前記ウェハをはさ
む位置に設けた液吸入口と液噴出口とを備えだことによ
り、ウエノ1表面と略平行な処理液の流れがウニノ・表
面に当たり、ウニノ・表面上に付着している気泡を速や
かに除去することができ、洗浄、ウェットエッチの処理
状態が均一となり、製品の性能の低下を防ぐという効果
がある。
【図面の簡単な説明】 第1図は本発明の実施例におけるウニノ・の洗浄9・・
・・・・ウェハ、1o・・・・・・気泡、11・・・・
・・ウェハ保持具、12・・・・・・処理槽、13・・
・・・・処理液、14・・・・・・液吸入口、16・・
・・・・ポンプ、17・・・・・・液噴出口。 第  1  図                  
  9−一−ウ・ハto−−−忽一シZ 1/−m一つェハイ洪庁呉 12−−−1,5理l 第2図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)処理液を入れる処理槽と、処理槽中にウェハを保
    持するウェハ保持具と、処理液を循環させるためのポン
    プと、前記ウェハを含む面内の近傍において前記ウェハ
    をはさむ位置に設けた液吸入口と液噴出口とを備えたウ
    ェハの洗浄装置。
  2. (2)液吸入口と液噴出口が、多数の小孔を有し先端を
    閉じたパイプからなる特許請求の範囲第1項記載のウェ
    ハの洗浄装置。
JP23986285A 1985-10-25 1985-10-25 ウエハの洗浄装置 Pending JPS6298732A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05121392A (ja) * 1991-10-28 1993-05-18 Sharp Corp エツチング等の処理槽
JP2015028971A (ja) * 2013-07-30 2015-02-12 パナソニックIpマネジメント株式会社 ウエハ洗浄装置およびウエハ洗浄方法

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JPS6072234A (ja) * 1983-09-28 1985-04-24 Mitsubishi Electric Corp 半導体ウエハ−の水洗装置
JPS60113433A (ja) * 1983-11-22 1985-06-19 Mitsubishi Electric Corp 薄板状体の洗浄装置

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