JPH0239242Y2 - - Google Patents

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JPH0239242Y2
JPH0239242Y2 JP1981099492U JP9949281U JPH0239242Y2 JP H0239242 Y2 JPH0239242 Y2 JP H0239242Y2 JP 1981099492 U JP1981099492 U JP 1981099492U JP 9949281 U JP9949281 U JP 9949281U JP H0239242 Y2 JPH0239242 Y2 JP H0239242Y2
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light
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absorption
photodetector
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JP1981099492U
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Description

【考案の詳細な説明】 本考案は、紫外・赤外吸収を利用して分析を行
なう分光分析計に関するものである。
この種分光分析計の従来例として煙道内のガス
分析器を第1図に示す。第1図において、1は反
射鏡、2は煙道9に設けられた窓、3は光源、4
はチヨツパー、5は回折格子、6は光電子増倍管
などの光検出器、7は相関マスク、8はセクター
をそれぞれ示す。
光源3から出た白色光は窓2を介して煙道9を
通り、煙道内ガスの吸収を受けた後、回折格子5
に入射し、分光され、特定の波長が選ばれて光検
出器6に至る。光検出器6に受光された透過光量
を測定してガス濃度を検知するものである。
上記のような従来例の欠点は、 〔1〕 波長選択のための回折格子5などを使用
しているため光学系が大がかりとなり、分析計
自体が設置しずらいものとなつている。
〔2〕 波長選択は回折格子により、空間的な位
置変化となるため、光学軸のずれが直接分析精
度に影響してくる。
本考案は、上記のような欠点の無い分光分析計
を提供することを目的とするもので、このため本
考案では、回折格子を使用せずに、検出対象成分
の吸収波長を含む所定の波長範囲を波長掃引でき
る波長掃引可能光源を用いることにより、小形で
光軸ずれの少ない分光分析計を実現した。
以下、本考案の実施例を図面を参照して説明す
る。第2図に本考案一実施例の分光分析計の構成
を示す。この実施例は煙道内ガス分析に実施した
例で、1は反射鏡、2は煙道9に設けられた窓、
6は光電子増倍管などの光検出器、10は時間的
に発光波長を掃引することのできるレーザ、11
は波長掃引レーザ10の波長掃引を制御する制御
回路、12は増幅器である。なお、図示しない被
測定気体の吸収波長時の光検出器の受光量および
非吸収波長時の光検出器の受光量を検出する手
段、並びに両受光量の比から検出対象成分ガスの
濃度を検知する手段が設けられる。
波長掃引レーザー10は、制御回路11により
制御されて、例えば第3図に示すようなパターン
で発光波長の掃引を行なう。すなわち、発光波長
はλ0からλ1まで周期τで鋸歯波状に掃引される。
そして、今注目している検出対象成分ガスの吸収
波長はλ2で、λ0とλ1の間にある。第3図のように
波長掃引される波長掃引レーザー10からの光は
反射鏡1、窓2により煙道9内に導かれ、煙道内
を通過して窓2、反射鏡1により光検出器6に受
光される。そして、波長がλ2になつたとき検出対
象成分ガスの吸収を受ける。この時制御回路11
によりその時点での受光量を増幅器12を通して
出力する。次に、波長が検出対象成分ガスの吸収
を受けない波長になつたときにも同様にして受光
量を測定し、吸収のあるときとないときとの受光
量の比をとることにより検出対象成分ガスの濃度
を検知することができる。
上述のように、本考案による分光分析器では次
のような効果が得られる。
〔1〕 回折格子を使用せずに、波長掃引レーザ
ーを使用して分析計を構成したため、構造が単
純になり小形化が可能となつた。
〔2〕 波長のセツテイングのずれなどは、時間
的な掃引であるため、掃引中のサンプリングす
る時間を調整するだけで対処でき、これは制御
回路の調整だけで済み、光学系は全くいじらな
くてもよい。
〔3〕 回折格子による波長選択の場合の光学軸
のずれによる分析精度の低下の問題が解消され
る。
なお、本考案は上記の実施例に限らず、例え
ば、複数の検出対象成分ガスを検知するために、
それらの吸収波長を制御回路に記憶しておき、そ
の時間が来たときに受光量をサンプリングするよ
うにして複数の検出対象成分ガスの濃度を検知す
る分光分析計を実現することもできる。また、波
