JPH033177B2 - - Google Patents
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- JPH033177B2 JPH033177B2 JP55022355A JP2235580A JPH033177B2 JP H033177 B2 JPH033177 B2 JP H033177B2 JP 55022355 A JP55022355 A JP 55022355A JP 2235580 A JP2235580 A JP 2235580A JP H033177 B2 JPH033177 B2 JP H033177B2
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- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 91
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 claims description 22
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 19
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 claims description 17
- 239000013074 reference sample Substances 0.000 claims description 5
- 230000010354 integration Effects 0.000 claims description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 3
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 3
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000001914 filtration Methods 0.000 claims 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 13
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 2
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 2
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 2
- 238000004441 surface measurement Methods 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 239000012491 analyte Substances 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000009429 electrical wiring Methods 0.000 description 1
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 description 1
- 230000003534 oscillatory effect Effects 0.000 description 1
- 238000005375 photometry Methods 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 238000001028 reflection method Methods 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/10—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void
- G01J1/16—Photometry, e.g. photographic exposure meter by comparison with reference light or electric value provisionally void using electric radiation detectors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/27—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
- G01N21/274—Calibration, base line adjustment, drift correction
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-
- G—PHYSICS
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
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- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、試料の成分を分析する赤外線分析装
置、ことに感度が高く正確で安価な新規の分析装
置に関する。
置、ことに感度が高く正確で安価な新規の分析装
置に関する。
赤外線分析装置は一般にスペクトルの近赤外線
領域の光を以て食品試料又は有機質試料を照射処
理する。この種の分析装置の基本原理は、反射光
のスペクトル変化を測光測定することにある。こ
のスペクトル変化は、試料内の有機質成分による
光の分光選択吸収に基づく。近赤外線範囲におけ
る互に異る複数の波長で行う光測定により、光の
