JPS6275324A - 分割測光方法 - Google Patents

分割測光方法

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JPS6275324A
JPS6275324A JP21633985A JP21633985A JPS6275324A JP S6275324 A JPS6275324 A JP S6275324A JP 21633985 A JP21633985 A JP 21633985A JP 21633985 A JP21633985 A JP 21633985A JP S6275324 A JPS6275324 A JP S6275324A
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JP
Japan
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photometry
photometric
output
sampling
time
Prior art date
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Pending
Application number
JP21633985A
Other languages
English (en)
Inventor
Tokuichi Tsunekawa
恒川 十九一
Hajime Kanazawa
元 金沢
Hiroshi Omura
大村 宏志
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
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Priority to US06/912,334 priority patent/US4725866A/en
Publication of JPS6275324A publication Critical patent/JPS6275324A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
  • Exposure Control For Cameras (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 この発明は物体及び場所等の輝度を自動的に測光する測
光方法に関するものであり、特に、カメラの電子シャッ
ターすなわち、自動露出制御のための測光方法に関する
ものである。
〔発明の背景〕
最近生産されるカメラの殆んどには電子シャッタが装備
されるようになっており、従って被写体や背景の輝度の
測定と露出量の決定とが全自動的に行われるようになっ
ている。電子シャッタはよく知られているように、被写
体や背景の輝度に応じ念電気的出力を発生する測光素子
と、該測光素子の出力信号を処理し且つ記憶する信号処
理回路と、から構成されており、従来は信号処理回路の
すべてがアナログ回路で構成されているものが多かりた
が、SLRカメラ(−眼レフ)の場合にはTTL測光方
式であって測光情報の長秒時記憶が必要であることから
、SLRカメラ用の電子シャッタでは測光素子の出力信
号を圧縮するための回路部分を除き、演算処理と記憶と
に関する回路部分は7’イジタル化されている。しかし
測光信号の処理をディジタル回路で行うと演算を高精度
で行うことができるとともに測光情報の記憶には好都合
であるが、人工光源の照明下での測光においては該光源
のフリッカの影響が入らないようにしなければならない
第4図は従来のSLRカメラ用の電子シャッタにおける
測光回路の要部構成を示したものである。
同図において、SPAは撮影画面の中央部を測光するた
めの測光素子、SPBは撮影画面の周辺部を測光するた
めの測光素子、OPは該測光素子SPA及びSPBの出
力信号を増幅する演算増幅器、LDは該測光素子の出力
信号を対数圧縮する対数圧縮素子、ADIは演算増幅器
OPの出力をディジタル信号に変換する二重積分型AD
変換器、CKTは演算回路、である。演算増幅器OPの
入力端子には測光素子SPA及びSPBの各々に直列に
MOS  FETから成るアナログスイッチFGA及び
FGBが接続されており、スポット測光時にはゲートφ
、に印加される制御信号によってFGAのみがオンし、
平均測光時にはゲートφえ及びφ3に印加される制御信
号によりFGAとFGBの両方がオンするようになって
いる。
また、測光素子SPA及びSPBの各々と並列にアナロ
グ? −) EGA及びEGBが設けられており、この
アナロググー) EGA及びgGBはそれと直列のアナ
ログスイッチFGA及びFGBと相補的にオン・オフさ
