JPS6288909A - 形状検出装置 - Google Patents
形状検出装置Info
- Publication number
- JPS6288909A JPS6288909A JP60231921A JP23192185A JPS6288909A JP S6288909 A JPS6288909 A JP S6288909A JP 60231921 A JP60231921 A JP 60231921A JP 23192185 A JP23192185 A JP 23192185A JP S6288909 A JPS6288909 A JP S6288909A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- disturbance
- steel plate
- width
- scanning
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Control Of Metal Rolling (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
〔産業上の利用分野〕
この発明は、例えば鉄鋼の熱間圧延工程督でおける圧延
時に生じる鋼材の先端、後端の変形を検出する、形状検
出装置に関するものである。 〔従来の技術〕 鉄鋼の熱間圧延時〔ζ生じる鋼材先端の変形は、次段以
降の圧延ロールｌコ不均等な荷重をかけ、ロールの損傷
の原因となったり、不良材の生産の原因となっていた。 これを防止するために、従来は作業者が目で観測し適当
な処で切断機を操作して切断していた。 そのため、鋼材の先端の変形を自動的に検出して、変形
部分の必要最小限の切断を行って当該材料を次段のロー
ルへ送り込み、不均等荷重の影響を取り除き、ロールの
損傷を防ぐことを期待して、以下のような形状検出装置
が提案されている。 第８図において、（１）は熱間圧延工程を流れる赤熱鋼
板、（２）は集光レンズ、（３）はレンズ（２）を使っ
た光学系とライン状Ｃζ並べた複数個の光゛フ素子、（
８→は光電素子（３）から見た赤熱鋼板（１）での測定
ライン、（４）は光電素子（３）からの信号出力を増巾
する増巾器、ｕＯはこの増巾器を介してアナログで得ら
れた鋼板像信号を多値で量子化する量子化回路、ｔｉｌ
ｌ １．ｔ Ｍ子化された鋼板像信号を記憶するメモリ
、Ｇ２はメモリ（１１）に配慮された鋼板像信号を読み
出し、２次元的に微分する微分回路、１１３）はこの微
分回路によって微分された鋼板像信号を特定の方向に向
ってピークホールドを行なうピークホールド回路、１１
勾はピークホールドされた鋼板像信号を任意の 値で２
値化する２値化回路、（６）はこの２値化回路によって
２値化された鋼板像により鋼板（１）の巾を測定する巾
測定回路、（７）は巾基準値Ｗを入力する入力端子、（
８）は巾測定回路（６）から得られる巾信号値と巾基準
値Ｗとを比較する比較回路、（９）はこの比較回路＋８
１よりの信号により切断虞号を出力する切断機制御装置
、Ｈｌ（９は赤熱鋼板（１）が検出領域で一定距゛誰進
行する毎に発生する駆＠濡号Ｐを受けて充電素子群（８
ａ）を走査し出力を送出させる走査回路、ｃｇｎは鋼板
（１）の両側に位置し、巾方向の移行を規制して鋼板（
１）を切断機の中心に持っていくサイドガイドである。 次に動作に−】いて説明する。Ｎ個の光電素子から成る
光電素子群１３）の出力（以後ビデオ信号と称する）は
走査回路Ｕωにより、鋼板（１）の横（板幅）方向に対
する視野を鋼板（１）が一定距離矢印方向に進む毎に１
回づつ走査されて読み出される。 このビデオ信号は増幅器（４１を介し、量子化回路０（
ｊｌでより多値の量子化レベルを持つディジタル信号に
変換され、上記、走査順に応じてメモリ０１１内に記憶
される。この動作は、事前に設定される検出視野と走査
間隔から割り出される走査回数Ｍ回だけおこなわれ、こ
の結果、例えばメモリ１１１１には第９図（ａ） Ｉζ
示すようなビデオ画像が得られる。 しかしながら、このビデオ画像は、外乱成分であるスケ
ールまたは水のり（イ）や、散乱（ロ）のため生じる信
号が混在していて例えば走査線部（ハ）におけるビデオ
信号は第９図（ロ）のようになる。 このような温度レベルのビデオ画像を微分回路（１２Ｉ
ζより２次元的に微分して信号変化の急峻レベルに変換
することにより第９図（Ｃ）に示す急峻度信号が得られ
る。すなわち第９図（ｂ）に示すビデオ信号からも明ら
かなように鋼板（１）のエツジ部での信号の変化は大き
く散乱部では小さいので外乱成分との区別は容易におこ
なえるわけである。ここで、第９図（Ｃ）に示すように
スケールまたは水のり部の信号は上述した両者の区別を
不可能にする程に広範囲の急峻度レベルを持つがこれら
は鋼板（１）内でしか発生しない。つぎにこの急峻化信
号をまずビ−クホールド回路ｌｌ３１によりピークホー
ルド処理する。この結果第９図（Ｃ）で示すギデオ信号
が同図（ｄ）のようにピークホールドされた信号として
一旦メモリ（１１１へ格納される。但しこの場合、ピー
クホールドの方向は鋼板中央部に向って、同図（ｄ）の
矢印（２）、（す）のように設定される。次に、メモリ
