JPS6286566U - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPS6286566U JPS6286566U JP17763385U JP17763385U JPS6286566U JP S6286566 U JPS6286566 U JP S6286566U JP 17763385 U JP17763385 U JP 17763385U JP 17763385 U JP17763385 U JP 17763385U JP S6286566 U JPS6286566 U JP S6286566U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- external terminal
- flop
- flip
- semiconductor device
- test mode
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
第１図は本考案の実施例を示す回路図、第２図
は第１図に示された実施例の動作を示すタイミン
グ図、第３図は従来例を示す回路図である。 ６，７……外部端子、８……カウンタ、９……
フリツプフロツプ、１０，１１……インバータ、
１２……ＮＯＲゲート、１３，１４……Ｄ―ＦＦ
、１５，１６，１７……ＮＡＮＤゲート。
は第１図に示された実施例の動作を示すタイミン
グ図、第３図は従来例を示す回路図である。 ６，７……外部端子、８……カウンタ、９……
フリツプフロツプ、１０，１１……インバータ、
１２……ＮＯＲゲート、１３，１４……Ｄ―ＦＦ
、１５，１６，１７……ＮＡＮＤゲート。
Claims (1)
- 外部からの信号に従つて、内部回路のテストを
実行することの可能なテストモードを備えた半導
体装置に於いて、通常使用状態で高電位側あるい
は低電位側に固定される第１の外部端子に入力が
接続されたカウンタと、該カウンタが所定値にな
つた出力でセツトされ、通常使用状態で電位が変
化する第２の外部端子の信号でリセツトされるフ
リツプフロツプとを設け、前記第２の外部端子を
所定電位に固定し、前記第１の外部端子に所定数
のクロツクパルスを印加することにより前記フリ
ツプフロツプがセツトされ、テストモードとなる
ことを特徴とする半導体装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1985177633U JPH0545988Y2 (ja) | 1985-11-19 | 1985-11-19 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1985177633U JPH0545988Y2 (ja) | 1985-11-19 | 1985-11-19 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6286566U true JPS6286566U (ja) | 1987-06-02 |
| JPH0545988Y2 JPH0545988Y2 (ja) | 1993-11-30 |
Family
ID=31119015
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1985177633U Expired - Lifetime JPH0545988Y2 (ja) | 1985-11-19 | 1985-11-19 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0545988Y2 (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60142282A (ja) * | 1983-12-28 | 1985-07-27 | Seiko Epson Corp | 半導体集積回路 |
-
1985
- 1985-11-19 JP JP1985177633U patent/JPH0545988Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60142282A (ja) * | 1983-12-28 | 1985-07-27 | Seiko Epson Corp | 半導体集積回路 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0545988Y2 (ja) | 1993-11-30 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPS6286566U (ja) | ||
| JPS6222869Y2 (ja) | ||
| JPH022683U (ja) | ||
| JPS6225750Y2 (ja) | ||
| JPS61108985U (ja) | ||
| JPS5821870U (ja) | パルス幅検査装置 | |
| JPS6138588U (ja) | 時計付電子機器 | |
| JPS6132971U (ja) | テスト容易化回路 | |
| JPS60139280U (ja) | パルス監視装置 | |
| JPS61197593U (ja) | ||
| JPS6148378U (ja) | ||
| JPS5884589U (ja) | 全電子式腕時計用の集積回路 | |
| JPS59103288U (ja) | 抵抗測定回路 | |
| JPS61133850U (ja) | ||
| JPS6146476U (ja) | 周波数カウンタ | |
| JPS6079177U (ja) | 蓄電池の残存容量計回路 | |
| JPS5886598U (ja) | タイマ−の時間設定装置 | |
| JPS6074079U (ja) | 太陽電池時計 | |
| JPS62201532U (ja) | ||
| JPS59103279U (ja) | 電圧レベル検出回路 | |
| JPS61171332U (ja) | ||
| JPS5927479U (ja) | 蓄電池残存容量計 | |
| JPS58118600U (ja) | パルス発生回路 | |
| JPS60185273U (ja) | パルス波周期の計時装置 | |
| JPS6049469U (ja) | 導通試験付サ−キットテスタ |