JPS6278608A - Process input and output device with test function - Google Patents

Process input and output device with test function

Info

Publication number
JPS6278608A
JPS6278608A JP60219504A JP21950485A JPS6278608A JP S6278608 A JPS6278608 A JP S6278608A JP 60219504 A JP60219504 A JP 60219504A JP 21950485 A JP21950485 A JP 21950485A JP S6278608 A JPS6278608 A JP S6278608A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
output
input
test
circuit
process input
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP60219504A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Akira Sato
彰 佐藤
Koichiro Ozawa
小澤 紘一郎
Mitsunori Tagai
田貝 光教
Akira Yoshino
晃 吉野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP60219504A priority Critical patent/JPS6278608A/en
Publication of JPS6278608A publication Critical patent/JPS6278608A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Abstract

PURPOSE:To reduce the cost and to improve the reliability of a process input/ output device by substituting a microprocessor for an input/output test function of a process signal and therefore omitting a test hardware logic. CONSTITUTION:A CPU 16 is reset for execution of a program stored in a ROM 17. Thus a terminal equipment 4 waits for input of a command. When a command key word of one or two characters is supplied through the equipment 4 in response to the type of the process input/output to be tested. The execution is started for a program of a process input/output test. The desired parameters including the set value to a process input/output circuit 2 are supplied and the process signal is supplied from the circuit 2 in the case of an input test. While the output data is supplied through the equipment 4 in the case of an output test. The test result is displayed on the equipment 4 with the input test and shown in the form of a process signal through the circuit 2 in the case of the output test respectively.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は自己試験機能を有するプロセス入出力装置に関
する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a process input/output device having a self-test function.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来、この柚のプロセス入出力装置は第4図のようにプ
ロセス信号の入出力を行なうプロセス入出力回路2と、
工業用計算機とインタフェースをとる計算機結合部10
と、試験への切換をする切換スイッチ7と、プロセス入
出力バス結合部9から構成されていた。そしてプロセス
信号の入出力試験を行なう場合には、試験データの表示
・設定を行なう試験用ハードウェアロジック8をプロセ
ス入出力バス5に接続していた。
Conventionally, this Yuzu process input/output device includes a process input/output circuit 2 for inputting and outputting process signals as shown in FIG.
Computer coupling unit 10 that interfaces with an industrial computer
, a changeover switch 7 for switching to testing, and a process input/output bus coupling section 9. When conducting an input/output test of process signals, test hardware logic 8 for displaying and setting test data is connected to the process input/output bus 5.

試験用ハードウェアロジック8は第5図のような構成に
なっていた。5はプロセス入出力バス、11はプロセス
入出力バス制御回路、12Fiデジタル入力回路、13
は出力データ設定用スイッチ、l4はデジタル出力回路
、15は入力データ表示用ランプである。
The test hardware logic 8 had a configuration as shown in FIG. 5 is a process input/output bus; 11 is a process input/output bus control circuit; 12 is a Fi digital input circuit; 13 is a process input/output bus;
14 is a switch for setting output data, 14 is a digital output circuit, and 15 is a lamp for displaying input data.

プロセス信号の入出力試験を行なう場合、切換スイッチ
7により、プロセス入出力バス5を試験用ハードウェア
ロジック結合部9へ接続し、プロセス入出力回路2の種
類に応じた専用の試験用ハードウェアロジック8を接続
する必要がある。
When performing an input/output test of a process signal, the changeover switch 7 connects the process input/output bus 5 to the test hardware logic coupling section 9, and a dedicated test hardware logic corresponding to the type of process input/output circuit 2 is connected. 8 needs to be connected.

