JPH026348Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH026348Y2 JPH026348Y2 JP7952981U JP7952981U JPH026348Y2 JP H026348 Y2 JPH026348 Y2 JP H026348Y2 JP 7952981 U JP7952981 U JP 7952981U JP 7952981 U JP7952981 U JP 7952981U JP H026348 Y2 JPH026348 Y2 JP H026348Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- interference
- compensation
- interferometer
- sample
- light
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- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 7
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 230000002269 spontaneous effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は干渉屈折率計に関し、特に温度や光源
変化によるドリフトを補償できる干渉屈折率計に
関する。
変化によるドリフトを補償できる干渉屈折率計に
関する。
従来精密な測定結果が得られるという点から、
干渉屈折率計が重視され一般に使用されている。
ところで、通常のダイレクト型屈折率計では、測
定中に発生する光源や温度の変動にともなつてベ
ースラインのドリフトが生じ測定誤差をもたらす
他、電源を入れてから安定したデータが得られる
ようになるまで長時間かかり、時間のロスにつな
がるという欠点があつた。
干渉屈折率計が重視され一般に使用されている。
ところで、通常のダイレクト型屈折率計では、測
定中に発生する光源や温度の変動にともなつてベ
ースラインのドリフトが生じ測定誤差をもたらす
他、電源を入れてから安定したデータが得られる
ようになるまで長時間かかり、時間のロスにつな
がるという欠点があつた。
従つて本考案の目的は、上記従来法の欠点を考
慮し、ドリフトを補償した干渉屈折率計を提供す
ることにある。つまり本考案による干渉屈折率計
は、光源からの光を２つの光束に分けて一対の複
光束干渉計を設け、一方の干渉計の複光束中には
試料セルと補償セルをそれぞれ配置して試料側干
渉計とし、他方の干渉計の複光束中には両方共に
補償セルを配置して補償側干渉計とし、試料側干
渉計と補償側干渉計からの各干渉光を同一の検知
器へ導くと共に、両干渉光の位相差を90゜、エネ
ルギーレベルを同一とし、該検知器から両干渉光
の和出力をとつて屈折率を求めることを特徴とす
るものである。
慮し、ドリフトを補償した干渉屈折率計を提供す
ることにある。つまり本考案による干渉屈折率計
は、光源からの光を２つの光束に分けて一対の複
光束干渉計を設け、一方の干渉計の複光束中には
試料セルと補償セルをそれぞれ配置して試料側干
渉計とし、他方の干渉計の複光束中には両方共に
補償セルを配置して補償側干渉計とし、試料側干
渉計と補償側干渉計からの各干渉光を同一の検知
器へ導くと共に、両干渉光の位相差を90゜、エネ
ルギーレベルを同一とし、該検知器から両干渉光
の和出力をとつて屈折率を求めることを特徴とす
るものである。
以下本考案の実施例を図面に沿つてさらに詳し
く説明する。
く説明する。
第１図において、光源１レーザー光又は自然放
出光からの光はビームスプリツター２で２つの光
束に分れる。ビームスプリツター２で反射された
光は複光束になり、この複光束中にはそれぞれ試
料セル３と補償セル４が配置される。両光束はビ
ームスプリツター５で反射されて再び一つの光束
となり、これによつて試料側干渉計が構成されて
いる。６は補償セル側の光束に配置された補償板
である。一方、ビームスプリツター２を透過した
光は別のビームスプリツター７で反射されて複光
束に分かれ、この２つの光束中には補償セル４，
４が配置されている。補償セル４，４を通つた両
光束はビームスプリツター８で反射されて再び一
つの光束となり、これによつて補償側干渉計が構
成されている。尚９は、一方の光束中に配置され
た補償板である。試料側と補償側の一対の干渉計
を出た各干渉光は、それぞれスリツト１０，１１
を通つた後、同一の検知器１２へ入射して電気信
号に変換される。試料側及び補償側両干渉計から
の干渉光強度は、それぞれ第２図１３，１４で示
すようにcos2θに比例している。ここで本考案に
おいては試料セル３へ溶媒を入れただけの状態
で、位相を補償板６，９により、又エネルギーレ
ベルをスリツト１０，１１でそれぞれ調整するこ
とによつて、両干渉光は図示のごとく位相差が
90゜で振巾が同一のスペクトルにされる。このよ
うに同一の検知器１２へ入る２つの干渉光は逆位
相、同一レベルとなつているため、検知器１２か
ら両干渉光の和出力をとれば、その和スペクトル
は１５で示すように一定レベルとなるので、これ
を基準としてそこからのレベル変化の差を求める
ようにすれば、光源や温度の変動によるドリフト
は相殺される結果、ベースラインの変化は除去で
きる。試料セル３へ試料を入れると、干渉光１３
の位相がズレ、これにともない検知器１２に入る
干渉光の和スペクトルのレベルが図示のレベル１
５よりも試料の屈折率に応じて上下し、その上下
差から所望の屈折率が求められる。ここでレベル
の上下変化が直線状となるように、検知器１２は
図中45゜，135゜……の位相点で和スペクトルを検
出するのが好ましい。尚ビームスプリツター７を
透過した光を別の検知器１６で受け、その検知器
１６からの出力を光源１へフイードバツクし、光
源１からの光強度を一定に保つようにしてもよ
い。
出光からの光はビームスプリツター２で２つの光
束に分れる。ビームスプリツター２で反射された
光は複光束になり、この複光束中にはそれぞれ試
料セル３と補償セル４が配置される。両光束はビ