長掃引可能光源と光検出器との組合せを複数用
い、それぞれの光源における所望の吸収波長到達
時点をずらすように制御回路で制御し、各光源ご
との吸収波長到達時点で都度、吸収波長に到達し
た光源と組をなしている光検出器の受光量および
他の組の光検出器の受光量をとり出すようにし
て、吸収のある波長と吸収のない波長とにおける
透過光量を同時に測定することにより、複数の検
出対象成分ガスの濃度を実時間測定で検知する分
光分析計を実現することもできる。
また、本考案による分光分析計は煙道内ガスに
限らず、他の被測定気体に対しても実施可能であ
ることは言うまでもない。
【図面の簡単な説明】
第1図は分光分析計の従来例の構成を示す概略
図、第2図は本考案一実施例の分光分析計の構成
を示す概略図、第3図は第2図の実施例における
波長掃引のパターンを示す波形図である。 1…反射鏡、2…窓、6…光検出器、9…煙
道、10波長掃引可能光源、11…制御回路、1
2…増幅器。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 波長掃引可能光源と、被測定気体を通過した
    この光源からの光を受光するように光路上に配
    置された光検出器と、検出対象成分ガスの吸収
    波長を含む所定の波長範囲を所定周期で前記光
    源の光を波長掃引させる制御回路と、吸収波長
    時の光検出器の受光量および非吸収波長時の光
    検出器の受光量を検出する手段と、この検出す
    る手段からの両受光量の比から検出対象成分ガ
    スの濃度を検知する手段とを備えることを特徴
    とする分光分析計。 (2) 波長掃引可能光源として波長掃引レーザーを
    用いたことを特徴とする実用新案登録請求の範
    囲第1項記載の分光分析計。 (3) 吸収波長が複数設定可能であることを特徴と
    する実用新案登録請求の範囲第1項記載の分光
    分析計。 (4) 複数の波長掃引可能光源と、これらの光源に
    それぞれ対応して被測定気体を通過した光を受
    光するように光路上に配置された複数の光検出
    器と、それぞれの光源における吸収波長到達時
    点をずらすようにそれぞれの光源の光を波長掃
    引制御する制御回路と、各光源ごとの吸収波長
    到達時点で都度、各光検出器の受光量をとり出
    し、吸収のある波長と吸収を受けない波長とに
    おける透過光量を同時に測定することにより複
    数の検出対象成分ガスの濃度を実時間測定で検
    知する手段とを有することを特徴とする実用新
    案登録請求の範囲第1項記載の分光分析計。
JP9949281U 1981-07-06 1981-07-06 分光分析計 Granted JPS586258U (ja)

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JP9949281U JPS586258U (ja) 1981-07-06 1981-07-06 分光分析計

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JP9949281U JPS586258U (ja) 1981-07-06 1981-07-06 分光分析計

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Publication Number Publication Date
JPS586258U JPS586258U (ja) 1983-01-14
JPH0239242Y2 true JPH0239242Y2 (ja) 1990-10-22

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3342446B2 (ja) * 1999-08-31 2002-11-11 三菱重工業株式会社 ガス濃度計測装置
JP2008175611A (ja) * 2007-01-17 2008-07-31 Fuji Electric Systems Co Ltd ガス濃度測定装置およびガス濃度測定方法
JP6756999B2 (ja) * 2016-03-22 2020-09-16 コニカミノルタ株式会社 ガス測定装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS5590843A (en) * 1977-12-29 1980-07-09 Fujitsu Ltd Method of measuring contaminated gas

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JPS586258U (ja) 1983-01-14

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