（１１Ｊに格納されているピークホールド扁号から２値
化回路（圓により、濃度ヒストグラムを求める。第９図
（ｅ）・よこのようにして求めた濃度ヒストグラム信号
の一例であ−】て、鋼板部ＱＯと散乱部（句がヒストグ
ラム信号の山として求めるのでこの２つの山の間、 すなわち谷の部分ｖ１の値を 値として２値化して得ら
れる同図（０の２値化信号から鋼板の幅信号のみが抽出
できる。そしてζ゛２値化回路Ｉより抽出された信号を
カウンター回路で構成する巾測定回路（６）に入力し、
論理値ｑ″１′ｂ 鋼板（１）の巾に相当する測定値が得られる。 鋼板（１）の巾測定値を入力端子（７）から与えられる
巾基虞値Ｗと比較回路（８）で比較し、鋼板（１）の板
巾がＷより小さい一定の許容値内に入った時に比較回路
（８）から信号が切断機制御装置（９）に切断信号とし
て与えられ、鋼板（１）の先端が切断される。 〔発明が解決しようとする問題点〕 従来の形状検出装置は以上のよう１こ構成されているの
で鋼板上普ζ発生するスケールや水のり（イ）及び散乱
光による外乱信号（ロ）については、誤差を生じない鋼
板像を抽出出来るが、サイドガイド圓からの反射光によ
る外乱及び鋼板（１）の下にあるロールのからの反射光
による外乱に対しては、正確な鋼板像が抽出出来なくな
る問題点があ−】た。 この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、微分回路１（支）で、２次元−的に微分して
信号変化の急峻レベルに変換した後に、第１の外乱除去
１回路でサイドガイド（２）などからの散乱光を除去し
、２値化回路Ｉで、′１“Ｏ′の信号成分に変換した後
に、第２の外乱除去回路でロール（ハ）からの反射光を
除去することにより正確な鋼板像を抽出することのでき
る形状検出装置を提供することを目的とする。 〔問題点を解決するための手段〕 この発明に係る形状検出装置は、サイドガイドからの反
射
時に生じる鋼材の先端、後端の変形を検出する、形状検
出装置に関するものである。 〔従来の技術〕 鉄鋼の熱間圧延時〔ζ生じる鋼材先端の変形は、次段以
降の圧延ロールｌコ不均等な荷重をかけ、ロールの損傷
の原因となったり、不良材の生産の原因となっていた。 これを防止するために、従来は作業者が目で観測し適当
な処で切断機を操作して切断していた。 そのため、鋼材の先端の変形を自動的に検出して、変形
部分の必要最小限の切断を行って当該材料を次段のロー
ルへ送り込み、不均等荷重の影響を取り除き、ロールの
損傷を防ぐことを期待して、以下のような形状検出装置
が提案されている。 第８図において、（１）は熱間圧延工程を流れる赤熱鋼
板、（２）は集光レンズ、（３）はレンズ（２）を使っ
た光学系とライン状Ｃζ並べた複数個の光゛フ素子、（
８→は光電素子（３）から見た赤熱鋼板（１）での測定
ライン、（４）は光電素子（３）からの信号出力を増巾
する増巾器、ｕＯはこの増巾器を介してアナログで得ら
れた鋼板像信号を多値で量子化する量子化回路、ｔｉｌ
ｌ １．ｔ Ｍ子化された鋼板像信号を記憶するメモリ
、Ｇ２はメモリ（１１）に配慮された鋼板像信号を読み
出し、２次元的に微分する微分回路、１１３）はこの微
分回路によって微分された鋼板像信号を特定の方向に向
ってピークホールドを行なうピークホールド回路、１１
勾はピークホールドされた鋼板像信号を任意の 値で２
値化する２値化回路、（６）はこの２値化回路によって
２値化された鋼板像により鋼板（１）の巾を測定する巾
測定回路、（７）は巾基準値Ｗを入力する入力端子、（
８）は巾測定回路（６）から得られる巾信号値と巾基準
値Ｗとを比較する比較回路、（９）はこの比較回路＋８
１よりの信号により切断虞号を出力する切断機制御装置
、Ｈｌ（９は赤熱鋼板（１）が検出領域で一定距゛誰進
行する毎に発生する駆＠濡号Ｐを受けて充電素子群（８
ａ）を走査し出力を送出させる走査回路、ｃｇｎは鋼板
（１）の両側に位置し、巾方向の移行を規制して鋼板（
１）を切断機の中心に持っていくサイドガイドである。 次に動作に−】いて説明する。Ｎ個の光電素子から成る
光電素子群１３）の出力（以後ビデオ信号と称する）は
走査回路Ｕωにより、鋼板（１）の横（板幅）方向に対
する視野を鋼板（１）が一定距離矢印方向に進む毎に１
回づつ走査されて読み出される。 このビデオ信号は増幅器（４１を介し、量子化回路０（
ｊｌでより多値の量子化レベルを持つディジタル信号に
変換され、上記、走査順に応じてメモリ０１１内に記憶
される。この動作は、事前に設定される検出視野と走査
間隔から割り出される走査回数Ｍ回だけおこなわれ、こ
の結果、例えばメモリ１１１１には第９図（ａ） Ｉζ
示すようなビデオ画像が得られる。 しかしながら、このビデオ画像は、外乱成分であるスケ
ールまたは水のり（イ）や、散乱（ロ）のため生じる信
号が混在していて例えば走査線部（ハ）におけるビデオ
信号は第９図（ロ）のようになる。 このような温度レベルのビデオ画像を微分回路（１２Ｉ
ζより２次元的に微分して信号変化の急峻レベルに変換
することにより第９図（Ｃ）に示す急峻度信号が得られ
る。すなわち第９図（ｂ）に示すビデオ信号からも明ら
かなように鋼板（１）のエツジ部での信号の変化は大き