れるようになっている。すなわち、f−)φ。
に制御信号が印加されてアナログスイッチFGAがオン
した時にはr−トφ、にアナログf −) FJGAを
非導通にさせる制御信号が印加されてアナロググー )
 EGAはオフとなる。これらのアナログダートEGA
及びEGBはアナログスイッチFGA及びFGBがオフ
の時に測光素子SPA及びSPBに発生する電圧を解放
して測光素子を短絡するためのものである。
AD変換器ADIは演算増幅器OPの出力信号をディジ
タル信号に変換させる機能を有しているが、同時に1人
工光源による照明下での測光においては、該光源のフリ
ッカの影響を完全に排除できる機能を有していることが
必要である。
第5図は従来の測光回路に用いられている二重積分型の
AD変換器ADIにおけるAD変換の原理を示した図で
ある。同図においてvA及びVBは測光素子SPA及び
SPBの出力信号を対数圧縮し且つ増幅した信号であり
、vA′及びy 、/はAD変換器ADIに内蔵された
積分コンデンサからの電荷放出による信号を示している
。また、T1は積分時間、T2及びT3は逆積分時間、
であシ、積分時間T1は、螢光灯などの人工照明光源の
フリッカの一周期に相当する時間10mgea(但し、
該光源の駆動電源が50 Hzもしくは60 Hzの商
用交流電源であると仮定して)に設定されている。同図
において、時刻t1で入力信号vAのAD変換が開始さ
れると、時刻t2までの時間T、の間、測光素子SPA
の出力vAが積分された後1時刻t!から時刻t3まで
の時間T2の間は、該AD変換器ADIに内蔵された積
分コンデンサからの電荷放出が行われる。測光素子SP
Hの出力VBも同様に時間T1の間、積分された後、時
刻t2以後は該積分コンデンサからの電荷放出による逆
積分によって電圧降下vB′が時刻t3まで続く。入力
アナログ信号vA及びVBに対するディジタル信号出力
は時間T2及びT3の長さに等しい・ぐルス列となって
演算回路CKTに印加される。
前記の如き二重積分型のAD変換器では、各測光素子の
出力をディジタル変換するのに最低10m1leleの
時間が必要であるため、測光素子の数がn個であれば(
10Xn )msecの時間が必要となシ、従≦て測光
に要する時間がかかりすぎるという欠点があった。その
ため、前記の如き測光方式の電子シャッタを内蔵したカ
メラでは、高速で動く物体の撮影をすることができなか
った。
そこで本発明者は、照明用AC光源のフリッカの周期を
一演算周期として測光素子の出力を時系列的に繰返して
AD変換するとともにそのAD変換値の加算値もしくは
平均匝を以て各測光素子の出力とする測光方法を発明し
たが、この測光方法によると一演算周期内で正弦波状に
周期的に明滅する光源に対しては正確な測光を行うこと
ができるが、光源の光度が単調に増大する場合や或いは
光源の光度が単調に減少するような場合には誤差が生じ
ることが判明してのる。
〔発明の目的〕
この発明の目的は、光源の光度が単調増大する場合等に
おいても光源のフリッカの影響を完全に排除することが
できるとともに正確な測光を行うことのできる測光方法
を提供することである。また、この発明の目的は、多数
の測光素子を内蔵する測光回路においても該素子の出力
信号を短時間でAD変換して正確な測光をすることがで
きる測光方法を提供することである。
〔発明の概要〕
本発明方法にお−ては、光源のフリッカの周期を一演算
周期として複数の測光素子の出力のAD変換順序を交互
に変えながら繰返しAD変換を行うとともに各測光素子
の出力のAD変換値の一周期内の加算値又は平均値を求
め、この加算値又は平均値を以て各測光素子の出力とす
る、ことを特徴とするものである。本発明方法によれば
、光源の光度がどのような変化をする場合であっても高
精度の測光をすることができ、特に、多数の測光素子を
内蔵する測光回路においても該素子の出力信号を短時間
でAD変換することができるため従来の方法よりも高精
度且つ高速に測光を行うことができる。
〔発明の実施例〕
第1図に本発明の方法を実施するための測光回路の第一
実施例を示す。なお、同図において第4図と同一符号で
表示された部分は従来の測光回路を構成している要素と
同じものを表わしている。
第1図に示した測光回路では、演算増幅器OPの出力端
子に接続されたAD変換器AD2が従来の二重積分型A
D変換器ではなく、逐次比較型もしくは並列比較型のA
D変換器であり、二重積分型にくらべてはるかに高速で
(たとえば10μ3程度で)AD変換を行うことのでき
るものとなっている。AKTは測光演算を行うための演
算回路であり、AD変換器AD2と演算回路AKTとの
間には所定の周期内における各測光素子SPA及びSP
Bの出力の平均値又は加算値を演算するための前段演算
