JPH06167362A - Master-slave switching type measuring instrument - Google Patents
Master-slave switching type measuring instrumentInfo
- Publication number
- JPH06167362A JPH06167362A JP31818392A JP31818392A JPH06167362A JP H06167362 A JPH06167362 A JP H06167362A JP 31818392 A JP31818392 A JP 31818392A JP 31818392 A JP31818392 A JP 31818392A JP H06167362 A JPH06167362 A JP H06167362A
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- slave
- circuit
- measuring
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- Pending
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、マスタ・スレーブの切
り替えを自動的に行うマスタ・スレーブ切り替え式計測
装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a master / slave switching type measuring device for automatically switching master / slave.
【0002】[0002]
【従来の技術】近年、マスタ・スレーブ機能を有する計
測器では、複数台の計測器を接続して使用する場合に上
位装置を用いて外部から計測器ごとの制御を行わない。
すなわち、1台をマスタとし、他の計測器をスレーブ接
続することによってマスタ・スレーブ制御を行ってい
る。2. Description of the Related Art In recent years, in a measuring instrument having a master / slave function, when a plurality of measuring instruments are connected and used, a host device is not used to externally control each measuring instrument.
That is, master / slave control is performed by using one unit as a master and connecting another measuring device as a slave.
【0003】図3は従来のマスタ・スレーブ機能を有す
る計測器の構成を示している。図3において、1は外部
から制御を行う際の処理を行うインタフェース回路であ
る。2は計測器間を接続するインタフェース回路、3は
マスタ機能を有し、外部からの制御によってスレーブ側
を制御するマスタ回路、4a,4bはバッファである。
5はスレーブ機能を有し、マスタ側からの制御とのイン
タフェース部分となるスレーブ回路、6a,6bはバッ
ファである。7は所定の計測を処理する計測回路、8は
マスタ・スレーブを選択するマスタ・スレーブ選択回
路、9はマスタ・スレーブの設定を切り替える外部スイ
ッチである。FIG. 3 shows the configuration of a conventional measuring instrument having a master / slave function. In FIG. 3, reference numeral 1 is an interface circuit that performs processing when performing control from the outside. Reference numeral 2 is an interface circuit connecting the measuring instruments, 3 is a master function, and a master circuit for controlling the slave side by external control, and 4a and 4b are buffers.
Reference numeral 5 is a slave circuit having a slave function and serving as an interface portion with the control from the master side, and 6a and 6b are buffers. Reference numeral 7 is a measurement circuit for processing a predetermined measurement, 8 is a master / slave selection circuit for selecting a master / slave, and 9 is an external switch for switching the master / slave setting.
【0004】次に、この従来例の構成における動作につ
いて説明する。まず、外部設定スイッチ9によりマスタ
・スレーブ選択回路8を通じて当該測定装置がマスタ側
に設定された場合、外部からの制御に基づいてインタフ
ェース回路1に図示しないコンピュータなどの外部ホス
ト装置を接続してマスタ回路3に制御信号を送出する。
制御信号が入力されたマスタ回路3は、バッファ4a,
4bを通じて計測回路7又は計測器間のインタフェース
回路2でスレーブ接続された図示しない計測器に外部ホ
スト装置からの制御信号を送出する。この場合、バッフ
ァ4a,4bがオン(ON)となりバッファ6a,6b
及びスレーブ回路5はオフ(OFF)状態となる。すな
わち、当該計測装置はマスタ回路3と計測回路7との動
作によってマスタ側となる。Next, the operation of this conventional configuration will be described. First, when the measuring device is set to the master side through the master / slave selection circuit 8 by the external setting switch 9, an external host device such as a computer (not shown) is connected to the interface circuit 1 under the control of the outside, and the master device is connected. A control signal is sent to the circuit 3.
The master circuit 3 to which the control signal has been input has the buffers 4a,
A control signal from an external host device is sent to a measuring instrument (not shown) slave-connected by the measuring circuit 7 or the interface circuit 2 between the measuring instruments via 4b. In this case, the buffers 4a and 4b are turned on (ON) and the buffers 6a and 6b are turned on.
Also, the slave circuit 5 is turned off. That is, the measurement device becomes the master side by the operation of the master circuit 3 and the measurement circuit 7.