く散乱部では小さいので外乱成分との区別は容易におこ
なえるわけである。ここで、第９図（Ｃ）に示すように
スケールまたは水のり部の信号は上述した両者の区別を
不可能にする程に広範囲の急峻度レベルを持つがこれら
は鋼板（１）内でしか発生しない。つぎにこの急峻化信
号をまずビ−クホールド回路ｌｌ３１によりピークホー
ルド処理する。この結果第９図（Ｃ）で示すギデオ信号
が同図（ｄ）のようにピークホールドされた信号として
一旦メモリ（１１１へ格納される。但しこの場合、ピー
クホールドの方向は鋼板中央部に向って、同図（ｄ）の
矢印（２）、（す）のように設定される。次に、メモリ
（１１Ｊに格納されているピークホールド扁号から２値
化回路（圓により、濃度ヒストグラムを求める。第９図
（ｅ）・よこのようにして求めた濃度ヒストグラム信号
の一例であ−】て、鋼板部ＱＯと散乱部（句がヒストグ
ラム信号の山として求めるのでこの２つの山の間、 すなわち谷の部分ｖ１の値を 値として２値化して得ら
れる同図（０の２値化信号から鋼板の幅信号のみが抽出
できる。そしてζ゛２値化回路Ｉより抽出された信号を
カウンター回路で構成する巾測定回路（６）に入力し、
論理値ｑ″１′ｂ 鋼板（１）の巾に相当する測定値が得られる。 鋼板（１）の巾測定値を入力端子（７）から与えられる
巾基虞値Ｗと比較回路（８）で比較し、鋼板（１）の板
巾がＷより小さい一定の許容値内に入った時に比較回路
（８）から信号が切断機制御装置（９）に切断信号とし
て与えられ、鋼板（１）の先端が切断される。 〔発明が解決しようとする問題点〕 従来の形状検出装置は以上のよう１こ構成されているの
で鋼板上普ζ発生するスケールや水のり（イ）及び散乱
光による外乱信号（ロ）については、誤差を生じない鋼
板像を抽出出来るが、サイドガイド圓からの反射光によ
る外乱及び鋼板（１）の下にあるロールのからの反射光
による外乱に対しては、正確な鋼板像が抽出出来なくな
る問題点があ−】た。 この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、微分回路１（支）で、２次元−的に微分して
信号変化の急峻レベルに変換した後に、第１の外乱除去
１回路でサイドガイド（２）などからの散乱光を除去し
、２値化回路Ｉで、′１“Ｏ′の信号成分に変換した後
に、第２の外乱除去回路でロール（ハ）からの反射光を
除去することにより正確な鋼板像を抽出することのでき
る形状検出装置を提供することを目的とする。 〔問題点を解決するための手段〕 この発明に係る形状検出装置は、サイドガイドからの反
射
【ζよる外乱信号を第１の外乱除去回路にて除去し、
又ロールからの反射による外乱信号を第２の外乱除去回
路によって除去したものである。 〔作用〕 この発明における形状検出装置は、第１及び第２の外乱
除去回路により鋼板外から光電素子群等へ入力される外
乱信号が除去され、正確な鋼板像を抽出する。 〔発明の実施例〕 以下、第１図１こよりこの発明の一実施例について説明
する。赤熱鋼板（１）から走査回路ａ９までは、従来の
形状検出装置のところで述べたものに相当する。■は、
微分回路はで２次元的コζ徹分された鋼板像信号に対し
て、サイドガイドｃ１１１からの外乱を除去する第１の
外乱除去回路、ｔ、ＩＩ）はサイドガイド、＠は２値化
回路（１４１で２値化された鋼板像信号に対して、ロー
ルのからの外乱を除去する第２の外乱除去回路である。 いま、第２図（ａ）のビデオ両俄の中の外乱成分（ト）
は、鋼板（１）から出る光をサイドガイド（２１１で反
射して光学素子ｎ ｔａ＋ ｔζ入力された外乱成分（
ト）でありその時の走査線部Ｑ１１）におけるビデ第１
濱号は、第２図（６）のようになり、このよらな温度レ
ベルのビデオｉ８像を微分回路■により急峻度レベルに
変換すると第２図（Ｃ）のようになる。ここでサイドガ
イド（２１）の外乱（ト）の影ぜｆが、走査線部の両端
に）に、表われてきた。これを従来の装＝で処理を行な
うと、まず第２図（Ｃ）をピークホールド回路＋１３で
ピークホールドを行うと、第２図（ｄ）のようになり鋼
板の散乱部と、エツジ部の区別がつかなくなってしまう
。 次に２値化回路Ｉにより濃度ヒストグラムを求めると、
第２図（ｉ）のようになり、鋼板部と散乱部の区別がつ
かなくなり、Ｖ＋の固定 値として２値化して得られる
第２図（０の２値化信号の鋼板部には、散乱部を含んだ
巾信号しか抽出が出来なくなる。 又、第２図（ａ）のビデオ画録の中の外乱成分（ロ）２
）は、鋼板（１）から出る光をロール−で反射し光学素
子群（３）に入力された外乱成分（ロ）２）でありその
時の走査線部ぐ１２）におけるビデオ信号は、第４図（
ａ）のようになり、このような温度レベルのビデオ画傅
を微分回路ｆ１２１ｆこより急峻度レベルに変換すると
第４図（ｂ）のようになる。今サイドガイドｔ２１）の
外乱成分（ト）がないものと仮定し、第４図（Ｃ）の急
峻度レベルＥこついて説明を貴う。 第４図（Ｃ）よりロールのの外乱（ｏ２）の影響が、走
査線部の両端（ホ）に表われてきた。これを従来の装置
で処理を行うと、まず第４図（Ｃ）をピークホールド回
路１３）でピークホールドを行うと、第４図（ｄ）のよ
