JPS6286721A - 顕微鏡自動焦点装置 - Google Patents
顕微鏡自動焦点装置Info
- Publication number
- JPS6286721A JPS6286721A JP60226761A JP22676185A JPS6286721A JP S6286721 A JPS6286721 A JP S6286721A JP 60226761 A JP60226761 A JP 60226761A JP 22676185 A JP22676185 A JP 22676185A JP S6286721 A JPS6286721 A JP S6286721A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image sensor
- striped pattern
- peak
- detection
- sample
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
- Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明はLSIウェハ面を観察する顕微鏡装置の焦点合
せに好適な自動焦点装置に関するものである。
せに好適な自動焦点装置に関するものである。
顕微鏡焦点位置検出法としては特開昭5870540に
記載の縞パターン投影法かある。
記載の縞パターン投影法かある。
この方法は試料面に縞パターンを投影し、そのコントラ
ストから合焦状態を検出するものであるが、予め決めら
れた明及び暗のサンプル位置に、縞パターン像を合致さ
せて、縞パターン結像倍率調整とイメージセンサ固定位
置を調整していた。
ストから合焦状態を検出するものであるが、予め決めら
れた明及び暗のサンプル位置に、縞パターン像を合致さ
せて、縞パターン結像倍率調整とイメージセンサ固定位
置を調整していた。
このため、倍率やセンサ位置の微調機構を設けると構造
が複雑化する。また微調機構を設けない場合は作業能率
の低下を招く。
が複雑化する。また微調機構を設けない場合は作業能率
の低下を招く。
本発明の目的は、縞パターン検出用イメージセンサと、
縞パターン結像位置との高精度な位置合せを不要とした
コノトラスト検出方式を提供することKある。
縞パターン結像位置との高精度な位置合せを不要とした
コノトラスト検出方式を提供することKある。
〔発明の概要〕
本発明は、ウェハ上に投影された縞パターンの明ピーク
位置、暗ピーク位置を自動的に検出し、該ピーク値を順
次保持してコントラストを求めるよう演算する回路を構
成したこと、並びに、前ピント位置及び後ピント位置に
置かれたイメージセンサからの信号の処理を、各々独自
のタイミングで入力し処理する構成としたことが特徴と
言えよう。
位置、暗ピーク位置を自動的に検出し、該ピーク値を順
次保持してコントラストを求めるよう演算する回路を構
成したこと、並びに、前ピント位置及び後ピント位置に
置かれたイメージセンサからの信号の処理を、各々独自
のタイミングで入力し処理する構成としたことが特徴と
言えよう。
本発明を徳用するウニ・・パターン観察用顕微鏡の構成
を第1図に示す。
を第1図に示す。
焦点ずれ検出は、光源1により縞パターンマスク2の像
を対物レンズ3を介してウェハ4に投影し、その像をイ
メージセンサ8及び9で検出してその検出信号81.9
1から焦点ずれ判定回路10がずれ方向を判定する方式
である。この結果に基づきピエゾドライバ11によりビ
エゾ素子12が伸縮しウェハ4を垂直方向に動かし焦点
合せを行なう。
を対物レンズ3を介してウェハ4に投影し、その像をイ
メージセンサ8及び9で検出してその検出信号81.9
1から焦点ずれ判定回路10がずれ方向を判定する方式
である。この結果に基づきピエゾドライバ11によりビ
エゾ素子12が伸縮しウェハ4を垂直方向に動かし焦点
合せを行なう。
縞パターンを検出するイメージセンサ8と9は光軸上で
前後にずらせて配置してあり、前ピント検出用イメージ
センサ8の合焦面ば第2図のZb、後ピント検出用イメ
ージセンナ9の合焦面は同じ(Zcに示す位置関係であ
る。
前後にずらせて配置してあり、前ピント検出用イメージ
センサ8の合焦面ば第2図のZb、後ピント検出用イメ
ージセンナ9の合焦面は同じ(Zcに示す位置関係であ
る。
第3図に示すような縞パターンを使用したとき、ウェハ
