JPS628751B2 - - Google Patents
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- JPS628751B2 JPS628751B2 JP54055857A JP5585779A JPS628751B2 JP S628751 B2 JPS628751 B2 JP S628751B2 JP 54055857 A JP54055857 A JP 54055857A JP 5585779 A JP5585779 A JP 5585779A JP S628751 B2 JPS628751 B2 JP S628751B2
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- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 claims description 5
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- 101710173952 Pinin Proteins 0.000 description 1
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- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明はテレビジヨン受像機などの配線基板
を試験する配線基板の自動試験装置に関する。
を試験する配線基板の自動試験装置に関する。
テレビジヨン受像機の配線基板においては、部
品の小形化が実現されたことから各回路ブロツ
ク、例えば受信系回路ブロツクとか偏向系回路ブ
ロツクが集約されて一枚の印刷配線板上に構成さ
れる。そこでこのような配線基板を手作業によつ
て試験を行うと、誤点検とか誤調整が多くなりま
た時間もかかることから自動的な試験装置が要望
される。
品の小形化が実現されたことから各回路ブロツ
ク、例えば受信系回路ブロツクとか偏向系回路ブ
ロツクが集約されて一枚の印刷配線板上に構成さ
れる。そこでこのような配線基板を手作業によつ
て試験を行うと、誤点検とか誤調整が多くなりま
た時間もかかることから自動的な試験装置が要望
される。
この発明は上記の事情に鑑みてなされたもの
で、印刷配線基板の所望の位置に所望の部品があ
ることの有無を自動的に試験し得る配線基板の自
動試験装置を提供することを目的とする。
で、印刷配線基板の所望の位置に所望の部品があ
ることの有無を自動的に試験し得る配線基板の自
動試験装置を提供することを目的とする。
以下この発明の実施例を図面を参照して説明す
る。
る。
第1図において10は基台であり、この基台1
0は、その水平傾き調整、上下高さ調整を可能と
し基台調整具11をその複数箇所に設けられてい
る。この基台10の上部には、装置筐体12が設
けられる。この装置筐体12は、前記基台10か
ら垂直に起立され、互いに平行な側板13,14
と、この側板13,14間に架設して設けられた
天板15と、この天板15と基台10間に基台と
平行に設けられた支持板17を有する。
0は、その水平傾き調整、上下高さ調整を可能と
し基台調整具11をその複数箇所に設けられてい
る。この基台10の上部には、装置筐体12が設
けられる。この装置筐体12は、前記基台10か
ら垂直に起立され、互いに平行な側板13,14
と、この側板13,14間に架設して設けられた
天板15と、この天板15と基台10間に基台と
平行に設けられた支持板17を有する。
次に前記天板15の一辺16側と前記基台10
間には、垂直に、該辺に並らぶように第1、第2
の案内シヤフト18,19が取付けられている。
この第1、第2の案内シヤフト18,19には、
水平方向へ延在される上段アームテーブル20
が、取付けられている。つまり、アームテーブル
20はたとえば平面的に略H字形であつて、基端
側の一対の脚21,22には、前記第1、第2の
案内シヤフト18,19が貫通する程度の穴が設
けられており、これによつてアームテーブル20
は水平に支持されている。そしてこのアームテー
ブル20の先端側のアーム23,24は、筐体手
前へ突出する方向へ延在され、このアーム23,