うになり鋼板部と、散乱部の区別が分かりにくくなって
しまう。次に２値化回路αにより濃度ヒストグラムを求
めると、第４図（ｅ）のようになり、鋼板部ＱＯと散乱
部（→の山が２つ出来るが、ロール＋２３）からの外乱
成分（ロ）２）が鋼板部ＱＯに入りこんでしまい、鋼板
部（，９と散乱部（鴫のヒストグラム信号の山の間、す
なわち谷の部分Ｖ＋の値を 値として２値化して得られ
る第４図（０の２値化信号の鋼板像には、散乱部を含ん
だ巾信号しか抽出が出来な（なる。 本発明の一実施例による形状検出装己は、第１の外乱除
去回路１２■を微分回路１１２の処理をした後ｆｃ挿入
するのと、第２の外乱除去回路を２値化回路１．１４１
の処理をしだ後に挿入することにより、第８図（ａ）の
急峻度レベル信号を第８図（′ｂ）の急峻度レベル信号
にし、サイドガイドＱυからの外乱に）を取り除くこと
ができるのと、第４図（Ｃ）の急峻度レベル信号に対し
て抽出される第４図（ｆ）の２値化信号を第４図（ｅ）
の２値化信号にし、ロールＬ２３＋からの外乱（ホ）を
取り除くことができる。すなわち、第１の外乱除去回路
■は、微分回路（１２で処理した急峻度レベル信号のう
ち、走査方向Ｎの両端の、数個分の信号を走査回数Ｍ回
だけ消去し、メモリ回路１１υに記憶される装置で息る
。なお、走査方向Ｎの両端の消去する信号の数は任意設
定が可能なようにしておくと良い。 第１の外乱除去回路四によりサイドガイド（２１）の外
乱に）を取り除いた第８図（′ｂ）をピークホールド回
路＋１３）によりピークホールドすれば、第３図（Ｃ）
のように、鋼板エツジ部と散乱部とに区別が出来それを
、２値化回路（１Φｆこより１度ヒストグラムを求める
と第８図（ｄ）のようになる。第８図において、鋼板部
Ｑ０と散乱部（（７）がヒストグラム信号の山として求
められこの２つの山の間、すなわち谷の部分Ｖ１の値を
値として２値化して得られた第８図（ｅ）の２値化信
号から鋼板（１）の巾信号のみが抽出できるようになっ
たが、第２図（ａ）の走査線部Ｑｓ＋） （Ｘｇ）の信
号を第１の外乱除去回路■にて処理をし、ピークホール
ド回路１１３１％２値化回路（１４１にて、２値化され
た信号成分には、第８図（ｅ）のように鋼板（１）の巾
が抽出されているものと、第４図（１）のように鋼板（
１）の巾が抽出されていないものが存在しているのを絹
２の外乱除去回路■ｉこより、２値化回路（１４）にて
処理した２値化信号成分のうち、鋼板（１）の巾が抽出
されている第８図（ｅ）の２値化信号にて巾Ｘ１゜ｘ２
を測定し、銅板（１）の巾が抽出されていない第４
図（０の２１直化信号に、巾Ｘ１．Ｘ２以外の２値化信
号成分（ト）を除去し、メモリ回路ｆｉｌｌへ記ｔｍさ
れる装置である。 置である。 第３図における鋼板部を基準走査線として、第４図（ｆ
）の２値化信号の外乱成分を除去しているが、この基準
走査線の設定ポイントは、第２図（ａ）のビデオ画像に
おいて走査回数１〜Ｍの範囲Ｃζ光学素子群（３）［ζ
入力される鋼板像の鋼板幅度は、ある温度傾斜をもって
上昇していく。その鋼板幅度が最大温度コζ上昇してし
ま−］だところではロール□□□からの反射による外乱
信号を入力し正確な錆板像が抽出出来なくなる。そこで
鋼板幅度がある温度傾斜で上昇していく仮定をあらかじ
め認識しておき、鋼板幅度が上昇していく仮定において
ロール（ハ）からの反射を受けにくく、かつ鋼板の最大
中にな−フでいるところを基準走査と規定する。 すなわち、第２の外乱除去回路乃をこよりロールの外乱
（ホ）を取り除いた第４図（ｇ）の２値化信号から鋼板
（１）の巾信号のみが抽出できるようになる。この実施
例によれば、従来のＤＱは、銅板のスケールや水のり又
は散乱光Ｑ１）〔ζ対しては、誤差のない鋼板ｅが抽出
出来たがサイドガイドＩａなどからの反射による外乱（
ト）及びロールのからの反射による外乱（ロ）２）に対
しては、鋼板部が抽出出来なか−ンたのを、第１の外乱
除去装置ｄ及び第２の外乱除去装置＠Ｉζより、サイド
ガイド２１）からの反射による外乱（ト）及びロール４
からの反射による外乱（ロ）２）〔ζ対しても誤差のな
い鋼板像が抽出出来るようになった。 なお、巾信号から切断信号を得るのは従来装置と同様で
ある。 さて、第５図は、この発明の他の実施例を示すブロック
図であり、上記実施例のものと別の手段で鋼板（１）の
巾を測定するものである。 以五、第６図を参照しながら詳細蛋ζ説明する。 走査回路ｕ９により、鋼板（１）が一定距熱進む毎に１
回光璽素子群１３１を走査し、増巾器（４Ｊ、量子化回
路（］■を介してメモリＩｌｌ ｌζビデオ信号を記憶
する。 第６図（ａ）は、メモリｔｉｌｌ ｌζ記憶されたビデ
オ信号であり、走査線部Ｑ１１）に於けるビデオ信号は
第６図（′ｂ）のようＥこなる。そして、このビデオ信
号を微分回路（１ｚにより２次元的に微分して信号変化
の急峻レベルに変換すると、第６図（Ｃ）に示す急峻度
信号が得られる。第６図（Ｃ）の破線で示す信号は、サ
イドガイドＱ１１からの反射光〔ζよる影響であり、外
乱信号である。従って、この外乱信号を除去するため、
第１の外乱除去１路囚により、微分回路Ｕで処理した急
峻度レベル信号のうち、走査方向Ｎの両端の数個分の信
号を消去する。すなわち第６図（Ｃ）の実線で示す信号