位置と両イメージセンサ8,9検出信号との関係は第4
図及び第5図となる。即ち。
位置と両イメージセンサ8,9検出信号との関係は第4
図及び第5図となる。即ち。
ウェハが前ピント方向zbにずれた場合はイメージセン
サ81の検出信号のコントラストcbが犬となり、後ピ
ント方向Zaにずれた場合はイメージセンサ91のコン
トラストCcが大となる。なおZaはウェハパターン検
出用イメージセンサ13の合焦面であり、この点で両コ
ントラスト検出系の検出したコントラストが等しくなる
ように、光学的めるいは検出回路利得等により設定する
。
サ81の検出信号のコントラストcbが犬となり、後ピ
ント方向Zaにずれた場合はイメージセンサ91のコン
トラストCcが大となる。なおZaはウェハパターン検
出用イメージセンサ13の合焦面であり、この点で両コ
ントラスト検出系の検出したコントラストが等しくなる
ように、光学的めるいは検出回路利得等により設定する
。
上記コントラスト横比においては、ウェハパターンによ
りコントラストが影畳を受けるため。
りコントラストが影畳を受けるため。
広い範囲の半均的コントラストを検出することが望まし
い。例えば、第6図に示すように、検出エリア内に複数
の縞パターンを投影し、各ビータを対象としたコントラ
ストの和を求める。
い。例えば、第6図に示すように、検出エリア内に複数
の縞パターンを投影し、各ビータを対象としたコントラ
ストの和を求める。
即ち第6図においては明ヒーク3ケ所、*ビーり4ケ所
に対し隣接明暗差C,−C0の和ΣCiを求める。
に対し隣接明暗差C,−C0の和ΣCiを求める。
以下本発明の実施例をより具体的に説明する。
第1図において前記した如く前ピント、後ピントの縞パ
ターン検出信号81.82が焦点ずれ判定回路10に入
力する。本発明はこの焦点ずれ判定回路10を構成する
焦点ずれ方向判別回路に具現されるもので、第7図にそ
の回路構成を示す。
ターン検出信号81.82が焦点ずれ判定回路10に入
力する。本発明はこの焦点ずれ判定回路10を構成する
焦点ずれ方向判別回路に具現されるもので、第7図にそ
の回路構成を示す。
前ピント、後ピントの両組パターン検出信号共同一方法
によりコントラストを算出するため。
によりコントラストを算出するため。
回路構成も共通で1 各入力信号弁増幅器21を経た
信号53をピーク検出回路を構成するサンプルホールド
22及びコンパレータ26に入力する。
信号53をピーク検出回路を構成するサンプルホールド
22及びコンパレータ26に入力する。
またコンパレータ26の他の入力端子にはサンプルホー
ルド22の出力54を印加しwJ6図に示すように各画
素ごとに比較する。これにより両信号の大小関係が反転
した点がピーク位置を意味するため、この点でサンノル
ホールド出力54をサンプルホールド23及び24に保
持する。なお23は明ピーク、24は暗ピーク値を保持
する。ここで各ビーク埴のサンプル命令56.57は制
御ノ<ルス発生回路27により発生させる。第8図はそ
のタイミング関係を示し、第9図にサンプル命令ノ(ル
ス発生回路を示す。前記コンノ(レータ26の出力をク
ロック52の立上りで判定し、その結果をフリップ、7
0・ノブ71にセットすると、その出力55は縞パター
ン明ピークで重上シ、暗ヒー りでリセットされる。こ
の信号によりモノマルチ72173をトリガしてサンプ
ル命令〕(ルス56 、57を発生させる。
ルド22の出力54を印加しwJ6図に示すように各画
素ごとに比較する。これにより両信号の大小関係が反転
した点がピーク位置を意味するため、この点でサンノル
ホールド出力54をサンプルホールド23及び24に保
持する。なお23は明ピーク、24は暗ピーク値を保持
する。ここで各ビーク埴のサンプル命令56.57は制
御ノ<ルス発生回路27により発生させる。第8図はそ
のタイミング関係を示し、第9図にサンプル命令ノ(ル
ス発生回路を示す。前記コンノ(レータ26の出力をク
ロック52の立上りで判定し、その結果をフリップ、7
0・ノブ71にセットすると、その出力55は縞パター
ン明ピークで重上シ、暗ヒー りでリセットされる。こ
の信号によりモノマルチ72173をトリガしてサンプ
ル命令〕(ルス56 、57を発生させる。
明ピークレベルを保持するサンプルホールド。
23の出力58と階ビークの保持出力59は差動アンプ
25に人力し、その差、即ちコントラストを出力する。
