JPS586258U - 分光分析計 - Google Patents
分光分析計Info
- Publication number
- JPS586258U JPS586258U JP9949281U JP9949281U JPS586258U JP S586258 U JPS586258 U JP S586258U JP 9949281 U JP9949281 U JP 9949281U JP 9949281 U JP9949281 U JP 9949281U JP S586258 U JPS586258 U JP S586258U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wavelength
- light source
- photodetector
- absorbed
- detected
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
第1図は分光分析計の従来例の構成を示す概略図、第2
図は本考案−実施例の分光分析計の構成 −を示す概略
図、第3図は第2図の実施例における波長掃引のパター
ンを示す波形図である。 1・・・反射鏡、2・・・窓、6・・・光検出器、9・
・・煙道、10・・・波長掃引可能光源、11・・・制
御回路、12・・・増幅器。 ′
図は本考案−実施例の分光分析計の構成 −を示す概略
図、第3図は第2図の実施例における波長掃引のパター
ンを示す波形図である。 1・・・反射鏡、2・・・窓、6・・・光検出器、9・
・・煙道、10・・・波長掃引可能光源、11・・・制
御回路、12・・・増幅器。 ′
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 (1)波長掃引可能光源から光検出器に至る光路上に被
測定気体を配置し、前記の光源を制御回路により制御し
て検出対象成分ガスの吸収波長を含む所定の波長範囲を
所定周期で波長掃引させて、前記制御回路に、より吸収
波長になったときの光検出器の受光量および吸収を受け
ない波長のときの光検出器の受光量をとり出し、これら
両受光量の比から検出対象成分ガスの濃度を検知するこ
とを特徴とする分光分析計。 、(2)波長掃引可能光源として波長掃引レーザーを用
いたことを特徴とする実用新案登録請求の範囲第1項記
載の分光分析計。 (3)吸収波長が複数設定可能であることを特徴とする
実用新案登録請求の範囲第1項記載の分光分析計。 (4)波長掃引可能光源と光検出器との組合せを複数用
い、それぞれの光源における吸収波長到達時点をずらす
ように制御し、各光源ごとの吸収波長到達時点で都度、
各光検出器の受光量をとり出し、吸収のある波長と吸収
を受けない波長とにおける透過光量を同時に測定するこ
とにより複数の検出対象成分ガスの濃度を実時間測定で
検知することを特徴とする実用新案登録請求の範囲第1
項記載の分光分析計。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9949281U JPS586258U (ja) | 1981-07-06 | 1981-07-06 | 分光分析計 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9949281U JPS586258U (ja) | 1981-07-06 | 1981-07-06 | 分光分析計 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS586258U true JPS586258U (ja) | 1983-01-14 |
JPH0239242Y2 JPH0239242Y2 (ja) | 1990-10-22 |
Family
ID=29894229
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9949281U Granted JPS586258U (ja) | 1981-07-06 | 1981-07-06 | 分光分析計 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS586258U (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001074653A (ja) * | 1999-08-31 | 2001-03-23 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | ガス濃度計測装置及び燃焼炉 |
JP2008175611A (ja) * | 2007-01-17 | 2008-07-31 | Fuji Electric Systems Co Ltd | ガス濃度測定装置およびガス濃度測定方法 |
WO2017164033A1 (ja) * | 2016-03-22 | 2017-09-28 | コニカミノルタ株式会社 | ガス測定装置 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5590843A (en) * | 1977-12-29 | 1980-07-09 | Fujitsu Ltd | Method of measuring contaminated gas |
-
1981
- 1981-07-06 JP JP9949281U patent/JPS586258U/ja active Granted
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5590843A (en) * | 1977-12-29 | 1980-07-09 | Fujitsu Ltd | Method of measuring contaminated gas |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001074653A (ja) * | 1999-08-31 | 2001-03-23 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | ガス濃度計測装置及び燃焼炉 |
JP2008175611A (ja) * | 2007-01-17 | 2008-07-31 | Fuji Electric Systems Co Ltd | ガス濃度測定装置およびガス濃度測定方法 |
WO2017164033A1 (ja) * | 2016-03-22 | 2017-09-28 | コニカミノルタ株式会社 | ガス測定装置 |
JPWO2017164033A1 (ja) * | 2016-03-22 | 2019-01-31 | コニカミノルタ株式会社 | ガス測定装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0239242Y2 (ja) | 1990-10-22 |
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