24間には取付ねじ具25,26を利用して透明
な合成樹脂板からなる押え棒用パレツト27が配
設される。この押え棒用パレツト27には、複数
の透孔が設けられており、所望の孔に基板を押え
るための押え棒28を取付ねじ等で取付け、下部
方向へ延在突出させることができる。この押え棒
28は、先端側大半がたとえば弾力性を有した絶
縁合成樹脂からなる。
間には、垂直に、該辺に並らぶように第1、第2
の案内シヤフト18,19が取付けられている。
この第1、第2の案内シヤフト18,19には、
水平方向へ延在される上段アームテーブル20
が、取付けられている。つまり、アームテーブル
20はたとえば平面的に略H字形であつて、基端
側の一対の脚21,22には、前記第1、第2の
案内シヤフト18,19が貫通する程度の穴が設
けられており、これによつてアームテーブル20
は水平に支持されている。そしてこのアームテー
ブル20の先端側のアーム23,24は、筐体手
前へ突出する方向へ延在され、このアーム23,
24間には取付ねじ具25,26を利用して透明
な合成樹脂板からなる押え棒用パレツト27が配
設される。この押え棒用パレツト27には、複数
の透孔が設けられており、所望の孔に基板を押え
るための押え棒28を取付ねじ等で取付け、下部
方向へ延在突出させることができる。この押え棒
28は、先端側大半がたとえば弾力性を有した絶
縁合成樹脂からなる。
さらに上記アーム23,24の側部には、この
アーム下部に移動してきた基板を正確に位置決め
するため、位置決めピン29,30が下部方向へ
突出して設けられている。この位置決めピン2
9,30は、先端部に先細となる頭部を有しこれ
がたとえばスプリングにより、下部方向へ弾性力
を付勢されている。
アーム下部に移動してきた基板を正確に位置決め
するため、位置決めピン29,30が下部方向へ
突出して設けられている。この位置決めピン2
9,30は、先端部に先細となる頭部を有しこれ
がたとえばスプリングにより、下部方向へ弾性力
を付勢されている。
上記第1、第2の案内シヤフト18,19に
は、上記上段アームテーブル20と略同様な下段
アームテーブル31が同様な方法で取付けられて
いる。この下段アームテーブル31も、そのアー
ム33,34間には、取付ねじ具35,36を利
用して透明な合成樹脂板からなる接触ピン用パレ
ツト37が配設される。この接触ピン用パレツト
37にも複数の透孔が設けられており、所望の孔
に部品点検を行うための接触ピン38をねじ等で
取付け上面方向へ突出させることができる。
は、上記上段アームテーブル20と略同様な下段
アームテーブル31が同様な方法で取付けられて
いる。この下段アームテーブル31も、そのアー
ム33,34間には、取付ねじ具35,36を利
用して透明な合成樹脂板からなる接触ピン用パレ
ツト37が配設される。この接触ピン用パレツト
37にも複数の透孔が設けられており、所望の孔
に部品点検を行うための接触ピン38をねじ等で
取付け上面方向へ突出させることができる。
上記アームテーブル20,31の各脚部先端に
は、案内シヤフト等と同方向へラツク41,42
及び43,44が固定されている。(ラツク42
は図示せず)そして、ラツク41,42及び4
3,44の噛状面には、それぞれピニオン45,
46及び47,48(ピニオン46は図示せず)
が噛合されるもので、ピニオンが回転駆動される
ことによつて、アームテーブル20,31は、互
いに近づく下方、上方向あるいは互いに離れる上
方、下方向へ移動することができる。
は、案内シヤフト等と同方向へラツク41,42
及び43,44が固定されている。(ラツク42
は図示せず)そして、ラツク41,42及び4
3,44の噛状面には、それぞれピニオン45,
46及び47,48(ピニオン46は図示せず)
が噛合されるもので、ピニオンが回転駆動される
ことによつて、アームテーブル20,31は、互
いに近づく下方、上方向あるいは互いに離れる上
方、下方向へ移動することができる。
次に上記ピニオン45,46,47,48は、
上記筐体の側板13,14を外部から内部に向つ
て挿通されたそれぞれ対応する回転軸の一端に固
定されている。第1図の場合、ピニオン45,4
7、回転軸49,50が図面上あらわれているの