25に人力し、その差、即ちコントラストを出力する。
この出力信号60において、各隣接明暗ピーク差の出力
するタイミングに対応して、所定のパルス幅を持つゲー
ト信号61によりサンフ゛ルして積分器40に入力し検
出エリア内の累積(1jLを求める□ なお前ピントと後ピントのコントラスト差も同じ積分器
40t−用いて演算するため、後ピント縞パターン検出
信号91に対しては差動アンプ25の出力を負極性とし
″′C槙分器40に入力し工いる。
するタイミングに対応して、所定のパルス幅を持つゲー
ト信号61によりサンフ゛ルして積分器40に入力し検
出エリア内の累積(1jLを求める□ なお前ピントと後ピントのコントラスト差も同じ積分器
40t−用いて演算するため、後ピント縞パターン検出
信号91に対しては差動アンプ25の出力を負極性とし
″′C槙分器40に入力し工いる。
第10図は検出エリア内に明ビークV1)が4ケ所、暗
ピークVDが3ケ所存在する例であり、積分ゲート信号
61に示す6ケ所でコントラストを積分する。なお第1
0図は片チャ/ネルのみ示したが両チャンネルの縞パタ
ーンピーク位置は位相を一致させる必要はない。但し検
出エリア信号50に示す区間内に測定対象ピークを納め
る。
ピークVDが3ケ所存在する例であり、積分ゲート信号
61に示す6ケ所でコントラストを積分する。なお第1
0図は片チャ/ネルのみ示したが両チャンネルの縞パタ
ーンピーク位置は位相を一致させる必要はない。但し検
出エリア信号50に示す区間内に測定対象ピークを納め
る。
従って両チャンネルのピーク位置に対応して独自のタイ
ミングで積分ゲートm号61が発生し積分器入力スイッ
チ41.42を制御する。
ミングで積分ゲートm号61が発生し積分器入力スイッ
チ41.42を制御する。
積分用コンデンサ44に並列のスイッチ45は検出エリ
ア外でオンとなり積分器をリセットする積分器出力はコ
ンパレータ61で極性を判別され積分器がリセットする
とき最終結果がフリップ7aツブ32ニ保持される。こ
の極性が焦点ずれ方向に対応する。
ア外でオンとなり積分器をリセットする積分器出力はコ
ンパレータ61で極性を判別され積分器がリセットする
とき最終結果がフリップ7aツブ32ニ保持される。こ
の極性が焦点ずれ方向に対応する。
本実施例の特徴は、各チャンネルのコントラスト積算及
び両チャンネルのコントラスト差を単一の積分器で演算
するため、温度、経年による回路の特性変動がn消れ高
精度が維持できること、また、ウエノ・パターン横出用
イメージセンサ13(第1図)の合焦面で、前ピント、
後ピント両縞パターン検出コントラスト値が等しくなる
ように調整(第5図のZα)する方法として、いずれか
のチャンネルのアンプ21のゲインを調整するだけでよ
く取扱い易い回路構成である。
び両チャンネルのコントラスト差を単一の積分器で演算
するため、温度、経年による回路の特性変動がn消れ高
精度が維持できること、また、ウエノ・パターン横出用
イメージセンサ13(第1図)の合焦面で、前ピント、
後ピント両縞パターン検出コントラスト値が等しくなる
ように調整(第5図のZα)する方法として、いずれか
のチャンネルのアンプ21のゲインを調整するだけでよ
く取扱い易い回路構成である。
なお、第7図の実施例をディジタル回路で構成すること
も可能であり、この場合増幅器21の後でAI)変換し
、サンプルホールドはラッチ回路により、差動増幅器、
積分器は加算器により構成できる。ティジタルIgIw
Iの場合、第7図のアナログ方式に比較して回路素子数
が多くなるが動作特性上大差ない。
も可能であり、この場合増幅器21の後でAI)変換し
、サンプルホールドはラッチ回路により、差動増幅器、
積分器は加算器により構成できる。ティジタルIgIw
Iの場合、第7図のアナログ方式に比較して回路素子数
が多くなるが動作特性上大差ない。
本発明によれば1mパターンのコントラスト検出におい
て、明暗ピーク位置を自動的に検出し、そのレベルをI
II kするので、イメージセンサ上の特定位置に縞パ
ターン像を位置決めする必要がなく、そのため、撮像倍
率調整光学系、イメージセンナ位置決め微調機構等の削
除あるいは簡略化が可能となり小形化、さらに組立、調
整作業の簡略化が可能となり実用化上の効果が極めて太
きい。
て、明暗ピーク位置を自動的に検出し、そのレベルをI
II kするので、イメージセンサ上の特定位置に縞パ
ターン像を位置決めする必要がなく、そのため、撮像倍