のみを取り出す。この急峻度レベル信号は２値化回路Ｉ
により一定の 値レベル（へ）で２値化し、第６図（ψ
に示される２値化信号を得る。−］いで、ピークホール
ド回路ＩＬ３でこの２値化信号をピークホールドするこ
とにより第６図（ｅ） ｔζ示すように鋼板の幅信号を
抽出することができる。 又、走査線部ぐＭり ｌζ於けるビデオ信号は第７図（
ａ）のようになる。第７図（ｂ） （Ｃ） （ｄ）まで
の処理課程は、第６図での説明と同様である。 第７図（Ｃ）において、ロールからの反射光による外乱
信号（ホ）が外乱除去１回路通で除去されずに、ピーク
ホールド回路４３でこの２値化信号をピークホールドす
ると、第７図（ｄ）に示される２値化信号を得るが、こ
の２値化信号ｌζは外乱成分を含んだ鋼板の巾信号にな
る。この第７図（ｄ）に示される２値化信号を第２の外
乱除去回路□□□により、第６図（ｅ）に示す２値化信
号より鋼板の巾を測定し、第７図（ｄ）に示す２値化濱
号に対し鋼板の巾以外の外乱信号を消去する。すなわち
第７図（ｅ）の破線で示す信号を消去し、鋼板の巾信号
を抽出することができる。第２の外乱除去回路のにおけ
る巾測定点の基準走査線の設定ポイントは、第６図（ａ
）のビデオ画像において走査回数１〜Ｍまでの範囲に光
学素子群＋３１に入力される鋼板像の鋼板幅度はある温
度傾斜をもって上昇していく。その鋼板幅度が最大温度
に上昇してしま−Ｊたところでは、ロールのからの反射
による外乱信号を入力し正確な鋼板像が抽出出来なくな
る。そこで鋼板幅度がある温度傾斜で上昇していく仮定
をあらかじめ認識しておき、鋼板幅度が上昇していく仮
定においてロールのからの反射を受けに＜＜、かつ鋼板
の最大中になっているところを基準走査線と規定する。 なお、このようにして得られた巾信号に基づいて切断信
号を発生する動作は、従来装置と同様である。 〔発明の効果〕 以上のように、この発明によれば鋼板外のサイドガイド
及びロールからの反射による外乱信号を第１の外乱除去
回路及び第２の外乱除去回路により除去するものとした
ので、正確な！、＠像を抽出することができるようにな
−】た。
又ロールからの反射による外乱信号を第２の外乱除去回
路によって除去したものである。 〔作用〕 この発明における形状検出装置は、第１及び第２の外乱
除去回路により鋼板外から光電素子群等へ入力される外
乱信号が除去され、正確な鋼板像を抽出する。 〔発明の実施例〕 以下、第１図１こよりこの発明の一実施例について説明
する。赤熱鋼板（１）から走査回路ａ９までは、従来の
形状検出装置のところで述べたものに相当する。■は、
微分回路はで２次元的コζ徹分された鋼板像信号に対し
て、サイドガイドｃ１１１からの外乱を除去する第１の
外乱除去回路、ｔ、ＩＩ）はサイドガイド、＠は２値化
回路（１４１で２値化された鋼板像信号に対して、ロー
ルのからの外乱を除去する第２の外乱除去回路である。 いま、第２図（ａ）のビデオ両俄の中の外乱成分（ト）
は、鋼板（１）から出る光をサイドガイド（２１１で反
射して光学素子ｎ ｔａ＋ ｔζ入力された外乱成分（
ト）でありその時の走査線部Ｑ１１）におけるビデ第１
濱号は、第２図（６）のようになり、このよらな温度レ
ベルのビデオｉ８像を微分回路■により急峻度レベルに
変換すると第２図（Ｃ）のようになる。ここでサイドガ
イド（２１）の外乱（ト）の影ぜｆが、走査線部の両端
に）に、表われてきた。これを従来の装＝で処理を行な
うと、まず第２図（Ｃ）をピークホールド回路＋１３で
ピークホールドを行うと、第２図（ｄ）のようになり鋼
板の散乱部と、エツジ部の区別がつかなくなってしまう
。 次に２値化回路Ｉにより濃度ヒストグラムを求めると、
第２図（ｉ）のようになり、鋼板部と散乱部の区別がつ
かなくなり、Ｖ＋の固定 値として２値化して得られる
第２図（０の２値化信号の鋼板部には、散乱部を含んだ
巾信号しか抽出が出来なくなる。 又、第２図（ａ）のビデオ画録の中の外乱成分（ロ）２
）は、鋼板（１）から出る光をロール−で反射し光学素
子群（３）に入力された外乱成分（ロ）２）でありその
時の走査線部ぐ１２）におけるビデオ信号は、第４図（
ａ）のようになり、このような温度レベルのビデオ画傅
を微分回路ｆ１２１ｆこより急峻度レベルに変換すると
第４図（ｂ）のようになる。今サイドガイドｔ２１）の
外乱成分（ト）がないものと仮定し、第４図（Ｃ）の急
峻度レベルＥこついて説明を貴う。 第４図（Ｃ）よりロールのの外乱（ｏ２）の影響が、走
査線部の両端（ホ）に表われてきた。これを従来の装置
で処理を行うと、まず第４図（Ｃ）をピークホールド回
路１３）でピークホールドを行うと、第４図（ｄ）のよ
うになり鋼板部と、散乱部の区別が分かりにくくなって
しまう。次に２値化回路αにより濃度ヒストグラムを求
めると、第４図（ｅ）のようになり、鋼板部ＱＯと散乱
部（→の山が２つ出来るが、ロール＋２３）からの外乱
成分（ロ）２）が鋼板部ＱＯに入りこんでしまい、鋼板
部（，９と散乱部（鴫のヒストグラム信号の山の間、す
なわち谷の部分Ｖ＋の値を 値として２値化して得られ
る第４図（０の２値化信号の鋼板像には、散乱部を含ん
だ巾信号しか抽出が出来な（なる。 本発明の一実施例による形状検出装己は、第１の外乱除