でこれを参照して説明する。それぞれのピニオン
45,47の回転軸49,50は、側板13の外
側にあつてもピニオン51,52を固定されてい
る。そして、このピニオン51,52は、それぞ
れラツク53,54に噛合されている。このラツ
ク53,54は、両軸型エアシリンダ55,56
と一体になされている。そして各エアシリンダ5
5,56の軸57,58は側板13の取付部に固
定されている。したがつて、エアシリンダ本体
は、軸方向へ上下移動することができ、この場合
ラツク53,54はピニオン51,52をそれぞ
れ回転させることができる。さらに、天板15と
基台10には、それぞれねじ構造のストツパ53
1,541が対向して設けられている。このスト
ツパ531,541はラツク53,54に対応す
るものでラツク53,54の上方向、下方向に対
する移動範囲規制を得るものである。したがつて
ねじ構造を利用してストツパの突設長を調整すれ
ば規制位置を調整できる。なおストツパーは、上
記の箇所に限らず、他の箇所に設けてもよい。
上記筐体の側板13,14を外部から内部に向つ
て挿通されたそれぞれ対応する回転軸の一端に固
定されている。第1図の場合、ピニオン45,4
7、回転軸49,50が図面上あらわれているの
でこれを参照して説明する。それぞれのピニオン
45,47の回転軸49,50は、側板13の外
側にあつてもピニオン51,52を固定されてい
る。そして、このピニオン51,52は、それぞ
れラツク53,54に噛合されている。このラツ
ク53,54は、両軸型エアシリンダ55,56
と一体になされている。そして各エアシリンダ5
5,56の軸57,58は側板13の取付部に固
定されている。したがつて、エアシリンダ本体
は、軸方向へ上下移動することができ、この場合
ラツク53,54はピニオン51,52をそれぞ
れ回転させることができる。さらに、天板15と
基台10には、それぞれねじ構造のストツパ53
1,541が対向して設けられている。このスト
ツパ531,541はラツク53,54に対応す
るものでラツク53,54の上方向、下方向に対
する移動範囲規制を得るものである。したがつて
ねじ構造を利用してストツパの突設長を調整すれ
ば規制位置を調整できる。なおストツパーは、上
記の箇所に限らず、他の箇所に設けてもよい。
上記の如く構成される自動部品試験装置は次の
ように動作する。すなわち、第3図において説明
するに、上段側のエアシリンダ55が図示矢印a
15方向へ移動すると、そのラツク53によつて
側板51の外側のピニオンが回転される。そして
内側のピニン45が図示矢印a17方向へ回転さ
れる。これによつて上段アームテーブル20は図
示矢印a16方向へ下降して、まず配線基板OS
を押え棒28によつて押えつける。押え棒28
は、配線基板上の部品のすき間を通して基板を押
えるようにその位置が設定されている。
ように動作する。すなわち、第3図において説明
するに、上段側のエアシリンダ55が図示矢印a
15方向へ移動すると、そのラツク53によつて
側板51の外側のピニオンが回転される。そして
内側のピニン45が図示矢印a17方向へ回転さ
れる。これによつて上段アームテーブル20は図
示矢印a16方向へ下降して、まず配線基板OS
を押え棒28によつて押えつける。押え棒28
は、配線基板上の部品のすき間を通して基板を押
えるようにその位置が設定されている。
次に、下段側のエアシリンダ56が図示矢印a
16方向へ駆動される。これによつてピニオン5
2が図示矢印a20方向へ回転され、下段アーム
テーブル31は図示矢印a15方向へ上昇する。
そして、接触ピン38を所望部品の半田付部端子
に接触させる。この場合、接触ピン38には、図
示矢印a15←→a16方向に対するクツシヨン機
構が設けられており、半田付部端子の長短にかか
わりなく、すべての接触ピンが所望の端子に接触
するようにはかられている。
16方向へ駆動される。これによつてピニオン5
2が図示矢印a20方向へ回転され、下段アーム
テーブル31は図示矢印a15方向へ上昇する。
そして、接触ピン38を所望部品の半田付部端子
に接触させる。この場合、接触ピン38には、図
示矢印a15←→a16方向に対するクツシヨン機
構が設けられており、半田付部端子の長短にかか
わりなく、すべての接触ピンが所望の端子に接触
