JPS6258132B2 - - Google Patents

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Publication number
JPS6258132B2
JPS6258132B2 JP17136579A JP17136579A JPS6258132B2 JP S6258132 B2 JPS6258132 B2 JP S6258132B2 JP 17136579 A JP17136579 A JP 17136579A JP 17136579 A JP17136579 A JP 17136579A JP S6258132 B2 JPS6258132 B2 JP S6258132B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
foil
silicon
capacitance
aluminum alloy
aluminum
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP17136579A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS5694723A (en
Inventor
Kozo Arai
Takao Suzuki
Shozo Umetsu
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Altemira Co Ltd
Original Assignee
Showa Aluminum Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Showa Aluminum Corp filed Critical Showa Aluminum Corp
Priority to JP17136579A priority Critical patent/JPS5694723A/ja
Publication of JPS5694723A publication Critical patent/JPS5694723A/ja
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  • Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野 この発明は、電解コンデンサ陰極用アルミニウ
ム合金箔に関する。 この明細書において「%」は「重量%」を示す
ものとする。 従来技術とその問題点 電解コンデンサの性能を向上させるためには、
陽極用箔の静電容量だけではなく、陰極用箔の静
電容量をも増大させることが必要である。箔の静
電容量を増大させるには、箔にエツチングを施し
て表面に微細な凹部を高密度に形成することによ
り、その表面積を大きくすることが有効である
が、エツチングが過度になると、腐食減量も過度
になり、結果的に箔の静電容量が低下し、また、
機械的強度も低下する。したがつて、電解コンデ
ンサ陰極用アルミニウム合金箔の具備すべき条件
は、静電容量が大きくかつエツチングのさいの腐
食減量が過度にならず適量であることである。 この発明は、上記の条件を満足しうる電解コン
デンサ陰極用アルミニウム合金箔を提供すること
を目的とする。 問題点を解決するための手段 この発明による電解コンデンサ陰極用アルミニ
ウム合金箔は、ケイ素を0.5%を越えかつ1.0%以
下および不純物としての鉄を0.5%未満含有し、
残部アルミニウムおよび不可避不純物からなるこ
とを特徴とするものである。 ケイ素は、これをアルミニウム中に含有せしめ
ることにより、アルミニウム合金箔の静電容量を
増大させる性質を有するが、その含有量が0.5%
以下では上記効果は得られず、1.0%を越えると
微細なエツチング組織を得られないので静電容量
が小さくなり、腐食減量も過度になる。したがつ
てケイ素は、0.5%を越えかつ1.0%以下含有せし
めるべきである。 ケイ素がアルミニウム合金箔の静電容量を増大
させるのはつぎの理由による。周知のごとく、箔
の静電容量は箔の表面積と比例するが、箔の表面
積を増大させるためには、エツチングによつて箔
の表面に微細な凹部を均一かつ高密度に生じさせ
ることが必要である。ケイ素は、これを0.5%を
越えてアルミニウム中に含有せしめると、アルミ
ニウム・マトリツクス中にケイ素が微細かつ均一
に析出した組織を得ることができる。この析出ケ
イ素は電位的にアルミニウムよりもかなり貴であ
るために、アルミニウム・マトリツクスと大きな
電極電位差を生じ、これをエツチングするさいに
アルミニウム・マトリツクスを優先的に腐食させ
て、箔の表面に均一かつ高密度に凹部が生ずる。
しかしながら、ケイ素の含有量が1.0%を越える
と、腐食減量が過度になつて微細なエツチング組
織が得られず、静電容量も低下する。 上記アルミニウム合金箔は、鉄など不可避の不
純物を含んでいるが、とくに鉄の場合は、その含
有量が0.5%以上になると鋳造時に粗大なAl―Si
―Fe化合物を晶出し、上述したようなケイ素を
添加することにより得られる効果を阻害するの
で、不純物中鉄の含有量は0.5%未満にするべき
である。 また、この発明によるアルミニウム合金箔に、
銅0.1〜1.0%およびバナジウム0.003〜0.3%のう
ちの少なくともいずれか一方を含有せしめること
もある。銅およびバナジウムは、アルミニウム合
金箔中に含有せしめるとケイ素の固溶限を低下さ
せるとともに、それ自身アルミニウム・マトリツ
クス中に固溶し、マトリツクスのエツチング性を
向上させて、上述したようなケイ素の効果を増大
させる性質を有するが、それぞれの含有量が下限
値未満であると、エツチング性を向上させる効果
は少なく、上限値を越えるとエツチングが過度に
なり、かえつて静電容量が低下する。したがつ
て、それぞれの含有量は上記の範囲内で選択する
ことが好ましく、この範囲内であれば、この発明
によるアルミニウム合金箔の特性を変えることも
ない。 実施例 つぎに、この発明の実施例を対照例とともに示
す。 10種類の合金を、通常の製箔法によつて箔とし
た後、液温60℃の3%塩酸および0.5%シユウ酸
水溶液中に浸漬し、電流密度30A/dm2の交流電
流を通じて1分30秒間エツチングを行なつた場合
の静電容量を測定した。その結果は、下表のとお
りであつた。
【表】 上表から明らかなように、0.5%を越えかつ1.0
%以下の範囲内のケイ素を含有するとともに、不
純物としての鉄の含有量が0.5%未満であるアル
ミニウム合金箔は、上記範囲外のケイ素および鉄
を含有するものに比較して、はるかに静電容量が
増大している。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 ケイ素を0.5%を越えかつ1.0%以下、および
    不純物としての鉄を0.5%未満含有し、残部アル
    ミニウムおよび不可避不純物からなる電解コンデ
    ンサ陰極用アルミニウム合金箔。
JP17136579A 1979-12-28 1979-12-28 Aluminum alloy foil for electrolytic condenser cathode Granted JPS5694723A (en)

Priority Applications (1)

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JP17136579A JPS5694723A (en) 1979-12-28 1979-12-28 Aluminum alloy foil for electrolytic condenser cathode

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JPS5694723A JPS5694723A (en) 1981-07-31
JPS6258132B2 true JPS6258132B2 (ja) 1987-12-04

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