去回路１２■を微分回路１１２の処理をした後ｆｃ挿入
するのと、第２の外乱除去回路を２値化回路１．１４１
の処理をしだ後に挿入することにより、第８図（ａ）の
急峻度レベル信号を第８図（′ｂ）の急峻度レベル信号
にし、サイドガイドＱυからの外乱に）を取り除くこと
ができるのと、第４図（Ｃ）の急峻度レベル信号に対し
て抽出される第４図（ｆ）の２値化信号を第４図（ｅ）
の２値化信号にし、ロールＬ２３＋からの外乱（ホ）を
取り除くことができる。すなわち、第１の外乱除去回路
■は、微分回路（１２で処理した急峻度レベル信号のう
ち、走査方向Ｎの両端の、数個分の信号を走査回数Ｍ回
だけ消去し、メモリ回路１１υに記憶される装置で息る
。なお、走査方向Ｎの両端の消去する信号の数は任意設
定が可能なようにしておくと良い。 第１の外乱除去回路四によりサイドガイド（２１）の外
乱に）を取り除いた第８図（′ｂ）をピークホールド回
路＋１３）によりピークホールドすれば、第３図（Ｃ）
のように、鋼板エツジ部と散乱部とに区別が出来それを
、２値化回路（１Φｆこより１度ヒストグラムを求める
と第８図（ｄ）のようになる。第８図において、鋼板部
Ｑ０と散乱部（（７）がヒストグラム信号の山として求
められこの２つの山の間、すなわち谷の部分Ｖ１の値を
値として２値化して得られた第８図（ｅ）の２値化信
号から鋼板（１）の巾信号のみが抽出できるようになっ
たが、第２図（ａ）の走査線部Ｑｓ＋） （Ｘｇ）の信
号を第１の外乱除去回路■にて処理をし、ピークホール
ド回路１１３１％２値化回路（１４１にて、２値化され
た信号成分には、第８図（ｅ）のように鋼板（１）の巾
が抽出されているものと、第４図（１）のように鋼板（
１）の巾が抽出されていないものが存在しているのを絹
２の外乱除去回路■ｉこより、２値化回路（１４）にて
処理した２値化信号成分のうち、鋼板（１）の巾が抽出
されている第８図（ｅ）の２値化信号にて巾Ｘ１゜ｘ２
を測定し、銅板（１）の巾が抽出されていない第４
図（０の２１直化信号に、巾Ｘ１．Ｘ２以外の２値化信
号成分（ト）を除去し、メモリ回路ｆｉｌｌへ記ｔｍさ
れる装置である。 置である。 第３図における鋼板部を基準走査線として、第４図（ｆ
）の２値化信号の外乱成分を除去しているが、この基準
走査線の設定ポイントは、第２図（ａ）のビデオ画像に
おいて走査回数１〜Ｍの範囲Ｃζ光学素子群（３）［ζ
入力される鋼板像の鋼板幅度は、ある温度傾斜をもって
上昇していく。その鋼板幅度が最大温度コζ上昇してし
ま−］だところではロール□□□からの反射による外乱
信号を入力し正確な錆板像が抽出出来なくなる。そこで
鋼板幅度がある温度傾斜で上昇していく仮定をあらかじ
め認識しておき、鋼板幅度が上昇していく仮定において
ロール（ハ）からの反射を受けにくく、かつ鋼板の最大
中にな−フでいるところを基準走査と規定する。 すなわち、第２の外乱除去回路乃をこよりロールの外乱
（ホ）を取り除いた第４図（ｇ）の２値化信号から鋼板
（１）の巾信号のみが抽出できるようになる。この実施
例によれば、従来のＤＱは、銅板のスケールや水のり又
は散乱光Ｑ１）〔ζ対しては、誤差のない鋼板ｅが抽出
出来たがサイドガイドＩａなどからの反射による外乱（
ト）及びロールのからの反射による外乱（ロ）２）に対
しては、鋼板部が抽出出来なか−ンたのを、第１の外乱
除去装置ｄ及び第２の外乱除去装置＠Ｉζより、サイド
ガイド２１）からの反射による外乱（ト）及びロール４
からの反射による外乱（ロ）２）〔ζ対しても誤差のな
い鋼板像が抽出出来るようになった。 なお、巾信号から切断信号を得るのは従来装置と同様で
ある。 さて、第５図は、この発明の他の実施例を示すブロック
図であり、上記実施例のものと別の手段で鋼板（１）の
巾を測定するものである。 以五、第６図を参照しながら詳細蛋ζ説明する。 走査回路ｕ９により、鋼板（１）が一定距熱進む毎に１
回光璽素子群１３１を走査し、増巾器（４Ｊ、量子化回
路（］■を介してメモリＩｌｌ ｌζビデオ信号を記憶
する。 第６図（ａ）は、メモリｔｉｌｌ ｌζ記憶されたビデ
オ信号であり、走査線部Ｑ１１）に於けるビデオ信号は
第６図（′ｂ）のようＥこなる。そして、このビデオ信
号を微分回路（１ｚにより２次元的に微分して信号変化
の急峻レベルに変換すると、第６図（Ｃ）に示す急峻度
信号が得られる。第６図（Ｃ）の破線で示す信号は、サ
イドガイドＱ１１からの反射光〔ζよる影響であり、外
乱信号である。従って、この外乱信号を除去するため、
第１の外乱除去１路囚により、微分回路Ｕで処理した急
峻度レベル信号のうち、走査方向Ｎの両端の数個分の信
号を消去する。すなわち第６図（Ｃ）の実線で示す信号
のみを取り出す。この急峻度レベル信号は２値化回路Ｉ
により一定の 値レベル（へ）で２値化し、第６図（ψ
に示される２値化信号を得る。−］いで、ピークホール
ド回路ＩＬ３でこの２値化信号をピークホールドするこ
とにより第６図（ｅ） ｔζ示すように鋼板の幅信号を
抽出することができる。 又、走査線部ぐＭり ｌζ於けるビデオ信号は第７図（
ａ）のようになる。第７図（ｂ） （Ｃ） （ｄ）まで
の処理課程は、第６図での説明と同様である。 第７図（Ｃ）において、ロールからの反射光による外乱