するようにはかられている。
そして、接触ピン38が端子に接触した状態
で、自動的に各部品の検査がなされる。この検査
としては、たとえば部品が抵抗であれば、この抵
抗に所定の電圧を接触ピンを介して印加し、その
電圧降下量に所定の値が得られるか否かによる検
査である。検査する部品としては、種々の部品が
多数であるので、たとえば第4図に示すようなマ
イクロコンピユータによる検査処理がなされる。
またこの検査が終れば、エアシリンダ、ピニオン
等は、所期状態に戻り、アームテーブルも基の位
置へ戻され、次の配線基板が検査に移る。
で、自動的に各部品の検査がなされる。この検査
としては、たとえば部品が抵抗であれば、この抵
抗に所定の電圧を接触ピンを介して印加し、その
電圧降下量に所定の値が得られるか否かによる検
査である。検査する部品としては、種々の部品が
多数であるので、たとえば第4図に示すようなマ
イクロコンピユータによる検査処理がなされる。
またこの検査が終れば、エアシリンダ、ピニオン
等は、所期状態に戻り、アームテーブルも基の位
置へ戻され、次の配線基板が検査に移る。
第4図は、部品の試験システムを示すもので、
61はインタフエース装置、62はマイクロコン
ピユータを内蔵した制御判定装置である。また、
63はオペレータコンソール装置であり、たとえ
ば特定の部品のみを再試験してみたいような場合
とか、ある部品の試験を省くような場合にその部
品コードを入力する装置である。さらに64は、
デジタルプリント装置であり、試験した部品コー
ドとその測定結果、あるいは不良品コード等をプ
リントする装置である。
61はインタフエース装置、62はマイクロコン
ピユータを内蔵した制御判定装置である。また、
63はオペレータコンソール装置であり、たとえ
ば特定の部品のみを再試験してみたいような場合
とか、ある部品の試験を省くような場合にその部
品コードを入力する装置である。さらに64は、
デジタルプリント装置であり、試験した部品コー
ドとその測定結果、あるいは不良品コード等をプ
リントする装置である。
配線基板OSは、被試験回路ユニツトS1を形
成しており、接触ピン38は、インターフエース
装置61の接触子切換回路65に接続されてい
る。この接触子切換回路65は、前記制御判定装
置62の入出力制御回路69からの制御信号によ
つて制御され、試験しようとする部品に接触して
いる接触ピンを導通させる。前記インターフエー
ス装置61の接触子切換回路65の出力は、この
装置内の計測回路66に入力される。この計測回
路66内には整流手段、演算手段、デコード手段
等が含まれ、その出力は、表示部68に加えられ
表示されるとともに、入出力制御回路69を介し
て制御判定回路70に入力され、その値の良否判
定がなされる。
成しており、接触ピン38は、インターフエース
装置61の接触子切換回路65に接続されてい
る。この接触子切換回路65は、前記制御判定装
置62の入出力制御回路69からの制御信号によ
つて制御され、試験しようとする部品に接触して
いる接触ピンを導通させる。前記インターフエー
ス装置61の接触子切換回路65の出力は、この
装置内の計測回路66に入力される。この計測回
路66内には整流手段、演算手段、デコード手段
等が含まれ、その出力は、表示部68に加えられ
表示されるとともに、入出力制御回路69を介し
て制御判定回路70に入力され、その値の良否判
定がなされる。
前記インターフエース装置61内には、定電圧
発生回路67も内蔵され、前記制御判定制御回路
70からのデータに基づいて所定の電圧を発生し
前記接触子切換換回路65、計測回路66等に供
給する。
発生回路67も内蔵され、前記制御判定制御回路
70からのデータに基づいて所定の電圧を発生し
前記接触子切換換回路65、計測回路66等に供
給する。
上記のような部品の試験システムによつて、配
線基板の回路部品が点検され、良否の判別がなさ
れる。
線基板の回路部品が点検され、良否の判別がなさ
れる。
次に上記配線基板の自動試験装置に対して配線
基板を運んでくる搬送手段について説明する。第
5図において75は、スライド板保持台であり、
前記試験装置の上下段テーブルアーム20,31
の中間部に水平に設置されている。このスライド