種種の波長における各試料成分の選択性によつて
これ等の各成分の相対的濃度を定める情報が得ら
れる。このような装置はアンスン（Anson）等を
発明者とする1973年12月４日付米国特許第
3776642号明細書に記載してある。
領域の光を以て食品試料又は有機質試料を照射処
理する。この種の分析装置の基本原理は、反射光
のスペクトル変化を測光測定することにある。こ
のスペクトル変化は、試料内の有機質成分による
光の分光選択吸収に基づく。近赤外線範囲におけ
る互に異る複数の波長で行う光測定により、光の
種種の波長における各試料成分の選択性によつて
これ等の各成分の相対的濃度を定める情報が得ら
れる。このような装置はアンスン（Anson）等を
発明者とする1973年12月４日付米国特許第
3776642号明細書に記載してある。
試料は通常、適正な測定準位を生じ装置に特有
の干渉を除くように基準面と同時に測定する。試
料及び基準面の測定は復式ビーム装置すなわち一
方のビームは試料に差向け他方のビームは基準面
に差向けるようにしたビーム装置により同時に測
定することが多い。試料及び基準面を同時に測定
する必要があるのは、測定装置のドリフトに基づ
く誤差を避け又は最少にするためである。
の干渉を除くように基準面と同時に測定する。試
料及び基準面の測定は復式ビーム装置すなわち一
方のビームは試料に差向け他方のビームは基準面
に差向けるようにしたビーム装置により同時に測
定することが多い。試料及び基準面を同時に測定
する必要があるのは、測定装置のドリフトに基づ
く誤差を避け又は最少にするためである。
試料測定及び基準面測定の間のドリフトは、こ
の種の分析装置が極めて高い精度を必要とするの
で許容とすることができない。従つてドリフト条
件を防ぐように深い注意を払わなければならな
い。
の種の分析装置が極めて高い精度を必要とするの
で許容とすることができない。従つてドリフト条
件を防ぐように深い注意を払わなければならな
い。
若干の装置では試料及び基準面を測定するのに
単一のビームを使う。試料及び基準面の各測定間
のドリフトはこれ等の装置では、試料及び基準面
間の光ビームを極めて迅速に切換えることにより
なくなる。しかしこのような装置では、この迅速
な光ビーム切換えを行うのに極めて複雑かつ高価
な光学装置を必要とする。
単一のビームを使う。試料及び基準面の各測定間
のドリフトはこれ等の装置では、試料及び基準面
間の光ビームを極めて迅速に切換えることにより
なくなる。しかしこのような装置では、この迅速
な光ビーム切換えを行うのに極めて複雑かつ高価
な光学装置を必要とする。
本発明は、感度が高く複雑でなく従来の分析装
置より安価な単一ビーム装置に係わる。
置より安価な単一ビーム装置に係わる。
本発明では、試料及び基準面を比較的遅い速度
であるが等しい時間間隔でで交互に照射し費用の
かかる複雑な光学装置をなくした単一ビーム装置
を利用する。明らかにこのような装置は試料及び
基準面の測定を同時に行うことはできない。従つ
て本発明の目的は、有効に一致する試料値及び基
準値が得られるようにこれ等の非同時測定を処理
とようとするにある。このことは、基準信号につ
いて試料信号を又はその逆に同期して平均するこ
とによつてできる。
であるが等しい時間間隔でで交互に照射し費用の
かかる複雑な光学装置をなくした単一ビーム装置
を利用する。明らかにこのような装置は試料及び
基準面の測定を同時に行うことはできない。従つ
て本発明の目的は、有効に一致する試料値及び基
準値が得られるようにこれ等の非同時測定を処理
とようとするにある。このことは、基準信号につ
いて試料信号を又はその逆に同期して平均するこ
とによつてできる。
信号の処理によりドリフトの影響を最少にし又
はなくし信号対雑音比（SN比）を改善する。
はなくし信号対雑音比（SN比）を改善する。
信号内の誤差は電子装置により最少にできるか
ら、本発明装置ではさらに利点がある。すなわち
ドリフトを防ぐのに公差の高い又は温度制御装置
を持つ光検出器の必要がもはやなくなる。このよ
うにして装置の複雑さ及び費用が低減する。
ら、本発明装置ではさらに利点がある。すなわち
ドリフトを防ぐのに公差の高い又は温度制御装置
を持つ光検出器の必要がもはやなくなる。このよ
うにして装置の複雑さ及び費用が低減する。
本発明は、反射法により試料成分を分析する分
析装置に係わる。本分析装置は、試料の支持体
と、試料に対し比較する基準面とを備えている。
光は傾斜自在な鏡により試料及び基準面に交互に
周期的に差向ける。試料及び基準面から反射した
光は１連の次次の試料信号及び基準面信号を生ず
るのに利用する。これ等の１連の信号は少くとも
３つの信号すなわち試料−基準−試料信号又は基
準−試料−基準信号の３つから成つている。この
信号の組内の少くとも１種類の信号は同期的に平
均して一致した出力を生ずる。一方又は両方の種
類の信号の同期平均により、有効に同時に得られ
る試料測定値及び基準面測定値を生ずる。すなわ
ち信号のドリフトに関連した差が信号の電子式同
期平均により最少になり又はなくなる。
析装置に係わる。本分析装置は、試料の支持体
と、試料に対し比較する基準面とを備えている。
光は傾斜自在な鏡により試料及び基準面に交互に
周期的に差向ける。試料及び基準面から反射した
光は１連の次次の試料信号及び基準面信号を生ず
るのに利用する。これ等の１連の信号は少くとも
３つの信号すなわち試料−基準−試料信号又は基
準−試料−基準信号の３つから成つている。この
信号の組内の少くとも１種類の信号は同期的に平
均して一致した出力を生ずる。一方又は両方の種
類の信号の同期平均により、有効に同時に得られ
る試料測定値及び基準面測定値を生ずる。すなわ
ち信号のドリフトに関連した差が信号の電子式同
期平均により最少になり又はなくなる。
従つて本発明は、試料及び基準面から反射した
光に応答して１連の次次の信号を生ずる信号発生
器と、前記の１連の信号のうちの少くとも１種類