信号（ホ）が外乱除去１回路通で除去されずに、ピーク
ホールド回路４３でこの２値化信号をピークホールドす
ると、第７図（ｄ）に示される２値化信号を得るが、こ
の２値化信号ｌζは外乱成分を含んだ鋼板の巾信号にな
る。この第７図（ｄ）に示される２値化信号を第２の外
乱除去回路□□□により、第６図（ｅ）に示す２値化信
号より鋼板の巾を測定し、第７図（ｄ）に示す２値化濱
号に対し鋼板の巾以外の外乱信号を消去する。すなわち
第７図（ｅ）の破線で示す信号を消去し、鋼板の巾信号
を抽出することができる。第２の外乱除去回路のにおけ
る巾測定点の基準走査線の設定ポイントは、第６図（ａ
）のビデオ画像において走査回数１〜Ｍまでの範囲に光
学素子群＋３１に入力される鋼板像の鋼板幅度はある温
度傾斜をもって上昇していく。その鋼板幅度が最大温度
に上昇してしま−Ｊたところでは、ロールのからの反射
による外乱信号を入力し正確な鋼板像が抽出出来なくな
る。そこで鋼板幅度がある温度傾斜で上昇していく仮定
をあらかじめ認識しておき、鋼板幅度が上昇していく仮
定においてロールのからの反射を受けに＜＜、かつ鋼板
の最大中になっているところを基準走査線と規定する。 なお、このようにして得られた巾信号に基づいて切断信
号を発生する動作は、従来装置と同様である。 〔発明の効果〕 以上のように、この発明によれば鋼板外のサイドガイド
及びロールからの反射による外乱信号を第１の外乱除去
回路及び第２の外乱除去回路により除去するものとした
ので、正確な！、＠像を抽出することができるようにな
−】た。
第１図はこの発明の一実施例の構成を示すブロック図、
第２図〜第４図は第１図における各部の波形図、第６図
はこの発明の他の実施例の構成を示すブロック図、第６
図及び第７図は第５図における各部の波形図、第８図は
従来装置の構成を示すブロック図、第９図はその各部の
波形図である。 図において’、 （１）は鋼板、（３）は光電素子群、
ｔｌ（ｌは量子化回路、ａＤはメモリ、（１２１は微分
回路、・ＩＪはピークホールド回路、ｕ４は２値化回路
、ｕ５１は走査回路、■は第１の外乱除去回路、（２）
はサイドガイド、＠は第２の外乱除去２回路、關はロー
ルである。 なお、各図中、同一符号は、同一あるいは相当部分を示
すものとする。 第２図 第３図 第４図 第６図 第７図 ？％）。
第２図〜第４図は第１図における各部の波形図、第６図
はこの発明の他の実施例の構成を示すブロック図、第６
図及び第７図は第５図における各部の波形図、第８図は
従来装置の構成を示すブロック図、第９図はその各部の
波形図である。 図において’、 （１）は鋼板、（３）は光電素子群、
ｔｌ（ｌは量子化回路、ａＤはメモリ、（１２１は微分
回路、・ＩＪはピークホールド回路、ｕ４は２値化回路
、ｕ５１は走査回路、■は第１の外乱除去回路、（２）
はサイドガイド、＠は第２の外乱除去２回路、關はロー
ルである。 なお、各図中、同一符号は、同一あるいは相当部分を示
すものとする。 第２図 第３図 第４図 第６図 第７図 ？％）。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 鋼板の両側に位置するサイドガイドによって、巾方向へ
の移行を規制される銅板の像を複数個の光電素子群上に
結像し、上記鋼板の温度に対応した走査電気信号を発生
する検出手段と、上記検出手段の走査間隔を上記鋼板の
進行距離に応じて制御する走査手段と、上記検出手段で
得られた検出信号を多値化する量子化手段と、上記量子
化手段で得られた多値化信号を記憶するメモリ手段と、
上記メモリ手段に記憶された量子化信号を２次元的に微
分する微分手段と、上記微分手段で得られた微分信号中
の両端の信号成分を除去する第１の外乱除去手段と、上
記第１の外乱除去手段により外乱除去をした微分信号を
ピークホールドするピークホールド手段と、上記ピーク
ホールド手段により得られるピークホールド信号の濃度
ヒストグラム値レベルを決め、上記ピークホールド信号
を２値化する２値化手段と、上記２値化手段で得られた
２値化信号から上記鋼板の板幅以外の２値化信号成分を
除去する第２の外乱除去手段と、上記第２の外乱除去手
段により得られる２値化信号から上記鋼板の各走査部の
板巾を求める巾測定手段と、上記巾測定手段により得ら
れる巾信号と事前に設定される規定巾値とを比較し、こ
の結果を出力する比較手段とを備えた形状検出装置。 （２）両側に位置するサイドガイドによって、巾方向へ
の移行を規制される鋼板の像を複数個の光電素子群上に
結像し、上記鋼板の温度に対応した走査電気信号を発生
する検出手段と、上記検出手段の走査間隔を上記鋼板の
進行距離に応じて制御する走査手段と、上記検出手段で
得られた検出信号を多値化する量子化手段と、上記量子
化手段で得られた多値化信号を記憶するメモリ手段と、
上記メモリ手段に記憶された量子化信号を２次元的に微
分する微分手段と、上記微分手段で得られた微分信号中
の両端の信号成分を除去する第１の外乱除去手段と、上
記第１の外乱除去手段により外乱除去をした微分信号を
２値化する２値化手段と、上記２値化手段により得られ
る２値化信号をピークホールドするピークホールド手段