板保持台75には前記基板押え棒とか接触ピン等
が下降、上昇する部分に対応して開口76が設け
られている。さらに、スライド板保持台75の上
面には複数のガイドローラ77,78,79,8
0等が回転自在に取付けられている。ガイドロー
ラ77,78,79,80によつて、スライド板
81はその側縁部が支持され、支持台75の上面
に平行に配設されている。そして図示矢印a17
←→a18方向へ自由にスライドすることができ
る。このスライド板81は、たとえば2枚の配線
基板支持用パレツト82,83をスライド方向へ
並べて取付けられている。パレツト82は額縁状
であり、その上面には配線基板の位置決めピン8
4,85を起立させて有する。なお他方のパレツ
ト83も同様に位置決めピンを有する。さらに上
記スライド板81の下面側にはスライド方向へ歯
状面を有するラツク86が固定されている。そし
てこのラツク86には、支持台75に取付けられ
たモータ87のピニオン88が噛合されている。
さらにまたスライド板81の側縁には、複数の位
置決めノツチ89,90が固定されている。この
位置決めノツチ89,90にはそれぞれスライド
方向とは直交する図示矢印a19方向へ陥落した
凹部が形成されている。さらに上記位置決めノツ
チ89,92に対する所定位置には、支持台上に
トルグリンク91が設けられている。このトルグ
リンク91は図示矢印a19←→a20方向へ摺動
自在な摺動板92に連結されている。このトルグ
リンク91は、たとえばエアシリンダ93によつ
て駆動されるもので、このエアシリンダ93の軸
が図示矢印a17方向へ駆動されると、摺動板9
2をスライド板81側へ押さえることができる。
これによつてスライド板92は所定位置に位置決
めされることになる。この搬送手段を上面から示
すと第6図のようになり、スライド板81は、摺
動板92が位置決めノツチ89に嵌合した第1の
位置と、摺動板92が位置決めノツチ90に嵌合
した第2の位置をとり得ることができる。そし
て、試験がなされていない側の基板配置部に次の
試験を行うための配線基板を載せて準備すること
ができる。
基板を運んでくる搬送手段について説明する。第
5図において75は、スライド板保持台であり、
前記試験装置の上下段テーブルアーム20,31
の中間部に水平に設置されている。このスライド
板保持台75には前記基板押え棒とか接触ピン等
が下降、上昇する部分に対応して開口76が設け
られている。さらに、スライド板保持台75の上
面には複数のガイドローラ77,78,79,8
0等が回転自在に取付けられている。ガイドロー
ラ77,78,79,80によつて、スライド板
81はその側縁部が支持され、支持台75の上面
に平行に配設されている。そして図示矢印a17
←→a18方向へ自由にスライドすることができ
る。このスライド板81は、たとえば2枚の配線
基板支持用パレツト82,83をスライド方向へ
並べて取付けられている。パレツト82は額縁状
であり、その上面には配線基板の位置決めピン8
4,85を起立させて有する。なお他方のパレツ
ト83も同様に位置決めピンを有する。さらに上
記スライド板81の下面側にはスライド方向へ歯
状面を有するラツク86が固定されている。そし
てこのラツク86には、支持台75に取付けられ
たモータ87のピニオン88が噛合されている。
さらにまたスライド板81の側縁には、複数の位
置決めノツチ89,90が固定されている。この
位置決めノツチ89,90にはそれぞれスライド
方向とは直交する図示矢印a19方向へ陥落した
凹部が形成されている。さらに上記位置決めノツ
チ89,92に対する所定位置には、支持台上に
トルグリンク91が設けられている。このトルグ
リンク91は図示矢印a19←→a20方向へ摺動
自在な摺動板92に連結されている。このトルグ
リンク91は、たとえばエアシリンダ93によつ
て駆動されるもので、このエアシリンダ93の軸
が図示矢印a17方向へ駆動されると、摺動板9
2をスライド板81側へ押さえることができる。
これによつてスライド板92は所定位置に位置決
めされることになる。この搬送手段を上面から示
すと第6図のようになり、スライド板81は、摺
動板92が位置決めノツチ89に嵌合した第1の
位置と、摺動板92が位置決めノツチ90に嵌合