【0005】また、外部設定スイッチ9によりマスタ・
スレーブ選択回路8よって当該測定装置がスレーブ側に
設定された場合、計測器間とインタフェース回路2を通
じて図示しないマスタ側の計測器と接続され、このマス
タ側を通じて図示しない外部ホスト装置と通信を行う。
この場合、マスタ回路3とバッファ4a,4bは、OF
F状態となりスレーブ回路5とバッファ6a,6bがO
N状態となる。すなわち、当該計測装置はスレーブ回路
5と計測回路7との動作によってスレーブ側となる。In addition, the external setting switch 9
When the measurement device is set to the slave side by the slave selection circuit 8, the measurement device is connected to the measurement device on the master side (not shown) through the interface circuit 2 and communicates with the external host device (not shown) through the master side.
In this case, the master circuit 3 and the buffers 4a and 4b are
In the F state, the slave circuit 5 and the buffers 6a and 6b are O
The N state is set. That is, the measuring device becomes the slave side by the operation of the slave circuit 5 and the measuring circuit 7.
【0006】[0006]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記従来
例では、外部計測器との接続とともに、ユーザーが意識
して当該計測装置をマスタ側又はスレーブ側に外部設定
スイッチ9を操作して設定しなければならないという問
題があった。However, in the above-mentioned conventional example, the user must be consciously setting the measurement device to the master side or the slave side by operating the external setting switch 9 together with the connection with the external measurement device. There was a problem of not becoming.
【0007】本発明は、このような従来の問題を解決す
るものであり、マスタ側又はスレーブ側の切り替えが自
動的に行われ、マスタ側又はスレーブ側の切り替えが容
易かつ確実に出来る優れたマスタ・スレーブ切り替え式
計測装置の提供を目的とする。The present invention is to solve such a conventional problem and is an excellent master in which the master side or the slave side is automatically switched and the master side or the slave side can be easily and surely switched. -The purpose is to provide a slave switching type measuring device.
【0008】[0008]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明のマスタ・スレーブ切り替え式計測装置は、
外部計測器との接続処理を行う複数のインタフェース回
路と、マスタ機能を有し、外部からの制御によってスレ
ーブ側の外部計測器を制御するマスタ回路と、スレーブ
機能を有し、マスタ側からの制御とのインタフェース処
理を行うスレーブ回路と、計測処理を行う計測回路と、
マスタ・スレーブを選択するマスタ・スレーブ選択回路
と、当該計測装置をマスタ側又はスレーブ側として使用
する際に計測器間又は外部ホスト装置側との外部制御バ
スの接続を判定して自動的に当該計測装置をマスタ側又
はスレーブ側に切り換えるマスタ・スレーブ自動切り換
え手段とを備える構成としている。In order to achieve the above object, the master / slave switching type measuring device of the present invention comprises:
A master circuit that has multiple interface circuits that perform connection processing with external measuring instruments and a master function that controls the external measuring instrument on the slave side by external control, and a slave function that controls from the master side. A slave circuit that performs interface processing with and a measurement circuit that performs measurement processing,
When the master / slave selection circuit that selects the master / slave and the measurement device is used as the master side or the slave side, the connection of the external control bus between the measuring instruments or the external host device side is judged and A master / slave automatic switching means for switching the measuring device to the master side or the slave side is provided.
【0009】[0009]
【作用】このような構成の本発明のマスタ・スレーブ切
り替え式計測装置では、当該計測装置をマスタ側又はス
レーブ側として使用する際に計測器間又は外部ホスト装
置側との外部制御バスの接続を判定して自動的に当該計
測装置をマスタ側又はスレーブ側に切り換えているの
で、マスタ側又はスレーブ側の切り替えが自動的に行わ
れて、マスタ側又はスレーブ側の切り替えが容易かつ確
実に出来る。In the master / slave switching type measuring device of the present invention having such a configuration, when the measuring device is used as the master side or the slave side, the connection of the external control bus between the measuring instruments or the external host device side is performed. Since the measuring device is judged and automatically switched to the master side or the slave side, the master side or the slave side is automatically switched, and the master side or the slave side can be easily and surely switched.
【0010】[0010]
【実施例】以下、本発明のマスタ・スレーブ切り替え式
計測装置の実施例を図面を参照して詳細に説明する。Embodiments of the master / slave switching type measuring apparatus of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings.