ここでプロセス信号の入力試験を行なうため、基準とな
るプロセス信号をプロセス入出力回路2から入力すると
、プロセスデータはプロセス入出力バス5を通って、試
験用ハードウェアロジック8へ渡される。試験用ハード
ウェアロジック内ではプロセス入出力バス制御回路11
により、プロセスデータはデジタル出力回路14に渡さ
れる。
Here, in order to conduct a process signal input test, a reference process signal is input from the process input/output circuit 2, and the process data is passed through the process input/output bus 5 to the test hardware logic 8. In the test hardware logic, the process input/output bus control circuit 11
The process data is then passed to the digital output circuit 14.

デジタル出力回路14は入力データ表示用ランプ15に
プロセスデータを出力する。
The digital output circuit 14 outputs process data to the input data display lamp 15.

一方、プロセス信号の出力試験の場合、出力したいデー
タを出力データ設定用スイッチ13に設定すると、デジ
タル入力回路12はデータを入力し、プロセス入出力バ
ス制御回路11がプロセス入出力バス5に出力する。プ
ロセス入出力回路2rまそのデータをプロセス信号に変
えて出力する。
On the other hand, in the case of a process signal output test, when the data to be output is set in the output data setting switch 13, the digital input circuit 12 inputs the data, and the process input/output bus control circuit 11 outputs it to the process input/output bus 5. . The process input/output circuit 2r converts the data into a process signal and outputs it.

〔解決すべき問題点〕[Problems to be solved]

上述した従来のプロセス入出力装置1tは、プロセス信
号の入出力試験のデータ表示・設定のために試験用ハー
ドウェアロジック8を使用しているが、これは内部にデ
ジタル入力回路12及びデジタル出力回路14を有して
いるため、これ自体も一種のプロセス入出力回路と艶る
ことかでき、信頼性に欠けるという欠点があつfc。
The conventional process input/output device 1t described above uses the testing hardware logic 8 for data display and setting for input/output testing of process signals, but this internally includes a digital input circuit 12 and a digital output circuit. 14, it itself can be seen as a type of process input/output circuit, but it has the drawback of lacking reliability.

また、プロセス入出力装置6はプロセス入出力回路2の
種類によりデータの表示形式・設定形式が異なるので、
各々専用の試験用ハードウェアロジック8を用意する必
要があり、費用がかかるという欠点があった。
In addition, since the data display format and setting format of the process input/output device 6 differs depending on the type of the process input/output circuit 2,
It is necessary to prepare dedicated test hardware logic 8 for each, which has the disadvantage of being expensive.

〔問題点の解決手段〕[Means for solving problems]

本発明は、費用が削減でき、信頼性が高く操作性本良好
で、しかもプロセス入出力回路の改造等によるインター
フェースの変更に対しても容易に対応できる試験機能付
きプロセス入出力装置を提供せんとするものである。
The present invention aims to provide a process input/output device with a test function that can reduce costs, has high reliability, good operability, and can easily respond to changes in interface due to modification of process input/output circuits. It is something to do.

そのために、本発明は、電圧・電流等のアナログ信号や
接点信号等のデジタル信号であるプロセス信号をプロセ
ス入出力回路から入力し、プロセスデータを工業用計算
機に出力、または逆圧工業用計算機からプロセス制御デ
ータをプロセス入出力回路へ送り出力するプロセス入出
力装置において、工業用計算機との結合部とプロセス入
出力回路の間にマイクロプロセッサ回路を有し、キーボ
ード・ディスプレイなどの周辺機器からなる端末装置を
接続し、端末装置からの1〜2文字のコマンドキーワー
ドおよびコマンドパラメータの入力によるプロセス信号
の入力データの表示またはプロセス信号の出力等の入出
力試験を可能とする機能を含むことを特徴とする試験機
能付きプロセス入出力装置を提供するものである。
To this end, the present invention inputs process signals, which are analog signals such as voltage and current, and digital signals such as contact signals, from a process input/output circuit, and outputs process data to an industrial computer, or from a reverse pressure industrial computer. In a process input/output device that sends and outputs process control data to a process input/output circuit, it has a microprocessor circuit between the connection part with an industrial computer and the process input/output circuit, and is a terminal consisting of peripheral devices such as a keyboard and display. It is characterized by including a function that enables input/output tests such as display of process signal input data or output of process signals by connecting a device and inputting a 1- to 2-character command keyword and command parameters from a terminal device. This provides a process input/output device with a testing function.

