JPS6258443B2 - - Google Patents

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JPS6258443B2
JPS6258443B2 JP6603681A JP6603681A JPS6258443B2 JP S6258443 B2 JPS6258443 B2 JP S6258443B2 JP 6603681 A JP6603681 A JP 6603681A JP 6603681 A JP6603681 A JP 6603681A JP S6258443 B2 JPS6258443 B2 JP S6258443B2
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JP
Japan
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steel plate
signal
width
scanning
integrating
Prior art date
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Expired
Application number
JP6603681A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS57179609A (en
Inventor
Toyoichi Saito
Shizuyoshi Sannomya
Akio Hosooka
Kazuo Takashima
Minoru Tanaka
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Nippon Steel Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Nippon Steel Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp, Nippon Steel Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
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Publication of JPS57179609A publication Critical patent/JPS57179609A/ja
Publication of JPS6258443B2 publication Critical patent/JPS6258443B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B11/04Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness specially adapted for measuring length or width of objects while moving
    • G01B11/046Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness specially adapted for measuring length or width of objects while moving for measuring width

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、例えば鉄鋼の熱間圧延工程におけ
る圧延時に生じる鋼材の先端、後端の変形を検出
する形状検出装置に関する。
鉄鋼の熱間圧延時に生じる鋼材先端の変形は、
次段以降の圧延ロールに不均等な荷重をかけ、ロ
ールの損傷の原因となつたり、不良材の生産の原
因となつていた。
これを防止するために、従来は作業者が目で観
測し適当な処で切断機を操作して切断していた。
そのため、鋼材の先端の変形を自動的に検出し
て、変形部分の必要最小限の切断を行なつて当該
材料を次段のロールへ送り込み、不均等荷重の影
響を取り除き、ロールの損傷を防ぐことを期待し
て、以下のような形状検出装置が提案されてい
る。
第1図に従来の装置のブロツク図を示す。熱間
圧延工程を流れる赤熱鋼板1の板幅をレンズ2を
使つた光学系とライン状に並べた複数個の光電素
子3を使つて測定ライン3a上の鋼板の有無を測
定する。
光電素子3は、鋼板の温度に比例した出力を発
生し、この出力は増幅器4で増幅され、アナロ
グ・デイジタル変換回路(A/D)5で各光電素
子3の出力信号をデイジタル量に変換する。即
ち、鋼板1の像が結像された光電素子3の部分の
信号は論理値“1”に、鋼板1の像が存在しない
光電素子3の部分の信号は論理値“0”となる。
A/D5の出力をカウンター回路で構成する幅測
定回路6で論理値“1”出力の数を計数すると鋼
板1の幅に相当する測定値が得られる。
鋼板1の幅測定値を、入力端子7から与えられ
る幅基準値Wと比較回路8で比較し、鋼板1の板
幅が、Wより小さい一定の許容値内に入つた時に
比較回路8から信号が切断機制御装置9に切断信
号が与えられ、鋼板1の先端が切断される。
即ち、第2図に示す如く、鋼板1の中央部の板
幅をWとすると鋼板1先端部の点線で示したkW
(k<1)の板幅の位置を検出して切断すること
ができる。
従来の装置は以上のように構成されているの
で、鋼板上に発生するスケールや水のりにより鋼
板像が不均一な明るさとなつたり、背景や空気中
の微粒子による散乱光のため鋼板像以外でも明る
くなるような場合、鋼板像のデイジタル化に誤差
を生じる欠点があつた。
この発明は、上記のような従来のものの欠点を
除去するためになされたもので、アナログ鋼板像
信号を多値で量子化してメモリへ記憶せしめ、任
意方向の積分、温度濃度ヒストグラム処理から閾
値を求めて2値化することによりスケール、水の
り信号を除去し、散乱光信号と鋼板像信号を分離
して誤動作のない形状検出装置を提供することを
目的としている。
第3図はこの発明の一実施例のブロツク図で、
赤熱鋼板1から切断機制御装置9までは従来の形
状検出装置のところで述べたものに相当する。1
0はアナログで得られた鋼板像信号を多値で量子
化する量子化回路、11は量子化された鋼板像信
号を記憶するメモリ、12はメモリ11に記憶さ
れた鋼板像信号を読み出し、鋼板の2次元方向に
対して任意の方向に積分し、再びメモリへ格納す
る積分器、13は積分された鋼板像信号から温度
濃度ヒストグラムを作成し、そのヒストグラムの
形状から2値化レベルを決めて鋼板像のみを抽出