すなわち試料又は基準面域はこれ等の両方の信号
を同期的に平均する平均装置とを提供するもので
ある。同期的に平均した出力はこの１組の信号の
他方の種類の信号に関連し分析する試料の成分の
特性を示すようにする。
光に応答して１連の次次の信号を生ずる信号発生
器と、前記の１連の信号のうちの少くとも１種類
すなわち試料又は基準面域はこれ等の両方の信号
を同期的に平均する平均装置とを提供するもので
ある。同期的に平均した出力はこの１組の信号の
他方の種類の信号に関連し分析する試料の成分の
特性を示すようにする。
本発明の目的は、試料の成分の特性を示すのに
利用する新規な赤外線分析装置を提供しようとす
るにある。
利用する新規な赤外線分析装置を提供しようとす
るにある。
本発明の他の目的は、感度が高く正確で安価な
赤外線分析装置を提供しようとするにある。
赤外線分析装置を提供しようとするにある。
なお本発明の他の目的は、出力信号にドリフト
を実質的に伴わなくて向上したSN比を持ち試料
の成分の特性を示す赤外線分析装置を提供しよう
とするにある。
を実質的に伴わなくて向上したSN比を持ち試料
の成分の特性を示す赤外線分析装置を提供しよう
とするにある。
以下本発明分析装置の実施例を添付図面につい
て詳細に説明する。
て詳細に説明する。
添付図面を通じて同様な部品に同様な参照数字
を使つてある。
を使つてある。
第１図には本発明による赤外線分析装置１０を
示してある。分析装置１０では分析しようとする
試料１１は、滑動自在な台１３に支えた杯状体１
２内に支えてある。台１３は、切欠いて示した光
積分室（light integrating chamber）１６の下
方で試料杯状体１２を滑動させる〔矢印１５の向
きに〕取手１４を備えている。
示してある。分析装置１０では分析しようとする
試料１１は、滑動自在な台１３に支えた杯状体１
２内に支えてある。台１３は、切欠いて示した光
積分室（light integrating chamber）１６の下
方で試料杯状体１２を滑動させる〔矢印１５の向
きに〕取手１４を備えている。
光積分室（以下単に室と呼ぶ）１６の目的は、
試料１１の成分の特性を示すように試料１１から
の反射光２９（第２図）を積分することである。
この測定のための光は赤外線発生電球２０から得
られる。電球２０からの光は、レンズ２１により
集束し次でチヨツピング・ホイール（chopping
wheel）〔以下断続輪と呼ぶ〕８，２２を通過さ
せる。断続輪２２の目的は、試料１１及び室１６
にパルス状の又は同期的のビームを送ることであ
る。次でこのパルス状ビームはフイルタ輪２を横
切る。フイルタ輪２３は、次次の単色波長を持つ
ビームを生ずるように制御して割出しする。種種
の波長を試料１１にフイルタ輪２３を介して差向
ける。その理由は、試料の互に異る成分が互に異
る波長の光を選択的に吸収するからである。試料
１１中に含まれる特定の種類の成分の特性を示す
のは、種種の波長で試料１１から出る光の選択的
吸収又は反射率の低下である。種種の波長の反射
光の強さも又各分析成分の量を示す。フイルタ輪
２３から出る光は、コリメータ２４を通過させ鏡
２５に差向ける。鏡２５は第２図に示すように位
置１及び位置２の間で可能なように取付けてある
〔矢印２６〕。
試料１１の成分の特性を示すように試料１１から
の反射光２９（第２図）を積分することである。
この測定のための光は赤外線発生電球２０から得
られる。電球２０からの光は、レンズ２１により
集束し次でチヨツピング・ホイール（chopping
wheel）〔以下断続輪と呼ぶ〕８，２２を通過さ
せる。断続輪２２の目的は、試料１１及び室１６
にパルス状の又は同期的のビームを送ることであ
る。次でこのパルス状ビームはフイルタ輪２を横
切る。フイルタ輪２３は、次次の単色波長を持つ
ビームを生ずるように制御して割出しする。種種
の波長を試料１１にフイルタ輪２３を介して差向
ける。その理由は、試料の互に異る成分が互に異
る波長の光を選択的に吸収するからである。試料
１１中に含まれる特定の種類の成分の特性を示す
のは、種種の波長で試料１１から出る光の選択的
吸収又は反射率の低下である。種種の波長の反射
光の強さも又各分析成分の量を示す。フイルタ輪
２３から出る光は、コリメータ２４を通過させ鏡
２５に差向ける。鏡２５は第２図に示すように位
置１及び位置２の間で可能なように取付けてある
〔矢印２６〕。
位置１ではコリメータ２４からの光ビームは鏡
２５により光径路１８に沿い室１６の内面１７に
向い差向ける。室１６の内面１７は、捕促した光
を拡散させ或は積分するように被覆してある。拡
散すなわち基準面１７は又、試料を比較する内部
基準として作用する。鏡２５からの光を光径路１
９により示すように試料１１に向い差向けるとき
は、試料１１からの反射光２９は室１６に入り基
準面１７により積分される。鏡２５からの光を光
径路１８を介し基準面１７に向い差向けるとき
は、基準の反射光２８を積分する。基準光エネル
ギーは試料の測定した光エネルギーに対する基準
準位を確立する。
２５により光径路１８に沿い室１６の内面１７に
向い差向ける。室１６の内面１７は、捕促した光
を拡散させ或は積分するように被覆してある。拡
散すなわち基準面１７は又、試料を比較する内部
基準として作用する。鏡２５からの光を光径路１
９により示すように試料１１に向い差向けるとき
は、試料１１からの反射光２９は室１６に入り基
準面１７により積分される。鏡２５からの光を光
径路１８を介し基準面１７に向い差向けるとき
は、基準の反射光２８を積分する。基準光エネル
ギーは試料の測定した光エネルギーに対する基準
準位を確立する。
試料及び基準から交互に反射する光に応答し
て、一組の次次の試料信号及び基準信号を発生す
る信号発生手段を設ける。たとえば２つの電気的
に結合した検出器３０（第１図には１個だけ示し
てある）は室１６内に対称に位置させ、光エネル
ギーを検知しこのエネルギーを試料信号及び基準