と、上記ピークホールド手段により得られるピークホー
ルド信号から上記鋼板の板幅以外のピークホールド信号
成分を除去する第２の外乱除去手段と上記第２の外乱除
去手段により得られるピークホールド信号から上記鋼板
の各走査部の板巾を求める巾測定手段と、上記巾測定手
段により得られる巾信号と事前に設定される規定巾値と
を比較し、この結果を出力する比較手段とを備えた形状
検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60231921A JPS6288909A (ja) | 1985-10-15 | 1985-10-15 | 形状検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60231921A JPS6288909A (ja) | 1985-10-15 | 1985-10-15 | 形状検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6288909A true JPS6288909A (ja) | 1987-04-23 |
Family
ID=16931145
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60231921A Pending JPS6288909A (ja) | 1985-10-15 | 1985-10-15 | 形状検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6288909A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01152302A (ja) * | 1987-12-10 | 1989-06-14 | Mitsubishi Electric Corp | 形状検出装置 |
| US5798925A (en) * | 1995-05-16 | 1998-08-25 | L-S Electro-Galvanizing Company | Method and apparatus for monitoring a moving strip |
-
1985
- 1985-10-15 JP JP60231921A patent/JPS6288909A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01152302A (ja) * | 1987-12-10 | 1989-06-14 | Mitsubishi Electric Corp | 形状検出装置 |
| US5798925A (en) * | 1995-05-16 | 1998-08-25 | L-S Electro-Galvanizing Company | Method and apparatus for monitoring a moving strip |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR870000456B1 (ko) | 형상 검출장치 | |
| JPS6288909A (ja) | 形状検出装置 | |
| US5880844A (en) | Hybrid confocal microscopy | |
| JPH08320215A (ja) | 鋼板形状測定装置 | |
| JPH0121881B2 (ja) | ||
| EP0423794B1 (en) | Surface inspecting apparatus | |
| JPS59122903A (ja) | 形状検出装置 | |
| JPS6258443B2 (ja) | ||
| JPH01152302A (ja) | 形状検出装置 | |
| JP3145296B2 (ja) | 欠陥検出方法 | |
| JPS6245123Y2 (ja) | ||
| JPS61260147A (ja) | 表面欠陥検査装置 | |
| JPH1063914A (ja) | 紙葉類検査装置 | |
| JPH0121882B2 (ja) | ||
| JPH04194738A (ja) | ヘイズと連続異物群の判別方法 | |
| JPS58146842A (ja) | ネジの表面欠陥検査装置 | |
| JPS59176609A (ja) | 形状検出装置 | |
| JPS60196609A (ja) | 形状検出装置 | |
| JPS62140007A (ja) | パタ−ン検出装置 | |
| JPH09133639A (ja) | 表面欠陥検査方法 | |
| GB2108655A (en) | A method and apparatus for measuring the distribution of pulverized particles | |
| JPH04106462A (ja) | 欠陥検査装置 | |
| JPS63316183A (ja) | プリント基板パタ−ンの光学的読取方式 | |
| JPS5999238A (ja) | 表面検査装置 | |
| JPS6217696B2 (ja) |