する2値化回路、14は鋼板1が検出領域で一定
距離進行する毎に発生する駆動信号Pを受けて光
電素子群3を走査し出力を送出させる走査回路で
ある。
このように構成された装置は、N個の光電素子
から成る光電素子群3の出力(以後ビデオ信号と
称する)は走査回路14により、鋼板の横(板
幅)方向に対する視野を鋼板が一定距離矢印方向
に進む毎に1回ずつ走査されて読み出される。
このビデオ信号は増幅器4を介し、量子化回路
10により多値の量子化レベルを持つデイジタル
信号に変換され、上記、走査順に応じてメモリ1
1内に記憶される。この動作は、事前に設定され
る検出視野と走査間隔から割り出される走査回数
M回だけ行なわれ、この結果、例えばメモリ1に
は第4図eに示すようなビデオ画像が得られる。
しかし、従来装置の欠点の所で述べたような外乱
成分であるスケールまたは水のりイや、散乱ロの
ため生じる信号が混在していて例えば走査線部ハ
におけるビデオ信号は第4図bのようになり、固
定の閾値ニ,ホ等で2値化したのでは誤差が大き
くなる。
また、一般的な2値化の手法として用いられて
いる濃度ヒストグラムにより閾値を決定する方法
を適用しても、スケールや水のりがない場合には
第5図aのごとく散乱による信号の分布と鋼板部
信号の分布が明確に分離でき、破線で示すような
閾値が決定できるが、スケールや水のりがある場
合には、鋼板1の表面温度が低下し、第5図bの
ごとく鋼板部信号の分布が低温側にのびて、散乱
による信号の分布と重なるので両者間の分離がで
きなくなる。
そこでこの実施例では、積分回路12によりビ
デオ画像を積分することによりスケール、水のり
信号を除去している。これは、スケールが水のり
のためにビデオ信号のレベルが低下するのを補完
している。第6図aは積分回路12の動作を説明
するためのアナログ回路図、同図bはビデオ画像
を示す図、同図c,d,eはそれぞれ信号波形図
で、原信号ヘと積分信号トの差を求め、積分信号
トが大きい場合、即ち原信号ヘのデイツプが深い
場合のみ原信号ヘの差信号で補完した信号チを出
力するように構成したものである。
しかし、このような補完を施すと、積分信号が
原信号より遅延することにより歪が生じる。
第7図はこれを説明するためのビデオ信号波形
図でメモリ11に記憶されているビデオ画像を矢
印リ方向に順次読み出した場合、出力信号チの波
形は破線で示したようになる。これは鋼板の先端
(又は後端)の凹みの部分で積分信号トの方が原
信号ヘよりも大きくなるため補完されることによ
るものである。
そこでこのような誤差を解消するために、積分
器12では第8図に示すごとくビデオ画像を幅方
向に中央で分割し、左側および右側でそれぞれ積
分方向を矢印ヌとルのようにその向を変えてい
る。
具体的にはメモリ11に記憶されているビデオ
画像を矢印ヌ,ルの方向に順次読み出すと同時に
積分回路12を通過せしめ再びメモリ11に順次
記憶することにより、補完されたビデオ画像を得
ている。
積分方向ヌとルは対象鋼板1の形状により決め
られ、回路構成上は45度の角度が有利であるが、
他の角度でもよい。2値化回路13は上述したス
ケール、水のり信号の除去された出力信号チから
前述した濃度ヒストグラムを求める。このヒスト
グラムは第5図aに示すような形状になり、同図
の破線で示すように鋼板部、散乱部それぞれの分
布による2つの山の間の谷の部分に閾値を決める
ことができる。2値化後は従来装置の説明の所で
述べたのと同様にして切断信号が送出される。
なお上記実施例では、積分回路、2値化回路等
ハードウエアとして説明したが、同機能を処理で
きる計算機によりソフトウエア的に実行させても
よい。また、鋼板信号の撮像手段として各種フイ
ルター、自動絞り機構等による受光光量調節機能
を付加するなどしてもよい。
以上のように、この発明によれば範囲と方向性
を考えて、ビデオ画像を積分処理し、その後、濃
度ヒストグラムにより閾値を決定するようにした
ので、熱間圧延ラインでは不可避であるスケー
ル、水のり、散乱等の外乱に影響されない形状検
出装置が得られ実用上の効果は大きい。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来装置の構成を示すブロツク図、第
2図はその動作を説明するための鋼板の先端形状
を示す図、第3図はこの発明の一実施例の構成を
示す図、第4図ないし第8図はそれぞれこの実施
例の動作を説明するための図である。 図において、1は鋼板、2はレンズ、3は光電
素子群、4は増幅器、10は量子化回路、11は
メモリ、12は積分回路、13は2値化回路、1
4は走査回路である。なお、図中、同一符号はそ
れぞれ同一、又は相当部を示す。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 複数個の光電素子群上に鋼板像を結像し、上
    記鋼板の温度に対応した走査電気信号を発生する
    検出手段と、上記検出手段の走査間隔を上記鋼板
    の進行距離に応じて制御する走査手段と、この検
    出手段で得られた検出信号を多値化する量子化手
    段と、この量子化手段で得られた多値化信号を記
    憶するメモリ手段と、このメモリ手段に記憶され
    た量子化信号を任意の方向に積分する積分手段
    と、この積分手段で得られた積分信号の濃度ヒス
    トグラムから閾値を決定して2値化する2値化手
    段と、この2値化手段で得られた2値化信号から
    上記鋼板の各走査部の板幅を求める幅測定手段
    と、上記幅信号と事前に設定される基定幅値とを
    比較し、この結果を出力する比較手段とを備えた
    形状検出装置。 2 積分手段として、対象鋼板信号を幅方向に2
    分割し、上記鋼板に対して周辺部から中央部に向
    つて斜め方向に積分することを特徴とする特許請
    求の範囲第1項記載の形状検出装置。
JP6603681A 1981-04-29 1981-04-29 Configuration detecting device Granted JPS57179609A (en)

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JPH04286572A (ja) * 1991-03-15 1992-10-12 Fujitsu Ltd 連続用紙のスタック機構
JPH08313223A (ja) * 1995-05-16 1996-11-29 Ls Electro Galvanizing Co 移動ストリップを監視する方法と装置

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