〔実施例〕〔Example〕

次に、本発明の実施例につhて図面を参照して説明する
。第1図は一実施例の概略を示すブロック図、第2図は
本発明の試験機能付きプロセス入出力装置のマイクロプ
ロセッサ回路2を実現するだめの一実施例である。16
は本装置の制御の中心となるCPU、17は端末装置か
らのコマンドに従って試験機能を果たすプログラムを記
憶しているROM、18Fiプログラムの実行時に作業
領域として使用するRAM、19FiCPU、ROM。
Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing an outline of one embodiment, and FIG. 2 is an embodiment for realizing a microprocessor circuit 2 of a process input/output device with a test function according to the present invention. 16
Reference numeral 17 indicates a CPU which is the central control of the apparatus; 17 a ROM which stores a program that performs a test function in accordance with commands from a terminal device; a RAM which is used as a work area when executing an 18Fi program; a 19Fi CPU; and a ROM.

RAMなどの間でデータの通路となるCPUバス、20
はプロセス入出力回路の接続されているプロセス入出力
バス5をCPUパスに接続するためのプロセス入出力パ
ス結合部、lOは工業用計算機とのインタフェースをと
る計算機結合部、21は端末装置とR8232C(JI
S C6361)等のインタフェースをとる端末装置結
合部である。
CPU bus, 20, which serves as a data path between RAM, etc.
21 is a process input/output path coupling unit for connecting the process input/output bus 5 connected to the process input/output circuit to the CPU path, IO is a computer coupling unit for interfacing with an industrial computer, and 21 is a terminal device and R8232C. (JI
This is a terminal device coupling unit that provides an interface such as SC6361).

第5図VC、プロセス信号の入出力試験を行なうときの
フローチャートを示す、まず、CPU16をリセットし
、ROM17内のプログラムを実行させる。すると、端
末装置はコマンドの入力待ちとなる。ここで試験を行な
いたいプロセス入出力の種類に応じ、1〜2文字のコマ
ンドキーワードを端末装置から入力すると、プロセス人
出力試験のプログラムの実行が始まる。プロセス入出力
回路2に対する設定値など必要なパラメータを入力した
後、人力試験の場合はプロセス入出力回路からプロセス
信号を人力、出力試験の場合は、端末装置から出力デー
タを入力する。結果は、人力試験の場合は端末装#lK
表示、出力試験の場合はプロセス入出力回路からプロセ
ス信号の出力として表われる。1回の試験が終わると、
次のコマンド入力待ちとなる。
FIG. 5 VC shows a flowchart when performing an input/output test of process signals. First, the CPU 16 is reset and the program in the ROM 17 is executed. The terminal device then waits for command input. Depending on the type of process input/output to be tested, a command keyword of 1 or 2 characters is input from the terminal device, and the process human output test program starts to be executed. After inputting necessary parameters such as setting values for the process input/output circuit 2, in the case of a manual test, a process signal is input manually from the process input/output circuit, and in the case of an output test, output data is input from a terminal device. The result is terminal equipment #lK in case of manual test.
In the case of display and output tests, it appears as a process signal output from the process input/output circuit. After completing one test,
It will wait for the next command input.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように本発明tよ、電圧・電流等のアナロ
グ信号や接点信号等のデジタル信号であるプロセス信号
をプロセス入出力回路から入力し、プロセスデータを工
業用計算機に出力、またれ1逆に工業用計算機からプロ
セス制御データをプロセス入出力回路へ送り出力するプ
ロセス入出力装置において、工業用計算機との結合部と
プロセス入出力回路の間にマイクロプロセッサ回路を有
し、キーボード・ディスプレイなどの周辺機器からなる
端末装置を接続し、端末装置からの1〜2文字のコマン
ドキーワードおよびコマンドパラメータの入力によるプ
ロセス信号の入力データの表示またはプロセス信号の出
力等の入出力試験を可能とするl1II能會含むことを
%黴とする試験機能付きプロセス入出力装置としたため
、プロセス信号の入出力試験機能をマイクロプロセッサ
に行なわせ、試験用ハードウェアロジックをなくすこと
により費用を削減し、信頼性を向上させる効果がある。
As explained above, according to the present invention, process signals, which are analog signals such as voltage and current, and digital signals such as contact signals, are input from the process input/output circuit, and the process data is output to an industrial computer. In a process input/output device that sends and outputs process control data from an industrial computer to a process input/output circuit, a microprocessor circuit is installed between the connection part with the industrial computer and the process input/output circuit, and I1II function that connects a terminal device consisting of peripheral equipment and enables input/output tests such as displaying process signal input data or outputting process signals by inputting 1-2 character command keywords and command parameters from the terminal device. Since the process input/output device is equipped with a test function that eliminates the presence of mold, the process signal input/output test function is performed by a microprocessor, reducing costs and improving reliability by eliminating test hardware logic. It has the effect of