信号に変換する。これ等の信号は次で回路３１に
より処理する。回路３１は第４図及び第４ａ図に
ついて後述する。
て、一組の次次の試料信号及び基準信号を発生す
る信号発生手段を設ける。たとえば２つの電気的
に結合した検出器３０（第１図には１個だけ示し
てある）は室１６内に対称に位置させ、光エネル
ギーを検知しこのエネルギーを試料信号及び基準
信号に変換する。これ等の信号は次で回路３１に
より処理する。回路３１は第４図及び第４ａ図に
ついて後述する。
鏡２５は、鏡２５からそれぞれ光径路１８，１
９に沿う基準面及び試料までの光径路距離ｄが互
に等しくなるように取付けてある。互に等しい距
離ｄは光測定からの放射誤差をなくす。この条件
が得られるようにするには鏡２５は位置１及び位
置２の間で実際上並進すると共に回動しなければ
ならない。鏡２５を動かすには電動のカム制御装
置（図示してない）を使う。この光差向け装置は
簡単なので選択したものであるが本発明の目的に
合うようにビーム分割器のような他の装置を使つ
てもよい。
９に沿う基準面及び試料までの光径路距離ｄが互
に等しくなるように取付けてある。互に等しい距
離ｄは光測定からの放射誤差をなくす。この条件
が得られるようにするには鏡２５は位置１及び位
置２の間で実際上並進すると共に回動しなければ
ならない。鏡２５を動かすには電動のカム制御装
置（図示してない）を使う。この光差向け装置は
簡単なので選択したものであるが本発明の目的に
合うようにビーム分割器のような他の装置を使つ
てもよい。
光差向け鏡２５の交番速度は光学的構造が簡単
になるように故意に遅く選んである。しかしその
構造によつて内部基準面の利用は試料及び基準面
の間の一層早い切換えができるように選んだ。し
かし隣接する試料信号及び基準信号の間にドリフ
トが生ずる。
になるように故意に遅く選んである。しかしその
構造によつて内部基準面の利用は試料及び基準面
の間の一層早い切換えができるように選んだ。し
かし隣接する試料信号及び基準信号の間にドリフ
トが生ずる。
理論的にはドリフトを避けるのに試料及び基準
面からの反射光を同時に測定することが望まし
い。しかしこれは通常複式ビーム装置又はその他
の一層複雑な装置によつてできるだけである。
面からの反射光を同時に測定することが望まし
い。しかしこれは通常複式ビーム装置又はその他
の一層複雑な装置によつてできるだけである。
従つて本発明では、検出器３０から一般に奇数
の次次の試料信号及び基準信号が得られるように
試料及び基準面間で光ビームを複数回切換えるよ
うにする。一般に少くとも３個の信号を試料−基
準−試料の３つ組すなわち幅対或は基準−試料−
基準の３つ組で得る。そしてブラケツトする２つ
の信号は、電子装置により平均されるとブラケツ
トされた信号に一致する値を持つ。
の次次の試料信号及び基準信号が得られるように
試料及び基準面間で光ビームを複数回切換えるよ
うにする。一般に少くとも３個の信号を試料−基
準−試料の３つ組すなわち幅対或は基準−試料−
基準の３つ組で得る。そしてブラケツトする２つ
の信号は、電子装置により平均されるとブラケツ
トされた信号に一致する値を持つ。
次に本発明を説明する１つの方法として第３ａ
図及び第３ｂ図について述べる。次次の信号の間
のドリフトが直線的であるとすると、（光学濃度
値として表わした）試料−基準−試料信号は第３
ａ図のように直線的に移動して描かれる。第１の
試料信号S1は時間t1で取つてある。与えられた時
間間隔Δt後に基準信号Ｒは時間t2で得られる。さ
らに等しい又は一定の時間間隔Δt後に、第２の
試料信号S2を時間t3で取る。
図及び第３ｂ図について述べる。次次の信号の間
のドリフトが直線的であるとすると、（光学濃度
値として表わした）試料−基準−試料信号は第３
ａ図のように直線的に移動して描かれる。第１の
試料信号S1は時間t1で取つてある。与えられた時
間間隔Δt後に基準信号Ｒは時間t2で得られる。さ
らに等しい又は一定の時間間隔Δt後に、第２の
試料信号S2を時間t3で取る。
２つの信号S1，S2を同期的に平均すれば同期的
に平均した２つの試料信号の平均値SAは、別に
基準信号Ｒと同時に取つたとした場合の試料信号
値である。すなわちブラケツトする２つの信号の
同期平均によりブラケツトされた信号と同時に取
つた場合と同じ信号が生ずる。従つて３個以上の
信号（たとえば５個の信号S1，R1，S2，R2，S3）
を操作する組の一部として考えた場合は、同時測
定の場合と同じ値を得るためには試料信号S1，
S2，S3と基準信号R1，R2とはそれぞれ同期的に
平均する必要があるのはもちろんである。
に平均した２つの試料信号の平均値SAは、別に
基準信号Ｒと同時に取つたとした場合の試料信号
値である。すなわちブラケツトする２つの信号の
同期平均によりブラケツトされた信号と同時に取
つた場合と同じ信号が生ずる。従つて３個以上の
信号（たとえば５個の信号S1，R1，S2，R2，S3）
を操作する組の一部として考えた場合は、同時測
定の場合と同じ値を得るためには試料信号S1，
S2，S3と基準信号R1，R2とはそれぞれ同期的に
平均する必要があるのはもちろんである。
又基準信号がＲ−Ｓ−Ｒ信号の三つ組であれば
基準信号はブラケツトされる試料信号Ｓについて
同期的に平均される。
基準信号はブラケツトされる試料信号Ｓについて
同期的に平均される。
第３ｂ図は信号S1，R1，S2間の非直線形ドリ
フト（曲線ａ）を直線形ドリフト（曲線ｂ）と比
較して示す。ここでも又同期平均信号S1，S2によ
り生ずる補正により基準信号Ｒとほぼ同時の値
SAを生ずる。
フト（曲線ａ）を直線形ドリフト（曲線ｂ）と比
較して示す。ここでも又同期平均信号S1，S2によ
り生ずる補正により基準信号Ｒとほぼ同時の値
SAを生ずる。
ほぼ全部の場合に三つ組内のブラケツトする信
号の同期平均により処理信号に、ドリフトを有効
になくし又は最少にするような改良ができる。さ
らに処理信号は向上したSN比を持つ。