ームスプリツター５で反射されて再び一つの光束
となり、これによつて試料側干渉計が構成されて
いる。６は補償セル側の光束に配置された補償板
である。一方、ビームスプリツター２を透過した
光は別のビームスプリツター７で反射されて複光
束に分かれ、この２つの光束中には補償セル４，
４が配置されている。補償セル４，４を通つた両
光束はビームスプリツター８で反射されて再び一
つの光束となり、これによつて補償側干渉計が構
成されている。尚９は、一方の光束中に配置され
た補償板である。試料側と補償側の一対の干渉計
を出た各干渉光は、それぞれスリツト１０，１１
を通つた後、同一の検知器１２へ入射して電気信
号に変換される。試料側及び補償側両干渉計から
の干渉光強度は、それぞれ第２図１３，１４で示
すようにcos2θに比例している。ここで本考案に
おいては試料セル３へ溶媒を入れただけの状態
で、位相を補償板６，９により、又エネルギーレ
ベルをスリツト１０，１１でそれぞれ調整するこ
とによつて、両干渉光は図示のごとく位相差が
90゜で振巾が同一のスペクトルにされる。このよ
うに同一の検知器１２へ入る２つの干渉光は逆位
相、同一レベルとなつているため、検知器１２か
ら両干渉光の和出力をとれば、その和スペクトル
は１５で示すように一定レベルとなるので、これ
を基準としてそこからのレベル変化の差を求める
ようにすれば、光源や温度の変動によるドリフト
は相殺される結果、ベースラインの変化は除去で
きる。試料セル３へ試料を入れると、干渉光１３
の位相がズレ、これにともない検知器１２に入る
干渉光の和スペクトルのレベルが図示のレベル１
５よりも試料の屈折率に応じて上下し、その上下
差から所望の屈折率が求められる。ここでレベル
の上下変化が直線状となるように、検知器１２は
図中45゜，135゜……の位相点で和スペクトルを検
出するのが好ましい。尚ビームスプリツター７を
透過した光を別の検知器１６で受け、その検知器
１６からの出力を光源１へフイードバツクし、光
源１からの光強度を一定に保つようにしてもよ
い。
以上述べたように本考案によれば、一対の複光
束干渉計を設け、一方を試料側他方を補償側と
し、両干渉計からの干渉光の位相差を90゜、エネ
ルギーレベルを同一として両者の出力和をとつて
屈折率を求めるようにしたため、光源や温度等の
変動によるドリフトを補償することができる。
束干渉計を設け、一方を試料側他方を補償側と
し、両干渉計からの干渉光の位相差を90゜、エネ
ルギーレベルを同一として両者の出力和をとつて
屈折率を求めるようにしたため、光源や温度等の
変動によるドリフトを補償することができる。
第１図は本考案によるドリフト補償型干渉屈折
率計の光学系を示す図、第２図は試料側及び補償
側干渉計からの干渉光強度スペクトルと両者の和
スペクトルを示す図である。 １……光源、２，５，７，８……ビームスプリ
ツター、３……試料セル、４……補償セル、６，
９……補償板、１０，１１……スリツト、１２…
…検知器、１３……試料側干渉計からの干渉光、
１４……補償側干渉計からの干渉光、１５……両
干渉光の和スペクトル、１６……検知器。
率計の光学系を示す図、第２図は試料側及び補償
側干渉計からの干渉光強度スペクトルと両者の和
スペクトルを示す図である。 １……光源、２，５，７，８……ビームスプリ
ツター、３……試料セル、４……補償セル、６，
９……補償板、１０，１１……スリツト、１２…
…検知器、１３……試料側干渉計からの干渉光、
１４……補償側干渉計からの干渉光、１５……両
干渉光の和スペクトル、１６……検知器。
Claims (1)
- 単色光源、複光束干渉計、試料セル、補償セ
ル、補償板、光電変換装置、指示記録系等から成
る干渉屈折率計において、光源からの光を２つの
光束に分けて一対の複光束干渉計を設け、一方の
干渉計の複光束中には試料セルと補償セルをそれ
ぞれ配置して試料側干渉計とし、他方の干渉計の
複光束中には両方共に補償セルを配置して補償側
干渉計とし、該試料側干渉計と補償側干渉計から
の各干渉光を同一の検知器へ導くと共に、両干渉
光の位相差を90゜、エネルギーレベルを同一とし、
該検知器から両干渉光の和出力をとつて屈折率を
求めることを特徴とするドリフト補償型の干渉屈
折率計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7952981U JPH026348Y2 (ja) | 1981-05-30 | 1981-05-30 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7952981U JPH026348Y2 (ja) | 1981-05-30 | 1981-05-30 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57192464U JPS57192464U (ja) | 1982-12-06 |
| JPH026348Y2 true JPH026348Y2 (ja) | 1990-02-15 |
Family
ID=29875125
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7952981U Expired JPH026348Y2 (ja) | 1981-05-30 | 1981-05-30 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH026348Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5594834B2 (ja) * | 2010-09-30 | 2014-09-24 | パナソニック デバイスＳｕｎｘ株式会社 | 分光分析装置 |
-
1981
- 1981-05-30 JP JP7952981U patent/JPH026348Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57192464U (ja) | 1982-12-06 |
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