【0011】図1は、本発明のマスタ・スレーブ切り替
え式計測装置の実施例の構成を示している。図1におい
て、1は外部から制御を行う際の処理を行うためのイン
タフェース回路である。2は外部計測器間とを接続する
ためのインタフェース回路、3はマスタ機能を有し、外
部からの制御によってスレーブ側を制御するマスタ回
路、4a,4bはバッファである。5はスレーブ機能を
有し、マスタ側からの制御とのインタフェース処理を行
うスレーブ回路、6a,6bはバッファである。7は計
測回路、8はマスタ・スレーブを選択するマスタ・スレ
ーブ選択回路、10は外部選択スイッチとして機能する
外部ホスト装置側との接続線である。FIG. 1 shows the configuration of an embodiment of a master / slave switching type measuring apparatus of the present invention. In FIG. 1, reference numeral 1 is an interface circuit for performing processing when controlling from the outside. Reference numeral 2 denotes an interface circuit for connecting between external measuring instruments, 3 has a master function, and master circuits for controlling the slave side by external control, 4a and 4b are buffers. Reference numeral 5 is a slave circuit having a slave function and performing interface processing with control from the master side, and 6a and 6b are buffers. Reference numeral 7 is a measurement circuit, 8 is a master / slave selection circuit for selecting a master / slave, and 10 is a connection line to the external host device side that functions as an external selection switch.
【0012】図2は、外部ホスト装置側とマスタ・スレ
ーブ選択回路8との接続を示し、図2中、S11は接続
信号、13は外部ホスト装置であり、外部ホスト装置側
13からの接続信号S11はグランド信号を使用してい
る。FIG. 2 shows the connection between the external host device side and the master / slave selection circuit 8. In FIG. 2, S11 is a connection signal, 13 is an external host device, and a connection signal from the external host device side 13 S11 uses the ground signal.
【0013】次に、この実施例の構成における動作につ
いて説明する。図1,図2において、図1に示す当該計
測装置をマスタ側として設定する場合、外部ホスト装置
13側との接続を行う。この場合、図2に示すように外
部ホスト装置13側のグランド(GND)とインタフェ
ース回路1とを接続することによって、マスタ・スレー
ブ選択回路8に入力する信号がロー(L)レベルとな
る。外部ホスト装置13側のグランド(GND)と、イ
ンタフェース回路1を接続すると自動的に当該計測装置
がマスタ側に切り替わる。すなわち、マスタ回路3とバ
ッファ4a,4bがON状態となる。またスレーブ回路
5とバッファ6a,6bはOFF状態になる。これによ
って当該計測装置は、マスタ回路3と計測回路7とが動
作してマスタ側となる。Next, the operation of the configuration of this embodiment will be described. In FIG. 1 and FIG. 2, when the measurement device shown in FIG. 1 is set as the master side, connection with the external host device 13 side is performed. In this case, by connecting the ground (GND) on the external host device 13 side to the interface circuit 1 as shown in FIG. 2, the signal input to the master / slave selection circuit 8 becomes low (L) level. When the interface circuit 1 is connected to the ground (GND) on the external host device 13 side, the measuring device is automatically switched to the master side. That is, the master circuit 3 and the buffers 4a and 4b are turned on. Further, the slave circuit 5 and the buffers 6a and 6b are turned off. As a result, in the measuring device, the master circuit 3 and the measuring circuit 7 operate and become the master side.
【0014】また外部ホスト装置13側との接続を外す
とマスタ・スレーブ選択回路8に入力する信号はプルア
ップされることになり、ハイ(H)レベルとなって自動
的に当該計測装置がスレーブ側に切り替わる。すなわ
ち、マスタ回路3とバッファ4a,4bはOFF状態と
なり、スレーブ回路5とバッファ6a,6bがON状態
となる。これによって当該計測装置は、スレーブ回路5
と計測回路7とが動作してスレーブ側となる。Further, when the connection with the external host device 13 side is disconnected, the signal input to the master / slave selection circuit 8 is pulled up, and becomes a high (H) level, and the measuring device is automatically slaved. Switch to the side. That is, the master circuit 3 and the buffers 4a and 4b are turned off, and the slave circuit 5 and the buffers 6a and 6b are turned on. As a result, the measuring device is operated by the slave circuit 5
And the measuring circuit 7 operate to become the slave side.
【0015】なお、この実施例では、内部バッファ等の
構成は問わないものである。また、外部ホスト装置13
側との接続を検出する回路構成は、この実施例の構成に
限定されない。例えばコネクタにスイッチなどを設けて
コネクタを装置に接続した場合に、このスイッチが自動
的にONとなって、マスタ・スレーブの切り替えを行う
ようにしても良い。In this embodiment, the structure of the internal buffer etc. does not matter. In addition, the external host device 13
The circuit configuration for detecting the connection with the side is not limited to the configuration of this embodiment. For example, when a switch or the like is provided on the connector and the connector is connected to the apparatus, this switch may be automatically turned on to switch between master and slave.