した第2の位置をとり得ることができる。そし
て、試験がなされていない側の基板配置部に次の
試験を行うための配線基板を載せて準備すること
ができる。
この発明の配線基板の自動試験装置は、上述の
如く構成されるもので、特に配線基板を上下面方
向から上下段アームテーブルによつて狭むように
構成しているため、配線基板を試験する際の反り
とかがたつきが防止され水平に保たれるものであ
る。これによつて、接触ピンと配線基板の所望の
端子との接触状態が正確に確実に得られ、良好な
試験に寄与し得るものである。さらにまた、試験
のためにアームテーブルの移動範囲を規制するも
のとして、第1図、第3図に示したようにラツク
53,54のストツパ531,541がねじ手段
によつて調整できるように設けられている。この
ため基板の厚みとか搬送装置とか装置全体の上下
方向位置ずれに対しても対処でき、良好な試験に
寄与することができる。さらにまたアームテーブ
ル自体の運動は、上下段とも共通の案内シヤフト
18,19によつて精密に規制されるため、ラツ
ク、ピニオンのバツクラツシユ等によるがたつき
がない。さらに、上下段アームテーブルにおいて
は、それぞれ、複数の透孔を有した押え棒用パレ
ツト27、接触ピン用パレツト37が設けられて
いる。このため、押え棒28の位置は、基板の部
品に接触しないように部品の配置に応じて適当な
位置へ自由に変更できるし、また基板を均一に水
平に押えるように位置変更もできる。よつて良好
な試験に寄与し得るとともに、使用性もよく種々
の部品配置の異なる基板試験にも自由に対応でき
ることになる。また接触ピン用パレツト側につい
ても同様なことが言える。さらにまたパレツトを
利用して部品の調整を行うドライバ装置を透孔を
介して取付けることも可能である。さらにまた、
上記の装置は、パレツト27,37自体を取付ね
じ具25,26,35,36によつて交換できる
ようになつている。取付ねじ具でなくとも起立し
たピンと押え具によつて交換可能としてもよい
が、交換性をもたせたことによつて、あらかじめ
所定の位置に押え棒とか接触ピンを取付けたパレ
ツトを用意しておき、試験用配線基板の種類が異
つたときにパレツト自体を交換することもでき
る。また、押え棒自体は、合成樹脂によるもので
必要以上の荷重がかかつた場合とかとくに横方向
の変形力が加わつた場合に折れるような材質が選
定されることによつて安全性もすぐれている。
如く構成されるもので、特に配線基板を上下面方
向から上下段アームテーブルによつて狭むように
構成しているため、配線基板を試験する際の反り
とかがたつきが防止され水平に保たれるものであ
る。これによつて、接触ピンと配線基板の所望の
端子との接触状態が正確に確実に得られ、良好な
試験に寄与し得るものである。さらにまた、試験
のためにアームテーブルの移動範囲を規制するも
のとして、第1図、第3図に示したようにラツク
53,54のストツパ531,541がねじ手段
によつて調整できるように設けられている。この
ため基板の厚みとか搬送装置とか装置全体の上下
方向位置ずれに対しても対処でき、良好な試験に
寄与することができる。さらにまたアームテーブ
ル自体の運動は、上下段とも共通の案内シヤフト
18,19によつて精密に規制されるため、ラツ
ク、ピニオンのバツクラツシユ等によるがたつき
がない。さらに、上下段アームテーブルにおいて
は、それぞれ、複数の透孔を有した押え棒用パレ
ツト27、接触ピン用パレツト37が設けられて
いる。このため、押え棒28の位置は、基板の部
品に接触しないように部品の配置に応じて適当な
位置へ自由に変更できるし、また基板を均一に水
平に押えるように位置変更もできる。よつて良好
な試験に寄与し得るとともに、使用性もよく種々
の部品配置の異なる基板試験にも自由に対応でき
ることになる。また接触ピン用パレツト側につい
ても同様なことが言える。さらにまたパレツトを
利用して部品の調整を行うドライバ装置を透孔を
介して取付けることも可能である。さらにまた、
上記の装置は、パレツト27,37自体を取付ね
じ具25,26,35,36によつて交換できる
ようになつている。取付ねじ具でなくとも起立し
たピンと押え具によつて交換可能としてもよい
が、交換性をもたせたことによつて、あらかじめ
