JPS60165847U - 赤外線分析計の校正機構 - Google Patents

赤外線分析計の校正機構

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JPS60165847U
JPS60165847U JP1984052920U JP5292084U JPS60165847U JP S60165847 U JPS60165847 U JP S60165847U JP 1984052920 U JP1984052920 U JP 1984052920U JP 5292084 U JP5292084 U JP 5292084U JP S60165847 U JPS60165847 U JP S60165847U
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JP
Japan
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wavelength
infrared analyzer
detector
specific band
calibration mechanism
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Pending
Application number
JP1984052920U
Other languages
English (en)
Inventor
宮武 公夫
Original Assignee
株式会社 堀場製作所
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
図面は本考案の実施例を示し、第1図は赤外吸収による
赤外線分析計の概略全体図、第2図は赤外発光による赤
外線分析計の概略全体図である。 5・・・測定波長検出器、6・・・比較波長検出器、1
4.14’・・・ソリッドフィルター。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 測定対象成分が吸収する特定帯域の波長あるいは測定対
    象成分が発光する特定帯域の波長を検出する測定波長検
    出器と、前記特定帯域とは異なる帯域の波長を検出する
    比較波長検出器とを備えたシングルセルタイプの赤外線
    分析計において、測定波裏と比較波長とで透過率の異な
    るソリッドフィルターを雨検出器に対する赤外光路に対
    して出退自在に設けて成る赤外線分析計の校正帰構。
JP1984052920U 1984-04-10 1984-04-10 赤外線分析計の校正機構 Pending JPS60165847U (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006029836A (ja) * 2004-07-13 2006-02-02 Horiba Ltd ガス分析計の校正方法およびガス分析計
WO2022024407A1 (ja) * 2020-07-28 2022-02-03 株式会社トラステック愛知 ガス濃度検知装置

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WO2022024407A1 (ja) * 2020-07-28 2022-02-03 株式会社トラステック愛知 ガス濃度検知装置
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