率調整光学系、イメージセンナ位置決め微調機構等の削
除あるいは簡略化が可能となり小形化、さらに組立、調
整作業の簡略化が可能となり実用化上の効果が極めて太
きい。
第1図は本発明を適用する顕微鏡の構成図。
第2図は対物レンズと合焦面の位置関係説明図第5図は
縞パターン図、第4図は縞パターンコントラスト説明図
、第5図は焦点すれとコントラストの関係図、第6図は
コントラスト図、第7図は実施例回路図、第8図及び第
10図は実施例の信号図、第9図は実施例のピーク検出
部回路図である。
縞パターン図、第4図は縞パターンコントラスト説明図
、第5図は焦点すれとコントラストの関係図、第6図は
コントラスト図、第7図は実施例回路図、第8図及び第
10図は実施例の信号図、第9図は実施例のピーク検出
部回路図である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、明部と暗部とを周期的に組合せた縞パターンマスク
による光パターンを、対物レンズを介して被測定物に投
影結像させる第1の光学系と、該被測定物体からの反射
光パターンを該対物レンズを介してイメージセンサへ結
像させる第2の光学系と、該イメージセンサにより撮像
した画像信号から前記光パターンの明暗情報を得て該明
暗差により該被測定物体表面と顕微鏡合焦面の位置関係
を検出する焦点ずれ検出回路と、該焦点ずれ検出回路の
出力信号により制御される焦点合せサーボ機構を備えて
成る顕微鏡自動焦点装置において、前記イメージセンサ
は、前記第2の光学系 の前ピント及び後ピントの各々の位置に1組ずつ設置さ
れ、両検出系に対して前記試料上の同一場所からの反射
光パターンを入射させるよう検出エリアを設定する手段
と、 該検出系においてイメージセンサの視野内の画像信号を
走査することで該検出エリア内に順次出現する明暗ピー
ク位置を検出する手段と、該ピーク位置を検出する手段
により検出さ れたピーク値を、次のピーク値が検出されるまで保持す
る保持手段と、 該保持手段に保持された値の差を求める手 段と、 隣接する明暗のピーク値の差について該検 出エリア内の総和を求める手段と、 該総和を該前ピント及び後ピントの各々の 位置に設置されたイメージセンサについて求め、両総和
から焦点ずれ方向を判定する手段とにより構成したこと
を特徴とする顕微鏡自動焦点装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60226761A JPS6286721A (ja) | 1985-10-14 | 1985-10-14 | 顕微鏡自動焦点装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60226761A JPS6286721A (ja) | 1985-10-14 | 1985-10-14 | 顕微鏡自動焦点装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6286721A true JPS6286721A (ja) | 1987-04-21 |
Family
ID=16850199
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60226761A Pending JPS6286721A (ja) | 1985-10-14 | 1985-10-14 | 顕微鏡自動焦点装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6286721A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6325609A (ja) * | 1986-07-18 | 1988-02-03 | Fuji Photo Film Co Ltd | オ−トフオ−カス方法 |
-
1985
- 1985-10-14 JP JP60226761A patent/JPS6286721A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6325609A (ja) * | 1986-07-18 | 1988-02-03 | Fuji Photo Film Co Ltd | オ−トフオ−カス方法 |
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