壕だ、パーソナルコンピュータ等の端末装置を用いるこ
とができるため、操作性を向上させる効果がある。
Since a terminal device such as a computer or a personal computer can be used, it has the effect of improving operability.

さらに、プロセス入出力回路の改造等によるインタフェ
ースの変更に対しても、ROM内の7”’ダラムを修正
するだけで対応できる効果がある。
Furthermore, it is possible to cope with changes in the interface due to modification of the process input/output circuit, etc., simply by modifying the 7"' duram in the ROM.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は、本発明の一実施例の概略を示すブロック図、
第2図は、本発明の一実施例に係るマイクロプロセッサ
回路を実現するためのブロック図、第3図は、動作を説
明するフローチャート図、そして、第4図および第5図
は、従来例を示すブロック図である。 1・・・試験機能付きプロセス入出力装置2・・・プロ
セス入出力回路 3・・・マイクロプロセッサ回路 4・・・端末装置 6・・・従来のプロセス入出力装置 10・・・計算機結合部 21・・・端末装置結合部 代理人 弁理士  村 1)幹 雄 第4 図 第 3 門 第5図
FIG. 1 is a block diagram schematically showing an embodiment of the present invention;
FIG. 2 is a block diagram for realizing a microprocessor circuit according to an embodiment of the present invention, FIG. 3 is a flow chart explaining the operation, and FIGS. 4 and 5 are diagrams showing a conventional example. FIG. 1... Process input/output device with test function 2... Process input/output circuit 3... Microprocessor circuit 4... Terminal device 6... Conventional process input/output device 10... Computer coupling unit 21 ...Terminal device coupling department agent Patent attorney Mura 1) Yu Miki Figure 4 Figure 3 Gate Figure 5

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 電圧・電流等のアナログ信号や接点信号等のデジタル信
号であるプロセス信号をプロセス入出力回路から入力し
、プロセスデータを工業用計算機に出力、または逆に工
業用計算機からプロセス制御データをプロセス入出力回
路へ送り出力するプロセス入出力装置において、工業用
計算機との結合部とプロセス入出力回路の間にマイクロ
プロセッサ回路を有し、キーボード・ディスプレイなど
の周辺機器からなる端末装置を接続し、端末装置からの
1〜2文字のコマンドキーワードおよびコマンドパラメ
ータの入力によるプロセス信号の入力データの表示また
はプロセス信号の出力等の入出力試験を可能とする機能
を含むことを特徴とする試験機能付きプロセス入出力装
置。
Input process signals, which are analog signals such as voltage and current, and digital signals such as contact signals, from the process input/output circuit and output the process data to an industrial computer, or conversely, process control data from the industrial computer. A process input/output device that sends output to a circuit has a microprocessor circuit between the connection part with an industrial computer and the process input/output circuit, and a terminal device consisting of peripheral devices such as a keyboard and display is connected to the terminal device. Process input/output with test function, characterized in that it includes a function that enables input/output tests such as display of input data of process signals or output of process signals by inputting a command keyword of 1 to 2 characters and command parameters. Device.
JP60219504A 1985-10-02 1985-10-02 Process input and output device with test function Pending JPS6278608A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60219504A JPS6278608A (en) 1985-10-02 1985-10-02 Process input and output device with test function

