JPS6285437A - オ−トハンドラにおけるストツパピン - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［発明の技術分野］ 本発明は、ＤＩＰ型ＩＣ等の電子部品（以下ＩＣという
。）の電気的特性を測定するに用いられるオートハンド
ラにおけるストッパピンに関する。

［発明の技術的背景］ 一般に、ＩＣの製造時には、ＩＣをオートハンドラの検
査領域に対して１個ずつ供給し、そのＩＣの電気的特性
が測定され、ここで例えば良品か不良品かの判定がなさ
れる。

第４図は従来の検査領域近辺の正面断面図を示しており
、図において、１はＩＣ２の移動を案内する搬送路で、
ガイドレール１ａとカバーレール１ｂとにより構成され
、全体が所定角度の傾斜を有する。３はＩＣ２の分離機
構で、搬送路１に沿って所定間隔Ｔを有して配置された
第１の分離ピン４並びに第２の分離ピン５とから構成さ
れ、それぞれシリンダ６．７等の駆動装置により、搬送
路１中に突出、退出可能とされる。そして第１の分離ピ
ン４の突出により、搬送路１に装填された多数のＩＣ２
の内、最下端に位置するＩＣ２に当接し、搬送路１に装
填されたＩＣ２全体の落下を阻止する。−力筒２の分離
ピン５が突出すると、この分離ピン５は、第１の分離ピ
ン４が当接するＩＣ２の直上のＩＣ２を搬送路１、図で
はカイトレール１ａに押し付けその落下を阻止する。従
って第１並びに第２の分離ピン４．５が交互に突出する
ことにより分離機構３を構成し、ＩＣ２を１個ずつ搬送
路１の下方へと順次供給することになる。

さて分離された１個のＩＣ２は、搬送路１の下方に設け
られたストッパピン８にて再度その移動が阻止させられ
る。ストッパピン８は一般に金属等の導電性材料より形
成され、シリンダ９等の駆動装置により、搬送路１中に
適宜突出、退出される。ストッパピン８により移動の阻
止されたＩＣ２は測定部１０によりその電気的特性が測
定される。第５図は第４図のＶ−Ｖ断面図を示し、測定
部１０は、ＩＣ２の端子２ａと同数の接触ピン１１を有
し、各接触ピン１１を例えばシリンダ１２のピストンロ
ッド１２ａて矢示Ａ側に回動させることによりＩＣ２の
端子２ａに接触させる。ぞしてこの接触ピン１１を介し
てＩＣ２と測定器１３とを電気的に接続することで、Ｉ
Ｃ２の特性測定が行なわれる。測定が終了すると、接触
ピン１１は端子２ａより離れ、ストッパピン８が搬送路
゛１から退出することにより、測定ＦＩＣ２はさらに下
方へと給送される。

［背景技術の問題点］ ところで前記したようにストッパピン８は前記したよう
に一般に金属等の導電性材料より形成されていた。その
ためストッパピン８により移動の阻止されたＩＣ２を測
定部１ｏにて電気、的特性を測定する時、特に高周波測
定の時に、ノイズが発生し、測定結果に悪影響を与えて
いた。

［発明の目的］ 本発明は、上記した従来有していた欠点を除去するため
に成されたもので、ストッパピンによって移動を阻止さ
れた電子部品の電気的特性を測定するに際し、正確にそ
の測定を行なえることのできるオートハンドラにおける
ストッパピンを提供することを目的とする。

［発明の概要１ 上記目的を達成するために本発明は、測定部に設けられ
るストッパピンの少なくとも先端部を非導電性材料より
形成したことを特徴とする。

［発明の一実施例］ 以下本発明の一実施例について図面を参照しながら説明
する。第１図は本発明のストッパピンが使用される検査
領域近辺の一実施例を示し、先の第４図に対応しており
、同一部品には同一符号を付してその説明は省略する。

図において分離機構３を有する搬送路２０と、測定部１
０を有する搬送路２１は別体とされ、搬送路２１は特に
絶縁性を有するセラミック材から形成されている。２２
は搬送路２１に設けられたストッパピンで、例えばシリ
ンダ２３により搬送路２１内に突出、退出できるように
なっている。そしてストッパピン２２は、少なくとも搬
送路２１内に進入する先端部２２ａが絶縁性のセラミッ
ク材より形成されている。第２図はストッパピン２２の
拡大正面図で、シリンダ２３のピストンロッド２３ａの
先端に絶縁性のセラミック材より形成された接触片２４
を螺合固定し、ピストンロッド２３ａ並びに接触片２４
によりストッパピン２２を構成している。