器PKTが設けられている。この前段演算器PKTはA
D変換器AD2及び演算回路AKTと共通の半導体チッ
プ上にモノリシックに形成することも可能である。該演
算器PKTは、演算用メモIJ MIA及びMEB 、
加算器ADD、各測光素子毎に設けた演算値及び測光素
子出力記憶用メモIJ M E 1〜MIN、前記各メ
モリにアドレス信号を送るためのパスラインBL、等か
ら構成されている。
第2図は第1図の回路とは別の回路構成例であり、同図
において第1図と同じ符号は第1図の回路と同じ構成部
品を表わしている。
第2図に示した実施例では、各測光素子SPA。
SPB 、・・・毎に演算増幅器OPHe Op2p 
川及び対数圧縮素子LD1 、LD2 、・・・並びに
アナログスイッチFGA、 FGB、・・・が設けられ
るとともにアナログスイッチFGA、 FGB、・・・
が演算増幅器op! 。
O20・・・の出力端子側に接続されている。従って、
演算増幅器の入力側での測光素子の切換えがないので、
測光素子の出力レベルが低くても(すなわち、被写体の
輝度が低くても)応答特性がよいため、第1図の測光回
路よりも高精度の測光が可能となろう 第3図は本発明方法が特に有効となる光度変化の照明状
態を示したものである。
第3図において、V8は50 Hz又は60 Hzの鋸
歯状波交番電源で駆動されている光源の光度の一フリ、
六周期(約10m5ec)における変化を表わしており
、横軸は時間、縦軸は光度である。このような光源で照
明されている場所もしくは物体の測光を本発明方法によ
り第1図及び第2図の測光回路で行う場合について以下
に回路動作を説明する。
時刻TA■でアナログスイッチFGAがオンすると、光
度SA■の光が測光素子SPA K入射してSPAに出
力が生じ(この時、第1図の回路ではアナログr−hE
GAはオフとなる〕、この出力は演算増幅器OP(もし
くはOPt  )で増幅されるとともに対数圧縮素子L
D(もしくはLDI  )で対数圧縮された信号と々っ
てAD変換器AD2に印加される。そして、AD変換器
AD2でディジタル信号に変換された信号は前段演算器
のメモリMEAを介してメモIJ M E 1に記憶さ
れる。
次に時刻TB■ではアナログスイッチFGBがオンし、
測光素子SPHには光度SB■の光度に対応した出力が
発生し、この出力は演算増幅器OP(もしくはO20)
で増幅されるとともに対数圧縮素子LD(もしくはLD
2  )で対数圧縮された信号となってAD変換器AD
2に印加され、AD変換器AD2でディジタル信号とな
った後、メモリMEAを介してメモIJ M E 2 
K記憶される。第2図の実施例においては以下同様に、
各測光素子SPC、SPD (図示せず〕・・・SPN
がそれぞれ時刻TC■・・・TN■において光度SC■
・・・SN■に対応する出力を発生し、これらの出力信
号は前記と同様に順次、AD変換された後、メモIJ 
MEAを介して各測光素子に対応するメモリME3(図
示せず〕・・・MlilWに記憶される。
このようにして各測光素子の出力の第1回目のサンプリ
ングが終了した後、時刻TN■から第2回目のサンプリ
ングが開始される。すなわち、時刻TN■でアナログス
イッチFGN (図示せず〕がオンになると、その時の
光度SN■に対応する測光素子SPN (図示せず〕の
出力が前記と同様に演算増幅器OP(もしくはOPN 
)を介してAD変換器AD2に印加され、AD変換器A
D2においてディジタル信号に変換された後、メモ+7
 MEAに記憶される。これと同時にメモリMENに格
納されていた前回サンプリング時の出力データがパスラ
インBLを介してメモリWEBに呼び出された後、メモ
リMEAの今回サンプリングデータとメモリMEBの前
回サンプリングデータとが加算器ADDにおいて加算さ
れる。そして、合算されたデータはパスラインBLを介
してメモリ口に格納される。そして、以下同様に、第2
回目の測光データのサンプリングは第1回目のサンプリ
ング順序とは逆に測光素子SPNから測光素子SPAに
向って時刻TC■。
TB■、TA■の順序で行われ、第2回目のサンプリン
グデータは前記のように第1回目のサンプリングデータ
と合算されて各測光素子毎のメモリME1〜■射に格納
される。
このようなデータサンプリング方法を所要回数(この実
施例では10回であるが、サンプリング回数は必要とす
る測光精度に応じて適当に設定すればよい〕繰返し、光
源のフリッカの一周期内での測光を終了する。
このようにして得られた各測光素子毎の一フリッカ周期
内の累積測光データは各メモリMEI〜Dから読み出さ
れて演算回路AKTに入力され1、  そこで測光演算
が行われる。本発明方法の場合、測光演算に用いられる
測光データは、前記のように光源のフリッカの一周期内
で数回に渡ってサンプリングされた測光データの累積値