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60219504A JPS6278608A (en) 1985-10-02 1985-10-02 Process input and output device with test function

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6278608A true JPS6278608A (en) 1987-04-10

Family

ID=16736486

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP60219504A Pending JPS6278608A (en) 1985-10-02 1985-10-02 Process input and output device with test function

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6278608A (en)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03100836A (en) * 1989-09-14 1991-04-25 Nec Corp Fault diagnostic processing system
JPH04155489A (en) * 1990-10-19 1992-05-28 Toyo Ink Mfg Co Ltd Recording object for collation
DE112007001641T5 (en) 2006-09-15 2009-05-28 Mitsubishi Electric Corp. debug
CN102354205A (en) * 2011-07-07 2012-02-15 株洲南车时代电气股份有限公司 Method and device for testing control cabinet of electric locomotive
GB2560405A (en) * 2017-01-09 2018-09-12 Loadhog Ltd Container and lid

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5428984A (en) * 1977-08-05 1979-03-03 Toyoda Mach Works Ltd Mimic power unit of sequence controller
JPS5748107A (en) * 1980-09-05 1982-03-19 Mitsubishi Electric Corp Sequence controller

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5428984A (en) * 1977-08-05 1979-03-03 Toyoda Mach Works Ltd Mimic power unit of sequence controller
JPS5748107A (en) * 1980-09-05 1982-03-19 Mitsubishi Electric Corp Sequence controller

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03100836A (en) * 1989-09-14 1991-04-25 Nec Corp Fault diagnostic processing system
JPH04155489A (en) * 1990-10-19 1992-05-28 Toyo Ink Mfg Co Ltd Recording object for collation
DE112007001641T5 (en) 2006-09-15 2009-05-28 Mitsubishi Electric Corp. debug
US8103474B2 (en) 2006-09-15 2012-01-24 Mitsubishi Electric Corporation Debug system
CN102354205A (en) * 2011-07-07 2012-02-15 株洲南车时代电气股份有限公司 Method and device for testing control cabinet of electric locomotive
GB2560405A (en) * 2017-01-09 2018-09-12 Loadhog Ltd Container and lid
GB2560405B (en) * 2017-01-09 2020-05-27 Loadhog Ltd Container and lid

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS6278608A (en) Process input and output device with test function
JPH01255024A (en) Input device
JPS5850376B2 (en) display device
JPS6310456B2 (en)
JPH02189477A (en) Preparation of measurement specification for electronic circuit
KR940012128A (en) Micro computer
JPS59202547A (en) Debugging device
JP3111355B2 (en) Computer system
JPS6326741A (en) Testing instrument for data processor
JPH04296662A (en) Waveform display device
JPH0358141A (en) Integrated circuit with logic for user
JPH03153053A (en) Test circuit of one-chip cpu
JPH06167362A (en) Master-slave switching type measuring instrument
JPS625723Y2 (en)
JPS63204443A (en) Back-up device for development of software
JPS6376023A (en) Microprocessor
JPS6232565A (en) System for displaying logical result on logic circuit diagram
JPH0512063A (en) Logic circuit design device
JPS62143142A (en) Microprocessor test circuit
JPH04291164A (en) Logic analyzer
JPS61155779A (en) Multifunctional tester
JPH05241881A (en) Electronic device for evaluation and evaluation device
JPS59106054A (en) Information processing system
JPH03196231A (en) Information processor
JPS61289426A (en) Program control type console device having high function