所定の位置に押え棒とか接触ピンを取付けたパレ
ツトを用意しておき、試験用配線基板の種類が異
つたときにパレツト自体を交換することもでき
る。また、押え棒自体は、合成樹脂によるもので
必要以上の荷重がかかつた場合とかとくに横方向
の変形力が加わつた場合に折れるような材質が選
定されることによつて安全性もすぐれている。
以上説明したようにこの発明は、配線基板の所
望の位置に所望の部品があることの有無等を自動
的に試験し得るのに、そのとくに機械的な動作に
よる確実性と安全性、また使用性を向上し得る配
線基板の自動試験装置を提供することができる。
望の位置に所望の部品があることの有無等を自動
的に試験し得るのに、そのとくに機械的な動作に
よる確実性と安全性、また使用性を向上し得る配
線基板の自動試験装置を提供することができる。
第1図はこの発明の一実施例による配線基板の
自動試験装置を示す構成説明図、第2図は第1図
のアームテーブル部分ををとりだして示す構成説
明図、第3図は第1図の装置の動作を説明するの
に示した側面図、第4図は第1図に示す装置にお
いて部品試験のために用いられる電気的システム
の構成説明図、第5図、第6図は、それぞれ配線
基板搬送手段の例を示す構成説明図である。 10…基台、15…天板、18,19…案内シ
ヤフト、20…上段アームテーブル、27…基板
押え用パレツト、28…押え棒、31…下段アー
ムテーブル、37…接触ピン用パレツト、38…
接触ピン。
自動試験装置を示す構成説明図、第2図は第1図
のアームテーブル部分ををとりだして示す構成説
明図、第3図は第1図の装置の動作を説明するの
に示した側面図、第4図は第1図に示す装置にお
いて部品試験のために用いられる電気的システム
の構成説明図、第5図、第6図は、それぞれ配線
基板搬送手段の例を示す構成説明図である。 10…基台、15…天板、18,19…案内シ
ヤフト、20…上段アームテーブル、27…基板
押え用パレツト、28…押え棒、31…下段アー
ムテーブル、37…接触ピン用パレツト、38…
接触ピン。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 基台とこの基台の上面部に配置固定された筐
体の天板間に起立固定された案内シヤフトと、こ
の案内シヤフトに基部がシヤフト軸方向へ移動自
在に支持され、シヤフト軸とは略直交する該筐体
外部方向へ一対のアーム部が同一高さで延在され
た上段側アームテーブルと、このアームテーブル
の前記一対のアーム間に着脱自在に取付けられ、
複数の透孔を有するとともに任意の透孔には少な
くとも下段方向へ延在する合成樹脂よりなる基板
押え棒が着脱自在に取付けられた基板押え用パレ
ツトと、 前記上段側アームテーブルと同様に前記案内シ
ヤフトに上段側アームテーブルの下段に配設さ
れ、前記上段アームテーブルのアーム部に対向す
るアーム部を有した下段側アームテーブルと、こ
の下段側アームテーブルの前記一対のアーム部間
に着脱自在に取付けられ、複数の透孔を有すると
ともに任意の透孔には上段方向へ突出した接触ピ
ン用パレツトと、前記上段側アームテーブル、下
段側アームテーブルの各基部に取付けられた歯状
面を有するラツクにそれぞれピニオンを噛合せし
めて、各アームテーブルをシヤフト軸方向へ駆動
する駆動手段とを 具備し、上記上下段側アームテーブル間に略額縁
状の基板搬送用パレツトに載置されて搬送されて
くる配線基板を前記押え棒によつて押えるととも
に接触ピンによつて電気的接続を行い試験等を得
るようにした配線基板の自動試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5585779A JPS55147363A (en) | 1979-05-08 | 1979-05-08 | Device for automatically testing wiring bedplate |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5585779A JPS55147363A (en) | 1979-05-08 | 1979-05-08 | Device for automatically testing wiring bedplate |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS55147363A JPS55147363A (en) | 1980-11-17 |