であるが、累積値ではなく平均値(加重平均、単純平均
環のどのような平均でもよい〕を測光演算に用いてもよ
い。前記の如き測光データはフリ、ヵの一周期内のデー
タであるからフリッカの影響を含まず、従って本発明方
法によればフリッカの影響を完全に排除した測光演算を
行うことができる。
本発明の方法は、フリフカの一周期内で対称的に変化す
る(たとえば正弦波状に)光度変化の照明の測光にも適
用できるが、第3図のようにフリッカの一周期内で単調
増大(もしくは単調減少)する光度変化の照明を測光す
るのに特に適しており、第3図の如き照明の測光を正確
に行うことができる。
また、本発明方法では、測光素子の出力をAD変換する
際に従来方法の如き二重積分型AD変換を行わずに逐次
比較型もしくは並列比較型のAD変換を行うため、従来
方法よりもはるかに高速でAD変換することができ、そ
の結果、本発明方法では従来方法よりも高速且つ短時間
で測光を行うことができる。特に、測光回路に組込まれ
ている測光素子の数が多ければ多い程、本発明の測光方
法では従来方法よりも高速且つ短時間で正確な測光を行
うことができる。
〔発明の効果〕
以上に説明したように、本発明の方法によれば、たとえ
ば第3図に示した、−フリッカ周期内で光度が単調増加
するような照明下においても従来方法よりも高速且つ正
確に測光をすることができ、その結果、本発明方法を適
用した′6子ンヤッタをカメラに装備することにより、
種々の照明条件下で各種の被写体に対して高精度の露出
制御が可能になる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明方法を実施するための測光回路の一例を
示した図、第2図は本発明方法を実施するための測光回
路の他の一例を示した図、第3図は本発明方法を説明す
るための図、第4図は従来の測光方法を実施するための
従来の測光回路の概略図、第5図は従来の測光方法にお
けるAD変換の原理を示した図、である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 複数の測光素子の出力を時系列的にAD変換することに
    よつて測光演算を行う測光方法において、照明用AC光
    源のフリッカの周期を一演算周期として前記測光素子の
    出力のAD変換順序を交互に変えながら繰返しAD変換
    を行うとともに各測光素子の出力のAD変換値の一周期
    内の加算値又は平均値を求め、前記加算値又は平均値を
    以て各測光素子の出力とすることを特徴とする分割測光
    方法。
JP21633985A 1985-09-30 1985-09-30 分割測光方法 Pending JPS6275324A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP21633985A JPS6275324A (ja) 1985-09-30 1985-09-30 分割測光方法
US06/912,334 US4725866A (en) 1985-09-30 1986-09-26 Light measuring apparatus

Applications Claiming Priority (1)

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JP21633985A JPS6275324A (ja) 1985-09-30 1985-09-30 分割測光方法

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JPS6275324A true JPS6275324A (ja) 1987-04-07

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ID=16686994

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JP21633985A Pending JPS6275324A (ja) 1985-09-30 1985-09-30 分割測光方法

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JP (1) JPS6275324A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009115631A (ja) * 2007-11-07 2009-05-28 Konica Minolta Sensing Inc 光量測定装置

Cited By (1)

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