号の同期平均により処理信号に、ドリフトを有効
になくし又は最少にするような改良ができる。さ
らに処理信号は向上したSN比を持つ。
第４図及び第４ａ図では信号の電気的処理をブ
ロツク回路図３１により示してある。検出器３０
から来る信号は増幅器３５に送られる。増幅器３
５の信号出力は第４ａ図のパルス列Ａにより示し
てある。図示の試料−基準−試料信号は試料及び
基準面の各測定値の12（33ｍsec）の基本抽出から
成つている。次でこの出力はそれぞれ導線３６，
３７に沿つて送る。導線３７に沿つて送る信号は
信号の処理を鏡制御と同期させるようにクロツク
３８に導入する。
ロツク回路図３１により示してある。検出器３０
から来る信号は増幅器３５に送られる。増幅器３
５の信号出力は第４ａ図のパルス列Ａにより示し
てある。図示の試料−基準−試料信号は試料及び
基準面の各測定値の12（33ｍsec）の基本抽出から
成つている。次でこの出力はそれぞれ導線３６，
３７に沿つて送る。導線３７に沿つて送る信号は
信号の処理を鏡制御と同期させるようにクロツク
３８に導入する。
出力刻時信号は第４ａ図にパルス列Ｂとして示
してある。パルス列Ｂはさらに割算回路４０，４
１により調整して第４ａ図のパルス列Ｅにより示
すように試料又は基準の各サイクルごとにその初
めに１個のパルスを生ずる。これ等の周期的パル
スは鏡２５が位置１及び位置２（第２図）の間で
適正な時間に確実に交番運動するように帰還制御
作用をする。パルス列Ｅは又アナログ−デイジタ
ル変換器４４の計数器４３の論理積ゲート４２に
送る。この場合の導線３６の電気信号を同期させ
る作用をする。
してある。パルス列Ｂはさらに割算回路４０，４
１により調整して第４ａ図のパルス列Ｅにより示
すように試料又は基準の各サイクルごとにその初
めに１個のパルスを生ずる。これ等の周期的パル
スは鏡２５が位置１及び位置２（第２図）の間で
適正な時間に確実に交番運動するように帰還制御
作用をする。パルス列Ｅは又アナログ−デイジタ
ル変換器４４の計数器４３の論理積ゲート４２に
送る。この場合の導線３６の電気信号を同期させ
る作用をする。
増幅器３５からの信号Ａは同期復調器４５に送
られ第４ａ図にＣとして示した信号を生ずる。こ
の変調信号はリプルフイルタ４６に次で電圧制御
発振器４７に送る。電圧制御発振器４７はアナロ
グ−デイジタル変換器４４の一部であり第４ａ図
でＤとして示した出力パルスの列を生ずる。パル
スＤは、論理積ゲート４２をパルス列Ｅにより可
能化したときに計数器４３に送る。
られ第４ａ図にＣとして示した信号を生ずる。こ
の変調信号はリプルフイルタ４６に次で電圧制御
発振器４７に送る。電圧制御発振器４７はアナロ
グ−デイジタル変換器４４の一部であり第４ａ図
でＤとして示した出力パルスの列を生ずる。パル
スＤは、論理積ゲート４２をパルス列Ｅにより可
能化したときに計数器４３に送る。
アナログ−デイジタル変換器４４の目的は、試
料及び基準面の測定のために振動性パルスを単一
の電力準位信号に変換することである。
料及び基準面の測定のために振動性パルスを単一
の電力準位信号に変換することである。
外部クロツク４９により給電する論理積ゲート
４８も又パルス列Ｅにより可能化する。論理積ゲ
ート４８は計数器５０を駆動する。両計数器４
３，５０は割算器５１に給電し試料及び基準面の
各測定のために単一の電力準位信号を生ずる。
４８も又パルス列Ｅにより可能化する。論理積ゲ
ート４８は計数器５０を駆動する。両計数器４
３，５０は割算器５１に給電し試料及び基準面の
各測定のために単一の電力準位信号を生ずる。
一組の次次の試料信号及び基準信号内の１対の
信号を同期的に平均する同期平均手段を、この一
組の次次の試料信号及び基準信号を発生する前記
信号発生手段に結合する。たとえば第３ａ図に例
示した各試料信号S1，S2の平均は各電力準位信号
を３個の論理積ゲート５２，５３，５４にそれぞ
れ継次的に送ることによつてできる。パルス列Ｅ
により影響を受けるデコーダ及び鏡制御回路３９
は、試料及び基準の各信号の持続時間に従つて各
論理積ゲート５２，５３，５４を同期的に可能化
する。各論理積ゲート５２，５３，５４はそれぞ
れ電力準位信号S1，R1，S2を記憶装置５５，５
６，５７内の適当な場所に送る。
信号を同期的に平均する同期平均手段を、この一
組の次次の試料信号及び基準信号を発生する前記
信号発生手段に結合する。たとえば第３ａ図に例
示した各試料信号S1，S2の平均は各電力準位信号
を３個の論理積ゲート５２，５３，５４にそれぞ
れ継次的に送ることによつてできる。パルス列Ｅ
により影響を受けるデコーダ及び鏡制御回路３９
は、試料及び基準の各信号の持続時間に従つて各
論理積ゲート５２，５３，５４を同期的に可能化
する。各論理積ゲート５２，５３，５４はそれぞ
れ電力準位信号S1，R1，S2を記憶装置５５，５
６，５７内の適当な場所に送る。
加算回路５８は両試料信号S1，S2を加算し、割
算回路５９は各信号S1，S2を同期的に平均する。
算回路５９は各信号S1，S2を同期的に平均する。
前記同期平均手段に結合され、前記一組の信号
内の他方の信号に同期平均出力を関連させ、試料
内の成分の特性を示すようにする関連手段を設け
る。たとえば、同期平均した試料信号SA及び基
準信号Ｒの比Ｒ／SAは回路６１により得られる。
回路６０はlog10R／SAを生ずる。
内の他方の信号に同期平均出力を関連させ、試料
内の成分の特性を示すようにする関連手段を設け
る。たとえば、同期平均した試料信号SA及び基
準信号Ｒの比Ｒ／SAは回路６１により得られる。
回路６０はlog10R／SAを生ずる。
log10R／SAの値は与えられた波長における試
料の光学濃度（O.D）に等しい。
料の光学濃度（O.D）に等しい。
試料１１（第１図及び第２図）の特定の化学的
又は生物学的の成分100分率は光の種種の波長に
おける光学濃度を加算することによつて定める。
又は生物学的の成分100分率は光の種種の波長に