| JPS628751B2 true JPS628751B2 (ja) | 1987-02-24 |
Family
ID=13010718
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5585779A Granted JPS55147363A (en) | 1979-05-08 | 1979-05-08 | Device for automatically testing wiring bedplate |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS55147363A (ja) |
Families Citing this family (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6088284U (ja) * | 1983-11-24 | 1985-06-17 | 日本電気株式会社 | 検査ヘツドの接続機構 |
| US4593804A (en) * | 1984-01-24 | 1986-06-10 | Zehntel, Inc. | Apparatus for guiding a circuit board onto a testing location on a test fixture |
| JPS60198472A (ja) * | 1984-03-23 | 1985-10-07 | Ibiden Co Ltd | プリント配線基板の検査装置 |
| JPS61195367A (ja) * | 1985-02-25 | 1986-08-29 | Yokowo Mfg Co Ltd | 回路基板検査装置 |
| JPS61189277U (ja) * | 1985-05-17 | 1986-11-26 | ||
| JPS61203369U (ja) * | 1985-06-10 | 1986-12-20 | ||
| JPS62134578A (ja) * | 1985-12-07 | 1987-06-17 | Ibiden Co Ltd | プリント配線板用の回路検査装置 |
| JPS62162388A (ja) * | 1986-01-13 | 1987-07-18 | 松下電器産業株式会社 | プリント配線板用検査装置 |
| JPH0448539Y2 (ja) * | 1986-05-20 | 1992-11-16 | ||
| JPS62202000U (ja) * | 1986-06-13 | 1987-12-23 | ||
| JP2554560Y2 (ja) * | 1986-06-13 | 1997-11-17 | パイオニア株式会社 | プリント基板のチエツク装置 |
| US4870354A (en) * | 1988-08-11 | 1989-09-26 | Zehntel, Inc. | Apparatus for contacting a printed circuit board with an array of test probes |
| JPH04331379A (ja) * | 1991-01-22 | 1992-11-19 | Igaden:Kk | プリント基板検査装置 |
| JPH0827334B2 (ja) * | 1992-11-13 | 1996-03-21 | 日東精工株式会社 | 基板検査装置 |
| JP2007059727A (ja) * | 2005-08-25 | 2007-03-08 | Nidec-Read Corp | 基板検査装置及び基板検査方法 |
-
1979
- 1979-05-08 JP JP5585779A patent/JPS55147363A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS55147363A (en) | 1980-11-17 |
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