さてこのストッパピン２２を用いてのＩＣ２の電気的特
性の測定は、従来とまったく同様でおる。

すなわち分離機構３によって順次給送される１個のＩＣ
２は、シリンダ２３の駆動により搬送路２１内に突出し
ているストッパピン２２でその移動が阻止される。そし
てこの移動が阻止されたＩＣ２は、先の第５図に示した
と同様、接触ピン１１を有する測定部１０でその電気的
特性が測定される。測定が終了するとシリンダ２３の駆
動によりストッパピン２２が搬送路２つ内から退出し、
測定器ＩＣ２は、さらに下方へと給送される。

このようにして上記実施例においては、ストツパピン２
２におけるＩＣ２と当接する部分、すなわちその先端部
２２ａが非導電性材料である絶縁性のセラミック材より
形成されている。このためストッパピン２２により移動
の阻止されたＩＣ２の電気的特性を測定部１０で測定す
る際、不必要なノイズの発生を防ぐことかでき、測定に
悪影響を与えることを除去することができる。また測定
部１０における搬送路２１を絶縁性を有するセラミック
材より形成したので、搬送路２１からのノイズも除去で
きる。ざらにストッパピン２２の先端部２２ａをセラミ
ック材より形成したので、従来の金属よりなるストッパ
ピンに比べ、ストッパピンに衝突したＩＣ２にキズ等の
損傷を与えることがなく、ＴＣの外観不良の発生を極力
おさえることも可能となる。

第３図は本発明によるストッパピンの第２の実施例を示
す一部正面断面図である。この例ではストッパピン３０
の先端部３０ａがゴム材より形成されている例を示す。

ストッパピン３０は、その先端部３０ａ　（ＩＣとの当
接側）が縮径部３１とされ、他端に雌ネジ３２が形成さ
れる。モして縮径部３１にはゴム材より形成された接触
片３３を嵌合により固定する。またこのストッパピン３
０の搬送路２１内への突出、ｊ月出の駆動源となる例え
ばシリンダ３４のビス１〜ンロツド３５の先端には雄ネ
ジ３５ａか設（ブられており、この雄ネジ３５ａにスト
ッパピン３０に形成された雌ネジ３２を螺合することに
よって、ストッパピン３０をピストンロッド３５に固定
する。

この第２の実施例においても先に説明した実施例と同様
の効果を有するに加え、経時変化によりゴム材より成る
接触片３３が劣化した場合には、ストッパピン３０の縮
径部３１からこの接触片３３を取りはずし、新しい接触
片３３を嵌合固定するだけでその交換作業は終了し、再
度同じストッパピン３０を使用できるので、きわめて経
済的である。

以上２つの実施例においては、ストッパピンの少なくと
も先端部２２ａ、３０ａを絶縁性のセラミック材或いは
ゴム材より形成した例について示したが、これに限られ
ず非導電性であって測定に不必要なノイズを発生するこ
とのない材料でおればかまわない。

［発明の効果］ 本発明によるオートハンドラにおけるストッパピンによ
れば、このストッパピンによって移動の阻止された電子
部品を測定部にて測定するに際し、測定に不必要なノイ
ズの発生を完全に除去することができ、きわめて正確な
測定を行なうことができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明であるストッパピンが使用される検査領
域近辺の一実施例を示す正面断面図、第２図はストッパ
ピンの第１の実施例を示す一部正面断面図、第３図はス
トッパピンの第２の実施例を示す一部正面断面図、第４
図は従来の検査領域近辺の正面断面図、第５図は第４図
のｖ−■断面図を各々示す。 １．２０．２１・・・搬送路、２・・・ＩＣｌ３・・・
分離機構、６．７．９．１２．２３．３４・・・シリン
ダ、８．２２．３０・・・ストッパピン、１０・・・測
定部、１３・・・測定器、２２ａ、３０ａ・・・先端部
、３１・・・縮径部、２４．３３・・・接触片、３５・
・・ピストンロッド。

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. （１）所定の傾斜角度を有する搬送路に案内されて移動
   する電子部品を、前記搬送路内に突出、退出するストッ
   パピンによりその移動を一時的に阻止し、この移動の阻
   止された電子部品の電気的特性を測定部にて測定するよ
   うにしたオートハンドラにおけるストッパピンにおいて
   、前記ストッパピンの少なくとも先端部が非導電性材料
   より形成されていることを特徴とするオートハンドラに
   おけるストッパピン。
2. （２）非導電性材料が絶縁性を有するセラミック材であ
   ることを特徴とする特許請求の範囲第１項記載のオート
   ハンドラにおけるストッパピン。
3. （３）非導電性材料がゴム材であることを特徴とする特
   許請求の範囲第１項記載のオートハンドラにおけるスト
   ッパピン。
4. （４）ゴム材がストッパピンの少なくとも先端部に嵌合
   固定されていることを特徴とする特許請求の範囲第３項
   記載のオートハンドラにおけるストッパピン。