おける光学濃度を加算することによつて定める。
XC＝F1O.Dλ1＋F2O.D.λ2＋F3O.D.λ3＋…等
この式でXCは試料の成分の濃度特性であり、
O.D.λ1、O.D.λ2及びO.D.λ3は光の互に異る波長
における光学濃度であり、F1，F2，F3は標準の
成分データから定められる校正値である。
O.D.λ1、O.D.λ2及びO.D.λ3は光の互に異る波長
における光学濃度であり、F1，F2，F3は標準の
成分データから定められる校正値である。
以上本発明はその実施例について詳細に説明し
たが本発明はなおその精神を逸脱しないで種種の
変化変型を行うことができるのはもちろんであ
る。
たが本発明はなおその精神を逸脱しないで種種の
変化変型を行うことができるのはもちろんであ
る。
第１図は本発明分析装置の１実施例を一部を切
欠いて示す斜視図、第２図は第１図の分析装置の
線図的縦断面図、第３ａ図及び第３ｂ図は第１図
の分析装置で生ずる試料信号及び基準信号に対す
る光学濃度対時間の線図、第４図は第１図の分析
装置で生ずる信号を処理する電子装置の電気配線
図、第４ａ図は第４図の電子装置の種種の点で生
ずる信号波形の線図である。 １０……分析装置、１１……試料、１２……杯
状体（支持体）、１６……光積分室、１７……基
準面、２０……赤外線発生電球、２２……断続
輪、２３……フイルタ輪、２５……鏡、４４……
アナログ−デイジタル変換器、５５，５６，５７
……記憶装置、５８……加算回路、５９……割算
回路、６０……回路、６１……回路、Ｓ……試料
信号、Ｒ……基準信号。
欠いて示す斜視図、第２図は第１図の分析装置の
線図的縦断面図、第３ａ図及び第３ｂ図は第１図
の分析装置で生ずる試料信号及び基準信号に対す
る光学濃度対時間の線図、第４図は第１図の分析
装置で生ずる信号を処理する電子装置の電気配線
図、第４ａ図は第４図の電子装置の種種の点で生
ずる信号波形の線図である。 １０……分析装置、１１……試料、１２……杯
状体（支持体）、１６……光積分室、１７……基
準面、２０……赤外線発生電球、２２……断続
輪、２３……フイルタ輪、２５……鏡、４４……
アナログ−デイジタル変換器、５５，５６，５７
……記憶装置、５８……加算回路、５９……割算
回路、６０……回路、６１……回路、Ｓ……試料
信号、Ｒ……基準信号。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ (イ)試料の支持部材と、(ロ)前記試料を比較する
１つの基準と、(ハ)等しい時間間隔で前記試料と前
記基準とに交互に光を差向ける周期的光差向け手
段と、(ニ)前記試料及び基準から交互に反射する光
に応答して、少なくとも３個の奇数の信号から成
りこれらの各信号間の時間間隔を等しくした一組
の次次の試料信号及び基準信号を発生する信号発
生手段と、(ホ)この信号発生手段に結合され、前記
一組の信号内の一方の信号を同期的に平均し、同
期出力を供給する同期平均手段と、(ヘ)この同期平
均手段に結合され、前記同期平均出力を前記一組
の信号内の他方の信号に関連させ、前記試料内の
成分の特性を示すようにする関連手段とを包含す
る、試料内の特定の成分の特性を示す分析装置。 ２ 前記一組の信号を試料−基準−試料の三幅対
により構成し、前記同期平均手段が、前記試料信
号の同期平均信号を供給するように動作する特許
請求の範囲第１項記載の試料内の特定の成分の特
性を示す分析装置。 ３ 前記一組の信号を基準−試料−基準の三幅対
により構成し、前記同期平均手段が前記基準信号
の同期平均信号を供給するように動作する特許請
求の範囲第１項記載の試料内の特定の成分の特性
を示す分析装置。 ４ 前記信号発生手段に、光積分室を設け、前記
基準が、前記光積分室の一体部分を形成するよう
にした特許請求の範囲第１項記載の試料内の特定
の成分の特性を示す分析装置。 ５ 前記光積分室に内壁を設け、この内壁が、前
記基準を備えている特許請求の範囲第４項記載の
試料内の特定の成分の特性を示す分析装置。 ６ 前記周期的光差向け手段を、光ビームを供給
する赤外線光源と、(イ)この赤外線光源に隣接して
配置され、前記光ビームを断続するチヨツパと、
(ロ)このチヨツパに隣接して配置され、前記断続し
た光ビームをろ波し単色光ビームを供給するフイ
ルタ手段と、(ハ)前記光ビームに交差し、この光ビ
ームを前記試料及び前記基準に交互に差向ける移
動可能に取付けた鏡とにより構成した特許請求の
範囲第１項記載の試料内の特定の成分の特性を示
す分析装置。 ７ 前記移動可能に取付けた鏡を、前記試料及び
前記基準に対し互いに等しい距離で光を差向ける
ように位置させた特許請求の範囲第６項記載の試
料内の特定の成分の特性を示す分析装置。 ８ 前記フイルタ手段を、互いに異なる波長を持
つ単色光を供給するように割出しされるフイルタ
輪により構成した特許請求の範囲第６項記載の試
料内の特定の成分の特性を示す分析装置。 ９ 前記同期平均手段を、前記一組の信号の各信
号を個個の電力レベル値に変換するアナログ−デ
イジタル変換器と、このアナログ−デイジタル変
換器に結合され、前記個個の電力レベル値を記憶
する記憶手段と、この記憶手段に結合され、前記
電力レベル値の少なくとも２つを同期的に平均す
る加算兼割算サーキツトリーとにより構成した特
許請求の範囲第１項記載の試料内の特定の成分の
特性を示す分析装置。 １０ 前記同期平均出力を関連させる関連手段
を、同期平均出力と、他方の信号との比を供給す
る供給手段と、前記比の対数を供給し、試料内の
成分の特性である光学濃度値が得られるようにす
る対数供給手段とにより構成した特許請求の範囲
第１項記載の試料内の特定の成分の特性を示す分
析装置。 １１ 前記一組の信号を３個以上の信号により構
成したときに、前記同期平均手段により前記一組
の信号のうちの前記試料信号及び基準信号を同期
的に平均するようにした特許請求の範囲第１項記
載の試料内の特定の成分の特性を示す分析装置。