【0016】[0016]
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
のマスタ・スレーブ切り替え式計測装置は、当該計測装
置をマスタ側又はスレーブ側として使用する際に計測器
間又は外部ホスト装置側との外部制御バスの接続を判定
して自動的に当該計測装置をマスタ側又はスレーブ側に
切り換えているので、マスタ側又はスレーブ側の切り替
えが自動的に行われて、マスタ側又はスレーブ側の切り
替えが容易かつ確実に出来るという効果を有する。As is apparent from the above description, the master / slave switching type measuring apparatus of the present invention can be used as a master side or a slave side when the measuring apparatus is used between measuring instruments or an external host apparatus side. Since the measuring device is automatically switched to the master side or the slave side by judging the connection of the external control bus, the master side or the slave side is automatically switched, and the master side or the slave side is switched. It has an effect that it can be done easily and surely.
【図1】本発明のマスタ・スレーブ切り替え式計測装置
の実施例の構成を示すブロック図FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of an embodiment of a master / slave switching type measuring device of the present invention.
【図2】実施例の説明に供され、外部ホスト装置側とマ
スタ・スレーブ選択回路との接続状態を示す構成図FIG. 2 is a configuration diagram for explaining the embodiment and showing a connection state between an external host device side and a master / slave selection circuit.
【図3】従来のマスタ・スレーブ機能を有する計測器の
構成を示すブロック図FIG. 3 is a block diagram showing a configuration of a conventional measuring instrument having a master / slave function.
1,2 インタフェース回路 3 マスタ回路 4a,4b,6a,6b バッファ 5 スレーブ回路 7 計測回路 8 マスタ・スレーブ選択回路 10 接続線 13 外部ホスト装置 S11 接続信号 1, 2 Interface circuit 3 Master circuit 4a, 4b, 6a, 6b Buffer 5 Slave circuit 7 Measurement circuit 8 Master / slave selection circuit 10 Connection line 13 External host device S11 Connection signal
Claims (1)
ンタフェース回路と、マスタ機能を有し、外部からの制
御によってスレーブ側の外部計測器を制御するマスタ回
路と、スレーブ機能を有し、マスタ側からの制御とのイ
ンタフェース処理を行うスレーブ回路と、計測処理を行
う計測回路と、マスタ・スレーブを選択するマスタ・ス
レーブ選択回路と、当該計測装置をマスタ側又はスレー
ブ側として使用する際に計測器間又は外部ホスト装置側
との外部制御バスの接続を判定して自動的に当該計測装
置をマスタ側又はスレーブ側に切り換えるマスタ・スレ
ーブ自動切り換え手段とを備えるマスタ・スレーブ切り
替え式計測装置。1. A plurality of interface circuits for performing connection processing with an external measuring instrument, a master function, a master circuit for controlling an external measuring instrument on a slave side by external control, and a slave function, A slave circuit that performs interface processing with control from the master side, a measurement circuit that performs measurement processing, a master / slave selection circuit that selects a master / slave, and when using the measurement device as the master side or the slave side. A master / slave switching type measuring device comprising a master / slave automatic switching means for determining connection of an external control bus between measuring instruments or to an external host device side and automatically switching the measuring device to a master side or a slave side.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31818392A JPH06167362A (en) | 1992-11-27 | 1992-11-27 | Master-slave switching type measuring instrument |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31818392A JPH06167362A (en) | 1992-11-27 | 1992-11-27 | Master-slave switching type measuring instrument |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06167362A true JPH06167362A (en) | 1994-06-14 |
Family
ID=18096387
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP31818392A Pending JPH06167362A (en) | 1992-11-27 | 1992-11-27 | Master-slave switching type measuring instrument |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH06167362A (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2020163128A (en) * | 2019-03-27 | 2020-10-08 | 日東電工株式会社 | Data acquisition apparatus, and biological sensor |
WO2020203672A1 (en) * | 2019-03-29 | 2020-10-08 | 株式会社ラプラス・システム | Relay module and relay terminal block using same |
Citations (3)
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JPH0363750A (en) * | 1989-08-01 | 1991-03-19 | Fujitsu Ltd | Interface unit used for multidrop access system |
-
1992
- 1992-11-27 JP JP31818392A patent/JPH06167362A/en active Pending
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JPWO2020203672A1 (en) * | 2019-03-29 | 2021-04-30 | 株式会社ラプラス・システム | Relay terminal block |
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