JPS6281048U - - Google Patents

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JPS6281048U
JPS6281048U JP17279785U JP17279785U JPS6281048U JP S6281048 U JPS6281048 U JP S6281048U JP 17279785 U JP17279785 U JP 17279785U JP 17279785 U JP17279785 U JP 17279785U JP S6281048 U JPS6281048 U JP S6281048U
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auxiliary
chamber
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light source
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JP17279785U
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  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第1図ないし第2図は本考案に係る2ビーム式
干渉補償型赤外線分析装置の具体的実施例を示し
、第1図は第1実施例の全体概略回路構成図、第
2図は第2実施例の全体概略回路構成図である。
また、第3図は従来技術を説明するためのもので
あつて、従来構成の2ビーム式干渉補償型赤外線
分析装置の一例を示す全体概略回路構成図を示し
ている。 A……第1測定系、1A……第1光源、2A…
…第1セル、3A……第1主検出室、4A……第
1補助検出室、B……第2測定系、1B……第2
光源、2B……第2セル、3B……第2主検出室
、4B……第2補助検出室、3……主検出器、4
……補助検出器、8A……第1赤外線照射量調整
器、8B……第2赤外線照射量調整器、12……
共通検出器。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 赤外線照射用第1光源に対して流体導入用
    第1セル、測定用第1主検出室および干渉補償用
    第1補助検出室をその順に設けて成る第1測定系
    と、赤外線照射用第2光源に対して流体導入用第
    2セル、測定用第2主検出室および干渉補償用第
    2補助検出室をその順に設けて成る第2測定系と
    を備えると共に、前記第1セルおよび第2セルに
    対してサンプル流体とゼロ流体とを交互かつ互い
    違いに供給するように構成されている2ビーム式
    干渉補償型赤外線分析装置において、 前記第1主検出室の検出経路長さと前記第1補
    助検出室の検出経路長さとの比率と、前記第2主
    検出室の検出経路長さと前記第2補助検出室の検
    出経路長さとの比率が異なるように設定し、更に
    、前記第1光源および第2光源の少なくとも一方
    の赤外線照射量を変更調節可能に構成してあるこ
    とを特徴とする2ビーム式干渉補償型赤外線分析
    装置。 (2) 前記第1主検出室と前記第2主検出室とで
    ひとつの主検出器を構成すると共に、前記第1補
    助検出室と前記第2補助検出室とでひとつの補助
    検出器を構成してある実用新案登録請求の範囲第
    (1)項に記載の2ビーム式干渉補償型赤外線分析
    装置。 (3) 前記第1主検出室と前記第2補助検出室と
    をひとつの共通検出器の一方の室に接続すると共
    に、前記第2主検出室と前記第1補助検出室とを
    前記共通検出器の他方の室に接続してある実用新
    案登録請求の範囲第(1)項に記載の2ビーム式干
    渉補償型赤外線分析装置。
JP17279785U 1985-11-09 1985-11-09 Pending JPS6281048U (ja)

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JPS6281048U true JPS6281048U (ja) 1987-05-23

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