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US06/015,017 US4236076A (en) | 1979-02-26 | 1979-02-26 | Infrared analyzer |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS55156843A JPS55156843A (en) | 1980-12-06 |
| JPH033177B2 true JPH033177B2 (ja) | 1991-01-17 |
Family
ID=21769099
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2235580A Granted JPS55156843A (en) | 1979-02-26 | 1980-02-26 | Analyzer |
Country Status (8)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4236076A (ja) |
| JP (1) | JPS55156843A (ja) |
| CA (1) | CA1123222A (ja) |
| DE (1) | DE3006421C2 (ja) |
| DK (1) | DK80080A (ja) |
| FR (1) | FR2449881A1 (ja) |
| GB (1) | GB2045426B (ja) |
| SE (1) | SE446910B (ja) |
Families Citing this family (29)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| SE458724B (sv) * | 1981-03-16 | 1989-04-24 | Peter Perten | Infraroedanalysator foer relativ maengdbestaemning av visst eller vissa aemnen i ett prov, saerskilt i livsmedel saasom mjoel |
| US4551627A (en) * | 1983-08-01 | 1985-11-05 | Kirin Beer Kabushiki Kaisha | Methods and apparatus for detecting residual liquid in containers |
| JPS6057236A (ja) * | 1983-09-09 | 1985-04-03 | Konishiroku Photo Ind Co Ltd | 生化学分析における反射濃度測定方法 |
| US4566791A (en) * | 1983-10-31 | 1986-01-28 | Pacific Scientific Company | Fluid sample cell comprising Fresnel sectors |
| HU192395B (en) * | 1984-02-13 | 1987-06-29 | Gabor Kemeny | Optical reflexion concentration meter |
| JPS61292536A (ja) * | 1985-06-21 | 1986-12-23 | Chino Corp | 光学的測定方法 |
| US4883963A (en) * | 1986-04-28 | 1989-11-28 | Bran+Luebbe Gmbh | Optical analysis method and apparatus having programmable rapid random wavelength access |
| AT396778B (de) * | 1986-10-17 | 1993-11-25 | Voest Alpine Eisenbahnsysteme | Einrichtung zum erfassen von unzulässig erwärmten radlagern und/oder radreifen |
| AT395571B (de) * | 1986-10-17 | 1993-01-25 | Voest Alpine Eisenbahnsysteme | Einrichtung zum erfassen der raeumlichen orientierung von unzulaessig erwaermten stellen von radlagern und/oder radlaufflaechen von schienenfahrzeugen |
| AT390928B (de) * | 1986-10-17 | 1990-07-25 | Voest Alpine Ag | Einrichtung zum erfassen von unzulaessig erwaermten radlagern und radreifen von schienenfahrzeugen |
| FR2611911B1 (fr) * | 1987-02-27 | 1989-06-23 | Bp France | Procede de determination directe d'un indice d'octane |
| FR2632408B1 (fr) * | 1988-06-01 | 1993-10-15 | Bp France | Procede de determination des proprietes d'un gazole obtenu a partir d'un melange complexe de bases petrolieres ou de constitution d'un produit fini du type gazole ayant des proprietes determinees par analyse spectrophotometrique proche infrarouge des constituants du melange |
| ATE146880T1 (de) * | 1987-08-18 | 1997-01-15 | Bp Oil Int | Verfahren zur direkten bestimmung der physikalischen eigenschaften von kohlenwasserstoffprodukten |
| FR2632409B1 (fr) * | 1988-06-01 | 1993-10-15 | Bp France | Procede de determination des proprietes d'un fioul obtenu a partir d'un melange complexe de bases petrolieres ou de constitution d'un tel produit ayant des proprietes determinees par analyse spectrophotometrique proche infrarouge des constituants du melange |
| FR2619624B1 (fr) * | 1987-08-18 | 1993-03-05 | Bp France | Procede de determination des indices d'octane d'un melange complexe de carburants ou de constitution d'un tel melange ayant un indice d'octane determine par analyse spectrophotometrique proche infrarouge des constituants du melange |
| DE3882847T2 (de) * | 1987-08-18 | 1993-11-18 | Bp Oil Int | Verfahren zur unmittelbaren Bestimmung physikalischer Eigenschaften von Kohlenwasserstoffprodukten. |
| FR2619631B1 (fr) * | 1987-08-18 | 1993-12-03 | Bp France | Procede et dispositif de mesure du seuil de floculation d'un produit petrolier |
| US5039855A (en) * | 1990-03-05 | 1991-08-13 | Bran+Luebbe Analyzing Technologies, Inc. | Dual beam acousto-optic tunable spectrometer |
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| DE19808164A1 (de) | 1998-02-27 | 1999-09-16 | Bran & Luebbe | Flüssigkeitsmeßzelle |
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- 1980-02-12 CA CA345,441A patent/CA1123222A/en not_active Expired
- 1980-02-19 SE SE8001314A patent/SE446910B/sv not_active IP Right Cessation
- 1980-02-21 DE DE3006421A patent/DE3006421C2/de not_active Expired - Fee Related
- 1980-02-25 DK DK80080A patent/DK80080A/da not_active Application Discontinuation
- 1980-02-25 FR FR8004036A patent/FR2449881A1/fr active Granted
- 1980-02-26 JP JP2235580A patent/JPS55156843A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS53106185A (en) * | 1977-02-28 | 1978-09-14 | Shimadzu Corp | Absorption analyzer |
Also Published As
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|---|---|
| DE3006421A1 (de) | 1980-09-04 |
| GB2045426B (en) | 1983-05-11 |
| SE8001314L (sv) | 1980-08-27 |
| CA1123222A (en) | 1982-05-11 |
| DE3006421C2 (de) | 1993-10-14 |
| US4236076A (en) | 1980-11-25 |
| GB2045426A (en) | 1980-10-29 |
| JPS55156843A (en) | 1980-12-06 |
| FR2449881A1 (fr) | 1980-09-19 |
| DK80080A (da) | 1980-08-27 |
| SE446910B (sv) | 1986-10-13 |
| FR2449881B1 (ja) | 1985-02-15 |
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